技术特征：
技术总结
本发明公开了一种光热差分显微成像装置及单个粒子成像方法。所述装置包括用于光学成像的照明系统，用于提取金属颗粒周围热吸收信息的泵浦‑探测双光束微弱信号探测系统，以及对样品作二维扫描的平面扫描系统，其中，光学成像照明系统用来寻找样品标记物所在的位置，泵浦‑探测双光束微弱信号探测系统利用探测光束将样品周围的热辐射微弱信号提取出来，平面扫描系统实现对样品的二维扫描，通过计算机处理将提取的微弱热信号作二维强度分布图，实现对单个粒子的光热差分显微成像。
技术研发人员：方哲宇;李博文;朱星;祖帅;蒋瞧
受保护的技术使用者：北京大学
技术研发日：2017.04.05
技术公布日：2017.08.22