一种显示器液晶填充量测定的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示器液晶填充量测定的方法及装置。
【背景技术】
[0002] 随着显示技术的日益成熟，各种显示器也逐渐发展起来。目前，液晶显示器 (Liquid Crystal Display，简称LCD)由于具有功耗小、微型化、轻薄等优点而得到越来越 广泛的应用。
[0003] 如图1 (a)和图1 (b)所示，液晶显示面板包括阵列基板20、对盒基板10以及位于阵 列基板20和对盒基板10之间的胶框30和液晶层40。现有的液晶显示器在制造过程中，液晶 填充量(Liquid Crystal Margin，简称LC Margin)-般根据设计要求及实际工艺过程中的 细微调整来确定。在制造过程中，液晶填充量存在上限和下限，如图1(a)所示，当液晶填充 量趋近于或低于液晶填充量的下限时，阵列基板20和对盒基板10之间的液晶填充量较少， 隔垫物50(Photo Spacer，简称PS)起主要支撑作用，其中，隔垫物50包括主隔垫物501和辅 隔垫物502,此时由于液晶没有在阵列基板20和对盒基板10之间填充满，因而会出现真空气 泡(bubble)，在低温条件下，阵列基板20、对盒基板10和液晶等材料的都会收缩，由于液晶 的热膨胀系数远大于阵列基板20、对盒基板10的热膨胀系数，因而更容易出现bubble缺陷。
[0004] 如图1(b)所示，当液晶填充量趋近于或略高于液晶填充量上限时，液晶起主要支 撑作用，隔垫物50所承受的支撑力减小，当液晶显示面板放置一段时间后，液晶由于自身重 力因素和液晶的流动，使得液晶显示面板的部分区域出现液晶过多的情况，从而产生重力 Mura(斑痕)缺陷，在高温条件下，由于液晶的热膨胀系数远大于阵列基板20、对盒基板10的 热膨胀系数，因而更容易形成重力Mura。
[0005] 现有技术中，对于液晶填充量的测定方式通常是对不同液晶填充量的液晶显示面 板分别进行高低温测试，并通过人眼检测低温bubble和高温重力Mura，最终确定出适宜的 液晶填充量范围。然而，现有的评价方式由于完全是靠人操作，因而存在一定的误差。
【发明内容】
[0006] 本发明的实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，可以精确获得显 示器的液晶填充量范围，避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura 现象。
[0007] 为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
[0008] -方面，提供一种显示器液晶填充量测定的方法，包括:控制多个第一待测液晶显 示面板的液晶填充量;对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出 液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线;依据所述低温关系曲线的下限 拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。
[0009] 优选的，所述方法还包括:控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量;对所述 多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常 温关系曲线;控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括:根据所述常温关系 曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下 限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设 范围内的多个点 对应。
[0010]进一步优选的，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括:选取多个第 一待测液晶显示母板，控制每个所述第一待测液晶显示母板中所有第一待测液晶显示面板 的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显 示面板的液晶填充量不同。
[0011]控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括:选取一个第二待测液晶显 示母板，控制其中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。
[0012] 优选的，对待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，包括:对待测液晶显示面板 的中间位置处的液晶层厚度进行检测。
[0013] 对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括:针对每个待测 液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角度Θ射向待测液晶显示面板的中间位置， 得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的〇光和E光之间的距离d;根据所述预定角度Θ及所 述距离d，利用公式：
，计算得到所述液晶层的厚度T。
[0014] 其中，η。为所述0光在液晶层中的折射率;&为所述E光在液晶层中的折射率。
[0015] 进一步优选的，所述方法还包括:对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶 层厚度进行检测。
[0016] 另一方面，提供一种显示器液晶填充量测定的装置，包括:控制单元、检测单元和 处理单元;其中，所述控制单元包括液晶填充子单元、温度控制子单元;所述液晶填充子单 元，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量;所述温度控制子单元，用于控制所 述多个第一待测液晶显示面板的温度，所述温度包括预设低温和预设高温;所述检测单元， 用于在温度控制子单元控制的所述预设低温和所述预设高温下，分别对所述多个第一待测 液晶显示面板的液晶层厚度进行检测；处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层 厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线;并依据所述低温 关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范 围。
[0017] 优选的，所述液晶填充子单元，还用于控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填 充量;所述温度控制子单元，还用于控制所述多个第二待测液晶显示面板温度为预设常温； 所述检测单元，还用于在温度控制子单元控制的所述预设常温下，对所述多个第二待测液 晶显示面板的液晶层厚度进行检测；所述处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶 层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线;针对所述多个第一待测液晶显 示面板的液晶填充量，所述液晶填充子单元具体用于根据所述常温关系曲线，控制所述多 个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限 拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个点一 一对应。
[0018] 进一步优选的，所述液晶填充子单元，具体用于控制多个第一待测液晶显示母板， 使每个第一待测液晶显示母板中的所有所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并 控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量 不同；控制一个第二待测液晶显示母板中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不 同。
[0019] 优选的，所述检测单元包括发光子单元、采集子单元和计算子单元。
[0020] 针对每个待测液晶显示面板，所述发光子单元用于将一束光以相对液晶光轴的预 定夹角Θ射向所述液晶显示面板的中间位置;所述采集子单元用于采集从所述待测液晶显 示面板的中间位置处的液晶层出射的0光与E光之间的距离d;所述计算子单元用于根据所 述采集子单元采集的距离d，以及所述发光子单元发出的光射向所述待测液晶显示面板的 预定夹角Θ，利用公式
，计算得到所述液晶层的厚度T。其中，η。为0光在液 晶层中的折射率;&为Ε光在液晶层中的折射率。
[0021] 进一步优选的，所述检测单元还用于对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液 晶层厚度进行检测。
[0022] 本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，通过在低温下和高 温下分别对多个第一待检测液晶显示面板中液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液 晶量的低温关系曲线和高温关系曲线;根据低温关系曲线的下限拐点和高温关系曲线的上 限拐点，便可以精确获得显示器的液晶填充量范围。在实际生产中，对于同一种液晶显示面 板，当控制液晶填充量在上述得到的液晶填充量范围时，便能够避免液晶量过少出现的 bubb 1 e现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。由于该显示器液晶填充量测定的方法是在 结合了理论计算与实际检测的基础上，获得低温关系曲线和高温关系曲线，并根据高低温 关系曲线的拐点，得到液晶填充量范围，因而测定液晶填充量的过程更加精准。
【附图说明】
[0023] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。
[0024] 图1(a)为现有技术提供的一种液晶量不足的液晶显示面板结构示意图；
[0025]图1 (b)为现有技术提供的一种液晶量过多的液晶显不面板结构不意图；
[0026]图1(c)为现有技术提供的一种液晶量正常的液晶显示面板结构示意图；
[0027] 图2为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的方法的流程示意图；
[0028] 图3为本发明实施例提供的一种在低温、高温及常温下液晶层厚度与液晶填充量 之间的关系曲线图一；
[0029] 图4为本发明实施例提供的一种在低温、高温及常温下液晶层厚度与液晶填充量 之间的关系曲线图二；
[0030] 图5为本发明实施例提供的一种第二待检测液晶显示母板的示意图；
[0031] 图6(a)为本发明实施例提供的一种液晶量不足时测定0光和E光之间的距离的示 意图；
[0032] 图6(b)为本发明实施例提供的一种液晶量正常时测定0光和E光之间的距离的示 意图；
[0033] 图6(c)为本发明实施例提供的一种液晶量过多时测定0光和E光之间的距离的示 意图；
[0034] 图7为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的装置的示意图一；
[0035]图8为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的装置的示意图二。
[0036] 附图标记：
[0037] 10-对盒基板;20-阵列基板;30-胶框;40-液晶层;50-隔垫物;501-主隔垫物;502- 辅隔垫物;601-低温关系曲线;6