专利名称：一种半导体测试分选计数装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及半导体分立器件后道测试设备的技术领域，特别是一种半导体分选计数装置。
背景技术：
半导体分立器件的后道封装过程一般来说可以分为粘片、压焊、塑封、上锡、成型、测试等几个主要过程，测试作为最后一个重要的工序，其目的是通过专门的设备，特定的测试程序，对已经完成所有构造的产品的性能进行测试，将其中达不到要求的产品予以剔除， 对产品的品质进行分类，同时测试过程还需要统计产品的数量。测试是半导体分立器件封装的最后一道重要工序，在半导体分立器件封装过程中占据着重要的地位。目前，常用的日本006-HT测试分选设备的工作原理是在分选设备的每一个分选桶上装满桶感应器，当该分选桶装满测试分选完成的产品时，感应器会报警并自动停机，提醒操作员工处理。在实际使用中，发现这种处理方式有如下几个问题1、目前设备加装的感应器是红外感应器，使用过程中很容易损坏，同时一台测试分选设备一般有2(Γ30个分选桶，需要使用到同样数量的红外感应器，其中任何一个感应器损坏就意味着整台设备必须停机整修，机器维修工作量非常巨大。2、目前感应器的工作原理是当分选桶内的产品达到一定的高度后，感应器就会给出信号报警，但桶内产品的具体数量无法精确。3、通过高度感应这种方式也容易引起误判，当产品在分选桶内运动时，可能会挡住感应器，感应器就会误以为产品达到报警高度，从而停止机器，影响正常的生产。4、感应器损坏后，设备仍会继续工作，这样当该桶装满后产品仍会不断落到桶中，最后溢出桶外，造成大量的产品损失。更严重的是，溢出的产品会落到其他的分选桶中，造成产品混料，最终会导致客户投诉。
实用新型内容本实用新型的目的是克服上述现有技术存在的不足，提出一种可靠耐用，维修量少，生产效率高，可准确统计产品的数量的半导体测试分选计数装置，解决现有设备满桶感应器存在的容易损坏、容易误判、损坏后造成广品损失和混料等问题。为了解决上述技术问题，本实用新型采用了下述技术方案一种半导体测试分选计数装置，包括有测试主机，各分选桶，测试头，分选导管，振动盘，半导体分立器件经振动盘排序，顺序进入测试头进行品质测试、由测试主机判别分类，经分选导管送入各分选桶；其特征在于增设有计数器及与之信号连接的多个感应探头，计数器的感应探头分别设置在各分选桶内，且计数器通过信号控制线与测试主机连接。进一步地，所述的计数器的感应探头采用电磁线圈探头，对落入分选桶内的半导体分立器计数累加。所述的计数器在某项分类达到设定值时，计数器发出报警信号，并发出一个停止信号给测试主机，停止测试。本实用新型具有以下有益效果1、对经测试的器件分类统计清晰准确，便于生产管理，生产效率高；[0008]2、采用电磁线圈探头，可靠性高、耐用性强，不易误判；3、器件达到设定数量自动停机，不会出现满桶溢出事故；4、连接结构简洁实用，易于维护、易于操作应用。
图1为本实用新型的结构示意图；图2为本实用新型的连接原理示意图。标号说明1.分选桶2.测试头3.分选导管4.振动盘5.计数器6.感应探头7.测试主机8.信号控制线
具体实施方式
参见图1和图2，本实用新型的半导体测试分选计数装置包括测试主机7(图1中未画出)，各分选桶1，测试头2，分选导管3，振动盘4、计数器5及计数器的感应探头6。其中，测试主机7，各分选桶1，测试头2，分选导管3，振动盘4均为常规公知组成，测试主机7是日本006-HT测试分选设备。原理是半导体分立器件先经振动盘4排序，顺序进入测试头2进行品质测试，由测试主机7判别品质分类，再经分选导管3送入对应设置的各分选桶I内。特别之处在于，每个分选桶I内都设有电磁线圈式感应探头6，各感应探头6均连接计数器5，并对计数器5提供采样信号。计数器5本身根据各分选桶I的容量设定一定的数值，并通过信号控制线8与测试主机7连接。测试计数过程大体如下第一，先将计数器5与测试主机7系统连接。第二,对每一个分选桶按合格品、次品、废品、不良等项目进行分类。第三，在计数器5上设定好分选系统中每个分选桶I可以容纳的产品数量。第四，开始测试，测试主机7会给出一连串测试信号到测试头2，测试头2根据测试信号对每一只产品进行测试并将测试结果反馈给测试主机7。第五，测试主机7调控分选导管3使经测试的产品导入到相应的分选桶I内。第六，分选桶I内的感应探头6感应落入的产品并向计数器5发出采样信号，计数器5将采样信号进行累加。第七，当计数器5中的某项分类达到设定的值时，计数器5开始报警，并发出一个停止信号给测试主机7，测试主机7会停止测试，同时发出报警，通知现场工作人员进行处理。第八，工作人员将分选桶I中产品处理完成后，重新开启设备，继续测试。实际电路控制中，计数器5的功能是通过如下方式实现的通过落管脉冲捕捉处理模块实现对器件下落到分选桶后的NOPASS板的信号拾取，并进行译码后把相应的桶号传送给逻辑控制器处理。桶号传到逻辑控制器后进行软件抗干扰处理，确认为正常信号后对对应桶号的现量和总量进行加一，并保存桶号的现量和总量到数据存储器中和刷新LCD显示，之后判断桶现量达到设定。当桶现量大于设定量时逻辑控制器会使分选机进行停机控制。通过键盘操作处理模块，可以对各桶号现量和总量的翻查，数据的清零处理，以及对定量进行设定。上述实施例只是本实用新型的优选实施方式，本领域技术人员根据本实用新型说明书公开的内容能够认识到本实用新型在实施的过程中有多种变型。总之，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种半导体测试分选计数装置，包括有测试主机，各分选桶，测试头，分选导管，振动盘，半导体分立器件经振动盘排序，顺序进入测试头进行品质测试、由测试主机判别分类，经分选导管送入各分选桶；其特征在于增设有计数器及与之信号连接的多个感应探头，计数器的感应探头分别设置在各分选桶内，且计数器通过信号控制线与测试主机连接。
2.根据权利要求1所述的分选计数装置，其特征在于所述的计数器的感应探头采用电磁线圈探头，对落入分选桶内的半导体分立器计数累加。
3.根据权利要求1或2所述的分选计数装置，其特征在于所述的计数器在某项分类达到设定值时，计数器发出报警信号，并发出一个停止信号给测试主机，停止测试。
专利摘要本实用新型公开了一种半导体测试分选计数装置，包括有测试主机，各分选桶，测试头，分选导管，振动盘，半导体分立器件经振动盘排序，顺序进入测试头进行品质测试、由测试主机判别分类，经分选导管送入各分选桶；其特征在于增设有计数器及与之信号连接的多个感应探头，计数器的感应探头分别设置在各分选桶内，且计数器通过信号控制线与测试主机连接，这样的设计，解决了传统设备满桶感应器存在的容易损坏、维修量大、容易误判、损坏后造成产品损失和混料等问题，具有可靠耐用，维修量少，生产效率高，可准确统计产品的数量等优点。
文档编号B07C5/36GK202823926SQ20122050559
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者董安意, 陈祺, 陈永威, 区永强, 郭志围, 陈逸晞 申请人:佛山市蓝箭电子股份有限公司