一种芯片焊脚自动检测设备的制作方法

本实用新型涉及ccd检测设备领域，尤其一种芯片焊脚自动检测设备。

背景技术：

现有的芯片焊脚检测设备，一般采用ccd检测设备配合机械手对芯片进行分类，但是使用机械手会造成体积大，维修检修麻烦的问题，因此一种新型的，芯片焊脚检测设备是目前所需的。

技术实现要素：

本实用新型为了解决上述问题而提供的一种芯片焊脚自动检测设备，包括机架和检测轨道，所述检测轨道通过横移纵移平台与机架连接，所述检测轨道上方设有ccd视觉检测设备，沿检测轨道流动方向，在其头部、尾部分别设有上料装置、下料装置；

所述下料装置包括良品收集装置、不良品收集装置、旋转推料装置；

所述旋转退料装置设置与检测轨道一侧，包括与检测轨道转动连接的旋转杆，其轴向与检测轨道流动方向相同，所述旋转杆中部滑动套接有滑块，所述滑块上有推块，所述旋转杆尾部与旋转气缸连接，所述滑块通过卡扣与伸缩气缸连接。

优选的，所述上料装置包括第一升降机构、料盒架、退料棒以及料盒，所述料盒架通过第一升降机构与机架连接，所述料盒架设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于放置料盒，所述退料棒设于上与监测轨道同一高的地方，其可沿检测轨道流道方向运动；

所述良品收集装置包括第二升降机构、良品料盒架以及良品料盒，所述良品料盒架通过第二升降机构与机架连接，所述良品料盒架设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于放置良品料盒；

优选的，所述不良品收集装置包括第三升降机构、不良品料盒架以及不良品料盒，所述不良品料盒架通过第三升降机构与机架连接，所述不良品料盒架设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于放置不良品料盒。

优选的，所述检测轨道由平行设置的固定轨道主体和滑动轨道主体组成，所述滑动轨道主体可由第四平移机构驱动，并可以改变与固定轨道主体的距离，所述的固定轨道主体和滑动轨道主体之间还设有料盘滚筒组以及芯片吸紧装置，所述料盘滚筒组由多个料盘滚筒组成，所述料盘滚筒都均地设置在固定轨道主体的侧壁上，并且所有料盘滚筒都排列成一条线，所述料盘滚筒的一端与固定轨道主体转动连接,另一端悬空，所述芯片吸紧装置包括芯片吸块和举升气缸，是举升气缸用于驱动芯片吸块抬升，所述芯片吸块上凸设有多个均匀分布的分吸头，所述分吸头可插入料盘滚筒之间的间隔中。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型结构紧凑，便于维修检修。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的旋转推料装置结构示意图；

图3为本实用新型的检测轨道结构示意图；

图4为本实用新型的上料收集装置结构示意图；

图5为本实用新型的部分下料装置结构示意图；

图6为本实用新型检测轨道改进结构的内部结构示意图；

图7为本实用新型检测轨道改进结构的立体示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步阐述：

本实施方式中采用的芯片的载体为料盘，其形状为四边形，其内部有多个挖空，可用于安装芯片。

如图1、3所示，一种芯片焊脚自动检测设备，包括机架和检测轨道1，所述检测轨道1通过横移纵移平台2与机架连接，所述检测轨道1上方设有ccd视觉检测设备3，沿检测轨道1流动方向，在其头部、尾部分别设有上料装置4、下料装置5；

所述下料装置5包括良品收集装置51、不良品收集装置52、旋转推料装置53；

如图2所示，所述旋转推料装置53设置与检测轨道1一侧，包括与检测轨道1转动连接的旋转杆531，其轴向与检测轨道1流动方向相同，所述旋转杆531中部滑动套接有滑块532，所述滑块532上有推块533，所述旋转杆531尾部与旋转气缸534连接，所述推块533上沿旋转的轴向设置有一环形凹槽，所述伸缩气缸535执行端连接有半圆形卡件536，所述卡件536与环形凹槽的形状互相配合。

旋转推料装置53在工作时，首先推块533会从检测轨道1外旋转至检测轨道内，抵住物料，随后向检测轨道尾部运动，将物料推出检测轨道1

如图4所示，所述上料装置4包括第一升降机构41、料盒架42、推料棒43以及料盒44，所述料盒架42通过第一升降机构41与机架连接，所述料盒架42设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于放置料盒44，所述推料棒43设于上与检测轨道1同一高的地方，其可沿检测轨道1流道方向运动；

如图5所示，所述良品收集装置51包括第二升降机构511、良品料盒架512以及良品料盒513，所述良品料盒架512通过第二升降机构511与机架连接，所述良品料盒架512设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于放置良品料盒513；

如图5所示，所述不良品收集装置52包括第三升降机构521、不良品料盒架522以及不良品料盒523，所述不良品料盒架522通过第三升降机构521与机架连接，所述良品料盒架42设有多个垂直布置的料盒位，所述料盒位可用于不良品料盒架522。

进一步的，所述第一升降机构、第二升降机构、第三升降机构，它们的结构类似，且都是一个与机架滑动连接的板，其驱动方式可以为电动、气动或者液压；

最佳的，所述料盒44、良品料盒512、不良品料盒522的结构均一致，且都为一种四棱柱结构，其内部都多个分层结构，物料可置于各个分层之中。

为了提高检测时的准确率，可以通过将料盘固定在检测轨道1上，这样在检测时，检测轨道1本身的位移造成的惯性就不会使料盘位移，从而导致虚假率虚高，影响检测结果，因此可以对本实用新型的结构进行进一步的改进，参考图6、7，改进的结构为检测轨道1，改进形式如下，所述检测轨道1由平行设置的固定轨道主体11和滑动轨道主体12组成，所述滑动轨道主体12可由第四平移机构驱动，并可以改变与固定轨道主体11的距离，所述的固定轨道主体11和滑动轨道主体12之间还设有料盘滚筒组13以及芯片吸紧装置14，所述料盘滚筒组13由多个料盘滚筒组13成，所述料盘滚筒都均地设置在固定轨道主体11的侧壁上，并且所有料盘滚筒都排列成一条线，所述料盘滚筒的一端与固定轨道主体11转动连接,另一端悬空，所述芯片吸紧装置14包括芯片吸块15和举升气缸16，是举升气缸16用于驱动芯片吸块15抬升，所述芯片吸块15上凸设有多个均匀分布的分吸头151，所述分吸头151可插入料盘滚筒之间的间隔中。

本装置的工作原理如下，未经检测的料盘置于料盒中，推料棒43将料盒44中的料盒推入检测轨道1，物料在检测轨道1的流动过程中会被ccd视觉检测设备3检查其焊脚的焊接情况，并被记录信息，随后根据焊接情况的不同会被旋转推料装置53推入良品料盒或不良品料盒中；

在上料过程中，检测轨道1在横移纵移平台2的带动下靠近上料装置4一侧，同时调整其运作速度与推料速度一致，随后在下料的过程中，检测轨道1会根据检测轨道1末端的物料情况，使检测轨道1末端对准不良品料盒或者良品料盒完成物料的分类收集。

对于检测轨道1的改进结构，其工作原理如下，在上下料阶段，在第四平移机构的驱动下，固定轨道主体11和滑动轨道主体12之间的距离变大，吸块也在举升气缸16的带动下，下降，使得料盘可以在检测轨道1内滑动，在检测阶段，在第四平移机构的驱动下滑动轨道主体12向固定轨道主体11靠近，并压紧料盘两端，同时吸块也在举升气缸16的带动下，想料盘上的芯片靠近，最近吸紧芯片，起到固定芯片以及料盘的作用。

以上所述实施例，只是本实用新型的较佳实例，并非来限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型专利申请范围内。