有机发光显示装置的制造方法_2

文档序号:8320253阅读:来源:国知局
出根据一个实施方式的有机发光显示装置的像素结构的图。
[0043] 参照图2,根据一个实施方式的有机发光显示装置100的每个像素 P包括有机发光 二极管(OLED)和用于驱动OLED的驱动电路单元。
[0044] 参照图2,每个像素 P中的用于驱动OLED的驱动电路单元主要包括:用于向OLED 提供电流的驱动晶体管DT;起开关晶体管作用的第一晶体管T1,第一晶体管Tl在第一扫描 信号SCAN的控制下通过控制向驱动晶体管的第一节点Nl施加数据电压Vdata来控制驱动 晶体管DT的导通或断开;以及存储电容器Cstg,存储电容器Cstg在一帧期间维持施加到 驱动晶体管DT的第一节点Nl的数据电压Vdata。驱动电路单元可进一步包括第二晶体管 DT2,第二晶体管DT2作为感测晶体管用于感测驱动晶体管DT的特征值。这里,第二晶体管 DT2向驱动晶体管DT的第二节点N2提供基准电压Vref。驱动晶体管DT的特征值可包括 阈值电压(Vth)和迁移率中的至少一个。
[0045] 将参照图2进一步描述一个电容器Cstg和三个晶体管DT、ΤΙ、T2的连接结构。
[0046] 参照图2,驱动晶体管DT具有三个节点Ν1、Ν2和Ν3,以作为用于驱动OLED的晶体 管。驱动晶体管DT的第一节点Nl连接到第一晶体管Τ1,驱动晶体管DT的第二节点Ν2连 接到OLED的阳极(或阴极),驱动晶体管DT的第三节点Ν3连接到驱动电压线DVL,驱动电 压VDD被提供到驱动电压线DVL。
[0047] 第一晶体管Tl被从第一栅极线GLl提供的第一扫描信号SCAN控制,且第一晶体 管Tl被连接在数据线DL与驱动晶体管DT的第一节点Nl之间。
[0048] 第一晶体管Tl通过数据线DL接收从数据驱动单元120中的数模转换器(DAC) 230 输出的数据电压Vdata,并将数据电压Vdata施加到驱动晶体管DT的第一节点Nl。
[0049] 第二晶体管T2被从第二栅极线GL2提供的第二扫描信号SENSE控制,并且被连接 在驱动晶体管DT的第二节点与基准电压线RVL之间以用于将基准电压Vref提供到驱动晶 体管DT的第二节点N2。
[0050] 存储电容器Cstg介于驱动晶体管DT的第一节点Nl与第二节点N2之间,且与驱 动晶体管DT的第一节点Nl和第二节点N2连接。
[0051] 根据该实施方式,驱动晶体管DT可以是N型晶体管或P型晶体管。若驱动晶体管 DT是N型晶体管,则第一节点Nl可以是栅节点,第二节点N2可以是源节点,第三节点N3可 以是漏节点。若驱动晶体管DT是P型晶体管,则第一节点Nl可以是栅节点,第二节点N2 可以是漏节点,第三节点N3可以是源节点。在根据该实施方式的描述和附图中,为了便于 描述,驱动晶体管DT以及与驱动晶体管DT连接的第一晶体管Tl和第二晶体管T2被描述 为N型晶体管。因此,描述为,驱动晶体管DT的第一节点Nl是栅节点,第二节点N2是源节 点,第三节点N3是漏节点。
[0052] 同时,每个像素中的驱动晶体管可具有阈值电压和迁移率作为特定的特征值。每 个像素中的驱动晶体管DT的特征值可随着时间的增加而变化,并且每个驱动晶体管DT的 变化水平可逐渐变得不同,因此,全部像素的驱动晶体管DT的特征值可能不同且可能是分 散的。
[0053] 图3是描绘根据一个实施方式的有机发光显示装置100的每个像素中的驱动晶体 管DT的特征值的分散的图。
[0054] 参照图3的分散曲线,当根据一个实施方式的有机发光显示装置100中的每个像 素中的驱动晶体管DT的全部特征值被采集时,这些驱动晶体管DT的特征值可能不同且可 能是分散的。在这种情况中,这些驱动晶体管的特征值以平均值m和偏差 〇而统计地分散。
[0055] 阈值电压(Vth)~N(m, 〇 2)
[0056] 迁移率(K)~N (m, 〇 2)
[0057] 如图3所示的驱动晶体管的特征值的分散状态被称作分散(dispersion)。可用平 均值(m)和偏差(〇)定义分散的程度(measure),即分散的水平。
[0058] 同时,驱动晶体管的特征值的分散可发生位移,这被称作分散位移(despersion shift)。这里,分散位移对应于分散变化(例如平均值变化和偏差变化)的平均值变化。以 下,分散位移可被称作分散变化或平均值变化。
[0059] 图4是示出根据一个实施方式的有机发光显示装置100的每个像素中的驱动晶体 管DT的特征值的分散位移和分散位移补偿的分散曲线。
[0060] 参照图4,当每个像素中的驱动晶体管DT的特征值以平均值m和偏差 σ (N(m,σ2))分散时,每个像素中的驱动晶体管DT的特征值的平均值变成m',并且分散被 改变(Ν'(m', 〇2)),因此可发生分散位移。
[0061] 以上描述的驱动晶体管的特征值的分散和分散位移会降低驱动晶体管的可靠性, 而且还会对显示面板110的可靠性和寿命有很大影响,且会大幅降低有机发光显示装置 100的整体质量。
[0062] 因此,对每个像素中的驱动晶体管DT的特征值的分散位移进行补偿是重要的,以 便通过提高驱动晶体管DT和显示面板110的可靠性以及延长驱动晶体管DT和显示面板 110的寿命来改善有机发光显示装置100的质量。
[0063] 为了这个目的,参照图2,根据一个实施方式的有机发光显示装置100可包括感测 单元210和补偿单元220,感测单元210感测显示面板110的每个像素中的驱动晶体管DT 的特征值,补偿单元220基于所感测的特征值来计算分散变化以补偿该分散变化。
[0064] 参照图2,感测单元210可被设置成与每个像素列(即每条数据线)相对应。感测 单元210可被设置在数据驱动单元120中。
[0065] 感测单元210可包括模/数转换器(ADC) 211以及开关Sl和S2, ADC 211测量能 够感测相应像素中的驱动晶体管DT的特征值的电压,将该电压转换成数字值。开关Sl和 S2利用基准电压线RVL选择性地连接ADC 211和提供基准电压Vref的电源提供单元160 中的一个,基准电压线RVL将基准电压Vref传输到相应像素。
[0066] 利用基准电压线RVL选择性地连接电源提供单元160和ADC 211之一的开关可被 实现为一个开关。或者,该开关可被实现为两个开关。
[0067] 若所述开关被实现为两个开关Sl和S2,描述两个开关的连接结构。第一开关Sl 被连接在基准电压线RVL与电源提供单元160之间,第二开关S2被连接在基准电压线RVL 与ADC 211之间。
[0068] 根据相应像素是否工作为驱动模式或传感模式,两个开关Sl和S2的导通和断开 的切换操作不同。
[0069] 当像素以驱动模式工作时,若第一开关Sl导通,则第一开关Sl连接基准电压线 RVL与电源提供单元160,因此,从电源提供单元160输出的基准电压Vref可被提供到驱动 晶体管DT的第二节点Ν2。此时,第二开关S2断开。
[0070] 当像素以传感模式工作时,若第一开关Sl导通,则静态电压Vref被施加到驱动晶 体管DT的第二节点Ν2。然后,若第一开关Sl断开,同时第二开关S2导通,则因此ADC 210 可测量驱动晶体管DT的第二节点Ν2的电压。可从此时测量的电压感测驱动晶体管DT的 特征值(例如阈值电压和迁移率)。
[0071] 当上述补偿单元220对每个像素的驱动晶体管DT的特征值(例如阈值电压和迁 移率)进行补偿时,补偿单元220可提供改变提供到每个像素的数据电压的补偿方案。
[0072] 然而,作为一个改变提供到每个像素的数据电压的方案,这样的补偿方案是根据 每个像素进行补偿的方案。这样的单独像素补偿方案可补偿分散本身。也就是说,单独像 素补偿方案可减小各像素的特征值之间的差(即偏差)。然而,利用单独像素补偿方案在补 偿分散位移时有局限,其中每个像素的整体特征值发生位移。
[0073] 因此,除了通过数据电压变化而实现的单独像素补偿方案之外,补偿单元220可 提供整体像素补偿方案,整体像素补偿方案改变公共地提供到全部像素的公共电压并能够 改变驱动晶体管DT的特征值。
[0074] 因此,补偿单元220可提供整体像素补偿方案,该整体像素补偿方案改变基准电 压Vref以补偿全部像素,基准电压Vref是作为DC电压而被施加到驱动晶体管DT的第二 节点N2的公共电压。这里,补偿单元220可以是时序控制器150,可被包括在时序控制器 150中或可以是设置在时序控制器150外部的独
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