技术总结
本发明提供了一种芯片输入引脚测试方法和装置，所述方法根据控制信号来切换当前芯片所处的模式，并输入激励序列至芯片的待测引脚，而后通过采样单元将待测引脚接收到的数值存储于存储单元中，再通过待测引脚对应的输出引脚(输出功能良好的、与待测引脚对应的另一引脚)输出存储单元的值，并在校验单元将输出的值与预设输出值镜像比较，从而自动校验芯片待测引脚的输入功能是否正常，使得测试在芯片处于裸片阶段下即可进行，相当于整机测试的方式，大大降低了测试成本。此外，输入的激励序列完全可以根据实际需求自定义确认,具有很高的灵活性和故障检测覆盖率。
技术研发人员：林源晟
受保护的技术使用者：福州瑞芯微电子股份有限公司
文档号码：201610999240
技术研发日：2016.11.14
技术公布日：2017.03.22