立结构。
[0075] 为此，如图2所示，在根据一个实施方式的有机发光显示装置100中，感测单元210 可感测每个像素中的驱动晶体管DT的特征值。补偿单元220可基于按照每个像素感测的 特征值来进行控制，以改变公共地施加到全部像素中的驱动晶体管DT的基准电压。电源提 供单元160可在补偿单元220的控制下改变基准电压，并将改变的基准电压Vref '提供到 显示面板110的全部像素。
[0076] 当应用通过基准电压变化而实现的整体像素补偿方案时，在发生驱动晶体管DT 的特征值的平均值从m位移到m'的分散位移（例如平均值位移）的状况中，能够将所述平 均值从m'补偿成m(即所需水平），如图4所示。也就是说，分散位移补偿（即平均值位移 补偿）是可能的。
[0077] 参照图5和图6更加详细地描述上述能够补偿驱动晶体管的特征值的分散位移 的、通过基准电压变化而实现的整体像素补偿方案。
[0078] 图5和图6是用于描绘根据一个实施方式的有机发光显示装置100中的分散位移 补偿方案的图。
[0079] 参照图5,对于补偿根据一个实施方式的有机发光显示装置100的每个像素中的 驱动晶体管的特征值的分散位移的分散位移补偿方案，补偿单元220可采集根据每个像素 感测的驱动晶体管的特征值，计算分散信息（例如，分散信息可包括平均值，且可进一步包 括偏差），以及根据计算的分散信息与预定的基准分散信息之间的比较结果进行控制以改 变基准电压（即显示面板110的全部像素的公共电压）。
[0080] 参照图6更加详细地描述分散位移补偿方案。
[0081] 感测单元210感测显示面板110的每个驱动晶体管的特征值（S610)。
[0082] 在步骤S610之后，补偿单元220基于感测单元210所感测的每个驱动晶体管的特 征值来计算当前的分散信息（S620)。
[0083] 在步骤S620之后，补偿单元220将所计算的当前分散信息与预先存储在寄存 器（即一种小型存储装置，未图示）中的基准分散信息相比较，并判断是否发生分散位移 (S630)。
[0084] 此时，作为比较结果，当所计算的分散信息与基准分散信息之间的差在预定范围 内时，补偿单元220判定没有发生分散位移。作为比较结果，当所计算的分散信息与基准分 散信息之间的差在预定范围之外时，补偿单元220判定发生了分散位移。
[0085] 在步骤S630之后，作为判断是否发生分散位移的结果，当没有发生分散位移时， 即所计算的分散信息与基准分散信息之间的差在预定范围内时，补偿单元220不改变预先 存储在存储器500中的寄存器值。因此，电源提供单元160根据预先存储在存储器500中 的寄存器值保持基准电压Vref不变（S650)。
[0086] 在步骤S630之后，作为判断是否发生分散位移的结果，当发生分散位移时，即所 计算的分散信息与基准分散信息之间的差在预定范围之外，用所计算的分散信息更新预先 存储在寄存器中的基准分散信息，确定基准电压变化值以使得所计算的分散信息与基准分 散信息之间的差在预定范围内。此外，为了进行控制以根据所确定的基准电压变化值来改 变并输出基准电压，将与所确定的基准电压变化值对应的寄存器值存储（即更新）在存储 器 500 中（S650)。
[0087] 在上文中，参照图4至图6描述了使用通过基准电压变化而实现的整体像素补偿 方案的分散位移补偿。
[0088] 以下，重新定义了具有分散位移（即平均值位移）概念的宽泛意义上的分散变化， 并描述了对应重新定义的分散变化的补偿。
[0089] 首先，参照图7,定义宽泛意义上的分散变化。
[0090] 图7是以分散曲线示出有机发光显示装置100中的宽泛意义上的分散变化的图。 [0091] 参照图7,在根据一个实施方式的有机发光显示装置100中，宽泛意义上的分散变 化包括平均值变化（即平均值位移）要素（element)和偏差变化要素。这里，平均值（平 均值位移）要素是仅考虑驱动晶体管的特征值的平均值的变化的分散变化。偏差要素是仅 考虑驱动晶体管的特征值之间的偏差（即差）的变化的分散变化。
[0092] 首先，描述偏差变化要素。
[0093] 根据每个驱动晶体管的驱动时间（从第一时间点增加到第二时间点），假定发生 了分散变化，每个驱动晶体管的特征值从NI (ml, σ I2)分散变化成N2 (m2, 〇22)分散。当在 从NI (ml, σ I2)分散到Ν2 (m2, σ22)分散的分散变化中仅考虑偏差变化时，分散变化为从 NI (ml, σ I2)分散到Ν1'（ml, σ 22)分散。当在从NI (ml, σ I2)分散到Ν2 (m2, σ 22)分散的 分散变化中仅考虑平均值时，分散变化为从NI (ml，σ I2)分散到ΝΓ (m2, σ I2)分散。
[0094] 根据分散变化的概念含义，分散变化补偿也包括如图8Α和图8Β所示的偏差变化 补偿和平均值变化补偿。在分散变化补偿中，偏差变化补偿被称为偏差补偿或分散补偿，平 均值变化补偿被称为平均值补偿、平均值位移补偿或分散位移补偿。
[0095] 图8Α和图8Β是示出根据一个实施方式的有机发光显示装置100中的两种类型的 分散变化补偿的图。
[0096]图8Α是示出偏差变化补偿（即分散补偿）的图，偏差变化补偿仅对分散变化中的 偏差变化要素进行补偿。图8Β是示出平均值变化补偿的图，平均值变化补偿仅对分散变化 中的平均值变化要素进行补偿。
[0097] 图8Α中所示的偏差变化补偿（即分散补偿）可通过单独像素补偿方案执行。图 8Β中所示的平均值变化补偿可通过整体像素补偿方案执行。
[0098] 参照图9描述此种分散变化补偿以及与该分散变化补偿相关的补偿单元220。 [0099] 图9是示意性描绘根据一个实施方式的有机发光显示装置中的分散变化补偿的 图。
[0100] 参照图9,补偿单元220包括计算单元910、第一补偿单元920和第二补偿单元 930,计算单元910从按照每个像素感测的驱动晶体管的特征值计算分散信息，第一补偿单 元920用于偏差补偿（即分散补偿），第二补偿单元930用于平均值补偿。
[0101] 计算单元910计算分散信息，该分散信息包括按照每个像素感测的驱动晶体管的 平均值和偏差。
[0102] 第一补偿单元920根据计算的分散信息（即偏差）和基准分散信息（即先前计算 的分散信息或设定的目标分散信息）对按照每个像素感测的特征值的偏差进行补偿。
[0103] 第一补偿单元920输出被提供到相应像素的数据电压的变化信息Data'（以图2 的标号240标记），以将按照每个像素感测的特征值的偏差补偿到基准偏差（即先前感测的 特征值的偏差或设定的目标偏差）。因此，数据驱动单元120将改变的数据电压Vdata'提 供至相应像素 P。
[0104] 根据计算的分散信息（即平均值）和基准分散信息（即先前计算的分散信息或设 定的目标分散信息），第二补偿单元920对按照每个像素感测的特征值的平均值进行补偿。
[0105] 第二补偿单元920输出被公共提供到显示面板110的全部像素的基准电压Vref 的变化值、或与基准电压Vref的变化值相对应的相应信息，以将按照每个像素感测的特征 值的平均值补偿到基准平均值（即先前感测的特征值的平均值或设定的目标平均值）。因 此，电源提供单元160将改变的基准电压Vref '提供至全部像素。
[0106] 同时，如图7所示，当分散变化包括偏差变化要素和平均值变化要素两者时，同时 执行偏差补偿（即分散补偿）和平均值补偿。然而，为了便于描述，假定先执行偏差补偿 (即分散补偿），而在偏差补偿之后执行平均值补偿。图10示出各阶段中的分散曲线的变 化。
[0107] 以下，描述与上述分散变化补偿有关的流经驱动晶体管的电流Ids。
[0108] 首先，在没有分散变化补偿时，流经驱动晶体管的电流Ids被等式1表示。
[0109] 等式 1
[0110] Ids = K/2 (Vgs-Vth)2 = K/2 (Vdata-Vref-Vth)2
[0111] 同时，当仅考虑分散变化补偿中的分散补偿（即偏差补偿）时，也就是说，仅数据 电压改变，则流经驱动晶体管的电流Ids可被等式2表示。
[0112] 等式 2
[0113] Ids = K/2 (Vgs-Vth)2
[0114] = K/2(Vdata' -Vref-Vth)2
[0115] = K/2((Vda