专利名称：混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法
技术领域：
本发明涉及领域集成电路技术领域，特别涉及一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法。
背景技术：
随着集成电路芯片的出现和芯片规模的增大，芯片的测试成本占整个芯片研发费用的比重越来越大。芯片的可测性设计是指通过增加对电路中的信号的可控性和可观性，以便产生一个成功的测试环境/流程，完成对芯片中某一部分电路的测试工作。混合信号芯片是指芯片内同时包含有数字电路和模拟电路的芯片，在芯片设计制造完成后，需要对芯片中各部分功能进行测试。目前对芯片中模拟电路的测试方案通常为根据测试要求，通过数字电路中的控制逻辑，将适当的配置信息传递给模拟电路，使模拟电路处于某个正常的工作状态；然后，通过模拟管脚，对模拟电路进行测试。而模拟电路对于电压、电流的干扰比较敏感，采用上述测试方案测试时，数字电路处于工作状态，数字电路的电压、电流等势必会对模拟电路造成干扰，使测试结果有偏差，无法准确测试出模拟电路工作性能。可见，现有的这种对混合信号芯片中模拟电路的测试方案至少存在如下缺陷采用该测试方案无法得到模拟电路在理想状态下的工作性能，而模拟电路在理想状态下的工作性能又是芯片开发设计中的一个重要参照依据；这里，所述理想状态指没有数字电路的电压、电流等干扰的状态。
发明内容
本发明提供了一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法，以消除数字电路对模拟电路测试结果的不良影响，得到模拟电路在理想状态下的工作性能。为达到上述目的，本发明实施例采用了如下技术方案本发明实施例提供了一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置，该装置包括电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息； 测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。本发明实施例还提供了一种混合信号芯片中测试模拟电路的方法，该方法包括在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。本发明实施例的有益效果是本发明实施例的技术方案由于切断了混合信号芯片中数字电路的电源，从芯片外部向模拟电路传递配置信息，在保证模拟芯片正常工作的同时，避免了测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，能够得到准确的测试结果。
图1为本发明实施例一提供的一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置结构示意图；图2为现有混合信号芯片的结构图；图3为本发明实施例一提供的另一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置结构示意图；图4为本发明实施例二提供的一种混合信号芯片中测试模拟电路的方法流程示意图。
具体实施例方式为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。参见图1，为本发明实施例一提供的一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置结构示意图，所述装置包括电源管理单元11，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元12，用于在电源管理单元11切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元13，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。为了便于清楚说明本实施例的技术方案，对现有混合信号芯片的结构进行描述。参见图2，在混合信号芯片中，数字电路通过数字管脚同芯片外部连接，并通过复杂的控制，运算和存储逻辑，实现主要的芯片功能。模拟电路通过模拟管脚同芯片外部连接，作为数字电路的从属，完成辅助的芯片功能，如无线信号收发，信号放大，数模、模数转换等等。模拟电路正常工作的情况下，需要正确的配置信息(如增益、灵敏度等)。这些配置信息在现有芯片中由数字电路通过数字信号传递给模拟电路。数字电路和模拟电路之间具有内部连接，通过内部连接数字电路连接至模拟电路的配置接口，向配置接口传递配置信息，并且数字电路还可以通过该内部连接向模拟电路发送所需处理的数据以及芯片运行所需的其他信息。本实施例中混合信号芯片采用电源门控技术，能够分别对模拟电路和数字电路进行供电，从而保证了在测试开始时，电源管理单元11能够仅切断混合信号芯片中数字电路的电源，而使模拟电路保持在有源状态。在测试结束后，电源管理单元恢复数字电路的供
H1^ O进一步的，参见图3，上述配置单元12中设置有对外接口 122和切换模块121。该切换模块121，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，将模拟电路的配置接口切换至与所述对外接口与相连接。以及，在测试结束后，芯片需要正常工作时，切换模块121，还用于在电源管理单元恢复数字电路的供电后，将模拟电路的配置接口切换至与数字电路相连接。该对外接口 122，用于接收来自混合信号芯片的外部的配置信息，并将所述配置信息传递至模拟电路的配置接口。对外接口 122可以通过在混合信号芯片中增设相应管脚实现。进一步的，可以利用配置单元实现芯片中数字电路和模拟电路的连接，例如，在配置单元12中设置内部接口 123，用于将模拟电路的配置接口与数字电路相连接。在数字电路具有电源，芯片处于正常运行的情况下时，数字电路通过内部接口 123向模拟电路的配置接口传递配置信息，且数字电路和模拟电路之间通过内部接口 123进行业务数据交互。具体的，上述切换模块，还用于在电源管理单元恢复数字电路的供电后，将模拟电路的配置接口切换至与内部接口 123相连接，从而将模拟电路的配置接口与数字电路相连接。当需要测试模拟电路在理想状态下的工作性能时，数字电路断电，切换模块121停止内部接口 123的运行，将模拟电路的配置接口切换至对外接口 122。该对外接口可以仅具有传递配置信息的功能即可，以简化装置的结构，降低成本。在模拟电路根据配置信息成功配置后，模拟电路处于正常工作的状态下时，上述测试单元13通过模拟管脚对模拟电路进行测试。在测试时，可以通过模拟管脚向模拟电路加载所需的业务信号，测试在不同配置条件下模拟电路对业务信号的处理性能，从而全面地测试出模拟电路的工作性能。可以理解，上述内部接口 123也可以设置在配置单元12之外，这时，配置单元12需要能够对内部接口 123进行控制。在需要进行测试，数字电路断电时配置单元能够停止内部接口 123的运行，将模拟电路的配置接口切换至对外接口 122。本实施例中利用上述配置单元能够根据测试需要，向模拟电路传递不同的配置信息，测试多种条件下模拟电路理想的工作性能。根据测试得到的测试结果，对芯片运行后模拟电路的运行状态进行分析，对芯片的开发和设计进行指导，提高芯片的开发效率和整体性能。由上所述，本发明实施例的技术方案由于切断了混合信号芯片中数字电路的电源，从芯片外部向模拟电路传递配置信息，在保证模拟芯片正常工作的同时，彻底避免了测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，能够得到准确的测试结果。本发明实施例二提供了一种混合信号芯片中测试模拟电路的方法，参见图4，所述方法包括41 在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源。42 从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；43:在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测
试ο在测试结束后，芯片需要正常工作时，恢复混合信号芯片中数字电路的供电，并将模拟电路的配置接口切换至与数字电路相连接。本实施例中混合信号芯片采用电源门控技术，能够分别对模拟电路和数字电路进行供电，从而保证了能够仅切断混合信号芯片中数字电路的电源，而使模拟电路保持在有源状态。
进一步的，本方法还包括为所述模拟电路设置对外配置接口，通过如下方式从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息将模拟电路的配置接口切换至与所设置的对外配置接口相连接；利用所述对外配置接口将配置信息传递至模拟电路的配置接口。本实施例中，在数字电路具有电源，芯片处于正常运行的情况下时，数字电路通过内部接口向模拟电路传递配置信息，且数字电路和模拟电路之间通过内部接口进行业务数据交互；当需要测试模拟电路在理想状态下的工作性能时，数字电路断电，并停止内部接口的运行，将模拟电路的配置接口切换至对外接口。在测试结束后，数字电路恢复供电，将模拟电路的配置接口切换至与内部接口相连接，从而将模拟电路的配置接口与数字电路相连接。上述对外接口可以仅具有传递配置信息的功能即可，以简化装置的结构，降低成本。本实施例中利用上述配置单元能够根据测试需要，向模拟电路传递不同的配置信息，测试多种条件下模拟电路理想的工作性能。根据测试得到的测试结果，对芯片运行后模拟电路的运行状态进行分析，对芯片的开发和设计进行指导，提高芯片的开发效率和整体性能。由上所述，本发明实施例的技术方案由于切断了混合信号芯片中数字电路的电源，从芯片外部向模拟电路传递配置信息，在保证模拟芯片正常工作的同时，彻底避免了测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，能够得到准确的测试结果。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置，其特征在于，所述装置包括电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述配置单元中设置有对外接口和切换模块，所述切换模块，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，将模拟电路的配置接口切换至与所述对外接口相连接；所述对外接口，用于接收来自混合信号芯片的外部的配置信息，并将所述配置信息传递至模拟电路的配置接口。
3.一种混合信号芯片中测试模拟电路的方法，其特征在于，所述方法包括在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，为所述模拟电路设置对外配置接口，所述从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息包括将模拟电路的配置接口切换至与所设置的对外配置接口相连接；利用所述对外配置接口将配置信息传递至模拟电路的配置接口。
全文摘要
本发明公开一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法，能够彻底避免测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，得到准确的测试结果。本发明实施例提供的混合信号芯片中测试模拟电路的装置包括电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。
文档编号G01R31/3163GK102565681SQ20111039987
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月5日 优先权日2011年12月5日
发明者安之平, 张辉, 王西强 申请人:北京创毅视讯科技有限公司