1.一种相变存储裸阵列的选址系统，用于在对相变存储阵列进行性能测试时提供选址控制；其特征在于，包括行选择电路、行控制电路、列选择电路和列控制电路；
所述行控制电路的一端与所述行选择电路连接，所述行控制电路的另一端用于与相变存储阵列连接；
所述列控制电路的一端与所述列选择电路连接，所述列控制电路的另一端用于与相变存储阵列连接；
工作时，所述行选择电路和所述列选择电路均与半导体特性分析仪连接，半导体特性分析仪用于提供相变存储阵列测试所需的测试信号和激励信号；通过行选择电路和列选择电路实现多路复用高速模拟通道的选通，通过二进制地址码选择所述相变存储阵列的行地址和列地址。
2.如权利要求1所述的选址系统，其特征在于，所述行选择电路和所述列选择电路的结构相同，包括逐级连接的n级高速开关阵列；
第一级包括一个开关单元，开关单元包括2m路复用通道模拟开关，2m路复用通道模拟开关的一端均相连并作为公共端接收输入信号；
第二级包括2m个开关单元，每个开关单元包括2m路复用通道模拟开关，第一个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第一路复用通道模拟开关的另一端连接；第二个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第二路复用通道模拟开关的另一端连接；……第2m个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第2m路复用通道模拟开关的另一端连接；
……
第n级包括2m×n个开关单元，每个开关单元包括2m路复用通道模拟开关，第一个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第一路复用通道模拟开关的另一端连接；第二个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第二路复用通道模拟开关的另一端连接；……第2m×n个开关单元中2m路复用通道模拟开关的一端均相连并与第一级中第2m路复用通道模拟开关的另一端连接；
其中，m、n均为大于等于1的正整数。
3.如权利要求1或2所述的选址系统，其特征在于，所述行控制电路和列控制电路结构相同，包括m*n路控制单元，每一路控制单元包括依次串联连接的电阻和开关，电阻的非串联连接端接电源，开关的非串联连接端接地。