光学介质驱动设备和确定层数的方法

专利名称：光学介质驱动设备和确定层数的方法
技术领域：
本发明涉及一种适于通过用光照射光学记录介质而把信号记录 在光学记录介质上和/或从其读取信号的光学记录介质驱动设备、和一 种确定光学记录介质的层数的方法。
背景技术：
记录和读取数字数据的一种技术是把诸如CD (紧致盘)、MD (小型-盘)、或DVD (数字多用途盘)之类的光盘(或磁-光盘)用 作记录介质。光盘记录介质(下文简称为光盘)是以盘形式构造的记 录介质的一般表示，在该盘上信号以凹坑或标记的形式记录，从而通 过用激光照射盘和检测反射光的密度变化可读取信号。用来把数据记录在光盘上/从其读取数据的盘驱动器可构造成处 置多种类型的光盘。在记录读取操作中使用的参数依据光盘的类型而 不同。因此，当光盘安装在盘驱动器上时，盘驱动器确定安装光盘的 类型。当一定类型的光盘具有多个记录层时，必须检测记录层的数量。 一般地，光盘使物理性能信息记录在其上以指示物理性能，如盘的类型、记录层的数量、等等，从而盘驱动器通过读取物理性能信息可确定盘的类型、记录层的数量等等。对于关于相关技术的进一步信息，见例如日本未审查专利申请公
报No.2006-155791。 发明内容为了从光盘读取数据，必要的是，聚焦和跟踪由聚焦伺服控制操 作和跟踪伺服控制操作控制。为了处置对其最佳光学参数不同的多种类型的光盘，必须在伺服 控制操作中尝试各种参数，直到找到用于当前安装光盘的最佳参数， 并且伺服控制操作使用最佳参数成功地工作。因此，由物理性能信息 确定盘的类型和层的数量占用相当长的时间。因而，需要对于在短时 间内进行确定的技术。根据本发明的实施例，提供有一种光学记录介质驱动设备，该光 学记录介质驱动设备包括头部装置，用来发射激光束使得经布置成 物镜在聚焦方向上至少向光学记录介质和远离其可运动的物镜照射 光学记录介质，并且用来检测从用激光束照射的光学记录介质反射的 光；聚焦装置，用来在聚焦方向上驱动物镜；信号产生装置，用来按 照由头部装置检测的反射光产生反射光信号；及控制装置，用来经聚 焦装置驱动物镜，检测在驱动物镜时得到的反射光信号的一个或多个 波峰，确定检测波峰的图案是否与当光学记录介质是单层类型的时可 出现的图案之一相似，及基于关于图案的确定结果确定光学记录介质 是单层类型的还是多层类型的。以上述方式构造的光学记录介质驱动设备能够由当在聚焦方向 上驱动物镜时得到的反射光信号，确定光学记录介质是单层类型的还 是多层类型的。在确定过程中，检查当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射光信 号的图案是否与对于单层类型的光学记录介质可出现的基准图案之 一相似。因为考虑到可能的噪声波峰准备基准图案，所以即使当反射 光信号包括噪声波峰时，也有可能正确地确定给定光学记录介质是单 层类型的还是多层类型的。因而，本发明提供如下优点由当在聚焦方向上驱动物镜时得到
的反射光信号，可迅速进行关于光学记录介质是单层类型的还是多层 类型的确定，而不必在进行伺服控制操作的状态下读取物理性能数 据。此外，即使当反射光信号包括噪声波峰时，也有可能正确地确定 光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。如果光学记录介质的技 术参数允许单层或双层，则有可能正确地确定用于任何光学记录介质 的层数。


图1是方块图，表明根据本发明实施例的光学记录介质驱动设备的内部构造；图2A和2B表明当在聚焦方向上驱动物镜时得到的、从光学记 录介质反射的光信号的图案；图3表明在层数检测中由三波长单透镜拾取器检测的反射光信 号的例子；图4A至4C表明当光学记录介质是单层类型的时可出现的反射 光信号的波峰图案的例子(尽管未表示，不具有噪声波峰的图案也是 可能的)；图5是与根据本发明实施例的确定层数的过程有关的流程图； 图6是与根据本发明实施例的确定层数的过程有关的流程图； 图7A至7C表明当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射光信号 的波峰图案的例子，其中图7A表明对于单层类型的BD得到的图案， 图7B表明对于单层类型的DVD得到的图案，及图7C表明对于CD 得到的图案；图8A和8B表明反射光信号的例子，其中由在记录层处的反射 造成的波峰没有出现，这当用与BD—起使用的激光束照射DVD/CD 时可发生；图9表明反射光信号的例子，其中由在光学记录介质的表面 处的反射造成的波峰没有出现，这当光学记录介质是单层类型的
BD时可发生；图IO是与根据本发明实施例的确定过程有关的流程图；图11表明 一种简单地通过把反射光信号与阈值th-J相比较确定BD是RO类型的还是R/RE类型的方法；图12是与根据本发明实施例的过程有关的流程图； 图13是与根据本发明实施例的过程有关的流程图； 图14是与根据本发明实施例的、确定光学记录介质是BD还是DVD/CD盘的过程有关的流程图；图15是与根据本发明实施例的、确定光学记录介质是单层类型的BD还是双层类型的BD的过程有关的流程图；图16是与根据本发明实施例的控制反射光增益的过程有关的流程图；及图17是与根据本发明实施例的、对于BD选择DPP模式或DPD 模式的过程有关的流程图。
具体实施方式
下面参照特定实施例进一步详细地描述本发明。 第一实施例图1是方块图，表明根据本发明实施例的盘驱动器的内部构造。盘驱动器构造成处置各种光盘D，包括CD (紧致盘)、DVD (数 字多用途盘)、及BD (蓝-光(Blu-ray)盘)。为了以上目的，光学 拾取器1这样构造，使得具有依据光盘D的类型选择的波长780 nm、 650 nm、及405 nm之一的激光从单个激光二极管经单个物镜输出， 由此照射光盘D。这种构造称作三波长单透镜拾取器。在本实施例中，盘驱动器仅为了读取数据的用途而构造。盘驱动 器能够不仅从其中以凹坑和平面(land)的形式记录的ROM型光盘 D读取数据，而且也从诸如一次写光盘或可重写光盘之类的可记录型 光盘D读取数据。在本实施例中，盘驱动器这样构造，使得当光盘D是BD(蓝光
盘)时，盘驱动器可处置两种类型的BD，即具有SL(单层)记录层 的BD和具有DL (双层)记录层的BD。在图1中，在记录/读取操作中，在盘驱动器的旋转台(未表示) 上安装的光盘D由主轴电机2以恒定直线速度(CLV)转动。在读取操作中，在光盘D上在轨道上以凹坑或标记的形式记录 的信息由光学拾取器(光学头)l读取。光盘D具有读取操作管理信息，如以凹凸凹坑或摆动槽的形式 记录的物理性能信息等，并且这样的信息也由光学拾取器l读取。在 其中光盘D是可记录类型的情况下，在摆动槽轨道中嵌入的ADIP信 息也由光学拾取器l读取。光学拾取器i包括激光二极管，用作激光束的源；光电检测器， 用来检测反射光；物镜，用作输出端，通过该输出端输出激光束；及 光学系统，适于把激光束经物镜引导到盘记录表面上和把反射光引导 到光电检测器。在光学拾取器1中的激光二极管适于输出具有780 nm、 650 nm、或405 nm的波长的激光束。在光学拾取器1中，物镜由两轴机构保持，从而物镜在跟踪方向 和聚焦方向上是可运动的。光学拾取器1作为整体在盘的径向方向上通过滑板(sled )机构 3是可运动的。在光学拾取器1中的激光二极管由从激光驱动器9供给的驱动信 号(驱动电流)驱动，借此从激光二极管发射激光束。在本实施例中，为了允许BD用作光盘D，光学拾取器l也包括 用来校正球形象差的机构，尽管它未表示在图中。球形象差校正机构 由SA (球形象差)校正驱动器15驱动，以校正以后将详细描述的球 形象差。由从光盘D反射的光携带的信息由光电检测器检测，并且作为 与入射在光电检测器上的光量相对应的电信号而输出。输出电信号供 给到矩阵电路4。矩阵电路4包括电流-电压转换器，适于转换从光电检测器的
每个光电传感器装置输出的电流；和矩阵操作/放大电路，适于通过进 行矩阵操作产生必需的信号。更明确地说，产生与读取数据相对应的RF信号(读取数据信号)、 及在伺服控制中使用的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE。也产生用来检测槽的摆动的推挽信号PP。此外，在本实施例中，在层数检测中使用的引入(pull-in)信号 PI将在以后详细描述。引入信号PI由读取数据信号的包给出。从矩阵电路4输出的重放数据信号(RF信号)供给到数据信号 处理电路5，聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE供给到伺服电路 11，及推挽信号PP供给到摆动信号处理电路6。引入信号PI供给到系统控制器10。数据信号处理电路5把重放数据信号转换成两-电平数据信号。 数据信号处理电路5也通过进行PLL操作产生时钟信号。此外，数 据信号处理电路5检测来自两-电平数据信号的同步信号。经由数据信号处理电路5进行的二进制化过程产生的两-电平数 据序列供给到译码器7。产生的时钟信号作为操作时钟供给到各种部 分。检测的同步信号供给到译码器7。译码器7译码两-电平数据序列。由译码器7进行的译码过程包 括读取数据的译码、去交叉、ECC译码、及地址译码。在读取操作中，从数据信号处理电路5输出的两-电平数据序列 与同步信号同步地译码，由此得到重放数据。经由译码器7进行的译 码过程得到的读取数据供给到主机接口 8，并且在系统控制器10的控 制下传输到主机装置100。主机装置100的特定例子是计算机和AV (视听)系统。译码地址数据供给到系统控制器10。在其中光盘D是可记录型的情况下，光盘D具有与盘等有关的 管理信息、或由摆动槽记录的ADIP信息。在系统控制器10的控制下，摆动信号处理电路6由从矩阵电路 4输出的推挽信号PP检测在光盘上以摆动槽的形式记录的信息，并 且摆动信号处理电路6把检测信息供给到系统控制器10。 伺服电路11由从矩阵电路4供给的聚焦误差信号FE和跟踪误 差信号TE产生聚焦伺服信号、跟踪伺服信号、及滑板伺服信号，并 且进行伺服控制操作。更明确地说，基于供给到两轴驱动器14的聚焦误差信号FE和 跟踪误差信号TE,产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，借此按照伺 服信号控制光学拾取器1的两轴机构的聚焦线圏和跟踪线圏。注意， 在伺服控制操作中，跟踪伺服环路和聚焦伺服环路由光学拾取器1、 矩阵电路4、伺服电路ll、两轴驱动器14、及两轴机构形成。如果伺 服电路11从系统控制器10接收到轨道跳跃命令，则伺服电路11切 断跟踪伺服环路，并且输出跳跃脉冲，由此进行轨道跳跃操作。伺服电路11按照通过从踪误差信号TE抽取低频分量得到的滑 板误差信号和按照从系统控制器10供给的访问命令经滑板驱动器13 驱动滑板机构3。滑板机构3包括光学拾取器1由其保持的主轴、滑 板电机、及传动齿轮，尽管它们在图中未表示。滑板电机按照滑板驱 动信号被驱动以把光学拾取器1滑动特定距离。伺服电路11适于设置在SA校正驱动器15中的球形象差校正值。 更明确地说，按照来自系统控制器10的命令，伺服电路ll设置在SA 校正驱动器15中的球形象差校正值。SA校正驱动器15按照球形象 差校正值产生驱动信号，由此驱动在光学拾取器l中的球形象差校正 机构。伺服电路11也适于设置聚焦偏差。更明确地说，伺服电路11 把由系统控制器10规定的聚焦偏差施加到聚焦伺服环路。 主轴伺服电路12控制主轴电机2，从而以CLV转动。 更明确地说，如果主轴伺服电路12从数据信号处理电路5获得 指示主轴电机2的当前转动速度的时钟信号，则主轴伺服电路12把 当前转动速度与基准CLV值相比较，并且产生与它们之差相对应的 主轴误差信号。在其中光盘D是可记录型的情况下，关于摆动信号在PLL过程 中产生的时钟信号可以用作指示主轴电机2的当前转动速度的转动速
度信息，并且通过把转动速度信息与基准CLV.值相比较可以产生主 轴误差信号。主轴伺服电路12基于主轴误差信号产生主轴驱动信号，并且把 生成的主轴驱动信号供给到主轴驱动器16。按照供给的主轴驱动信 号，主轴驱动器16驱动主轴电机2，从而以CLV转动。主轴伺服电路12也按照从系统控制器10供给的主轴启动/制动 控制信号产生主轴驱动信号，以启动、停止、加速、或减速主轴电机 2。以上描述的伺服控制操作和读取操作由通过微型计算机实施的 系统控制器IO控制。系统控制器IO按照经主机接口 8由主机装置100给出的命令进 行各种过程。例如，如果从光盘D读取数据并且把它传输到主机装置100的 读取命令由主机装置100发出，则系统控制器10首先进行搜索操作 以搜索特定地址。更明确地说，系统控制器10把搜索命令发送到伺 服电路11，以运动光学拾取器1而访问由搜索命令规定的地址。其次，系统控制器10控制把规定数据传输到主机装置100的操 作。更明确地说，系统控制器10控制数据信号处理电路5和译码器7， 以从光盘D读取规定信号和把数据传输到主机装置100。在以上参照图l描述的实施例中，光学记录介质驱动设备假定是 连接到主机装置100上的盘驱动器。光学记录介质驱动设备可以是构 造成不连接到外部装置上的设备。在这种情况下，光学记录介质驱动 设备的数据输入/输出接口可以与在图1中表示的设备不同地构造。例 如，光学记录介质驱动设备可以另外包括操作单元和显示器，从而按 照经操作单元由用户发出的命令可进行记录/读取操作。光学记录介质驱动设备可以以各种方式进一步不同地构造。例 如，光学记录介质驱动设备可以具有记录功能。就是说，光学记录介 质驱动设备可以是记录/读取设备或记录设备形式的实施例。根据第一实施例具有上述构造的盘驱动器能够检测光盘D的记
录层数。具体地说，当BD作为光盘D安装时，盘驱动器检测BD是SL 型的还是DL型的。如以上描述的那样，光盘D具有指示包括记录层数的盘的物理 性能的数据。因而，通过读取物理性能信息可进行记录层数的检测。为了从光盘D读取数据，要求聚焦伺服控制和跟踪伺服控制正 在成功地工作。启动伺服控制操作占用相当长的时间，并因而由物理 性能信息检测层数相应地占用很长时间。在本实施例中，为了避免关于由启动聚焦伺服控制操作和跟踪伺 服控制操作需要很长时间引起的延迟的以上问题，由当在聚焦方向上 驱动物镜时得到的反射光信号检测层数。基于当在聚焦方向上驱动物镜时从光盘D得到的反射光信号检 测层数例如可按如下进行。图2A和2B表明当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射光信号 的图案。如果光盘具有单个记录层，则反射光信号具有两个波峰(转折 点)，其一个出现在当在盘表面处反射光时，并且其另一个出现在当 在记录层处反射光时，如图2A中所示。如果光盘具有两个记录层， 则反射光信号具有分别与在盘表面处的反射、在第一记录层处的反 射、及在第二记录层处的反射相对应的三个波峰，如图2B中所示。因而，当在聚焦方向上驱动物镜时，如果反射光信号只具有两个 波峰，则确定光盘是单层类型的，而如果反射光信号具有三个波峰， 则确定光盘是双层类型的。然而，在其中光学拾取器l如关于本实施例的情形那样具有三波长单透镜构造的情况下，在反射光信号中包括的噪声可引起层数检测 的误差。这个问题特别当光盘是BD时很严重。图3表明在BD的层数检测中由三波长单透镜拾取器检测的反射 光信号的例子。在这个例子中，当用激光束照射SL (单层)型的BD 时，得到反射光信号(例如，引入信号或聚焦误差信号)。
如图3中所示，当用从三波长单透镜拾取器发射的激光束照射 SL型的BD时，反射光除与在盘表面处的反射和在记录层处的反射相 对应的波峰之外，可包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现 的噪声波峰、在归因于在盘表面处的反射的波峰中出现的噪声波峰、 及在归因于在盘表面处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。已知的是，这些噪声波峰在归因于在盘表面处的反射的波峰之 前、之中、和之后出现，但噪声波峰的准确位置依据盘的特性和/或拾 取器的特性而变。在某些情况下，没有噪声波峰出现。噪声波峰源于来自记录层的光的反射。因此，在双层型的BD中 出现的噪声波峰比在图3中表示的单层型的BD中出现的噪声波峰更 复杂。噪声波峰在与固有波峰出现处的位置不同的位置处的出现，使得 难以使用基于反射光信号的方法检测层数。如果基于反射光信号的层数检测失败，则必须在通过使用伺服控 制方法控制聚焦和跟踪的同时，读取在光盘D上记录的物理性能信 息。在这种情况下，如以上描述的那样，需要很长检测时间。因为复杂的噪声波峰出现在DL型的BD中，所以由对于DL型 的BD得到的反射光信号难以正确地把DL型的BD确定为DL型的 BD。幸运地，当今，在BD中只有两种类型，即SL(单层)型和DL (双层)型。因此，在本实施例中，关于给定BD是产生简单噪声波 峰图案的SL型的进行高度可靠确定，并且如果确定指示给定BD不 是SL型的，那么确定给定BD是DL型的。图4A、 4B、及4C表明对于SL型的BD包括噪声波峰的三种典 型反射光信号图案。在这些图中，假定反射光信号是在其中在聚焦方 向上驱动物镜的过程中得到的引入信号PI (或聚焦误差信号FE)。在图4A中表示的例子中，反射光信号包括归因于在盘表面处的 反射的波峰、归因于在记录层处的反射的波峰、及在归因于在记录层 处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。在图4B中表示的例子中，反 射光信号包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波1
峰、归因于在盘表面处的反射的波峰、及归因于在记录层处的反射的波峰。在图4C中表示的例子中，反射光信号包括在归因于在盘表面 处的反射的波峰之前出现的噪声波峰、归因于在盘表面处的反射的波 峰、归因于在记录层处的反射的波峰、及在归因于在记录层处的反射 的波峰之后出现的噪声波峰。注意，在某些情况下，反射光信号不包括诸如在图4A至4C中 表示的那些之类的噪声波峰，而是反射光信号只包括两个波峰，其一 个归因于在盘表面处的反射，并且其另一个归因于在记录层处的反射 (如图2A中所示)。因而，对于SL型的BD在反射光信号中总共有四种图案，包括 没有噪声波峰的图案。注意，在图4A至4C中表示的例子中，未表示诸如在图3中表 示的波峰之类的归因于在盘表面处的反射的波峰中出现的噪声波峰。 这样一种噪声波峰由于在盘表面处的反射出现在非常靠近固有波峰 的位置处，并且实质上没有盘驱动器检测与固有波峰分离地检测这样 一种噪声波峰的可能性。因此，在反射信号的分析中需要对于这样一 种噪声波峰的特别考虑。因而，反射光信号大体具有四种图案。因而，通过确定当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射光信号中 是否检测到在图4中表示的四种图案的任何一种，进行关于给定BD 是否是SL型的确定。就是说，如果反射光信号具有四种图案的任何一种，则正确地确 定BD是SL型的，并因而有可能正确地确定给定BD是SL (单层) 型的还是DL (双层)型的。在本实施例中，通过使用在归因于在记录层处的反射的波峰、归 因于在盘表面处的反射的波峰、及噪声波峰中信号电平的差别，进行 关于反射光信号的波峰图案是否与四种图案的任何一种相类似的确 定。BD的记录层的反射率依据BD的类型而变。更明确地说，根据 规格，靠近激光束从其入射的表面布置的第一记录层对于BD-RO(只 读型的BD )具有35%至70%的反射率，并且对于BD-R/RE (可记录 型的BD)具有12%至24%的反射率。就是说，反射率在从12%至 70%的范围中。相反，在图4A至4C中表示的噪声波峰和归因于在 盘表面处的反射的波峰具有与在4%至5%的范围中的反射率相对应 的信号电平。这意味着，噪声波峰和归因于在盘表面处的反射的波峰的信号电 平比归因于在记录层处的反射的波峰的信号电平的一半低。因此，具 有比归因于在记录层处的反射的波峰的电平的一半低的电平的任何 波峰，可当作噪声波峰或归因于在盘表面处的反射的波峰。下面描述根据本实施例检测层数的过程的特定例子。注意，下面 描述的过程主要由系统控制器IO进行。在检测层数的过程中，首先，在其中不进行跟踪伺服控制操作和 聚焦伺服控制操作的状态下，用激光束照射安装的光盘D，并且把在 聚焦方向上驱动物镜时得到的引入信号PI输入到矩阵电路4。检测在 引入信号PI中包括的波峰和其波幅，并且存储与波峰有关的信息。 此外，检测波峰数和每个电平的电平。如果检测的波峰数等于2，则确定引入信号PI仅具有归因于在 盘表面处的反射的波峰和归因于在记录层处的反射的波峰。因而，在 这种情况下，确定安装的光盘D是SL型的。在其中检测的波峰数n等于或大于3的情况下，如可从图4理解 的那样，如果n-3或4，则有安装的光盘D是SL型的可能性。换句 话说，如果波峰数n等于或大于5，则安装的光盘D不可能是SL型 的，就是说，安装的光盘D是DL型的。因而，当检测的波峰数n等于或大于3时，关于波峰数n是否 等于或大于5进行进一步的确定，并且如果确定n25,则确定安装的 光盘D是DL型的。另一方面，在其中层数n等于3或4的情况下，有引入信号PI 具有与在图4中表示的图案之一相类似的图案的可能性。这当引入信 号PI除归因于在盘表面处的反射的波峰和归因于在记录层处的反射
的波峰之外，包括在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰(图4A)和在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声 波峰之一或两者时可发生。首先，确定引入信号PI具有与在图4B中表示的图案相类似的 图案，在该图案中，在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪 声波峰只作为辅助波峰出现。如以上描述的那样，即使在最高情况下， 噪声波峰的波幅也不可能大于归因于在记录层表面处的反射的波峰 的波幅的一半。因而，为了确定引入信号PI是否具有在归因于在盘 表面处的反射的波峰之前出现的波峰，进行关于在第一位置处的波峰 的波幅(VI)和在跟随第一位置的第二位置处的波峰的波幅(V2) 是否比在跟随第二位置的第三位置处的波峰的波幅(V3)的一半小的 确定。就是说，进行关于是否和V3/V222的确定，并且如 果确定的结果是肯定的，则确定引入信号PI具有在归因于在盘表面 处的反射的波峰之前出现的波峰。当确定引入信号PI具有在归因于在盘表面处的反射的波峰之前 出现的波峰时，如果波峰数等于3，则确定引入信号PI具有在图4B 中表示的图案。就是说，当确定V3/V122和V3/V2k2时，进一步进 行关于层数n是否等于3确定，并且如果结果指示n-3，则确定光盘 D是SL型的。另一方面，在其中确定i^3的情况下，层数n等于4。在这种情 况下，如果光盘D是SL型的，则唯一可能图案是在图4C中表示的 图案。如果在笫四位置处的波峰是在归因于在记录层处的反射的波峰 之后出现的噪声波峰，则图案与在图4C中表示的图案相类似。情况是否是这样的确定按如下进行。在这个阶段处，已经确定引 入信号PI具有在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波 峰，并因而已经确定在第一位置处的波峰是在归因于在盘表面处的反 射的波峰之前出现的噪声波峰，在第二位置处的波峰是归因于在盘表 面处的反射的波峰，及在第三位置处的波峰是归因于在记录层处的反 射的波峰。在这种情况下，通过确定在第四位置处的波峰的波幅V4 是否等于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3的一半，有可能确定 在第四位置处的波峰是否是在归因于在记录层处的反射的波峰之后 出现的噪声波峰。就是说，通过确定在第四位置处的波峰的波幅V4 是否等于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3的一半，可进行关于 引入信号PI是否具有与在图4C中表示的图案相同的图案的确定。因而，确定是否V3/V422。如果确定结果指示V3/V422,则确定 光盘D是SL型的。如果关于是否V3/V4k2的确定的结果是否定的，则在第四位置 处的波峰必定是归因于在记录层处的反射的波峰。在这种情况下，引 入信号PI具有归因于在记录层处的反射的两个波峰，并因而确定光 盘D是DL型的。在其中关于是否V3/V122和V3/V222的确定的结果是否定的情 况下，引入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出 现的噪声波峰。在这种情况下，进行关于波峰数n是否等于3的进一 步确定。如果确定波峰数n不等于3，则层数n必定等于4，并且引 入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声 波峰。这意味着，引入信号PI的图案与在图4A至4C中表示的图案 的任一种不相似。因而，当确定波峰数n不等于3时，确定光盘D是 DL型的。当n=3时，只有当引入信号PI具有在图4A中表示的图案时才 可能是SL型的。因为已经确定引入信号PI不包括在归因于在盘表面 处的反射的波峰之前出现的噪声波峰，所以可确定在第一位置处的波 峰是归因于在盘表面处的反射的波峰，并且在第二位置处的波峰是归 因于在记录层处的反射的波峰。这意味着，通过确定在第三位置处的 波峰是否是在归因于在记录层处的反射的波峰或在归因于在另 一个 记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰，有可能确定引入信号PI 是否具有在图4A中表示的图案。因而，当11=3时，进行关于在第三位置处的波峰的波幅V3是否 等于或小于在第二位置处的波峰的波幅V2的一半的确定。如杲确定 V2/V322,则确定引入信号PI具有在图4A中表示的图案，并因而光 盘D是SL型的。另一方面，如果关于是否V2/V322的确定的结果是否定的，则 在第三位置处的波峰不可能是噪声波峰，而必定是归因于另 一个记录 层的反射的波峰，并因而光盘D必定是DL型的。在本实施例中，如以上描述的那样，检查当在聚焦方向上驱动物 镜时检测的引入信号PI，以确定引入信号PI是否具有在图4A至4C 中表示的、对于SL型的BD可能发生的图案的任一种。这使得有可 能把SL型的BD正确地检测为SL型的BD，并因而有可能正确地确 定给定BD是SL型的还是DL型的。在本实施例中，如以上描述的那样，基于归因于在记录层处的反 射的波峰具有与噪声波峰和归因于在盘表面处的反射的波峰的波幅 不同的波幅，进行层数的确定。更明确地说，通过检查在波峰中的波 峰数和波幅差是否满足对于单层类型的BD就层数和在波峰中的波幅 差而论预定的标准，进行确定。这使得有可能把SL型的BD正确地 检测为SL型的BD，并因而有可能正确地确定给定BD是SL型的还 是DL型的。在本实施例中，如以上描述的那样，简单地通过检查反射信号， 如当在聚焦方向上驱动物镜时得到的引入信号PI，可进行层数的确 定，而不必在其中正在进行聚焦伺服控制操作和跟踪伺服控制操作的 状态下从光盘D读取指示层数的物理性能信息。这允许检测层数的速 度的巨大改进。根据本实施例的层数的确定，可基于从广泛用来读取信号(数据) 的光电检测器输出的反射光信号，如引入信号PI、或聚焦误差信号 FE，中检测的波峰而进行。因而，不像在日本未审查专利申请公报 No. 2006-155791中公开的技术，在本发明的本实施例中，除用来读取 信号的光电检测器之外不必布置用来检测层数的专用光电检测器。这 允许光学记录介质驱动设备以简单形式构造，并且允许成本降低。参照在图5中表示的流程图，下面进一步详细地描述根据本发明程。在图5中表示的过程由系统控制器10 按照在ROM或类似存储器中存储的程序进行。首先，在步骤S101中，检测在引入信号PI中包括的波峰。更明 确地说，在其中不进行跟踪伺服控制操作和聚焦伺服控制操作的状态 下用从光学拾取器1发射的激光束照射安装的光盘D。在这种状态下， 伺服电路11控制物镜从而在聚焦方向上运动，并且把得到的引入信 号PI输入到矩阵电路4。检测在引入信号PI中包括的波峰和其波幅， 并且存储与波峰有关的信息。其次，在步骤S102中，进行关于波峰数n是否等于2的确定。 如果确定n-2，则过程转到步骤S110。在步骤S110中，确定光盘D 是SL型的。另一方面，在其中在步骤S102中关于是否n=2的确定的结果是 否定的情况下，过程转到步骤S103。在步骤S103中，进行关于波峰 数n是否等于或大于3 (就是说，是否n》3)的确定。如果关于是否nS的确定的结果是否定的，则波峰数必定等于l。 然而，这是矛盾的。因而当在步骤S103中的确定的结果是否定的时， 过程转到步骤S112，以进行错误处置过程。在其中在步骤S103中关于是否n23的确定的结果是肯定的情况 下，过程转到步骤S104。在步骤S104中，进行关于波峰数n是否等 于或大于5 (就是说，是否n》5)的进一步确定。在其中在步骤S104中关于是否n25的确定的结果是肯定的情况 下，过程转到步骤Slll。在步骤S111中，确定光盘D是DL型的。另一方面，在其中在步骤S104中关于是否n25的确定的结果是 否定的情况下，过程转到步骤S105。在步骤S105中，进行关于在第 一位置处的波峰的波幅VI和在第二位置处的波峰的波幅V2是否等 于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3的一半，就是说，关于 V3/V122和的确定。如果关于是否V3/V122和V3/V2S2的确定的结果是肯定的，就 是说，如果在第一位置处的波峰的波幅VI和在第二位置处的波峰的 波幅V2都等于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3的一半，则确 定引入信号PI包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪 声波峰。在这种情况下，过程转到步骤S106，以进行关于波峰数n 是否等于3 (就是说，是否n-3)的确定以确定引入信号PI是否具有 在图4B中表示的图案。如果在步骤S106中关于是否n=3的确定的结果是肯定的，就是 说，如果n-3，则过程转到步骤SllO。在步骤S110中，确定光盘D 是SL型的。另一方面，如果在步骤S106中关于是否n=3的确定的结果是否 定的，就是说，如果n不等于3，则过程转到步骤S107。在步骤S107 中，进行在第四位置处的波峰的波幅V4是否等于或小于在第三位置 处的波峰的波幅V3的一半，就是说，的确定。通过步骤S107，已经确定引入信号PI包括在归因于在盘表面处 的反射的波峰之前出现的噪声波峰，并且波峰数n等于4。在这种情 形下，如果光盘D是SL型的，则对于引入信号PI的唯一可能图案 是在图4C中表示的图案。因而，通过进行在步骤S107中关于在第四 位置处的波峰是否是在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的 噪声波峰的上述检查，确认引入信号PI是否具有在图4C中表示的图 案。如果在步骤S107中关于是否V3/V422的确定是肯定的，就是说， 如果确定V4等于或小于V3的一半，则确定在第四位置处的波峰是 在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。在这种情况 下，过程转到步骤SllO，并且确定光盘D是SL型的。另一方面，如果在步骤S107中关于是否V3/V422的确定是否定 的，就是说，如果确定V4大于V3的一半，则确定在第四位置处的 波峰不是在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰，而 是归因于在记录层处的反射的波峰。在这种情况下，过程转到步骤Slll，并且确定光盘D是DL型的。在其中在步骤S105中关于是否V3/V122和的确定是否
定的情况下，就是说，如果确定引入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰，则过程转到步骤S108。在步 骤S108中，进行关于层数n是否等于3 (就是说，是否n-3 )的进一 步确定。如果在步骤S108中关于是否n-3的确定的结果是否定的，就是 说，如果n不等于3，则层数n必定等于4，并且引入信号PI不包括 在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰。这意味着， 引入信号PI的图案与在图4A至4C中表示的图案的任一种不相似。 因而，如果在步骤S108中的确定是否定的，则过程转到步骤Slll， 并且确定光盘D是DL型的。另一方面，如果在步骤S108中的确定是肯定的，就是说，如果 n=3，则过程转到步骤S109。在步骤S109中，进行关于在第三位置 处的波峰的波幅V3是否等于或小于在第二位置处的波峰的波幅V2 的一半的确定，就是说，进行关于是否的确定。通过步骤S109，已经确定引入信号PI不包括在归因于在盘表面 处的反射的波峰之前出现的噪声波峰，并因而已经确定在第一位置处 的波峰是归因于在盘表面处的反射的波峰，并且在第二位置处的波峰 是归因于在记录层处的反射的波峰。此外，在步骤S108中的确定中， 已经确定波峰数n等于3。在这种情形下，引入信号PI可具有的唯一 可能图案是在图4A中表示的图案。因而，通过进行在步骤S109中关 于在第三位置处的波峰的波幅V3是否等于或小于在第二位置处的波 峰的波幅V2的一半的上述检查，确认在第三位置处的波峰是否是在 归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰，就是说，确认 引入信号PI是否具有在图4A中表示的图案。如果在步骤S109中关于是否V2/V3》2的确定是肯定的，就是说， 如果V3等于或小于V2的一半，则确定在第三位置处的波峰是在归 因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。在这种情况下， 过程转到步骤SllO，并且确定光盘D是SL型的。另一方面，如果在步骤S109中关于是否V2/V322的确定是否定
的，就是说，如果V3大于V2的一半，则确定在第三位置处的波峰 是归因于在记录层处的反射的波峰。在这种情况下，过程转到步骤 Slll，并且确定光盘D是DL型的。在基于在归因于在记录层处的反射的波峰与在噪声波峰或归因 于在盘表面处的反射的波峰之间的波幅差的上述方法中，通过检查在 反射光信号中检测的波峰数和在波峰中的波幅差是否满足对于单层 类型的光盘就层数和在波峰中的波幅差而论预定的标准，如在图4中 表示的那些，进行确定。通过基于第一实施例的可选择方法，可进行关于在反射光信号中 检测的波峰数和相应波峰的波幅是否满足对于单层类型的光盘D预 定的标准的确定。也在基于第一实施例的这种可选择方法中，首先，分析引入信号 PI，以检测波峰、波峰数、及每个波峰的波幅。然后进行关于波峰数n是否等于2的确定。如果n-2，则确定光 盘D是SL型的。如果n不等于2，则关于是否n^3进行进一步的确 定。如果关于是否n23的确定是否定的，则进行误差处置过程。如果nS，则进行关于在第三位置处的波峰的波幅V3是否等于 或小于在第二位置处的波峰的波幅V2的 一半，就是说，是否， 的确定，以确定引入信号PI是否不包括在归因于在盘表面处的反射 的波峰之前出现的噪声波峰而是包括在归因于在记录层处的反射的 波峰之后出现的噪声波峰。当引入信号PI如在图4A中表示的图案中那样，不包括在归因 于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰而是包括在归因于 在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰时，V3必定等于或小 于V2。因而，进行上述确定以检查情况是否是这样。在这种情况下，引入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射 的波峰之前出现的噪声波峰，并且首先出现的波峰必定是归因于在盘 表面处的反射的波峰。因此，如果V3等于或小于V2的一半，则可 确定在第二位置处的波峰是归因于在记录层处的反射的波峰。当V3
等于或小于V2的一半时，也可确定在第三位置处的波峰是在归因于 在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。因而，通过检查是否 V2/V3^2，有可能确定引入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射 的波峰之前出现的噪声波峰而是包括在归因于在记录层处的反射的 波峰之后出现的噪声波峰。如果确定V2/V322,并因而确定引入信号PI不包括在归因于在 盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰而是包括在归因于在记 录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰，则进行关于波峰数n是否 等于3的进一步确定。如果n-3，则引入信号PI具有在图4A中表示 的图案，并因而确定光盘D是SL型的。另一方面，在其中确定n#3的情况下，引入信号PI除在图4A 中表示的图案中包括的那些之外包括第四波峰，并因而光盘D不可能 是SL型的。因而，在这种情况下，确定光盘D是DL型的。另一方面，关于是否V2/V322的确定是否定的，并因而确定它 不是其中引入信号PI不包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前 出现的噪声波峰而是包括在归因于在记录层处的反射的波峰之后出 现的噪声波峰的情形，进行关于引入信号PI是否包括在归因于在盘 表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰的确定，如在图4B或4C中 表示的图案中那样。更明确地说，进行关于在第一位置处的波峰的波幅VI和在第二 位置处的波峰的波幅V2是否都等于或小于在第三位置处的波峰的波 幅V3的一半的确定，就是说，进行关于是否V3/V122和V3/V222的 确定。如果这种确定是肯定的，则可确定在第三位置处的波峰是归因 于在记录层处的反射的波峰，并且在第一和第二位置处的波峰不是归 因于在记录层处的反射。在这种情况下，第一和第二波峰之一必定是 归因于在盘表面处的反射的波峰，并且另 一个必定是在归因于在盘表 面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰。因而，确定在第一位置处的 波峰是在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰，并且 在第二位置处的波峰是归因于在盘表面处的反射的波峰，并因而有引 入信号PI具有在图4B和4C中表示的图案之一的可能性。如果关于是否V3/V122和V3/V222的确定是否定的，就是说， 如果VI和V2都不等于或小于V3的一半，则引入信号PI的图案不 与在图4A至4C中表示的图案的任一种相类似，并且确定光盘D是 DL型的。另一方面，如果确定V3/V122和V3/V2S2，就是说，如果VI和 V2都等于或小于V3的一半，则进一步进行关于层数n是否等于3的 确定。如果11=3,则确定引入信号PI具有在图4B中表示的图案，并 且因而确定光盘D是SL型的。另一方面，在其中确定n3的情况下，进行关于引入信号PI是 否具有在图4C中表示的图案的确定。就是说，进行关于在第四位置 处的波峰的波幅V4是否等于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3 的一半的确定，由此确定在第四位置处的波峰是否是在归因于在记录 层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。如果关于是否V3/V422的确定是整否定的，就是说，如果V4大 于V3的一半，则确定在第四位置处的波峰是归因于在另一个记录层 处的反射的波峰，并因而确定光盘D是DL型的。另一方面，如果V3/V422，就是说，如果V4等于或小于V3的 一半，则确定有引入信号PI具有在图4C中表示的图案的可能性。因而，进行关于波峰数n是否等于4的进一步确定。如果11=4， 则引入信号PI具有在图4C中表示的图案，并因而确定光盘D是SL 型的。如果n^4，则引入信号PI的图案不与在图4A至4C中表示的 图案的任一种相类似，并因而确定光盘D是DL型的。图6表明以上描述的根据第一实施例的修改的操作的处理流程。 在图6中表示的操作由系统控制器10按照在内存中存储的程序进行。在步骤S201中在引入信号PI中包括的波峰的检测、在步骤S202 中关于是否n=2的确定、及在步骤S203中关于是否n23的确定以与 以上参照图5描述的步骤S101、 S102、及S103相类似的方式进行。 如果在步骤S202中的确定是肯定的，则过程转到步骤S210。在步骤 S210中，确定光盘D是SL型的。另一方面，如果在步骤S203中关 于是否nS的确定是否定的，则n必定等于l，但这是矛盾的。在这 种情况下，过程转到步骤S212，以与步骤S112相类似的方式进行错 误处置过程。在其中在步骤S203中关于是否nS的确定是肯定的情况下，过 程转到步骤S204。在步骤S204中，进行关于在第三位置处的波峰的 波幅V3是否等于或小于在第二位置处的波峰的波幅V2的一半的确 定，就是说，进行关于是否V2/V322的确定。如果确定V2/V322，就是说，如果V3等于或小于V2的一半， 则过程转到步骤S205，以进行关于波峰数n是否等于3 (就是说，是 否n=3)的进一步确定。如果在步骤S205中关于是否n=3的确定是肯定的，就是说，如 果11=3,则确定引入信号PI具有在图4A中表示的图案。在这种情况 下，过程转到步骤S210，并且确定光盘D是SL型的。另一方面，如果在步骤S205中关于是否n=3的确定是否定的， 就是说，如果n^3，则引入信号PI除在图4A中表示的图案中包括的 那些之外包括第四波峰，并因而光盘D不可能是SL型的。因而，在 这种情况下，过程转到步骤S211，并且确定光盘D是DL型的。如果在步骤S204中关于是否V2/V3》2的确定是否定的，就是说， 如果V3大于V2的一半，则过程转到步骤S206。在步骤S206中，进 行关于在第一位置处的波峰的波幅VI和在第二位置处的波峰的波幅 V2是否都等于或小于在第三位置处的波峰的波幅V3的一半的确定， 就是说，进行关于是否V3/V122和V3/V222的确定。如果这种确定是肯定的，则有引入信号PI具有在图4B和4C中 表示的图案之一的可能性。如果在步骤S206中关于是否和V3/V2》2的确定是否定 的，就是说，如果V1和V2都不等于或小于V3的一半，则引入信号 PI的图案与在图4A至4C中表示的图案的任一种不相似。在这种情 况下，过程转到步骤S211，并且确定光盘D是DL型的。
另一方面，如果关于是否V3/V122和V3/V222的确定是肯定的， 就是说，如果VI和V2都等于或小于V3的一半，则过程转到步骤 S207,以进行关于波峰数n是否等于3 (就是说，是否11=3)的进一 步确定。如果11=3,则确定引入信号PI具有在图4B中表示的图案， 并且过程转到步骤S210。在步骤S210中，确定光盘D是SL型的。如果在步骤S207中关于是否n=3的确定是否定的，就是说，如 果n不等于3，则过程转到步骤S208。在步骤S208中，进行关于在 第四位置处的波峰的波幅V4是否等于或小于在第三位置处的波峰的 波幅V3的一半的确定，就是说，进行关于是否V3/V422的确定。如果关于是否V3/V422的确定是否定的，就是说，如果V4大于 V3的一半，则确定在第四位置处的波峰是归因于在另一个记录层处 的反射的波峰。因而，在这种情况下，过程转到步骤S211，并且确定 光盘D是DL型。如果在步骤S208中关于是否V3/V422的确定是肯定的，就是说， 如果V4等于或小于V3的一半，则过程转到步骤S209，以进行关于 波峰数n是否等于4，就是说，是否n=4，的进一步确定。进行这种 确定，以检查引入信号PI是否具有在图4C中表示的图案。如果确定n=4，则过程转到步骤S210,并且确定光盘D是SL型的。然而，如果确定11*4,则过程转到步骤S211，并且确定光盘D 是DL型的。确定在反射光信号中检测的波峰数和在波峰中的波幅差是否满 足就对于单层类型的光盘可能的波峰图案而论预定的标准的方法，不 限于以上描述的例子。以上已经描述了根据第一实施例确定层数的方法。注意，确定层 数的过程不限于以上描述的特定例子。例如，在以上描述的例子中，关于由反射光信号检测的波峰图案 是否与包括对于单层类型的光盘可能的噪声波峰的图案之一相似的 确定是通过检查在反射光信号中检测的波峰数和在波峰中的波幅差 是否满足按照对于单层类型的光盘可能的波峰图案而预定的标准而 进行的。然而，确定可以不同地进行。例如，在反射光信号的波形与相应基准图案的波形之间可以计算相关性，如在图4中表示的那些，这些对于单层类型的光盘是可能的， 并且可以检测具有与由反射光信号检测的图案的波形相似的波形的 基准图案。然而，相关性的计算需要相当长的时间，并因而这种方法对于实 现确定层数需要的时间减少不是便利的。相反，在根据本实施例的上 述方法中，关于在反射光信号中检测的波峰数和在波峰中的波幅差是 否满足预定标准的确定包括相当简单的过程，如波峰的检测、划分操 作、及比较操作，这些不需要复杂的处理。因而，根据本实施例的方 法在减小确定层数需要的处理时间方面是便利的。在以上描述的实施例中，作为例子，进行关于安装BD是单层类 型的还是双层类型的确定。注意，本发明的实施例可以用来确定其它 类型的光学记录介质的类型，关于光学记录介质是单层类型的还是多 层类型的。如果包括对于具有单层的不同类型的光学记录介质可能的噪声 波峰的波峰图案与在图4中表示的那些相类似，则有可能通过使用上 述方法容易地确定光学记录介质具有单层还是多层。如果光学记录介 质的规格只允许单元或双层，则有可能对于任何光学记录介质正确地 确定层数。如果包括对于具有单层的光学记录介质可能的噪声波峰的波峰 图案与在图4中表示的那些不同，则把由反射光信号实际检测的波峰 图案与可能图案相比较，以确定检测图案是否与可能图案之一相类 似，由此确定光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。也在这种 情况下，如果光学记录介质的规格只允许单层或双层，则有可能对于 任何光学记录介质正确地确定层数。在以上描述的实施例中，作为反射光信号得到的引入信号PI用 来确定层数。可选择地，如果通过检测从用激光束照射的光学记录介 质反射的光得到信号，并且信号包括与在光学记录介质的表面和记录 层处的反射相对应的、当在聚焦方向上驱动物镜时得到的波峰，则可 以使用诸如聚焦误差信号之类的其它信号。在以上描述的实施例中，假定多波长单透镜拾取器用作光学拾取 器。可选择地，可以使用其它类型的光学拾取器。根据本实施例确定层数的方法可以用在其中反射光信号不包括 噪声波峰的情形中。因而，当使用除多波长单透镜拾取器之外的类型 的光学拾取器时，即使这样一种光学拾取器导致没有噪声波峰的出 现，也有可能正确地检测层数而没有任何问题。相反，当使用除多波长单透镜拾取器之外的类型的光学拾取器 时，即使检测光信号由于某种原因包括噪声波峰，也有可能直接使用 根据本实施例的方法正确地检测层数。第二实施例现在，描述本发明的第二实施例。在第二实施中，如在以上描述的第一实施例中那样，基于当在聚 焦方向上驱动物镜时得到的在反射光信号中检测的波峰，确定给定光盘D的类型。在第二实施例中使用的盘驱动器在构造方面与在图1中表示的 盘驱动器类似，并且这里省略其重复解释。在图1中表示的盘驱动器适于三种类型的光盘D,就是说，BD、 DVD、及CD，的处置。因而，在安装光盘D的类型的确定中，首先 进行关于光盘D是否是BD型的、DVD型的、或CD型的粗略确定， 并且然后进行检测光盘D的子类型的进一步确定。例如，当安装光盘 D是BD时，进行关于BD是否是RO型、R型的、或RE型的进一 步确定。在DVD的情况下，进行关于DVD是ROM型的、R型的、 或RW型的进一步确定。在粗略确定中，首先进行关于安装光盘D是否是BD型的确定。 如果确定光盘D不是BD型的，那么进行关于光盘D是否是DVD型 的进一步确定。
首先进行关于安装光盘D是否是BD型的确定，因为BD是所有 光盘的最新类型，并因而期望BD被最频繁地使用。基于在表面到记录层之间的距离依据类型而变的事实，可以进行 在BD、 DVD、及CD中类型的确定。图7A至7C表明对于SL型的BD(图7A ) 、 SL型的DVD(图 7B)、及CD(图7C)的情形、当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反 射光信号(例如，引入信号PI)中检测的波峰图案的例子。从盘表面到记录层的距离对于BD大约是0.1 mm，对于DVD是 0.6 mm，及对于CD是1.2 mm。因此，在与在盘表面处的反射相对 应的波峰和与在记录层处的反射相对应的波峰之间的距离对于BD具 有与0.1 mm相对应的值，对于DVD具有与0.6mm相对应的值，及 对于CD具有与1.2 mm相对应的值。因而，有可能基于在波峰之间的距离确定在BD、 DVD、及CD 中的盘类型。在根据第二实施例的盘驱动器中，如以上描述的那样，通过顺序 检查盘是否是BD、盘是否是DVD、或盘是否是CD进行盘类型的确 定。就是说，首先，发射用于BD的激光束，并且进行关于盘是否是 BD的确定。然而，当使用用于BD的激光束时，有如果安装的光盘D是 DVD/CD则激光束的焦点没有到达记录层的可能性，因为如以上描述 的那样，记录层在DVD/CD中比在BD中形成在较深位置处。当使用用于BD的激光束时，如果光盘D是数据已经记录在其上 的DVD-RW、 DVD+RW、或CD-RW，则来自记录层的反射光信号 的密度较低，并因而有检测不到与在记录层处的反射相对应的波峰的可能性。就是说，在其中在盘类型的确定中首先使用用于BD的激光束的 方法中，有对于DVD (图8A)或CD (图8B)检测不到与在记录层 处的反射相对应的波峰的可能性。因此，在确定过程的这个阶段处，不可能正确地确定所有盘类型。
然而，当使用用于BD的激光束时，如果光盘D是BD则有可能 检测到两个波峰。因此，如果当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射 光信号只包括一个波峰，则可确定光盘D是除BD之外的类型的盘， 就是说，可确定光盘D是DVD/CD。如果反射光信号包括两个波峰， 则可确定光盘D是BD。因而，有可能确定光盘D是BD还是其它类 型的盘。然而，在确定盘类型的上述方法中，如果在光盘D上在检测点 处有灰尘或缺陷之类的污染，则有检测不到归因于在盘表面处的反射 的波峰的高度可能性。用于BD的激光束与用于DVD或CD的激光 束相比具有较小斑点尺寸，并因而即使具有小尺寸的污染或缺陷也能 大大地散射激光束，这可使得难以检测与在盘表面处的反射相对应的 波峰。因而，即使当光盘D是BD时，也有检测不到与在盘表面处的反 射相对应的波峰的可能性，并且只检测到一个波峰。在这种情况下， 反射光信号具有诸如在图9中表示的图案之类的图案。总之，如果通过基于波峰数简单地进行光盘D是BD还是其它类 型的盘的确定，则有确定是错误的可能性。如果把BD错误地确定为除BD之外的盘，则确定过程将转到下 个步骤，以通过使用用于DVD的激光束确定光盘D是否是DVD。这 可能使得盘驱动器不可能正确地启动操作，或者可导致在启动操作时 的大的延迟。在这种情况下，在安装光盘D之后，用户必须耐心地等 待很长时间，直到设备准备好使用。在第二实施例中，为了避免以上问题，使用用于BD的激光束关 于安装光盘D是BD还是其它类型盘的首先确定按如下进行。首先，在系统控制器10的控制下，在其中不进行跟踪伺服控制 操作和聚焦伺服控制操作的状态下，用激光束照射安装光盘D。如以 上描述的那样，在这种情况下，使用具有405 nm波长的用于BD的 激光束。在其中用激光束正在照射安装光盘D的这种状态下，在聚焦方
向上驱动物镜。作为反射光信号得到的引入信号PI输入到矩阵电路4。 引入信号PI被分析以检测波峰和每个波峰的波幅，并且存储与波峰 有关的信息。因而，已经获得指示波峰数n的、在引入信号PI中包 括的信息和每个波峰的波幅。这里，对于BD可能的波峰的图案概括如下。当使用用于BD的激光束时，如果光盘D在盘表面上没有污染或 缺陷，则波峰按如下出现。如果光盘D是BD-SL，则两个波峰出现在表面和记录层处。如果光盘D是BD-DL，则三个波峰出现在表面、第一记录层、 及第二记录层处。因而，当光盘D是没有污染或缺陷的BD时，检测到两个或更多 个波峰。当光盘D是具有污染或缺陷的BD时，波峰按如下出现。 如果光盘D是BD-SL，则只有一个波峰出现在记录层处。 如果光盘D是BD-DL，则两个波峰出现在第一记录层和第二记 录层处。当光盘D是DVD或CD时，在使用用于BD的激光束得到的反 射光信号中，如图8A和8B中所示，只有一个波峰出现在盘表面处， 而与是否有污染或缺陷无关。因而，在其中光盘D是具有污染或缺陷的BD-SL和其中光盘D 是DVD/CD的两种情况下都仅检测到一个波峰。这可引起盘类型被错 误地确定。为了防止这样一种错误确定，当波峰数n等于l时，进行进一步 的确定，以确认光盘D是BD还是其它类型的盘。在第二实施例中，为了以上目的，使用在盘表面与记录层之间的 反射率差。盘表面具有4至5%的反射率，而BD的记录层具有12至 70%的反射率。就是说，当波峰数n等于1时，进行关于检测信号波峰是否具有 与4至5%的反射率相对应的波幅的确定，由此确定检测信号波峰是
否是归因于在盘表面处的反射。更明确地说，通过确定波峰的波幅是 否低于预定阈值，进行关于检测波峰是否是归因于在盘表面处的反射 的确定。如果确定检测波峰归因于在盘表面处的反射，则确定在图8A和 8B中表示的情形之一已经发生，并因而确定当前光盘D是DVD/CD 型的。另一方面，如果确定检测波峰不归因于在盘表面处的反射，则有 波峰归因于来自在BD的特定点处的污染或缺陷的反射的可能性。为 了检查情况是否是这样，在光盘D上的不同点处进行波峰检测。更明 确地说，光学拾取器1由滑板机构3在光盘D的径向方向上运动预定 距离，并且在聚焦方向上运动物镜的同时在光盘D上的这点处再次进 行波峰检测。如果在光盘上的新点处的重新检测中检测到两个或更多个波峰， 就是说，如果"2，则可在BD激光束不到达DVD/CD型光盘D的记 录层的假设上，确定安装光盘D是BD。然而，尽管当使用BD激光时激光斑不到达DVD/CD型光盘D 的记录层的假设在大多数情况下保持，但这种假设不一定在所有情况 下保持。就是说，有BD激光的激光斑到达DVD/CD型的光盘D的 记录层的可能性，尽管可能性非常低。就是说，有对于DVD/CD型的 光盘D检测到两个或更多个波峰的很小概率。这意味着，当检测到两个或更多个波峰时，如果确定当前光盘D 是BD ，则有DVD/CD型的光盘D被错误地检测为BD的可能性。为了避免这样一种错误确定，当检测到两个或更多个波峰时，进 行关于在第一波峰与第二波峰之间的距离是否等于或小于预定阈值 的进一步确定。在SL型的BD的情况下，在盘表面与记录层之间的距离是0.1 mm。在DL型的BD的情况下，在盘表面与第一记录层之间的距离是 75 nm，并且在第一记录层与第二记录层之间的距离是25 nm。当光 盘D是DL型的BD时，即使有污染或缺陷也出现至少两个波峰(在
第一记录层和第二记录层处)，并且在与第一和第二记录层相对应的这两个波峰之间的距离具有与0.1 mm相对应的值。另一方面，在盘 表面与记录层之间的距离对于DVD盘是0.6 mm,并且对于CD盘是 1.2 mm。因而，由在两个波峰之间的距离有可能按如下确定盘类型。就是 说，当波峰数n等于或大于2，并且有光盘D是BD或DVD/CD的可 能性时，如果在第一波峰与第二波峰之间的距离具有与0.1 mm或更 小相对应的值，则光盘D是BD，但如果距离具有与0.6 mm或更大 相对应的值，则光盘D是DVD/CD。更明确地说，进行关于在第一与第二波峰之间的距离比与0.3 mm相对应的值小的确定。如果是这样，则确定光盘D是BD，而否 则确定光盘D是DVD/CD型的。因而，当检测到两个或更多个波峰时，以上述方式进行基于在第 一与第二波峰之间的距离的检查，以正确地确定光盘D是BD型的还 是DVD/CD型的。这使得有可能防止归因于BD激光的激光斑点对于 DVD/CD型的光盘D的记录层的到达的错误确定。在其中波峰的重新检测的结果不是波峰数n等于或大于2的情况 下，安装光盘D是对其已经失去表面反射波峰的BD的可能性非常小。 因而，在这种情况下，确认安装光盘D是否是DVD/CD型的。更明确地说，进行关于波峰数n是否等于1的确定。如果n-l， 则进行关于波峰是否具有与4至5%的反射率相对应的波幅的进一步 确定。如果是这样，则确定安装光盘D是DVD/CD型的。如果波幅不与4至5%的反射率相对应，则进行错误处置过程而 不进行波峰的进一步重新检测。就是说，在这种情况下，作为波峰重 新检测的结果，确定波峰数n等于l，并且波峰的波幅指示波峰不归 因于在盘表面处的反射。然而，这对于包括BD、 DVD、及CD盘的 任何类型的光盘不可能发生。因而，在这种情况下，进行错误处置过 程。在以上解释中，假定波峰数n是2或1。然而，有n-0的可能性，
就是说，检测不到波峰。如果波峰数n等于0，则以与上述相似的方式，在光盘D的不同 点处重新尝试波峰的检测。基于波峰的重新尝试检测的结果，以与上 述相似的方式进行确定。更明确地说，首先，进行关于波峰数n是否等于或大于2的确定。 如果n22,则进行关于在第一与第二波峰之间的距离是否等于或小于 与0.3 mm相对应的值的进一步确定。如果是这样，则确定安装光盘 D是BD，而否则确定安装光盘D是DVD/CD型的。如果确定的结果拒绝n22，则进行关于波峰数n是否等于1的进 一步确定。如果11=1，则如上所述，进行关于波峰具有与4至5%的 反射率相对应的波幅的进一步确定。如果是这样，则确定安装光盘D 是DVD/CD型的。当n-l时，如果波峰的波幅不与4至5%的反射率 相对应，则进行错误处置过程而不进行波峰检测的进一步重新尝试。如果波峰的重新尝试检测的结果指示波峰数n不等于1，而是等 于0 (就是说，如果在两个不同检测点处都是n=0),则确定没有安 装盘。如以上描述的那样，当波峰数n等于0时，考虑到由于某种原因 没有检测到SL型BD的表面或记录层的可能性、或没有检测到 DVD/CD盘的表面的可能性，重新尝试波峰的检测而不立即确定没有 安装盘。图10表明根据本发明第二实施例确定安装光盘D是BD还是 DVD/CD的操作的处理流程。在图10中表示的操作由系统控制器10按照在内部存储器中存储 的程序进行。首先，在步骤S301中，以与在图5中的步骤S101相类似的方式 检测在引入信号PI中包括的波峰。其次，在步骤S302中，进行关于波峰数n是否等于或大于2 (就 是说，是否n22)的确定。如果关于是否n22的确定是否定的，则过程转到步骤S303。在 步骤S303中，进行关于波峰数n是否等于1的确定。如果n-l，则过程转到步骤S304。在步骤S304中，通过确定波 峰的波幅是否低于预定阈值，进行关于波峰是否具有与4至5%的反 射率相对应的波幅的进一步确定。如果关于波峰的波幅是否低于预定阈值的确定是肯定的，则过程 转到步骤S305。在步骤S305中，确定安装光盘D是DVD/CD型的。另一方面，如果关于波峰的波幅是否低于预定阈值的确定是否定 的，则过程转到步骤S306。在步骤S306中，确定在步骤S308或S311 中是否已经进行波峰检测的重新尝试。如果确定已经进行重新尝试，则过程转到步骤S307。在步骤S307 中，进行预定错误处置过程。另一方面，如果在步骤S306中确定还没有进行重新尝试，那么 过程转到步骤S308以重新尝试波峰检测。在这个重新尝试过程中， 首先，控制伺服电路11,使得光学拾取器1由滑板机构3在盘的径向 方向上运动预定距离。此后，以与步骤S301相类似的方式进行波峰 确定过程，就是说，在光盘D上在与以前点不同的点处重新尝试波峰 检测。在步骤S308的完成之后，过程如图10中所示返回到步骤S302, 以进行关于波峰数和每个波峰的波幅的重新确定。如果在步骤S303中关于是否n=l的确定是否定的，则过程转到 步骤S309。在步骤S309中，如在步骤S306中那样，确定在步骤S308 或S311中是否已经进行波峰检测的重新尝试。如果确定已经进行重新尝试，则过程转到步骤S309。在步骤S309 中，确定没有安装盘。另一方面，如果确定还没有进行重新尝试，那么过程转到步舉 S311。在步骤S311中，重新尝试波峰的检测。此后，过程返回到步 骤S302。在其中在步骤S302中关于是否n22的确定是否定的情况下，过 程转到步骤S312。在步骤S312中，通过确定在第一与第二波峰之间
的距离是否等于或小于预定阈值，进行关于在第一与第二波峰之间的距离是否等于或小于与0.3 mm相对应的值的进一步确定。如果在步骤S312中关于在第一与第二波峰之间的距离是否等于 或小于与0.3 mm相对应的值的确定是否定的，则过程转到步骤S305。 在步骤S305中，确定安装光盘D是DVD/CD型的。如果在步骤S312中关于在第一与第二波峰之间的距离是否等于 或小于与0.3 mm相对应的值的确定是肯定的，则过程转到步骤S313。 在步骤S313中，确定光盘D是BD。在第二实施例中，如以上描述的那样，当波峰数n等于l，并且 有光盘D是具有引起在盘表面处的波峰消失的污染的DVD/CD或 BD-SL的可能性时，在光盘D上的不同点处重新尝试波峰检测，并且 重新估值波峰数n、和每个波峰的波幅，由此即使当光盘D具有污染 等时也保证正确地进行关于光盘D是否是BD或DVD/CD的确定。此外，在第二实施例中，如以上描述的那样，当波峰数i^2时， 不立即确定光盘D是BD，而是进行关于在第一与第二波峰之间的距 离是否等于或小于预定阈值的进一步确定。如果距离等于或小于预定 阈值，则确定光盘D是BD，而否则确定光盘是DVD/CD。这使得即 使在其中用于BD的激光束的激光斑点到达DVD/CD的记录层的情况 下，也有可能正确地确定光盘D是BD还是DVD/CD。在根据第二实施例的上述例子中，进行波峰检测的重新尝试，从而通过驱动滑板机构3把在盘上的检测点变化到新的不同点，并且在 盘上的新检测点处进行波峰检测的重新尝试。可选择地，通过驱动主 轴电机2可以改变检测点。然而，当驱动主轴电机2时，要停止主轴 电机2占用相当长的时间。从这个观点看，更希望滑板机构3的使用， 以实现检测时间的减少。 第三实施例现在，描述本发明的第三实施例。在这个第三实施例中，当BD作为光盘D安装时，依据BD的类 型选择最佳跟踪模式。
在第三实施例中使用的盘驱动器在构造方面与在图1中表示的 盘驱动器相似，并且这里省略其重复解释。在用于BD的盘驱动器中，依据BD是诸如BD-RO之类的只读 型的还是诸如BD-R或BD-RE之类的可记录型的选择最佳跟踪方法。 更明确地说，当光盘D是BD-RO时，使用DPD (微分相位检测)跟 踪方法，而对于BD-R和BD-RE使用DPP (微分推挽)跟踪方法。如果选择不正确的跟踪方法，则跟踪伺服控制不正确地工作，或 者数据不能正确地从盘读取。因此，当安装光盘D时，必须在开始跟踪伺服控制之前确定安 装的光盘D是BD-RO还是BD-R/BD-RE。关于安装的光盘D是BD-RO还是BD-R/BD-RE的确定可以基 于在盘类型中记录层的反射率的差别进行，如图11中所示。如以上 描述的那样，BD-RO (SL)的记录层具有35至70%的反射率，而 BD-R/BD-RE的记录层具有12至24%的反射率。因而，通过把在图 11中表示的阈值th-J设置到与30%的反射率相对应的值或类似值， 有可能检测盘类型。然而，BD的规格允许BD-RO具有与BD-R/BD-RE的反射率相 似的低反射率。就是说，有安装BD是具有低反射率的BD-RO的可 能性。在DVD/BD混合型的低反射率BD-RO的情况下，BD-RO层 形成在离盘表面所测量的0.1 mm的深度处，并且DVD-ROM层形成 在0.6 mm的深度处。在CD/BD混合型的低反射率BD-RO的情况下， BD-RO层形成在离盘表面所测量的0.1 mm的深度处，并且CD-ROM 层形成在1.2 mm的深度处。低反射率BD-RO的存在导致简单地基于阈值th-J确定盘类型引 起选择不正确的跟踪方法的可能性。更明确地说，例如，当安装低反射率BD-RO时，有安装盘被错 误地确定为BD-R/BD-RE的可能性，并因而错误地选择DPP跟踪方 法，而不是正确的DPD跟踪方法。如以上描述的那样，如果使用错误的跟踪伺服方法，则有不能读
取数据的可能性，尽管安装的光盘D是诸如DVD/BD混合式或CD/BD 混合式之类的、满足规格的盘。在第三实施例中，为了避免以上问题，依据包括DVD/BD混合 式或CD/BD混合式的盘类型按如下正确地选择跟踪方法。基本上，使用在图11中所示的阈值th-J进行确定。更明确地说， 首先，如在以上描述的第一和第二实施例中那样，由反射光信号(例 如，引入信号PI)检测波峰，并且进行关于是否有具有等于或大于阈 值th-J的波幅的波峰的确定。如果发现具有等于或大于阈值th-J的波幅的波峰，则选择DPD 跟踪模式。如果反射光信号不包括具有等于或大于阈值th-J的波幅的波峰， 则试验性地选择DPP跟踪模式，并且它在以DPP模式进行跟踪伺服 控制操作的同时试图读取数据。注意，通过切换在光学拾取器l中的检测器由此切换输出信号、 并且也通过切换在矩阵电路4中计算跟踪误差信号的模式，切换在 DPP模式与DPD之间的跟踪模式。在以DPP模式开始跟踪伺服控制操作之后，确定伺服控制是否 成功地工作和是否可正确地读取数据。如果在DPP跟踪模式中可正确地读取数据，则确定安装光盘D 是R/BD-RE，并因而保持DPP跟踪模式。然而，如果不能正确地读取数据，则确定安装光盘D是低反射 率BD-RO，并且把跟踪模式切换成DPD模式。如以上描述的那样，当反射光信号没有具有等于或大于阈值th-J 的波幅的波峰，并且有安装光盘D是BD-R/BD-RE或低反射率BD-RO 的可能性时，试验性地选择DPP跟踪模式，并且进行关于安装光盘D 是否是BD-R/BD-RE的确定。这使得有可能正确地检测低反射率 BD-RO。因而，有可能依据包括BD-RO、 RB-R、 BD-RE、及低反射 率BD-RO的盘类型正确地选择最佳跟踪模式。在以上描述中，已经讨论了关于对低反射率BD-RO的错误确定 的问题。在实践中，即使顺序型的BD-RO由于激光二极管的退化、 在盘表面上污染的沉积、在盘表面上的缺陷、等等，也可能没有具有 等于或大于阈值th-J的波幅的波峰。而且在这种情况下，关于低反射 率BD-RO，错误地选择DPP跟踪模式，尽管安装光盘D是BD-RO。在第三实施例中，即使当顺序型的BD-RO没有具有等于或大于 阈值th-J的波幅的波峰时，也有可能选择正确的跟踪模式。图12是流程图，表明根据本发明第三实施例的过程。在图12中表示的过程由系统控制器10按照在ROM或类似存储 器中存储的程序进行。首先，在步骤S401中，以与在图5中表示的步骤S101相类似的 方式进行波峰检测过程。在步骤S402中，进行关于引入信号PI是否包括具有等于或大于 阈值th-J的波幅的波峰的确定。如果关于引入信号PI是否包括具有 等于或大于阈值th-J的波幅的波峰的确定是肯定的，则确定安装的光 盘D是BD-RO，并因而过程转到步骤S405，并且选择DPD跟踪模 式。更明确地说，控制矩阵电路4以在DPD跟踪模式中产生跟踪误 差信号TE。尽管在图1中，控制线在系统控制器10与矩阵电路4之间，但 控制线布置在它们之间以实现第三实施例。如果在步骤S402中关于引入信号PI是否包括具有等于或大于阈 值th-J的波幅的波峰的确定是否定的，则过程转到步骤S403，并且 选择DPP跟踪模式。更明确地说，控制矩阵电路4以在DPP跟踪模 式中产生跟踪误差信号TE。其次，在步骤S404中，进行关于是否成功地检测伺服控制并因 而是否可成功地读取数据的确定。更明确地说，命令被发送到伺服电路11，以开始跟踪伺服控制 操作，并且访问在光盘D上的特定地址以读取在该地址处存储的数 据。如果满足预定条件(例如，如果误差率小于预定阈值)，则确定 伺服控制正在成功地工作，并且有可能正确地读取数据。如果在步骤S404中确定伺服控制正在成功地工作并且有可能正 确地读取数据，则本过程结束。注意，在这种情况下，把DPP模式 选择为跟踪模式。另一方面，如果在步骤S404中的确定是否定的，就是说，如果 数据的读取失败，则过程转到步骤S405。在步骤S405中，把DPD模 式选择为跟踪模式。从步骤S405至S405的这种处理流程防止当安装 光盘D是低反射率BD-RO时简单地基于反射率错误地选择DPP跟踪 模式。在以上描述中，已经讨论了防止对于通常具有高反射率的ROM 盘错误地选择DPP跟踪模式的方法。相反，有具有低反射率的R/RE 盘错误地确定为具有高反射率的ROM盘的可能性。这样一种错误确定由于光学系统的特性的变化或在诸如环境温 度之类的环境条件下的变化可发生，这可使反射光信号的波峰错误地 检测为高。根据第三实施例防止R/RE盘错误地确定为ROM盘的方法可以 按如下修改。当引入信号PI没有具有等于或大于阈值th-J的波幅的波峰，并 因而选择DPD跟踪模式时，进行关于跟踪伺服控制是否以DPD模式 工作并因而是否可成功地读取数据的确定。如果可正确地读取数据， 则确定安装光盘D是ROM盘，并且保持DPD跟踪模式。如果不能正确地读取数据，则跟踪模式切换到DPP模式，并且 进行关于是否可正确地读取数据的确定。如果可正确地读取数据，则 确定安装的光盘D是R/RE盘，并且保持DPP跟踪模式。也在这种可选择方法中，即使在其中有R/RE盘具有异常高的波 幅的波峰的可能性的情况下，也有可能依据是否可正确地读取数据选 择正确的跟踪模式。图13表明根据第三实施例的修改的操作的处理流程。在图13 中表示的过程由系统控制器10按照在ROM或类似存储器中存储的 200710161328. 1说明书第38/46页程序进行。首先，以与在图12中表示的步骤S401和S402相类似的方式进 行步骤S501和S502。如果在步骤S502中关于引入信号PI是否包括 具有等于或大于阈值th-J的波幅的波峰的确定是否定的，则过程转到 步骤S503，并且选择DPP跟踪模式。如果在步骤S502中确定引入信 号PI包括具有等于或大于阈值th-J的波幅的波峰，则过程转到步骤 S504,并且选择DPD跟踪模式。在其中在步骤S503中选择DPP跟踪模式的情况下，过程转到步 骤S505，以确定跟踪伺服控制是否成功地以DPP模式工作并因而是 否可正确地读取数据。如果可正确地读取数据，则过程在其中选择 DPP跟踪模式的状态下结束。然而，如果不能正确地读取数据，则过程转到步骤S504，并且 把DPD模式选择为跟踪模式。在其中在步骤S504中选择DPD跟踪模式的情况下，在步骤S506数据的进一J确定。如果在步骤S506中关于伺服控制^否正在成功 地工作并且是否有可能正确地读取数据的确定是肯定的，则过程在其 中选择DPD跟踪模式的状态下结束。如果在步骤S506中的确定是否定的，就是说，如果不能正确地 读取数据，则过程返回到步骤S503，并且选择DPP跟踪模式。因而， 即使当对于R/RE盘波峰被错误地确定成波幅大于阈值th-J，并且错 误地选择DPD跟踪模式时，以后进行的关于伺服控制是否成功地工 作并且是否可正确地读取数据的检查，也使得有可能最终选择正确的 跟踪模式。在以描述的修改方法中，过程具有其中"数据不能正确地读取，，—"跟踪模式切换到另 一种模式，，~>"进行关于是否可正确地读取数据的确定"的循环。在其中作为由于灰尘等的沉积或光学系统特性或环境条件的变化而反射率增大或减小的结果发生错误确定的情况下，关于跟踪模式
的确定收敛到跟踪模式之一。然而，如果盘驱动器或光盘D具有故障， 则有无尽地执行循环的可能性。为了防止以上问题，当在基于与阈值th-J有关的波峰波幅选择 的跟踪模式中不能正确地读取数据时，希望限制跟踪模式切换到另一 种跟踪模式的次数。例如，把次数限制到一次。第四实施例现在，描述本发明的第四实施例。在这个第四实施例中，把根据第一至第三实施例的技术相结合， 从而经一系列处理步骤进行包括确定光盘D是BD还是DVD/CD，如 果光盘D是BD则进一步确定BD是SL型的还是DL型的，及选择 DPP/DPD跟踪模式的过程。在第四实施例中使用的盘驱动器在构造方面与在图1中表示的 盘驱动器相类似，并且这里省略其重复解释。然而，根据第四实施例的过程除根据第一至第三实施例的那些组 合的过程之外，包括通过依据检测的反射光信号的电平调节光电检测 器的灵敏度而调节反射光信号的增益的步骤。进行增益的调节，从而补偿由激光二极管随时间的退化或在物镜 上灰尘等的沉积造成的反射光信号的电平的减小。在以上描述的每个实施例中，基于在反射光信号中包括的波峰的 波幅进行盘类型的确定和记录层数的确定。因而，反射光信号电平的 减小可使确定变得不正确。为了实现增益的调节，当盘驱动器从工厂装运时从盘表面反射的 光信号的电平(例如，引入信号PI的电平)被测量作为反射光信号 的基准电平，并且存储在系统控制器10中布置的存储器中。在操作 中，每当光盘D安装在盘驱动器上时，测量在其中激光光聚焦在光盘 D的表面上的状态下反射信号电平的电平(换句话说，测量第一波峰 的波幅)，并且把从盘表面反射的光信号的测量电平与反射光信号的 基准电平相比较，及按照比较结果调节反射光信号的增益。更明确地 说，如果反射光信号的测量电平比反射光信号的基准电平低，则把反
射光信号的增益增大预定量。反射光信号的增益的调节使得有可能把反射光信号的电平控制 成等于反射光信号的基准电平而与激光二极管随时间的退化或在物 镜上灰尘等的沉积无关，由此保证基于在反射光信号中包括的波峰的 波幅可正确地进行盘类型的确定和记录层数的确定。在第四实施例中，依据反射光信号电平的减小以两步方式进行增 益调节。更明确地说，把反射光信号的测量电平(VI)与反射光信号的 基准电平(Vref)的比值(Vl/Vref)与两个阈值，就是说，阈值th-Rl (例如，0.4)和阈值th-R2 (例如，0.6)，相比较。首先，确定比值 (Vl/Vref)是否等于或小于阈值th-Rl，就是说，是否Vl/Vref《0.4。 如果确定Vl/Vref《0.4,则把反射光信号的增益增大第一预定量(例 如，6dB)。在其中VI还未减小得如此大使得Vl/Vref幼.4的情况下，进行 关于测量反射光信号电平VI与基准反射光信号电平Vref的比值是否 等于或小于阈值th-R2，就是说，是否Vl/Vref幼.6，的进一步确定。 如果确定Vl/VreK0.6，则把反射光信号的增益增大第二预定量(例 如，3 dB)。如果关于是否Vl/Vref幼.6的确定是否定的，则不进行 增益调节。通过如以上描述的那样以两步方式进行增益调节，变得有可能精 细地补偿反射光信号的电平减小。反射光信号的增益调节，例如，可以通过调节在矩阵电路4中布 置的并且适于放大从光电检测器输出的反射光信号的放大器的增益 而实现。经从系统控制器10到矩阵电路4的控制线进行增益调节， 尽管控制线未表示在图1中。在第四实施例中，在BD是SL型的还是DL型的确定步骤与 DPP/DPD跟踪模式的选择步骤之间的步骤中进行增益调节。就是说， 在第四实施例中，过程包括(1)确定安装的光盘D是BD还是 DVD/CD; ( 2 )如果安装的光盘D是BD则确定BD是SL型的还是DL型的；(3)调节反射光信号的增益；及(4 )选择DPP/DPD跟踪 模式。图14至17表明根据第四实施例的操作的处理流程。在图14至 17中表示的操作由系统控制器10按照在系统控制器10中布置的 ROM等中存储的程序进行。当光盘D安装在盘驱动器上时，开始在图14至17中表示的操作。在根据第四实施例的操作中包括的各种过程中，图14表明确定 安装的光盘D是BD还是DVD/CD的过程。在图14中表示的过程与以上参照在图IO中表示的流程图描述的 根据第二实施例的确定安装的光盘D是BD还是DVD/CD的过程相 类似。在图14中表示的流程图中的步骤S601至S613以与在图10中 表示的步骤S301至S313相类似的方式进行。如果在步骤S613中确定安装的光盘D是BD，则处理流程转到 在图15中的步骤S614。图15表明在图14中表示的过程之后进行的过程。在图15中表 示的这个过程中，进行关于BD是SL型还是DL型的确定。确定BD是SL型的还是DL型的这个过程以与以上参照图5描 述的根据第一实施例的过程相类似的方式进行。就是说，在图15中 表示的流程图中的步骤S614至S624以与在图5中表示的步骤S102 至S112相类似的方式进行。如果在步骤S622中确定BD是SL型的，或者如果在步骤S623 中不同地确定BD是DL型的，则过程转到图16中的步骤S625。图16表明调节反射光信号的增益的过程。首先，在步骤S625中，读取第一波峰的波幅VI和反射光信号 的基准电平Vref。更明确地说，在图14中的步骤S601中检测的第一 波峰的波幅VI从存储器读取，并且反射光信号的基准电平Vref也从 存储器读取。其次，在步骤S626中，进行关于是否Vl/Vref^th-Rl的确定。
更明确地说，确定Vl/Vref是否等于或小于设置到0.4的阈值th-Rl。如果在步骤S626中关于是否Vl/Vref《th-Rl的确定是肯定的， 则过程转到步骤S627。在步骤S627中，把引入信号PI的增益增大第 一预定量。更明确地说，例如，把在矩阵电路4中用来放大反射光信 号的放大器的增益增大第一预定量(例如，6dB)。如果在步骤S626中关于是否Vl/Vref《th-Rl的确定是否定的， 则过程转到步骤S628。在步骤S628中，进行关于是否Vl/Vref《th-R2 的确定。注意，阈值th-R2设置到比阈值th-Rl (例如，0.4)大的值 (例如，0.6)。如果关于是否Vl/Vref《th-R2的确定是肯定的，则过程转到步骤 S629。在步骤S629中，通过把在矩阵电路4中的放大器的增益增大 第二预定量(例如，3dB)，把引入信号PI的增益增大第二预定量。在图16中，如果在步骤S628中关于是否Vl/Vref^th-R2的确定 是否定的，则过程转到在图17中的步骤S630。当完成步骤S629或 S627时，过程也转到步骤S630。图17表明选择DPP/DPD跟踪模式的过程。在图17中表示的这个过程以与在图13中表示的过程相类似的方 式进行。就是说，在图17中表示的步骤S630至S634以与在图13中 表示的步骤S502至S506的相类似方式进行。尽管在图17中未表示，但对于当不能正确地读取数据时跟踪模 式切换到其它跟踪模式的次数施加限制，从而防止循环的无尽执行。 例如，把次数限制到一次。因而，完成根据第四实施例的操作。在以上描述的第四实施例中，如在图14中表示的那样，确定安 装光盘D是BD还是DVD/CD的过程以与根据第二实施例的过程相 类似的方式进行。在以上描述的第二实施例中，进行光盘D是BD还 是DVD/CD的确定，而不考虑诸如在第一实施例中考虑的那些之类的 BD的噪声波峰。注意，即使在其中噪声波峰发生的情况下，在图14 中表示的过程也允许正确地确定安装光盘D是BD还是DVD/CD。
如以上参照图4描述的那样，包括噪声波峰的四种图案对于来自 单层类型的BD的反射光信号是可能的。它们是图案A，包括归因于在盘表面处的反射的波峰、和归因于在记录 层处的反射的波峰，图案B,包括归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在记录层 处的反射的波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪 声波峰，图案C，包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声 波峰、归因于在盘表面处的反射的波峰、及归因于在记录层处的反射 的波峰，及图案D，包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声 波峰、归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在记录层处的反射的 波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰。当在安装光盘D是BD还是DVD/CD的确定中由于缺陷或灰尘， 检测归因于在盘表面处的反射的波峰(简称为表面反射波峰)的失败 发生时，波峰数对于如下两种图案变得等于(n=l):图案A，包括 归因于在盘表面处的反射的波峰、和归因于在记录层处的反射的波峰 (注意，图案A不包括噪声波峰)；和图案C，包括在归因于在盘表 面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰、归因于在盘表面处的反射的 波峰、及归因于在记录层处的反射的波峰。注意，在图案C的情况下， 当未检测到归因于在盘表面处的反射的波峰时，噪声波峰不出现在归 因于在盘表面处的反射的波峰之前，并因而只检测到归因于在记录层 处的反射的波峰。因而，波峰数11=1。如可从以上讨论理解的那样，当作为检测表面反射波峰失败的结 果只检测到 一个波峰时，通过以与根据第二实施例的过程相类似的方 式进行在图14中表示的过程，有可能正确地确定安装光盘D是BD 还是DVD/CD。如果在其它图案中未检测到归因于在盘表面处的反射的波峰，则 如下面描述的那样错误确定可能发生。 如果对于包括归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在记录层 处的反射的波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰的图案B，未检测到表面反射波峰，那么图案被错误地检测为 包括归因于在记录层处的反射的波峰、和在归因于在记录层处的反射 的波峰之后出现的噪声波峰的图案，并因而检测到两个波峰(n=2)。如果对于包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪 声波峰、归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在记录层处的反射 的波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰的 图案D，未检测到表面反射波峰，那么图案被错误地检测为包括归因 于在记录层处的反射的波峰、和在归因于在记录层处的反射的波峰之 后出现的噪声波峰的图案，并因而检测到两个波峰(n=2)。就是说，如果对于包括在归因于在记录层处的反射的波峰之后出 现的波峰的图案未检测到表面反射波峰，则结果是检测到两个波峰 (n=2)。在图14中表示的操作中，当由于检测表面反射波峰的失败把波 峰数错误地检测为n=2时，处理流程从步骤S601转到S612,以确定 在第一波峰与第二波峰之间的距离是否具有与0.3 mm或更小相对应 的值，由此保证正确地进行关于光盘D是否是BD的确定。就是说，当对于包括归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在 记录层处的反射的波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出 现的噪声波峰的图案B，和对于包括在归因于在盘表面处的反射的波 峰之前出现的噪声波峰、归因于在盘表面处的反射的波峰、及归因于 在记录层处的反射的波峰的图案C，检测表面反射波峰的失败发生时， 在生成图案中在第一波峰与第二波峰之间的距离具有与0.3 mm或更 小相对应的值，并因而在两种情况下把光盘D正确地确定为BD。即使在其中假定用于BD的激光束的激光斑点未能到达DVD/CD 的记录层(就是说，对于DVD/CD假定n总是等于1)，并因而未进 行在步骤S612中关于在第一波峰与第二波峰之间的距离是否具有与 0.3 mm或更小相对应的值的确定的情况下，当反射光信号具有包括
归因于在盘表面处的反射的波峰、归因于在记录层处的反射的波峰、及在归因于在记录层处的反射的波峰之后出现的噪声波峰的图案B， 或包括在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现的噪声波峰、归因 于在盘表面处的反射的波峰、及归因于在记录层处的反射的波峰的图 案C时，通过检查波峰数是否是n22，也有可能正确地确定光盘D是 BD。通过如以上描述的那样以与根据第二实施例相类似的方式完成 过程，即使当反射光信号包括一个或多个噪声波峰时，也有可能正确 地确定安装光盘D是BD还是DVD/CD。如果在图16中表示的调节反射光信号的增益的过程中考虑到噪 声波峰的发生，则第 一波峰不一定是归因于在盘表面处的反射的波 峰，因为如果噪声波峰在归因于在盘表面处的反射的波峰之前出现， 则首先检测到噪声波峰。然而，如以上描述的那样，在表面反射波峰之前出现的噪声波峰 具有与表面反射波峰的波幅相类似的、与4至5%的反射率相对应的 波幅。因此，即使在图16中表示的过程中通过把任何第一波峰当作 表面反射波峰而调节光电检测器的灵敏度而不管在真实表面反射波 峰之前出现的噪声波峰是否发生，生成的调节也是正确的。在以上描述的第四实施例中，在图15中确定BD是SL型还是 DL型的过程以与在图5中表示的过程相类似的方式进行。可选择地， 该过程可以以与在图6中表示的过程相类似的方式进行。在图17中选择DPP/DPD跟踪模式的过程以与在图13中表示的 过程相类似的方式进行。可选择地，该过程可以以与在图12中表示 的过程相类似的方式进行。在以上描述的第四实施例中，在图16中表示的调节反射光信号 的增益的过程在确定BD是SL型还是DL型的过程之后进行。可选 择地，增益调节可以在安装光盘D之后且在光盘D是BD还是 DVD/CD的确定之前进行。在以上描述的第四实施例中，在步骤S601中检测在引入信号PI 中的波峰的过程只进行一次，并且结果用在图14至17中表示的所有 过程中。这允许进行以盘类型确定开始且以DPP/DPD跟踪模式的选 择结束的过程需要的总时间的减少。当处理时间的减少不重要时，有 可能对于在图14至17中表示的过程的每一个分离地进行波峰检测。本领域的技术人员应该理解，依据至此的设计要求和其它因素可 能出现各种修改、组合、子组合及变更，就像它们在附属权利要求书 或其等效物的范围内一样。
权利要求
1.一种光学记录介质驱动设备，包括头部装置，用来发射激光束使得经布置成在聚焦方向上至少向光学记录介质和远离其可运动的物镜照射光学记录介质，并且用来检测从用激光束照射的光学记录介质反射的光；聚焦装置，用来在聚焦方向上驱动物镜；信号产生装置，用来按照由头部装置检测的反射光产生反射光信号；及控制装置，用来经聚焦装置驱动物镜，检测在驱动物镜时得到的反射光信号的一个或多个波峰，确定检测波峰的图案是否与当光学记录介质是单层类型的时可出现的图案之一相似，及基于关于图案的确定结果确定光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。
2. 根据权利要求1所述的光学记录介质驱动设备，其中，控制装 置通过确定在反射光信号中检测的波峰数和在特定波峰中的波幅差 按照基于对于单层类型的光学记录介质可能的波峰图案预定的波峰 数和在特定波峰中的波幅差是否满足标准，确定光学记录介质是单层 类型的还是多层类型的。
3. —种确定光学记录介质驱动设备的层数的方法，该光学记录介 质驱动设备包括头部装置，用来发射激光束使得经布置成在聚焦方 向上至少向光学记录介质和远离其可运动的物镜照射光学记录介质， 并且用来检测从用激光束照射的光学记录介质反射的光；聚焦装置， 用来在聚焦方向上驱动物镜；及信号产生装置，用来按照由头部装置 检测的反射光产生反射光信号，该方法包括步骤通过控制聚焦装置驱动物镜；检测在驱动物镜时得到的反射光信号的一个或多个波峰； 确定检测波峰的图案是否与当光学记录介质是单层类型的时可 出现的图案之一相似；及基于关于图案的确定结果，确定光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。
4.一种光学记录介质驱动设备，包括头部，适于发射激光束使得经布置成在聚焦方向上至少向光学记 录介质和远离其可运动的物镜照射光学记录介质，并且用来检测从用 激光束照射的光学记录介质反射的光；聚焦单元，适于在聚焦方向上驱动物镜；信号发生器，适于按照由头部检测的反射光产生反射光信号；及控制器，适于经聚焦单元驱动物镜，检测在驱动物镜时得到的反 射光信号的一个或多个波峰，确定检测波峰的图案是否与当光学记录 介质是单层类型的时可出现的图案之一相似，及基于关于图案的确定 结果确定光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。
全文摘要
本发明涉及光学介质驱动设备和确定层数的方法，其中具体公开了在一种光学记录介质驱动设备中，用经物镜从头部发射的激光束照射光学记录介质，并且头部检测从用激光束照射的光学记录介质反射的光。信号发生器按照由头部检测的反射光产生反射光信号。控制器经聚焦单元驱动物镜，并且检测在当在聚焦方向上驱动物镜时得到的反射光信号中的波峰。控制器通过确定检测波峰的图案是否与如果光学记录介质是单层类型的则可出现的图案之一相似，确定光学记录介质是单层类型的还是多层类型的。
文档编号G11B19/12GK101154415SQ200710161328
公开日2008年4月2日 申请日期2007年9月28日 优先权日2006年9月28日
发明者长谷川真一 申请人:索尼日电光领有限公司