晶圆研磨方法与流程

文档序号:14913117发布日期:2018-07-10 23:57阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种晶圆研磨方法,其特征在于:在具有有机绝缘层以及金属层的晶圆正面覆盖保护蓝膜,然后使用硬质材料将保护蓝膜的表面磨平;再对晶圆进行背面减薄后去除正面保护蓝膜。

2.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:所述的有机绝缘层为聚酰亚胺。

3.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:所述的硬质材料的硬度要远大于蓝膜材质,其洛氏硬度大于60。

4.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:所述的硬质材料为金刚石。

5.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:在使用硬质材料对蓝膜表面进行研磨时,保证蓝膜的表面被完全磨平,磨平后蓝膜表面与有机绝缘材质表面还留有一定距离,使蓝膜下的有机绝缘材质不受影响。

6.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:所述的蓝膜为耐高温的蓝膜。

7.如权利要求1所述的晶圆研磨方法,其特征在于:对晶圆进行背面减薄采用机械研磨工艺。

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