光学记录介质驱动设备和球面像差调节方法

专利名称：光学记录介质驱动设备和球面像差调节方法
技术领域：
本发明涉及光学记录介质驱动设备和球面像差调节方法，确切地 说，涉及的光学记录介质驱动设备为了实现寻轨伺服可以进行球面像 差校正值粗略调节。
背景技术：
采用光盘记录介质(包括磁光盘)比如压缩盘(CD)、小型盘 (MD)和数字万能盘(DVD)作为记录介质的数据记录技术称为记 录和再现数字数据的技术。光盘记录介质(也简称为光盘)是一般术 语，是指信号在其上记录为凹坑和标记以及激光照射其上通过反射光 中变化读取所述信号的盘状记录介质。
光盘的类型包括只回放类型，比如CD、 CD-ROM (只读存储器) 和DVD-ROM,以及用户数据可记录类型，比如MD、CD-R(可记录)、 CD-RW (可重写)、DVD誦R、 DVD-RW、 DVD+RW和DVD-RAM。 对于可记录类型，使用磁光学记录方法、相变记录方法、染料膜变记 录方法和其他记录方法来记录数据。染料膜变记录方法也称为一次写
入记录方法，允许数据记录仅仅一次而不允许重写。染料膜变记录方 法因而适于数据存储目的等。反之，磁光学记录方法和相变记录方法 允许数据重写，从而在记录多种内容中找到了许多应用，包括音乐、 视频、游戏和应用程序。
不仅如此，最近开发的高密度光盘称为蓝光光盘，提供了极高的
数据存储容量。
关于光盘的结构，高密度光盘比如蓝光光盘具有大约O.l mm厚 的光盘覆盖层。使用波长为405 nm的激光(所谓的蓝激光)以及数 字孔径(NA)为0.85的物镜的组合，从光盘再现数据(或在光盘上 记录数据)。
众所周知，在光盘上记录和再现数据的记录/再现装置执行聚焦 伺服操作，使激光的聚焦位置控制在盘片的记录表面上，并且执行寻 轨伺服操作，控制激光跟踪盘片上的轨迹(凹坑串或沟槽)。
众所周知，适当的聚焦伺服操作需要在聚焦回路上增加适当的聚 焦偏置。
确切地说，高密度光盘需要球面像差校正，以便应付覆盖层和多 个记录层的厚度变化。例如，已经开发了包括球面像差校正机构的光 学拾取头，该机构釆用了扩展器或液晶器件。
由于采用高NA透镜的记录/再现装置比如蓝光盘记录/再现装置 对于聚焦偏置和球面像差具有的余量不大，所以聚焦偏置和球面像差 的自动调节必不可少。
使用某种评价值作为评价指示器调整球面像差校正值和聚焦偏 置。例如，作为改变球面像差校正值和聚焦偏置二者的后果所获得的 抖动值可以用作所述评价值。调整球面像差校正值和聚焦偏置使抖动 值最小。
例如，在抖动值用作调节时评价值的情况下，假设的状态为寻轨 伺服可以操作并且抖动值可以测量。
不过，具体地相对于球面像差校正值，以上述方式调整期间，改 变球面像差校正值时，球面像差可能恶化到寻轨伺服无法操作的程度， 因此可能使适当的调节操作无法执行。
所以，在调整球面像差校正值和聚焦偏置之前，在相关技术中首 先粗略调整球面像差校正值。
更确切地说，响应于在仅仅开启了聚焦伺服的情况下，改变球面 像差校正值，获得寻轨误差信号的振幅值，并对球面像差校正值进行
调整，使得该振幅值不低于预定电平。换言之，仅仅在寻轨伺服能够 操作时调整球面像差校正值才是适宜的。
通过粗略地调整球面像差校正值，随后才能够根据抖动值适当地 进行上述球面像差校正值和聚焦偏置的精细调节。
未审查的日本专利申请公开号2004-95106是相关技术的实例。

发明内容
不过，对于再现抖动，粗略地调整的球面像差校正值不一定适宜。 将参考图IIA和图IIB以及图12A和图12B介绍这一点。 图IIA展示了相对于球面像差校正值和聚焦偏置的变化，根据寻 轨误差信号振幅值的特性图(等值线)上寻轨误差信号的振幅值，粗 略地调整的球面像差校正值的某位置。图IIB展示了相对于球面像差 校正值和聚焦偏置的变化，抖动值的特性图(等值线)上球面像差校 正值的该位置。
图IIA所示寻轨误差信号振幅特性的轴向(图中展示为点划线) 基本上与图IIB所示抖动值特性的轴向相符。在这样的情况下，根据 寻轨误差信号的振幅值粗略地调整的球面像差校正值在抖动值特性上 相对更优越。因此，在粗略调节后可以适当地进行球面像差校正值和 聚焦偏置的精细调节。
相反，图12A和图12B展示了上述特性轴向显著不同的情况。 图12A展示了相对于球面像差校正值和聚焦偏置的变化，才艮据寻轨误 差信号振幅值的特性图(等值线)上寻轨误差信号的振幅值粗略地调 整的球面像差校正值的某位置。图12B展示了抖动值的特性图(等值 线)上球面像差校正值的该位置。
正如图12A和图12B的对比所示，在寻轨误差信号振幅值特性 与抖动值特性的轴向不同的情况下，根据寻轨误差信号的振幅值粗略 地调整的球面像差校正值的位置可能并非在抖动值特性上更优越。
结果，粗略调节可能使数据再现无法进行，使地址无法检测，或 者使校正值无法调整到最优值，因为在精细调节起点的抖动值太差。
换言之，粗略调节可能使精细调节无法进行。
近来已经开发了与介质比如CD、 DVD和蓝光盘片兼容的驱动设 备，它们以共同的光学拾取头使用不同波长激光。不过，如图12A和 图12B所示，由于设计约束，拾取头，尤其是与这三种波长兼容的拾 取头，可能具有不同的轴向，所以需要有对策。
所以，考虑到上述缺点，根据本发明实施例光学记录介质驱动设 备以下面的方式配置。
更确切地说，所述光学记录介质驱动设备包括拾取头装置、评价 信号产生装置、聚焦伺服装置、球面像差校正装置、聚焦偏置装置和 控制装置。
所述拾取头装置将激光照射到光学记录介质上并检测反射光以 读出信号，所述拾取头装置还具有激光的聚焦伺服机构和球面像差校 正机构。
所述评价信号产生装置产生评价信号，它用作评价由所述拾取头 装置根据所检测的反射光所读出信号质量的指示器。
所述聚焦伺服装置根据由所述拾取头装置根据所检测的反射光 所产生的聚焦误差信号，驱动所述聚焦伺服机构以进行聚焦伺服操作。
此外，所述球面像差校正装置还根据所述球面像差校正值驱动所 述球面像差校正机构以执行球面像差校正操作。所述聚焦偏置装置向 包括所述聚焦伺服装置的聚焦回路附加聚焦偏置。
另外，所述控制装置执行的操作用于固定所述球面像差校正值的 调整值。所述控制装置根据评价信号值以及为所述球面像差校正值设 定的限度值，固定所述球面像差校正值的第一调整值，所述评价信号
球面;i校正值而获得A。5 ' ' 5 '
如上所述，在仅仅开启聚焦伺服的情况下进行的所述球面像差校 正值的粗略调节中提供了为所述球面像差校正值设定的预定限度值。 这样即使在寻轨误差信号的振幅值(评价信号值)特性与抖动值(用 作粗略调节后执行的精细调节时再现信号质量的指示器的评价值)特
性的轴不同的情况下，也可以有利地防止在评价信号的特性上粗略调 整的球面像差校正值的位置变差，不同于相关技术中球面像差校正值 调整到的数值使例如评价信号值最优的情况。
所以，即使在评价信号值特性与用作粗略调节后执行的精细调节 时再现信号质量的指示器的评价值特性的轴不同的情况下，本发明的 实施例也可以有利地防止在评价信号的特性上粗略调整的球面像差校 正值的位置变差。
结果，在正如以上介绍的特性轴向不同的情况下，对于因粗略调 整的球面像差校正值的设定造成的数据再现和地址检测可能无法进行 的可能性，有可能降低，有可能在所述轴向显著不同时进行精细调整。 换言之，有可能扩展精细调节相对于所述轴向差异的可执行范围。
此外，作为使评价值特性上粗略调整的球面像差校正值的位置变 差的因素，考虑了粗略调节开始时设定的球面像差校正值和聚焦偏置 的初始位置在进行精细调节期间偏离球面像差校正值和聚焦偏置要逼 近的位置(最优值)。
为考虑这一点，以上述方式防止精细调节期间球面像差校正值的 位置在所用的评价值特性上变差的本发明实施例，可以扩展精细调节 相对于不适宜的初始位置的可执行范围。


图1是框图，展示了根据本发明实施例的记录/再现装置的内部
配置；
图2展示了根据本发明实施例的记录/再现装置中包括的球面像 差校正机构的配置；
图3是框图，展示了根据本发明实施例的记录/再现装置中包括 的伺服电路的内部配置；
图4描述了本发明实施例中采用的基本的粗略调节操作；
图5A和图5B描述了本发明实施例中采用的基本的粗略调节操
作； 图6A至图6C描述了根据本发明实施例的粗略调节操作； 图7A至图7C显示了根据本发明实施例分别在不进行粗略调节 情况下、在进行粗略调节(无限制)情况下以及在有限制粗略调节情 况下改变不适宜范围，以描述根据本发明实施例的粗略调节操作的效 果；
图8是流程图，展示了根据本发明实施例的实现粗略调节操作的 处理操作；
图9是流程图，展示了根据本发明实施例的实现粗略调节操作的 处理操作；
图IO是流程图，展示了根据本发明实施例的实现粗略调节操作 的处理操作；
图11A和图11B分别展示了相对于球面像差校正值和聚焦偏置 的变化，根据寻轨误差信号振幅值的特性图(等值线)上和抖动值的 特性图(等值线)上寻轨误差信号的振幅值粗略地调整的球面像差校 正值；
图12A和图12B分别展示了相对于球面像差校正值和聚焦偏置 的变化，根据寻轨误差信号振幅值的特性图(等值线)上和抖动值的 特性图(等值线)上寻轨误差信号的振幅值粗略地调整的球面像差校 正值，以描述寻轨误差信号振幅值特性与抖动值特性的轴不同的情况。
具体实施例方式
以下将介绍实现本发明的优选实施例(后文称为实施例)。将以 下述顺序给出说明
1. 光学记录介质驱动设备的配置
2. 根据实施例的球面像差校正值的粗略调节操作
3. 实现粗略调节操作的处理操作
1.光学记录介质驱动设备的配置
图l是框图，展示了根据本发明的一个实施例用作光学记录介质
驱动设备的记录/再现装置的内部配置。
参考图1，光盘D是光盘记录介质(后文也称为可写盘片)，使 用例如相变记录方法存储在其上记录的数据。在盘片D上形成了摆动 沟槽，并且用作记录轨迹。地址信息，也就是所谓的预刻槽中地址 (ADIP)的信息可以嵌入在该摆动沟槽中。
光盘D安装在转盘(未显示)上，并且在记录和再现操作期间由 主轴电机2以不变的线速度(CLV)旋转地驱动。
光学拾取头(光头)OP读取光盘D上作为沟槽轨迹的摆动所嵌 入的ADIP信息。
在记录操作期间，光学拾取头OP将用户数据记录为轨迹上的相 变标记。在再现操作期间，光学拾取头OP读取所记录的相变标记。
光学拾取头OP包括用作激光光源的激光二极管、检测反射激光
的光电检测器、用作激光输出终端的物镜以及光学系统(后面要讨论)，
它通过物镜将激光照射在光盘D的记录表面上以及将反射光导向光电 检测器。
在光学拾取头OP中，物镜由双轴机构支撑，以便在寻轨方向和 聚焦方向可移动。
光学拾取头OP通过滑车机构3可以在光盘D的半径方向移动。
另外，从激光驱动电路13提供的驱动信号(驱动电流)驱动光 学拾取头OP中包括的激光二极管发射激光。
正如后面的讨论，光学拾取头OP包括校正激光的球面像差的机 构。球面像差校正机构在系统控制器10和伺服电路11的控制下执行 球面像差校正。
从光盘D反射的光受到检测并被转换为收到光量所对应的电信 号，并且由光电检测器提供给矩阵电路4。
矩阵电路4包括电流-电压转换器电路以及矩阵计算和放大电路， 它们的运行响应从用作光电检测器的多个光接收单元输出的电流。矩 阵电路4执行矩阵计算处理，从而产生所需的信号。
例如，矩阵电路4产生再现的数据对应的高频信号(也称为再现
数据信号或RF信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号FE和寻轨误 差信号TE。
矩阵电路4进一步产生与沟槽摆动有关的信号，也就是用于检测 摆动(摆动振幅)的推挽式信号。
从矩阵电路4输出的再现数据信号输出提供给读出器/写入器 (RW)电路5。聚焦误差信号FE和寻轨误差信号TE提供给伺服电 路ll。推挽式信号提供给摆动电路8。
此外，尤其是在这个实施例中，寻轨误差信号TE也提供给系统 控制器10，以便在球面像差校正值的粗略调节期间用作评价指示器， 该调节将在后面讨论。
读出器/写入器电路5使用锁相环(PLL)对再现数据信号(RF 信号)执行二进制化处理和再现时钟发生处理，从而再现作为相变标 记读出的数据。然后读出器/写入器电路5将该再现数据提供给调制/ 解调电路6。
另外，在这个实施例中，读出器/写入器电路5包括评价器5a， 用于测量RF信号的抖动值。由评价器5a测量出的抖动值提供给系统 控制器10。
调制/解调电路6的一部分在再现操作期间用作解码器，而另一 部分在记录操作期间用作编码器。
因此调制/解调电路6在再现操作期间根据再现时钟执行游程长 度受限的解码处理。
ECC编码器/解码器7在记录操作期间执行附加纠错码的ECC编 码处理，而在再现操作期间执行纠错的ECC解码处理。
在再现操作期间，ECC编码器/解码器7将由调制/解调电路6解 码的数据俘获到内部存储器，并且对数据执行误码检测/纠正处理和解 交织处理，以得到再现数据。
根据系统控制器10的指令读出由ECC编码器/解码器7再现的 数据并传递到视听(AV)系统50。
从矩阵电路4输出的推挽式信号作为与沟槽摆动有关的信号由摆
动电路8处理。摆动电路8将用作ADIP信息的推挽式信号解调为表 示ADIP地址的数据流。然后向地址解码器9提供该数据流。
地址解码器9对所提供的数据进行解码以得到地址值，并且向系 统控制器10提供该地址值。
地址解码器9还使用从摆动电路8提供的摆动信号通过PLL处 理产生时钟信号，然后将时钟信号提供给每个部分作为编码时钟信号 用于例如记录。
在记录操作期间，记录数据从AV系统50传递到ECC编码器/ 解码器7中用于緩沖的存储器(未显示)。
在这种情况下，ECC编码器/解码器7对緩沖的记录数据执行编 码处理，从而对緩沖的记录数据附加纠错码、交织并且附加子码。
调制/解调电路6对ECC编码的数据执行预定的游程长度受限的 编码处理(调制处理)，例如RLL (1-7) PP方法，然后将编码的数 据提供给读出器/写入器电路5。
在记录操作期间，如以上介绍从摆动信号产生的时钟信号用于用 作编码处理参考时钟信号的编码时钟信号。
读出器/写入器电路5对编码处理中产生的记录数据执行记录补 偿处理。更具体地说，读出器/写入器电路5考虑到记录层、激光的光 点形状、记录线性速度等特征，执行最佳记录功率的精细调节和激光 驱动脉冲波形的调节。然后读出器/写入器电路5将调整后的记录数据 提供给激光驱动电路13作为激光驱动脉冲。
激光驱动电路13将馈送的激光驱动脉冲提供给光学拾取头OP 中包括的激光二极管，从而驱动光学拾取头OP发射激光。由此在光 盘D上形成记录数据对应的若干凹坑(相变标记)。
包括自动功率控制(APC)电路的激光驱动电路13将激光功率 控制为与温度变化无关的固定电平，同时使用探测器的输出监控激光 输出功率，以便监控光学拾取头OP中所提供的激光输出功率。
系统控制器10将记录和再现操作期间激光输出功率的目标值(记 录激光功率和再现激光功率)给予激光驱动电路13。在记录和再现操
作期间，激光驱动电路13控制着激光输出功率电平，使该电平处于目 标电平。
伺服电路11根据从矩阵电路4提供的聚焦误差信号FE和寻轨 误差信号TE产生多种伺服驱动信号，比如聚焦伺服驱动信号、寻轨 伺服驱动信号以及滑车伺服驱动信号。
更确切地说，伺服电路11产生分别对应于聚焦误差信号FE和 寻轨误差信号TE的聚焦驱动信号和寻轨驱动信号，从而驱动光学拾 取头OP中包括的双轴机构中的聚焦线團和寻轨线围。因此，寻轨祠 服回路和聚焦伺服回路中的每一个都由光学拾取头OP、矩阵电路4、 伺月良电路11和双轴机构组成。
伺服电路ll响应从系统控制器IO提供的轨迹跳跃命令，关闭寻 轨伺服回路并输出跳跃驱动信号，从而执行轨迹跳跃操作。
伺服电路11也根据作为寻轨误差信号TE的低频分量所得到的 滑车误差信号和系统控制器10的访问控制，产生滑车驱动信号，从而 驱动滑车机构3。滑车机构3包括支撑光学拾取头OP的主轴、滑车 电机、传输齿轮等(未显示)。滑车机构3根据滑车驱动信号驱动滑 车电机，从而使光学拾取头OP滑动。
主轴伺服电路12控制着主轴电机2以CLV旋转。
主轴伺服电路12获得对摆动信号执行的PLL处理中所产生的时 钟信号作为主轴电机2的当前转速信息，并且将这种转速信息与预定 的CLV参考速度信息进行对比，从而产生主轴误差信号。
在数据再现期间，由读出器/写入器电路5中的PLL产生的再现 时钟信号(用作解码处理中参考的时钟信号)对应于主轴电机2的当 前转速信息。主轴误差信号还可以通过将再现时钟信号与预定的CLV 参考速度信息对比而产生。
主轴伺服电路12输出根据主轴误差信号所产生的主轴驱动信号， 从而使主轴电机2以CLV旋转。
主轴伺服电路12响应从系统控制器10提供的主轴起动/制动控 制信号产生主轴驱动信号，从而使主轴电机2开启、停止、加速和减 速。
伺服系统和记录回放系统的上述操作由包括微处理器的系统控
制器10所控制。
系统控制器10根据从AV系统50提供的命令执行多种操作。例 如，系统控制器10响应AV系统50的写命令，移动光学拾取头OP 至写入地址。ECC编码器/解码器7和调制/解调电路6对从AV系统 50传递的数据(如多种格式比如MPEG2的视频数据和音频数据)执 行上述编码处理。来自读出器/写入器电路5的激光驱动脉冲然后提供 给激光驱动电路13,将记录数据记录到光盘D上。
当AV系统50发出读取命令请求传递光盘D上记录的给定数据 (例如MPEG2的视频数据)时，系统控制器10首先控制寻找所指示 地址的操作。更确切地说，向伺服电路11发布命令，使光学拾取头 OP访问由寻找命令指定的地址。
系统控制器IO控制以指定的数据间隔向AV系统50传递数据的 操作。更确切地说，从光盘D上读出数据，并且使用读出器/写入器电 路5、调制/解调电路6和ECC编码器/解码器7对读出的数据执行解 码和緩冲处理。然后传递所请求的数据。
利用记录和再现操作期间使用的相变标记，系统控制器10使用 由摆动电路8和地址解码器9所检测出的ADIP地址，控制着访问、 记录和再现操作。
如图1所示，记录和再现装置被连接到AV系统50。根据本发明 的一个实施例，光学记录介质驱动设备可以连接到个人计算机。
光学记录介质驱动设备不一定连接到另一台装置。在这种情况 下，提供了操作单元和显示单元，并且数据输入和输出接口的配置可 以不同于图l的配置。更确切地说，安排了数据输入和输出终端，并 且可以响应用户操作而执行记录和再现的操作。
图2展示了光学拾取头OP中包括的球面像差校正机构的实例。 更确切地说，图2主要展示了光学拾取头OP中包括的光学系统的配 置。
参考图2，从半导体激光器(激光二极管)81输出的激光由准直 仪透镜82校准。校准后的激光通过分光镜83，然后通过球面像差校 正透镜组的活动透镜87和固定透镜88，然后通过物镜84照射到光盘 D上。球面像差校正透镜组87和88称为扩展器。由于通过驱动活动 透镜87进行球面像差校正，所以活动透镜87尤其可以称为扩展器87。
从光盘D反射的光通过物镜84、固定透镜88和活动透镜87,由 分光镜83反射，通过准直仪透镜(采光透镜85 )照射到探测器86上。
在所述光学系统中，物镜84由双轴机构91支撑，所以能够在聚 焦方向和寻轨方向移动，从而执行聚焦伺服操作和寻轨伺服操作。
球面像差校正透镜87和88具有使激光的波前散焦的功能。更确 切地说，活动透镜87由传动机构90支撑，所以能够在J方向移动， 它是光轴方向。通过移动活动透镜87,调整物镜84的物点。
更确切地说，通过控制传动机构90进行前后移动而校正球面像差。
图2展示了使用扩展器进行球面像差校正情况下的配置。也可以 使用液晶面板校正球面像差。
液晶面板插入到半导体激光器81与物镜84之间的光路中。通过 激光的区域与阻断激光的区域之间的边界受到活动调整，以改变激光 束的直径，从而校正球面像差。
在这种情况下，驱动液晶面板的液晶驱动电路受到控制以改变光 线通过区域。
图3展示了图1所示伺服电路ll的内部配置。
参考图3，从图1所示矩阵电路4提供的聚焦误差信号FE和寻 轨误差信号TE由伺服电路11中包括的模数(A/D )转换器31和32 转换为数字数据，然后输入到伺服电路11中包括的数字信号处理器 (DSP) 20。
如图所示，DSP 20包括聚焦伺服计算器22、寻轨伺服计算器25、 加法器21、聚焦偏置设置器23和球面像差校正值设置器24。
从A/D转换器31提供的聚焦误差信号FE通过DSP 20中包括的
加法器21输入到聚焦伺服计算器22。
聚焦伺服计算器22对输入为数字数据的聚焦误差信号FE执行 滤波过程和回路增益过程进行相位校正，从而产生并输出聚焦伺服信 号。
聚焦伺服信号由数模(D/A )转换器33 (包括PWM和PDM ) 转换为模拟信号并输入到聚焦驱动电路34以驱动聚焦传动机构。更确 切地说，向光学拾取头OP中支撑物镜84的双轴机构91的聚焦线團 施加电流以执行聚焦伺服操作。
寻轨伺服计算器25对作为数字数据输入的寻轨误差信号TE执 行滤波过程和回路增益过程以进行相位校正，从而产生并输出寻轨伺 服信号。寻轨伺服信号由D/A转换器37 (包括PWM和PDM )转换 为模拟信号并输入到寻轨驱动电路38以驱动寻轨传动机构。更确切地 说，向光学拾取头OP中支撑物镜84的双轴机构91的寻轨线團施加 电流以执行寻轨伺服操作。
DSP 20中包括的加法器21、聚焦偏置设置器23和球面像差校正 值设置器24分别用作执行聚焦偏置相加、球面像差校正值设置以及聚 焦偏置值和球面像差校正值调节的单元。
加法器21将聚焦偏置增加到聚焦误差信号FE。要增加的聚焦偏 置值由聚焦偏置设置器23设定。在后面将要讨论的调节过程中，聚焦 偏置设置器23输出由图1所示系统控制器IO设定的聚焦偏置值，从 而向聚焦偏置回路增加适当的聚焦偏置。
系统控制器10在中球面像差校正值设置器24中设置球面像差校 正值。所设定的球面像差校正值由D/A转换器35转换为模拟信号， 然后提供给球面像差校正驱动电路36。
在图2所示球面像差校正机构的情况下，球面像差校正驱动电路 36向传动机构卯提供驱动信号Sd以移动扩展器87。在球面像差校 正机构采用液晶面板的情况下，球面像差校正驱动电路36向液晶驱动 电路提供驱动信号Sd，指示向液晶面板中预定单元施加电压。
球面像差校正驱动电路36根据从球面像差校正值设置器24提供
的球面像差校正值，驱动光学拾取头OP中的球面像差校正机构。
2.根据若干实施例的球面像差校正值的粗略调节操作
现在，在记录/再现装置l中，系统控制器10控制着上述DSP20
中包括的聚焦偏置设置器23和球面像差校正值设置器24，以执行将
聚焦偏置和球面像差校正值调整到最优值的操作。
如前所述，在相关技术中，在这样的调整聚焦偏置和球面像差校
正值的处理期间，在仅仅开启聚焦伺服的情况下，使用例如寻轨误差
信号TE的振幅值作为评价指示器进行仅调整球面像差校正值的"粗
略调节"。在以这种方式进行了粗略调节之后，使用例如由评价器5a
算出的抖动值作为评价指示器，进行既调整聚焦偏置又调整球面像差
校正值的"精细调节"。
之所以进行上述粗略调节是因为存在着寻轨伺服不运行的情况，
尤其是在上述调节中球面像差校正值改变时。这样可以防止适当的精
细调节操作根据抖动值进行。
更确切地说，在这种粗略调节中，以上述方式使用寻轨误差信号 TE的振幅值作为评价值，确定了给出例如寻轨误差信号TE的振幅最 优(最大)值的球面像差校正值。在随后进行的精细调节期间，可以 根据这个确定的球面像差校正值进行调整操作。所以，这样就防止了 因为寻轨伺服不运行而未能适当地进行调整操作的情况的发生。
不过，以相关技术中的粗略调节方法例如以上述方式确定给出寻 轨误差信号TE的振幅最大值的球面像差校正值，正如图IIA和图11B 以及图12A和图12B的对比所示，在寻轨误差信号TE振幅值特性与 抖动值特性的轴向不同的情况下，在粗略调节中获得的球面像差校正 值可能并非在抖动值特性上更优越。结果，粗略调节反而可能使基于 抖动值的精细调节无法适当地进行。
所以，为了克服这样的缺点，根据本发明实施例的粗略调节根据 响应改变球面像差校正值所获得的评价信号值(如寻轨误差信号TE 的振幅值)和为球面像差校正值设定的限度值固定调节值，即粗略调 节的结果。
下面将介绍根据实施例的这样的粗略调节操作。 实施例中采用的基本的粗略调节操作
在介绍根据本发明实施例的粗略调节操作之前，首先将参考图4 以及图5A和图5B介绍实施例中采用的基本的粗略调节操作。
图4以及图5A和图5B在二维平面上示意地展示了实施例中采 用的基本的粗略调节操作，横轴表示球面像差校正值，纵轴表示寻轨 误差信号TE的振幅值。此外，系统控制器10执行这些附图中介绍的 操作。
为了确认，通过仅改变球面像差校正值且根据所述改变导致的评 价信号值(在这种情况下是寻轨误差信号TE的振幅值)而进行粗略 调节。聚焦偏置固定在例如预定的初始值(如FB=0)。因此，图4 以及图5A和图5B仅仅展示了球面像差校正值和寻轨误差信号振幅值 两个轴，而略去了表示聚焦偏置的轴。
首先参考图4，假设在粗略调节开始之时仅仅开启了聚焦伺服。 此外，假设球面像差校正值和聚焦偏置分别设定在预定的初始值(如 SA=0， FB-0，后文中初始值也称为初始位置)。
然后，系统控制器10以改变步长土A改变球面像差校正值SA, 并计算包括初始位置的三个点的二阶近似，以确定如图中<1>所示给 出寻轨误差信号TE的最大振幅值(TE)的球面像差校正值 (SA—peak)。
更确切地说，在球面像差校正值和聚焦偏置初始位置的上述设置 条件下，系统控制器10使光学拾取头OP读取信号，并从矩阵电路4 获得响应该读取而提供的寻轨误差信号TE的振幅值，然后将这个振 幅值存储在初始位置。然后，系统控制器10对于初始位置在正方向和 负方向以预定的改变步长A改变球面像差校正值SA,类似地在每种 球面像差校正值设置条件下获得寻轨误差信号TE的振幅值，并且与 所设定球面像差校正值相关联地存储该振幅值。
然后，系统控制器10使用以这种方式获得的三个球面像差校正 值和对应球面像差校正值设置条件下获得的寻轨误差信号TE的振幅 值，计算二阶近似。根据所获得的二次曲线，系统控制器10确定给出 寻轨误差信号TE的最大振幅值的球面像差校正值SA_peak。
后文中，通过以上述方式以改变步长A改变球面像差校正值而获 得的三个球面像差校正值以校正值上升的次序被称为"SA一L"、
"SA_M"和"SA_H"。此外，在"SA_L" 、 "SA_M"和"SA_H" 三个球面像差校正值设置条件下获得的寻轨误差信号TE的振幅值分 别被称为"TE—L" 、 "TE_M"和"TE_H"。
通过计算对于初始位置在正负方向以改变步长A改变球面像差 校正值SA所获得的三个点的二阶近似确定了 SA一peak值后，系统控 制器10执行<2>所示的操作。更确切地说，如果不满足SA—L< SA—peak<SA_H，系统控制器IO就在朝着SA_peak值的方向以改变 步长A改变球面像差校正值SA以获得新的点，计算包括新获得点的 三个点的二阶近似，并且类似地判断是否满足SA_L < SA一peak < SA_H。
换言之，在以上述方式#>据头三个点确定了 SA一peak值后，系 统控制器10判断SA_peak值是否在三个点中的最小值SA一L与最大 值SA—H之间的范围内(即SA_L < SA—peak < SA_H )。
然后，如果这种判断的结果表明不满足SA_L < SA一peak < SA_H,系统控制器10就在朝着判定的SA一peak值的方向(即寻轨误 差信号TE的振幅值增大的方向)以改变步长A改变球面像差校正值 SA以获得新的点。更确切地说，参考这幅图，球面像差校正值SA改 变为大于SA一H位置的位置+A (即SA=+2A)。系统控制器10存储 此时获得的寻轨误差信号TE的振幅值。
系统控制器10然后计算包括这个点的三个点的二阶近似以确定 SA一peak值。系统控制器10也类似地判断是否满足SA_L<SA_peak < SA一H。
为了确认，通过以上述方式以改变步长A改变球面像差校正值而
新获得的三个球面像差校正值以校正值上升的次序被称为"SA一L"、 "SA_M"和"SA_H"。因此，<2>中所示"SA_L"和"SA_H"分 别对应于图中的SA-O和SA=+2A。
如果这种判断的结果再次表明不满足SA_L < SA一peak < SA_H, 系统控制器10就在SA一peak值的方向以改变步长A重复改变球面像 差校正值SA，计算二阶近似和SAjeak值，并且以类似方式判断是 否满足SA_L < SA—peak < SA_H。
如果系统控制器10判定满足了 SA_L<SA_peak<SA_H，系统 控制器10就将球面像差校正值SA固定为图中<3>所示的SA一peak值。 换言之，系统控制器IO将算出的SA—peak值固定为调整值，并终止 粗略调节操作。
本实施例采用的确定给出寻轨误差信号TE的最大(最优)振幅 值点的方法是根据使用在三个球面像差校正值的设置条件下所得到的 寻轨误差信号TE的振幅值进行二阶近似的结果。
不过，在使用相对少量点比如三个，进行二阶近似的情况下，算 出的二次曲线不一定符合寻轨误差信号振幅值的适当特性，进行调节 操作时应当考虑到。更确切地说，假设寻轨误差信号相对于球面像差 校正值变化的振幅值特性是由向上凸起的二次曲线表示。不过，依靠 上述三个点的二阶近似，可能会算出向下凸出的二次曲线，应当考虑 到。
所以在实践中，系统控制器10执行的操作与二阶近似算出的二 次曲线不是向上凸起情况相容，如图5A和图5B所示。
例如，图5A展示了由三个点的二阶近似产生二次曲线是向下凸 出的情况，这三个点包括从初始位置以改变步长土A改变校正值SA 所获得的若干点。如果得到了向下凸出的二次曲线，系统控制器10 首先检验如图所示的寻轨误差信号TE的斜率，并且在寻轨误差信号 TE的振幅值增大的方向使球面像差校正值SA改变为另一个点。更确 切地说，系统控制器10对比三个点当中在最小的球面像差校正值 SA一L (即图中的-A)处与在最大的球面像差校正值SA一H (即图中的
+A )处的寻轨误差信号TE的振幅值(即TEJL和TE_H )，从而检 验寻轨误差信号TE的斜率。系统控制器IO根据这个结果，在寻轨误 差信号TE的振幅值增大的方向，执行将球面像差校正值改变为另一 个点的操作。换言之，在这种情况下，如图5所示，系统控制器10 将球面像差校正值改变为数值SA=+2A,它比SA=+A大+A。
将球面像差校正值改变为新的点之后，系统控制器10存储在球 面像差校正值设置条件下所获得的寻轨误差信号TE的振幅值。然后 系统控制器10类似地计算包括新得到点的三个点的二阶近似以确定 SA一peak值。
如果这种二阶近似导致如图所示的向上凸起的二次曲线，系统控 制器10就根据SA_L < SA—peak < SA_H的判断结果进行操作。更确 切地说，如参考图4的介绍，如果不满足SA—L《SA—peak《SA—H, 系统控制器10在逼近SA一peak值的方向，以改变步长A改变球面傳一 差校正值SA以获得新的点。系统控制器10然后计算包括新获得点的 三个点的二阶近似。同样，系统控制器10判断是否满足SA_L< SA_peak<SA_H。反之，如果满足SA_L < SA—peak < SA—H，系统控 制器10就将算出的SA一peak值固定为调整值。
如果由二阶近似产生的二次曲线仍然向下凸出，系统控制器10 就重复上述操作直到获得向上凸起的二次曲线。
在以上给出的说明中，对比了三个球面像差校正值当中最小值 SA_L与最大值SA_H处的寻轨误差信号TE的振幅值(即TE—L和 TE—H )以确定寻轨误差信号TE振幅值的斜率。不过，TE_L和TE_H 这些振幅值不一定不同。在某些情况下，TEJL值可能等于TE一H值。 如果在检测斜率之时判定TE一L值等于TE一H值，系统控制器10将获 得的球面像差校正值(SA_L和SA_H)之间的中间值SA_M固定为 调整值。更确切地说，如果TE一L值等于TE一H值，寻轨误差信号TE 的最大振幅值非常可能存在于SA—L值与SA一H值之间。因此，系统 控制器10将调整值固定为SA一M值，它是SA一L值与SA_H值之间 的中间点，然后终止此过程。
参考图4、图5A和图5B介绍的粗略调节方法也用于相关技术中。
像差的校正值的粗略调节操作。
'' '
根据本实施例的粗略调节操作将参考图6A至图6C进行介绍。 图6A至图6C在二维平面上示意地展示了根据本实施例的粗略调节操 作，横轴表示球面像差校正值(SA)，纵轴表示寻轨误差信号TE的 振幅值。
如图6A、 6B和6C的每一幅所示，在实施例中，关于调节时改 变球面像差校正值的范围，设置了预定的限度值"B"。在初始位置 的正负两侧(附图中的"-B"和"+B")都设置了这种P艮度值"B"， 如附图所示，假设球面像差校正值变化时寻轨误差信号TE振幅值的 实际特性对于例如每种介质或驱动器不同。另外，该限度值仅仅必须 小于最大可设置的球面像差校正值。实践中，基于实验结果等确定的 最优值可以设置为该限度值。
参考图6A，正如在图4中介绍<1>的情况下，作为粗略调节操作， 系统控制器10首先通过关于初始位置以改变步长土A改变球面像差 校正值SA。然后系统控制器IO计算包括初始位置的三个点的二阶近 似，以确定给出寻轨误差信号TE最大振幅值的球面像差校正值 SP_peak。然后，系统控制器10判断是否满足SA_L < SA—peak < SA_H。
在这种情况下，如果满足SA一L《SA一peak《SA一H，系统控制器 10就将算出的SA一peak值固定为调整值。
反之，根据参考图4的上述说明，如果不满足SA_L<SA_peak <SA_H，系统控制器10就进一步以改变步长A改变球面像差校正值 SA以获得新的点。系统控制器IO计算包括新获得点的三个点的二阶 近似以确定SP一peak值。然后系统控制器10判断是否满足SA_L< SA_peak<SA_H。在本实施例中，在将球面像差校正值改变为新的点 之前，还另外判断了下一个要改变的球面像差校正值是否小于限度值 (后文简称为限度)"B"。如果这个判断的结果表明该校正值小于
限度"B",系统控制器10就将球面像差校正值SA改变为图中所示 的新点，并获得寻轨误差信号TE的振幅值。然后系统控制器10计算 包括新获得点的三个点的二阶近似以确定SP一peak值。系统控制器10 判断是否满足SA—L < SA—peak < SA_H。
反之，如果下一个要改变的球面像差校正值SA不小于例如图6C 所示的限度"B"，系统控制器IO就将当前的球面像差校正值SA固 定为调整值。图中所示的实例显示了下一个要改变的球面像差校正值 SA等于+3A(SA-十3A)的情况，它不小于"B" (SA=+3A> "B")。 因此，当前的球面像差校正值8乂=+2众就被固定为调整值。
这样的球面像差校正值的限度值在参考图5A和图5B介绍的操 作中也类似地采用了。.
更确切地说，根据参考图5A和图5B给出的说明，即使由二阶 近似值产生的二次曲线不向上凸起，也执行了以改变步长A进一步改 变球面像差校正值的操作。在这种情况下，系统控制器10在将球面像 差校正值改变为新的点之前，也判断下一次要改变的球面像差校正值 是否小于限度值(限度)"B"。如果这个判断的结果表明将要改变 的校正值小于限度"B",系统控制器IO就将球面像差校正值改变为 新的点，并获得寻轨误差信号TE的振幅值。系统控制器10根据该结 果以上述方式再次计算二阶近似，并且判断算出的二次曲线是不是向 上凸起。
另一方面，如果下一次要改变的球面像差校正值SA不小于限度 "B"，系统控制器10就将当前的球面像差校正值SA固定为调整值。
粗略调节之后的精细调节操作
现在，在实施例中，在球面像差校正值的上述粗略调节之后，对 球面像差校正值和聚焦偏置都进行精细调节。
更确切地说，系统控制器10响应聚焦伺服和寻轨伺服都正在运 行时球面像差校正值和聚焦偏置的改变，通过接收图1所示的评价器 5a算出的抖动值而执行这种精细调节操作。
在这种精细调节中，系统控制器10将要为精细调节而设置的球
面像差校正值的初始位置设置为由上述粗略调节操作所固定的位置。 关于聚焦偏置，可以将预定值设置为初始位置。
关于以这种方式基于抖动值而执行的精细调节操作的具体方法， 可以采用每一种方法，比如迄今已经建议的以及后文将建议的多种方 法，使用抖动值作为评价值，对球面像差校正值和聚焦偏置都进行调 整，本文对这样的方法不做特别的限制。
例如，可以采用下面介绍的方法。
首先，系统控制器IO根据粗略调节期间决定的球面像差校正值，
决定本调节期间将要改变的每个球面像差校正值。另外，关于聚焦偏
置值，系统控制器10也根据例如初始位置决定本调节期间将要改变的
每个聚焦偏置值。
此后，系统控制器10首先用以这种被设置方式所决定的一对球 面像差校正值和聚焦偏置值，执行再现操作。然后，系统控制器10 再获得由评价器5a响应该设置而算出的抖动值，并且与设定的球面像 差校正值和聚焦偏置值相关联地存储抖动值。
系统控制器10对以上述方式决定的每对球面像差校正值和聚焦 偏置值都执行这样的操作。例如，在设定了要改变的五个球面像差校 正值(SA=5)和五个聚焦偏置值(FB=5)的情况下，系统控制器10 对总共25 (5x5)对的球面像差校正值和聚焦偏置值的每一对都要执 行上述操作。然后系统控制器10根据球面像差校正值与聚焦偏置值对 的每种设置条件下由这种操作获得的抖动值，确定最优的球面像差校 正值和最优的聚焦偏置值。更确切地说，系统控制器10确定例如使抖 动值最小化(最优化)的一对球面像差校正值与聚焦偏置值，并且将 这些值固定为精细调节的调整值。
在已经介绍的实施例中，由于仅仅在开启聚焦伺服的情况下，仅 对球面像差校正值进行粗略调节，所以对球面像差校正值提供了预定 的限度值(限度)，并且根据寻轨误差信号的振幅值并根据这个限度 值，固定该调整值，其中寻轨误差信号的振幅值是响应在调节期间改
变球面像差校正值而获得的。
通过以这种方式对球面像差校正值施加预定的限度值而执行粗 略调节，即使如上所述寻轨误差信号振幅值特性与抖动值特性的轴向 彼此不同，也能够有利地防止粗略调整的球面像差校正值偏离评价值 特性上的最优值，不同于以例如相关技术中所采用的方式进行调整， 使球面像差校正值逼近使寻轨误差信号振幅值最优化的值的情况。
结果，在如上所述特性轴向不同的情况下，有可能降低在相关技
现和地址检测的可能性，从而允许系统控制器IO在所述轴向显著不同
时进行精细调节。换言之，关于轴向的差异，有可能扩展精细调节的
可执行范围。
作为使粗略调整的球面像差校正值位置在抖动值特性上恶化的 因素，考虑了粗略调节开始之时设定的球面像差校正值聚焦偏置的初 始位置偏离此后进行精细调节期间要逼近的球面像差校正值和聚焦偏 置的位置(最优值)。
考虑到这一点，能够以上述方式防止球面像差校正值位置在精细 调节期间所用抖动值特性上恶化的实施例，关于这样的球面像差校正 值和聚焦偏置的初始值的恶化，能够扩展精细调节的可执行范围。
图7A至图7C展示的实验结果描述了根据本实施例的粗略调节 操作的效果。更确切地说，图7A展示了不进行球面像差校正值的粗 略调节情况下进行的实验结果，而图7B和图7C分别展示了进行相关 技术中采用的粗略调节(即无限度的粗略调节)情况下以及进行根据 本实施例有限度的粗略调节情况下进行的实验结果。
图7A至图7C显示了由纵轴和横轴分别表示聚焦偏置和球面像 差(球面像差校正值)时，抖动值的特性(等值线图)。每幅图中的白 点都表明最优值(目标值)，根据抖动值使球面像差校正值和聚焦偏 置朝它进行精细调节。
另外，参考图7A至图7C，每幅图中的阴影部分表明的范围(后 文称为逼近时的不适宜范围)是球面像差校正值和聚焦偏置无法从其
调整至白点所指示的精细调节的目标值。更确切地说，驻留在这个逼 近时的不适宜范围内的球面像差校正值和聚焦偏置无法调整至精细调 节的目标值。
为了确认，图7A至图7C展示的实验结果来自寻轨误差信号TE 的振幅值特性与抖动值特性的轴向之间发生差异时，如图12A和12B 所示。
图7A与图7B的对比显示，在寻轨误差信号TE的特性与抖动值 的特性之间的轴向发生差异的情况下，逼近时的不适宜范围在进行了 (无限度)粗略调节时比不进行粗略调节时扩大得更多。因此应当理 解，进行该粗略调节反而对精细调节有消极的影响。
反之，当进行根据本实施例的附带限度的粗略调节时(它显示在 图7C中)，与不进行粗略调节的情况和进行(无限度)粗略调节的 情况相比时，逼近时的不适宜范围都收缩(即逼近时的适宜范围扩大)。 因此应当理解，能够实现更稳定的精细调节操作。
3.实现粗略调节操作的处理操作
下一步将参考图8至图10的流程图介绍根据实施例的实现粗略 调节操作的处理操作。
根据存储器(例如系统控制器10中包括的ROM)中存储的若干 程序执行这些流程图所示的处理操作。
此外，在执行这些流程图所示的处理操作以前，已经开启了聚焦伺服。
参考图8，在步骤S101，系统控制器10在球面像差校正值(SA) 和聚焦偏置(FB)的初始位置获得寻轨误差信号TE的振幅值。更确 切地说，系统控制器10首先将初始的球面像差校正值和初始的聚焦偏 置值通知伺服电路11中包括的球面像差校正值设置器24和聚焦偏置 设置器23，使球面像差校正值设置器24和聚焦偏置设置器23按通知 的初始位置分别执行球面像差校正值和聚焦偏置值的若干设置操作。 然后，系统控制器10使光学拾取头OP从光盘D中读取信号，并且 从矩阵电路4获得响应该读取而提供的寻轨误差信号TE的振幅值。
在步骤S102,系统控制器10判断是否已经成功地得到了振幅值。 如果在步骤S101执行的获得振幅值的处理结果是没有成功地获得寻 轨误差信号TE的振幅值的否定结果，此过程进至步骤S113。在步骤 S113，系统控制器IO执行例如预定的错误处理。
反之，如果在步骤S102是已经成功地获得了振幅值的肯定结果， 此过程进至步骤S103。在步骤S103,系统控制器10以改变步长-A (SA=-A)改变球面像差校正值，并且获得寻轨误差信号TE的振幅 值。更确切地说，系统控制器10将从上述初始位置减去A所获得的 数值通知球面像差校正值设置器24。系统控制器10也使光学拾取头 OP执行信号的读取，并且从矩阵电路4获得响应该读取而提供的寻 轨误差信号TE的振幅值。
然后，在步骤S104，系统控制器10判断在步骤S102的情况下， 是否已经成功地获得了振幅值。如果没有成功地获得振幅值，系统控 制器IO在步骤S114执行错误处理。
如果已经成功地获得了振幅值，此过程进至步骤S105。在步骤 S105，系统控制器10以改变步长+A (SA=+A)改变球面像差校正值， 并且获得寻轨误差信号TE的振幅值。
在步骤S106,系统控制器10类似地判断是否已经成功地获得了 振幅值。如果没有成功地获得振幅值，系统控制器10在步骤S115执 行错误处理。
如果在步骤S106已经成功地获得了振幅值，此过程进至步骤 S107。在步骤S107,系统控制器10以球面像差校正值SA的上升次 序将球面像差校正值排序为SA一L、 SA_M和SA一H。在步骤S108, 系统控制器10使用(SA_L， TEJL) 、 ( SA_M， TE_M)和(SA—H， TE一H)三个点计算二阶近似。更确切地说，系统控制器10使用球面 像差校正值SA_L、 SA一M和SA一H以及在对应球面像差校正值设置 条件下获得的寻轨误差信号TE的振幅值，也就是TE一L、 TE一M和 TE一H的每一个，计算二阶近似，以确定经过这三个点的二次曲线。
更确切地说，系统控制器10计算二次曲线"y=ax2+bx+c"，其中y 表示寻轨误差信号TE的振幅值，而x表示球面像差校正值。
然后，在步骤S109，系统控制器IO判断从二阶近似确定的曲线 是不是向上凸起。更确切地说，系统控制器10判断所确定的二次曲线 中"x"，的系数(也就是上述"a")是不是负值。
如果获得了所述二次曲线不是向上凸起的否定结果，系统控制器 10使此过程进至图10所示的步骤S301。
反之，如果获得了所述二次曲线是向上凸起的肯定结果，此过程 进至步骤SllO。在步骤SllO，系统控制器10确定寻轨误差信号TE 的振幅值达到其峰值的位置时的球面像差校正值(SA_peak)。换言 之，系统控制器10根据所算出的二次曲线确定使"y"值最大的"x" 值。
然后，系统控制器10在步骤Slll判断是否满足SA一L < SA一peak <SA—H。如果得到了满足SA_L<SA_peak<SA_H的肯定结果，系 统控制器10在步骤S112中将球面像差校正值SA一peak设置为调整 值，然后终止此过程。
另一方面，如果得到了不满足SA—L < SA_peak < SA—H的否定 结果，系统控制器IO将此过程进至图9所示的步骤S201。
参考图9，系统控制器10首先在步骤S201判断是否满足SA一peak <SA_L。更确切地说，在步骤S201执行的处理是为了识别逼近所算 出的SA—peak方向(也就是，寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向) 的处理。
如果在步骤S201得到了不满足SA_peak<SA—L的否定结果， 也就是，寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向不是负方向，此过程 进至步骤S202。在步骤S202，系统控制器10判断是否满足SAJI+A >B。更确切地说，由于在这种情况下寻轨误差信号TE的振幅值增大 的方向是正方向，系统控制器IO判断以上述方式通过向SA一H (它是 三个点中的最大值)增加改变步长A所得到的值是否小于限度值B, 从而判断下一次要改变的球面像差校正值是否小于限度值。
如果在步骤S202得到了满足SA一H+A > B的肯定结果，也就是， 下一次要改变的球面像差校正值不小于限度值B，此过程进至步骤 S204。在步骤S204，系统控制器10将球面像差校正值SA_H设置为 调整值，然后终止此过程。
通过在步骤S202和步骤S204中进行的处理执行基于限度值的粗 略调节操作。换言之，为了实现根据实施例的粗略调节操作，必须向 相关技术中进行的处理增加在步骤S202和步骤S204中进行的处理。
另一方面，如果得到了不满足8入_11+入:>8的否定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值小于限度值B，此过程进至步骤S205。在 步骤S205,系统控制器10获得球面像差校正值SA_H+A处的寻轨误 差信号TE的振幅值，然后使此过程进至步骤S208。
如果在步骤S201得到了满足SA_peak<SA_L的肯定结果，即 寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向是负方向，此过程进至步骤 S203。在步骤S203，系统控制器10判断是否满足SA_L-A<-B。更 确切地说，由于如上所述寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向是负 方向，系统控制器10判断通过从球面像差校正值SA_L (即三个点中 的最小值)中减去改变步长A所得到的值是否大于限度值-B,从而判 断下一次要改变的球面像差校正值是否不小于限度值(关于绝对值而 言)。
如果在步骤S203得到了满足SA一L-A < -B的肯定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值不大于限度值-B，此过程进至步骤S206。 在步骤S206，系统控制器10将球面像差校正值SAJL设置为调节值， 然后终止此过程。
也通过步骤S203和步骤S206的处理执行基于限度值的粗略调节 操作。所以，也必须向相关技术中进行的处理增加在步骤S203和步骤 S206中进行的处理。
另一方面，如果得到了不满足SA一L-A《-B的否定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值大于限度值-B，此过程进至步骤S207.系 统控制器10在步骤S207获得球面像差校正值SA L-A处的寻轨误差
信号TE的振幅值，然后使此过程进至步骤S208。
在步骤S208，系统控制器10判断是否已经成功地获得了振幅值， 如果没有成功地获得，系统控制器10在步骤S210执行错误处理。
如果已经成功地获得了振幅值，此过程进至步骤S209。在步骤 S209,系统控制器IO将球面像差校正值SA，包括新获得的点，以SA 的上升次序排序为SA一L、 SA一M和SA—H，并且使过程回到图8所示 的步骤S108。
如果在图8所示的步骤S109中得到算出的二次曲线不是向上凸 起的否定结果，系统控制器10使此过程进至图10所示的步骤S301， 如上所述。
参考图10，在步骤S301系统控制器10判断是否满足TE_L< TE一H。换言之，系统控制器10通过步骤S301进行的这种处理，识 别寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向(寻轨误差信号TE斜率的 方向)。
如果在步骤S301得到了满足TE—L < TE一H的肯定结果，即寻轨 误差信号TE的振幅值增大方向是正方向，此过程进至步骤S302。在 步骤S302，系统控制器10判断是否满足SA—H+A〉B。更确切地说， 由于如上所述在这种情况下寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向是 正方向，系统控制器10判定通过向球面像差校正值SA_H (它是三个 点中的最大值)增加改变步长A所得到的值不小于限度值B，从而判 断下一次要改变的球面像差校正值是否小于该限度值。
如果在步骤S302得到了满足SA_H+A>B的肯定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值不小于限度值B，此过程进至步骤S304。 在步骤S304,系统控制器10将球面像差校正值SAJI设置为调整值， 然后终止此过程。
换言之，也通过步骤S302和步骤S304执行基于限度值的粗略调 节操作。所以，为了实现根据本实施例的粗略调节操作，也必须增加 在步骤S302和步骤S304中进行的处理。
另一方面，如果得到了不满足SA一H+A〉B的否定结果，即下一
次要改变的球面像差校正值小于限度值B，此过程进至步骤S305。在 步骤S305,系统控制器10获得球面像差校正值SA一H+A处的寻轨误 差信号TE的振幅值，然后使此过程进至步骤S309。
如果在步骤S301得到了不满足TE一L < TE一H的否定结果，即寻 轨误差信号TE的振幅值增大方向不是正方向，此过程进至步骤S303。 在步骤S303,系统控制器10判断是否这时满足TE一L〉TEJJ。更确 切地说，系统控制器10判断寻轨误差信号TE的斜率方向是不是负方 向。
如果在步骤S303判定不满足TE_L>TE_H，即寻轨误差信号 TE的斜率方向不是负方向，它连同在步骤S301的判断结果，意味着 TE_L值与TE_H值相同。所以，如果在步骤S303处判定不满足TE_L > TE—H，并且揭示出TE—L值与TE—H值相同，此过程进至步骤S312, 如图所示。在步骤S312,系统控制器IO将球面像差校正值SA一M设 置为调整值，然后终止此过程。
更确切地说，如前所述，TE一L值与TEJH值相同意味着寻轨误 差信号TE的最大振幅值非常可能存在于TE一L值与TE_H值之间。 因此，系统控制器10将调整值设置为数值SA—M，它是TE一L值与 TE一H值之间的中间点，然后终止此过程。
另 一方面，如果在步骤S303得到了满足TE_L > TE—H的肯定结 果，即寻轨误差信号TE的斜率方向是负方向，此过程进至步骤S306。 系统控制器10判断是否满足SA一L-A《-B。更确切地说，由于如上所 述寻轨误差信号TE的振幅值增大的方向是负方向，系统控制器10判 断通过从球面像差校正值SA一L (它是三个点中的最小值)中减去改 变步长A所得到的值是否大于限度值-B，从而判断下一次要改变的球 面像差校正值是否不小于该限度值(关于绝对值而言)。
如果在步骤S306得到了满足SA_L-A<-B的肯定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值不大于限度值-B，此过程进至步骤S307。 在步骤S307,系统控制器10将球面像差校正值SA一L设置为调整值， 然后终止此过程。 也通过步骤S306和步骤S307执行基于限度值的粗略调节操作。 所以，也必须向相关技术中进行的处理增加在S306和步骤S307中进 行的处理。
另一方面，如果得到了不满足SA一L-A《-B的否定结果，即下一 次要改变的球面像差校正值大于限度值-B，此过程进至步驟S308。在 步骤S308,系统控制器10获得球面像差校正值SA—L-A处的寻轨误 差信号TE的振幅值，然后使此过程进至步骤S309。
在步骤S309，系统控制器10判断是否已经成功地获得了振幅值。 如果没有成功地获得，系统控制器10在步骤S311执行错误处理。如 果已经成功地获得了振幅值，此过程进至步骤S310。系统控制器10 以SA的上升次序将球面像差校正值SA排序为SAJL、SA一M和SA一H, 并且使此过程回到图8所示的步骤S108。
虽然以上已经介绍了本发明的若干实施例，但是本发明不应当限 于所介绍的实施例。
例如，在若干实施例中，作为球面像差校正机构已经展示了光束 扩展器和液晶器件。不过，本发明也能够优选地应用于采用其他球面 像差校正机构的情况。
此外，在若干实施例中，作为基本的粗略调节操作已经展示了当 寻轨误差信号TE的最高振幅值驻留在由三个点(SA—L < SA_peak < SA一H)定义的范围内时，采用基于二阶近似值的结果，将球面像差校 正值调节为SA一peak方法的情况。不过，也可以采用其他方法作为基 本的粗略调节操作。
例如，可以根据寻轨误差信号TE的三个振幅值的幅度检测最优 点，而不是根据二阶近似结果检测寻轨误差信号TE的振幅值的最优 点。更确切地说，检测寻轨误差信号TE振幅值中的最优点时可以通 过判断寻轨误差信号TE的振幅值是否在例如三个球面像差校正值 SA一L、 SA一M和SA_H之中的球面像差校正值SA一M处最大化(最 优化)。换言之，如果振幅值在球面像差校正值SA一M处最优化，那 么寻轨误差信号TE振幅值的斜率改变的点(即寻轨误差信号TE的
最适合振幅值)驻留在由SA一L、 SA一M和SA—H三个点所定义的范 围内。
即使在采用了这样的方法的情况下，也在寻轨误差信号TE振幅 值增大的方向(在振幅值逼近最优值的方向)顺序地改变球面像差校 正值以检测最优点。因此，每次寻轨误差信号TE的振幅值新改变时， 都判断要改变的球面像差校正值是否不小于(或不大于)限度值"B" 如果该球面像差校正值小于限度值"B",就对包括新改变点的三个 点进行检测最优点的上述操作。如果该球面像差校正值不小于(或不 大于)P艮度值"B"，则将当前的球面像差校正值设置为调整值。
此外，如果在球面像差校正值SA一M处振幅值最优化，则可以将 这个值SA一M设置为调整值。作为替代，如果在球面像差校正值SA一M 处振幅值最优化，则根据在SA一L与SA一H之间的范围内，以更小的 改变步长将球面像差校正值改变为多个点的结果，将使寻轨误差信号 TE是振幅值最优化的球面像差校正值设置为调节值。
此外，在本实施例中，已经展示了当将要新改变的球面像差校正 值不小于(或不大于)限度值"B"时将当前的球面像差校正值设置 为调整值的情况。不过，也可以将限度值"B"设置为调整值。这样 的情况也能够提供类似于这些实施例的优点。
此外，在以上给出的描述中，已经介绍了以常数改变步长改变球 面像差校正值的情况。不过，球面像差校正值的改变步长不一定设定 为常数，而是可以变化。
此外，在这些实施例中，已经展示了根据本实施例的光学记录介 质驱动设备用作以相变记录方法对记录数据的光盘(可写盘片)进行 记录和再现的记录/再现装置的情况。不过，根据本发明实施例的光学
合记录数据的只读盘片进行数据再现的只再现装置:作为替代，根据
本发明实施例的光学记录介质驱动设备也能够优选地应用于仅仅能够 记录的只记录装置。
不仅如此，已经展示了在精细调节之时采用抖动值作为再现信号
质量的评价指示器所用的评价值的情况。除了这种数值，也能够采用
例如差异度量的评价值(表示在二进制化处理中采用的PRML (部分 响应最大似然)情况下偏离理想数值的误差和偏差的值)。
无论在哪一种情况下，在精细调节中使用的评价值都仅仅用作再 现信号质量的评价指示器，而且不应当受限于在实施例中的展示。
此外，已经展示了在球面像差校正值的粗略调节之时寻轨误差信 号TE的振幅值用作评价信号值的情况。不过，在粗略调节中使用的 评价信号值不限于在实施例中的展示。例如，能够采用RF信号(再 现数据信号)的振幅值和摆动信号(推挽式信号)的振幅值。根据反 射光信息产生的和能够用作从光学拾取头提供的读出信号的评价指示 器的其他信号值也能够用作评价信号值。
本领域的技术人员应当理解，根据设计需求和其他因素，可以设 想出多种修改、组合、子組合和改变，只要它们在附带的权利要求书 或其等效内容的范围之内。
权利要求
1.一种光学记录介质驱动设备，包括拾取头装置，用于将激光照射到光学记录介质上并检测所述光学记录介质的反射光以读出信号，所述拾取头装置具有用于所述激光的聚焦伺服机构和球面像差校正机构；评价信号产生装置，用于根据由所述拾取头装置检测的反射光产生评价信号，所述评价信号用作评价所述读出信号质量的指示器；聚焦伺服装置，用于根据聚焦误差信号驱动所述聚焦伺服机构以进行聚焦伺服操作，所述聚焦误差信号基于由所述拾取头装置检测的反射光而产生；球面像差校正装置，用于根据球面像差校正值驱动所述球面像差校正机构以执行球面像差校正操作；聚焦偏置装置，用于向包括所述聚焦伺服装置的聚焦回路附加聚焦偏置；以及控制装置，用于执行固定所述球面像差校正值的调整值的操作，所述控制装置根据评价信号值以及为所述球面像差校正值设定的限度值，固定所述球面像差校正值的第一调整值，所述评价信号值是响应利用由所述聚焦伺服装置执行的所述聚焦伺服操作改变所述球面像差校正值而获得的。
2. 根据权利要求l的设备，其中，所述装置 响应以预定的改变步长A顺序地改变所述球面像差校正值，获得所述评价信号值；根据所获得的结果，判断在由包括新改变点的多个球面像差校正 值所定义的范围内，是否存在着最优评价信号值；如果在由所述多个球面像差校正值所定义的范围内不存在所 述最优评价信号值，则进一步判断下一次要改变的所述球面像差校正 值是否小于所述限度值，以及，如果这种判断的结果表明下一次要改变的所述球面像差校 正值不小于所述限度值，则将基于所述限度值的球面像差校正值固定 为所述第一调整值。
3. 根据权利要求2的设备，其中，如果下一次要改变的所述球 面像差校正值不小于所述限度值，所述控制装置将当前的球面像差校 正值固定为所述第一调整值。
4. 根据权利要求2的设备，其中，如果下一次要改变的所述球 面像差校正值不小于所述限度值，所述控制装置将所述限度值固定为 所述第一调整值。
5. 根据权利要求1的设备，进一步包括评价值计算装置，用于根据由所述拾取头装置从所述光学记录介 质读出的信号，计算用作再现信号质量指示器的预定评价值，其中，所述控制装置在固定了所述第一调整值之后，根据所述评价值， 执行固定所述球面像差校正值的第二调整值和所述聚焦偏置的调整值 的操作，所述评价值是响应分别相对于所述球面像差校正值的第一调 整值和所述聚焦偏置的预定初始值，既改变所述球面像差校正值又改 变所述聚焦偏置而获得的。
6. —种用于光学记录介质驱动设备以调整球面像差校正值的球 面像差调整方法，所述光学记录介质驱动设备包括拾取头装置，所 述拾取头装置具有激光的聚焦伺服机构和球面像差校正机构，用于将 所述激光照射到光学记录介质上并检测所述光学记录介质的反射光以 读出信号；评价信号产生装置，用于根据所述拾取头装置检测的反射 光，产生评价信号，所述评价信号用作评价所述读出信号质量的指示 器；聚焦伺服装置，用于根据聚焦误差信号驱动所述聚焦伺服机构以 进行聚焦伺服操作，所述聚焦误差信号基于由所述拾取头装置检测的 反射光而产生；球面像差校正装置，用于根据球面像差校正值驱动所 述球面像差校正机构以执行球面像差校正操作；以及聚焦偏置装置， 用于向包括所述聚焦伺服装置的聚焦回路附加聚焦偏置；所述方法包 括根据评价信号值以及为所述球面像差校正值设定的限度值，固定所述球面像差校正值的笫一调整值，所述评价信号值是响应利用由所获得的。
7. —种光学记录介质驱动设备，包括光学拾取头，用于将激光照射到光学记录介质上并检测所述光学 记录介质的反射光以读出信号，所述光学拾取头具有用于所述激光的 聚焦伺服机构和球面像差校正机构；评价信号产生部分，用于根据由所述光学拾取头检测的反射光产 生评价信号，所述评价信号用作评价所述读出信号质量的指示器；聚焦伺服部分，用于根据聚焦误差信号驱动所述聚焦伺服机构进 行聚焦伺服操作，所述聚焦误差信号是基于由所述光学拾取头检测的 反射光而产生的；球面像差校正部分，用于根据球面像差校正值驱动所述球面像差 校正机构以执行球面像差校正操作；聚焦偏置调节器，用于向包括所述聚焦伺服部分的聚焦回路附加 聚焦偏置；以及系统控制器，用于执行固定所述球面像差校正值的调整值的操 作，所述系统控制器根据评价信号值以及为所述球面像差校正值设定 的限度值，固定所述球面像差校正值的第一调整值，所述评价信号值 是响应利用由所述聚焦伺服部分执行的所述聚焦伺服操作改变所述球 面像差校正值而获得的。
全文摘要
公开了光学记录介质驱动设备和球面像差调节方法。光学记录介质驱动设备包括光学拾取头、评价信号产生部分、聚焦伺服部分、球面像差校正部分、聚焦偏置调节器和系统控制器。所述光学拾取头具有聚焦伺服机构和球面像差校正机构，照射激光和检测反射光。所述评价信号产生部分根据所述反射光产生评价信号。所述聚焦伺服部分根据聚焦误差信号，驱动所述聚焦伺服机构进行聚焦伺服。所述球面像差校正部分驱动所述球面像差校正机构以执行球面像差校正操作。所述聚焦偏置调节器对聚焦回路附加聚焦偏置。所述系统控制器执行的操作用于固定所述球面像差校正值的调整值。
文档编号G11B7/09GK101174434SQ200710154369
公开日2008年5月7日 申请日期2007年9月26日 优先权日2006年9月26日
发明者西野正俊 申请人:索尼日电光领有限公司