专利名称：模拟集成电路测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路技术，尤其涉及一种模拟集成电路测试仪。
背景技术：
在信息化时代，以集成电路技术支撑的电子信息系统已成为电子信息化发展的根基和关键技术。随着数字电路的发展，其在现代信息技术中的优势得到了充分体现，应用越来越广。关于数字电路的测试技术也随其应用得到充分发展，并且由于数字电路模型相对简单，因此，数字电路测试仪是比较常见的。而模拟电路由于输入激励和输出响应都是连续量，且电路中各元件参数也是连续量，所以故障模型比较复杂，难以简单量化。其次模拟电路中的元件具有容差，这势必导致故障的模糊性。最后，模拟电路中电流是一个重要参数，也是故障信息的重要组成部分，但在实际测量中除输入端口和输出端口可测外，其它节点电流是不可测的，这也使得用于故障诊断的有关信息量减少。因此现在市面上的集成电路检测仪大多数都是数字电路检测仪，模拟电路检测仪比较少，针对学生实验经常用到的0809，0832，2114，3524，LM324，LM347等几种芯片的专门检测仪更是基本没有，因此我们就需要开发一种针对这几种常用芯片的测试仪。本实用新型介绍了一种模拟集成电路测试仪可用于检测这六种芯片的正常与否。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种模拟集成电路测试仪，对于6种特定型号的模拟芯片进行测试 ，包括0809，0832，2114，3524，LM324，LM347。根据本实用新型一个方面，提供一种模拟集成电路测试仪，包括:芯片测试电路，包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路，适于接收输入，并且产生输出；模数转换器，与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接，用于对其输出进行模数转换；和单片机，用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出，将其与预设的正确值进行比较，如果结果一致或者在误差范围内，则确定芯片功能正常，否则确定芯片出错。可选的，所述的模拟集成电路测试仪还包括:与单片机耦接的液晶显示电路，用于显示单片机的检测结果；与单片机耦接的按键电路，用于选择所要测试的芯片；和与单片机耦接的指示灯电路，用于指示当前所需要测试的芯片类型。可选的，所述液晶显示电路连接于单片机的PO输出端；按键电路包括选择芯片按钮、确认按钮和复位按钮，分别接于单片机Pl.0、Pl.1和Pl.2 口，用于选择测试芯片、确认测试芯片和复位测试电路；以及指示灯电路包括6个发光二极管，分别接于单片机P2.0 P2.5 口，当选中某个测试芯片时，该芯片对应的指示灯亮起。可选的，所述的单片机采用Atmel公司的AT89C55单片机。可选的，所述的芯片测试电路从各芯片的功能入手，给每个芯片都搭接了一个能实现其功能的电路，接收一定的数字量或模拟量作为输入，再把所产生的输出量经过模数转换器或直接送回单片机。
图1为本实用新型一个实施例中模拟集成电路测试仪的系统框图；图2为本实用新型一个实施例中模拟集成电路测试仪中单片机的输入输出接口图；图3为本实用新型一个实施例中模拟集成电路测试仪中的LM324测试电路。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图，对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。根据本实用新型一个实施例，提供一种模拟集成电路测试仪，如图1所示，该测试仪包括:单片机、按键电路、液晶显示电路、指示灯电路和6种芯片测试电路。该芯片测试电路是从各芯片的功能入手，给每个芯片都搭接了一个能够实现其功能的电路，然后给电路输入一定的数字量或模拟量，再把输出量经过检测设备处理(其中最重要的是高精度的模数转换器MAX197)送回单片机，和单片机中预设的正确值进行比较，如果结果一致或者接近，则证明芯片功能正常，否则芯片出错。该单片机中预先存放了 6种芯片在给定输入量并且正常工作时的输出值，在接受到检测设备输入的被测芯片数据量时，会将2组数据进行比·较，如果2组数据结果一直或者基本接近，则控制液晶显示电路显示出0K，如果2组数据不一致或者差别很大，则控制液晶显示电路显示出NO。如图2所示为单片机输入输出接口图，该液晶显示电路连接于单片机的PO输出端，用于显示单片机的检测结果(0K或者NO)。该按键电路包括选择芯片按钮、确认按钮和复位按钮，分别接于单片机P1.0、P1.1和P1.2 口，用于选择测试芯片、确认测试芯片和复位测试电路。该指示灯电路为6个发光二极管，分别接于单片机P2.0 P2.5 口，当选中某个测试芯片时，该芯片对应的指示灯亮起。如图3所示为LM324测试电路，通过改变可变电阻器的阻值可以调节输入LM324的电压值的大小。芯片中四个放大器通过电阻和导线相连成一个整体的放大器，输入电压通过此放大器处理后，输出一定电压值。图中Rll至R14，R17至R20都设成10K，即每个运放都变成一个跟随器，如果芯片正常，最后芯片输出电压值应与输入值相等。14管脚的输出值通过模数转化器MAX197转换后，变成数字量送入单片机，与单片机中预存的正确值相比较，如果一致则芯片正常；否则，芯片出错。其余5种芯片也均有一个能够实现其功能的电路，通过在单片机中对接收到的数据进行验证比较测试出芯片的正常与否。应该注意到并理解，在不脱离后附的权利要求所要求的本实用新型的精神和范围的情况下，能够对上述详细描述的本实用新型做出各种修改和改进。因此，要求保护的技术方案的范围不受所给出 的任何特定示范教导的限制。
权利要求1.一种模拟集成电路测试仪，其特征在于，包括: 芯片测试电路，包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路，适于接收输入，并且产生输出； 模数转换器，与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接，用于对其输出进行模数转换；和 单片机，用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出，将其与预设的正确值进行比较，如果结果一致或者在误差范围内，则确定芯片功能正常，否则确定芯片出错。
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试仪，其特征在于，还包括: 与单片机耦接的液晶显示电路，用于显示单片机的检测结果； 与单片机耦接的按键电路，用于选择所要测试的芯片；和 与单片机耦接的指示灯电路，用于指示当前所需要测试的芯片类型。
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试仪，其特征在于， 所述液晶显示电路连接于单片机的PO输出端； 按键电路包括选择芯片按钮、确认按钮和复位按钮，分别接于单片机Pl.0、Pl.1和Pl.2 口，用于选择测试芯片、确认测试芯片和复位测试电路；以及 指示灯电路包括6个发光二极管，分别接于单片机P2.0 P2.5 口，当选中某个测试芯片时，该芯片对应的指不灯売起。·
4.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试仪，其特征在于，所述的单片机采用Atmel公司的AT89C55单片机。
专利摘要本实用新型提供一种模拟集成电路测试仪，包括芯片测试电路，包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路，适于接收输入，并且产生输出；模数转换器，与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接，用于对其输出进行模数转换；和单片机，用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出，将其与预设的正确值进行比较，如果结果一致或者在误差范围内，则确定芯片功能正常，否则确定芯片出错。该模拟集成电路测试仪能够对6种特定型号的模拟芯片进行测试，包括0809，0832，2114，3524，LM324，LM347。
文档编号G01R31/3163GK203149087SQ20132007978
公开日2013年8月21日 申请日期2013年2月1日 优先权日2013年2月1日
发明者陈孟元, 曹龙, 李腾飞 申请人:安徽工程大学