本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种TFT-LCD玻璃检测装置。
背景技术：
TFT-LCD是薄膜晶体管液晶显示器缩写，TFT-LCD技术是微电子技术与液晶显示器技术巧妙结合的一种技术。人们利用在Si上进行微电子精细加工的技术，移植到在大面积玻璃上进行TFT阵列的加工，再将该阵列基板与另一片带彩色滤色膜的基板，利用与业已成熟的LCD技术，形成一个液晶盒相结合，再经过后工序如偏光片贴覆等过程，最后形成液晶显示器。它由于性能优良、大规模生产特性好，自动化程度高，成本低廉等特点，得到了极为广泛的应用。
由于TFT-LCD是进行了统一生产后在进行统一切割之后再由分厂进行组装，在这过程中就需要进行检测，目前应用广泛的检测方法为人工检测，但是由于人工检测存在不确定以及不能长时间不间断工作，工作效率低下，而且容易出现误判现象。
技术实现要素：
针对以上问题，本实用新型提供了一种TFT-LCD玻璃检测装置，具有较高的检测精度和效率，可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种TFT-LCD玻璃检测装置，包括发料装置、收料装置、监控处理中心和机体，所述发料装置和收料装置之间通过检测传送带连接，所述检测传送带上还安装有透射窗，且在检测传送带两侧均安装有若干个压力助推器，所述检测传送带上方设有照明光源和监控摄像机，所述透射窗垂向方向上还安装有透射光检测探测器，所述监控摄像机和透射光检测探测器均与监控处理中心连接，所述监控处理中心顶部还安装有数据显示屏，所述发料装置、收料装置、检测传送带、监控摄像机和透射光检测探测器均直接固定安装在机体内壁上。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述检测传送带采用段字型结构，且在检测传送带上设有三个坡折点，所述每个坡折点均安装在压力助推器上。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述照明光源和监控摄像机在同一条直线上，且照明光源与检测传送带的距离较监控摄像机与检测传送带的距离大。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该TFT-LCD玻璃检测装置，通过利用玻璃的透光性，通过照明光源对产品进行相应的照射，并且将反射结果通过监控摄像机反馈至监控处理中心，将透射结果利用透射窗透射到透射光检测探测器并将透射结果反馈至监控处理中心，通过拍摄的反射图像和透射图像区域特征对比进行自动检测，不需人工干预，实现自动化检测，具有较高的检测精度和效率。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图中：1-发料装置；2-收料装置；3-监控处理中心；4-机体；5-检测传送带；6-透射窗；7-压力助推器；8-照明光源；9-监控摄像机；10-透射光检测探测器；11-数据显示屏；12-坡折点。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例：
请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种TFT-LCD玻璃检测装置，包括发料装置1、收料装置2、监控处理中心3和机体4，所述发料装置1和收料装置2之间通过检测传送带5连接，所述检测传送带5上还安装有透射窗6，且在检测传送带5两侧均安装有若干个压力助推器7，所述检测传送带5上方设有照明光源8和监控摄像机9，所述透射窗6垂向方向上还安装有透射光检测探测器10，所述监控摄像机9和透射光检测探测器10均与监控处理中心3连接，所述监控处理中心3顶部还安装有数据显示屏11，所述发料装置1、收料装置2、检测传送带5、监控摄像机9和透射光检测探测器10均直接固定安装在机体4内壁上。
优选的是，所述检测传送带5采用段字型结构，且在检测传送带5上设有三个坡折点12，减慢产品滑落的速度，提高拍摄图像的清晰度，提高分辨成功率，所述每个坡折点12均安装在压力助推器7上，稳定传送速度；所述照明光源8和监控摄像机9在同一条直线上，且照明光源8与检测传送带5的距离较监控摄像机9与检测传送带5的距离大。
另外，所述监控处理中心3采用Intel公司生产的MCS-51系列的80C51单片机；透射光检测探测器10采用带有偏振功能的高清晰度监控摄像机。
本实用新型的优点在于：该TFT-LCD玻璃检测装置，通过利用玻璃的透光性，通过照明光源对产品进行相应的照射，并且将反射结果通过监控摄像机反馈至监控处理中心，将透射结果利用透射窗透射到透射光检测探测器并将透射结果反馈至监控处理中心，通过拍摄的反射图像和透射图像区域特征对比进行自动检测，不需人工干预，实现自动化检测，具有较高的检测精度和效率。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。