母板中的任意位置的一个液晶显示面板。进一步地，对第一待检测液晶显示母板 和第二待检测液晶显示母板直接进行液晶填充量的测定，避免了对液晶显示母板进行切 害J，节省了人力、物力，缩短了显示器液晶填充量测定的周期。
[0116] 优选的，如图8所示，检测单元90包括发光子单元901、采集子单元902和计算子单 元903。
[0117]针对每个待测液晶显示面板(包括第一待测液晶显示面板和第二待测液晶显示面 板），发光子单元901用于将一束光以相对液晶光轴的预定夹角Θ射向液晶显示面板的中间 位置。
[0118] 采集子单元902用于采集从待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的0光 与E光之间的距离d。
[0119] 计算子单元903用于根据采集子单元902采集的距离d，以及发光子单元901发出的 光射向待测液晶显示面板的预定夹角Θ，利用公式
1计算得到液晶层的 厚度T。其中，η。为0光在液晶层中的折射率;&为E光在液晶层中的折射率。
[0120]由于待测液晶显示面板的边缘位置处通过胶框30支撑，中间位置处通过隔垫物50 支撑，而胶框30和隔垫物50在制作过程中，由于工艺原因，胶框30和隔垫物50的高度可能存 在差异，这就使得液晶显示面板边缘位置处的液晶层厚度和中间位置处的液晶层厚度不一 样。考虑到液晶显示面板通常利用中间位置进行显示，而为了避免在拟合液晶层厚度与液 晶填充量关系曲线时，检测到边缘位置处的液晶层厚度对中间位置的液晶层厚度的影响， 从而影响拟合到的液晶层厚度与液晶填充量关系曲线，因而，本发明实施例优选的，利用发 光子单元901发出的光以相对液晶光轴的预定夹角Θ射向液晶显示面板的中间位置。
[0121]需要说明的是，第一，对于发光子单元901，以能发出与液晶光轴有预定夹角Θ的光 即可。此处，发光子单元901可以发出红外光。
[0122] 第二，对于采集子单元902,只要能采集从液晶显示面板的中间位置处的液晶层出 射的〇光与E光之间的距离d即可。
[0123] 示例的，采集子单元902可以是摄像机，当发光子单元901发出红外光时，利用摄像 机以及红外线的物理性质对0光和E光进行采集，从而得到这两束光通过液晶显示面板的液 晶层出射时，0光和E光之间的距离d。当然也可以通过CCD相机对入射光L照射后发生双折射 现象的液晶显示面板进行采集，由于〇光和E光会影响采集图像的像素分布、亮度以及颜色 等参数，因而将采集的图像转换为图像信号，再将图像信号转换成数字信号，并进行各种运 算，便可以得到〇光和E光之间的距离d。
[0124] 本发明实施例中，由于检测单元90中的发光子单元901仅射向液晶显示面板的中 间位置，采集子单元902只采集中间位置处的液晶层出射的0光与E光之间的距离d，计算子 单元100根据中间位置处的液晶层出射的0光与E光之间的距离d计算出液晶层的厚度T，因 而处理单元100拟合出的关系曲线不受边缘位置的影响，从而使得测定出的显示器的液晶 填充量的范围更加准确。
[0125] 由于不同的液晶显示面板在实际应用中有不同的要求，当液晶显示面板的中间位 置处的液晶填充量和边缘位置处的液晶填充量不同时，液晶显示面板的边缘容易出现发黄 现象，因而为了避免发黄的现象，进一步优选的，检测单元90还用于对第一待测液晶显示面 板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。
[0126] 其中，检测单元90在对第一待检测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行 检测的同时，可以对边缘位置处的液晶层厚度进行检测。
[0127] 本发明实施例，在测定的液晶显示面板的液晶填充量的基础上，通过检测单元90 对边缘位置处的液晶层厚度进行检测，根据边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶量，使最 终选取的液晶显示面板的液晶填充量尽可能地接近边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶 量。这样不仅可以避免液晶显示面板出现低温bubble和高温重力Mura，且还能避免液晶显 示面板的边缘位置处出现发黄现象。
[0128] 以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何 熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵 盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1. 一种显示器液晶填充量测定的方法，其特征在于，包括： 控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量； 对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶 填充量的低温关系曲线和高温关系曲线； 依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器 的液晶填充量范围。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:控制多个第二待测液晶 显示面板的液晶填充量； 对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶 填充量的常温关系曲线； 控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括:根据所述常温关系曲线，控 制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和 所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的 多个点 对应。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填 充量，包括： 选取多个第一待测液晶显示母板，控制每个所述第一待测液晶显示母板中所有第一待 测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述 第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同； 控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括： 选取一个第二待测液晶显示母板，控制其中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填 充量不同。4. 根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，对待测液晶显示面板的液晶层厚度进 行检测，包括:对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测； 对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括： 针对每个待测液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角度Θ射向待测液晶显 示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的0光和E光之间的距离d; 根据所述预定角度Θ及所述距离d，利用公式：，计算得到所述液晶层 的厚度T;其中，η。为所述0光在液晶层中的折射率;&为所述E光在液晶层中的折射率。5. 根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:对第一待测液晶显示面 板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。6. -种显示器液晶填充量测定的装置，其特征在于，包括:控制单元、检测单元和处理 单元;其中，所述控制单元包括液晶填充子单元、温度控制子单元； 所述液晶填充子单元，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量； 所述温度控制子单元，用于控制所述多个第一待测液晶显示面板的温度，所述温度包 括预设低温和预设高温； 所述检测单元，用于在温度控制子单元控制的所述预设低温和所述预设高温下，分别 对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测； 处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填 充量的低温关系曲线和高温关系曲线;并依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关 系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。7. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述液晶填充子单元，还用于控制多个第 二待测液晶显示面板的液晶填充量； 所述温度控制子单元，还用于控制所述多个第二待测液晶显示面板温度为预设常温； 所述检测单元，还用于在温度控制子单元控制的所述预设常温下，对所述多个第二待 测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测； 所述处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液 晶填充量的常温关系曲线； 针对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，所述液晶填充子单元具体用于根 据所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常 温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上 限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于， 所述液晶填充子单元，具体用于控制多个第一待测液晶显示母板，使每个第一待测液 晶显示母板中的所有所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述 第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同； 控制一个第二待测液晶显示母板中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不 同。9. 根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述检测单元包括发光子单元、采集子 单元和计算子单元； 针对每个待测液晶显示面板，所述发光子单元用于将一束光以相对液晶光轴的预定夹 角Θ射向所述液晶显示面板的中间位置； 所述采集子单元用于采集从所述待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的〇光 与E光之间的距离d; 所述计算子单元用于根据所述采集子单元采集的距离d，以及所述发光子单元发出的 光射向所述待测液晶显示面板的预定夹角Θ，利用公式：，计算得到所述 液晶层的厚度T;其中，η。为0光在液晶层中的折射率;&为E光在液晶层中的折射率。10. 根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述检测单元还用于对第一待测液晶显 示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。
【专利摘要】本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，涉及显示技术领域，可以精确获得显示器的液晶填充量范围，避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。该方法包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。用于测定显示器液晶填充量。
【IPC分类】G02F1/1341, G02F1/13
【公开号】CN105676548
【申请号】CN201610245043
【发明人】耿淼, 高章飞
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 合肥京东方光电科技有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年4月18日