专利名称：发光二极管面板测试系统及方法
技术领域：
本发明是关于一种面板测试系统及方法，尤其是关于一种发光二极管面板测试系统及方法。
背景技术：
在发光二极管(Light Emitting Diode，LED)面板测试过程中，传统的做法是将面板上所有的LED全亮或全暗，再让作业员输入确认。然而这样的设定，有可能会让作业员因草率或粗心而输入错误的结果。例如，在LED全亮的测试过程中，作业员还没看清是否有任何一颗LED不亮，就选择答复全亮的测试结果，造成误测。
因此，需要一种系统可以在LED面板测试中，使作业员无法在草率的心态下答复测试结果。降低作业员在产线测试中误测的机率，提高测试效益。
发明内容本发明较佳实施例提供一种发光二极管面板测试系统，利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试，该计算机内安装有发光二极管面板测试程序，该测试程序包括一英文/数字编排模块，用于编排英文字母和数字；一输出/输入模块，用于输出发光二极管面板上亮灯显示的英文字母或数字和测试者输入所看到的英文字母或数字及亮灯总数；一对比模块，用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数；一对比结果显示模块，用于显示发光二极管面板测试结果。所述发光二极管面板的大小为3*3以上。
本发明较佳实施例还提供一种发光二极管面板测试方法，利用一计算机对与之相连的发光二极管进行测试，该方法包括如下步骤(a)随机选择一组已经编排过的英文/数字组合；(b)输出一位上述英文/数字组合中还未被测试过的英文字母或数字到发光二极管面板，发光二极管面板亮灯，每位英文字母或数字对应一个亮灯总数；(c)测试者输入所看到的英文字母或数字及亮灯总数；(d)对比上述输出和输入的英文字母或数字及其亮灯总数是否相同；(e)若对比结果不相同，则该发光二极管面板有故障；(f)若对比结果相同，则判断上述英文/数字组合中的每一位英文字母或数字是否都已被测试过；(g)若上述英文/数字组合中的每一位英文字母或数字均被测试过，则该发光二极管面板通过测试；(h)若上述英文/数字组合中还有英文字母或数字未被测试过，则返回步骤(b)，重复测试步骤。
相较现有技术，所述发光二极管面板测试系统及方法，使用发光二极管面板显示英文字母或数字供测试者读出并回应输出显示，降低测试者在测试过程中草率或是粗心的机率，提高测试效益。
图1是本发明发光二极管面板测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是本发明发光二极管面板测试程序的功能模块图。
图3是本发明发光二极管面板测试系统较佳实施例的亮灯输出示意图。
图4是本发明发光二极管面板测试方法较佳实施例的作业流程图。
具体实施方式如图1所示，是本发明发光二极管面板测试系统较佳实施例的硬件架构图。该系统包括一主机10、一显示器20、一LED面板30及一键盘40。主机10可以是一个测试端计算机，安装有发光二极管(LightEmitting Diode，LED)面板测试程序11。显示器20，用于显示输入/输出的数据及比较结果。LED面板30，其大小必须在3*3以上，所述3*3指LED面板的水平方向和垂直方向的LED灯均为三个，总数为九个。键盘40，用于测试者输入数据。
如图2所示，是本发明发光二极管面板测试程序的功能模块图。该发光二极管测试程序11包括一英文/数字编排模块12、一输出/输入模块14、一对比模块16及一对比结果显示模块18。英文/数字编排模块12，用于编排英文字母和数字，以最少的英文字母和数字拼盘去涵盖到所有的LED，即显示完每一组英文字母和数字后，所有LED会被亮灯最少一次，每位英文字母或数字对应一个亮灯总数，如图3所示，是本发明发光二极管面板测试系统较佳实施例的亮灯输出示意图，其中图I所显示的英文字母是E，其亮灯总数是12，图II所显示的数字是1，其亮灯总数是8，图III所显示的英文字母是F，其亮灯总数是7，英文字母E、F及数字1组成一组英文/数字组合，其涵盖了LED面板上所有的LED。输出/输入模块14，用于输出LED面板上亮灯显示的英文字母或数字，且接收测试者所输入的英文字母或数字及亮灯总数。对比模块16，用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数。对比结果显示模块18，用于显示LED面板测试结果。
如图4所示，是本发明发光二极管面板测试方法较佳实施例的作业流程图。首先，测试者随机选择一组已经编排过的英文/数字组合，该组英文字母和数字以最少的英文字母和数字拼盘涵盖所有的LED(步骤S100)。由显示器20输出一位上述英文/数字组中还未测试过的英文字母或数字到LED面板30，该LED面板30所显示的亮灯组成该英文字母或数字，每位英文字母或数字对应一个亮灯总数(步骤S200)。LED面板30完成亮灯后，测试者用键盘40输入从LED面板30所看到的英文字母或数字及亮灯总数到显示器20(步骤S300)。对比模块16将显示器20输出的英文字母或数字和亮灯总数与测试者输入的英文字母或数字及亮灯总数进行对比(步骤S400)。若对比结果相同，则判断上述英文数字组中的每一位英文字母或数字是否都已经被测试过，如果还有英文字母或数字没有被测试，则返回步骤S200重复测试(步骤S500)。若所述英文数字组中的每一位英文字母或数字均被测试完毕，则该LED面板30通过测试(步骤S600)。在步骤S400中，若显示器20输出的英文字母或数字和亮灯总数与测试者输入的英文字母或数字及亮灯总数对比结果不同，则LED面板30测试失败，表明该LED面板有故障(步骤S700)。
在步骤S300中，测试者所输入的英文字母忽略其大小写。
权利要求
1.一种发光二极管面板测试系统，利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试，其特征在于，该计算机内安装有发光二极管面板测试程序，该测试程序包括一英文/数字编排模块，用于编排英文字母和数字；一输出/输入模块，用于输出发光二极管面板上亮灯所显示的英文字母或数字及亮灯总数，并接收测试者输入的英文字母或数字及亮灯总数；一对比模块，用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数；一对比结果显示模块，用于显示发光二极管面板测试结果。
2.如权利要求1所述的发光二极管面板测试系统，其特征在于，其中所述的英文/数字编排模块以最少的英文字母或数字拼盘去涵盖所有的发光二极管，即显示完每一组的英文字母和数字后所有的发光二极管会被亮灯最少一次，且每一位英文字母或数字对应一个亮灯总数。
3.一种发光二极管面板测试方法，利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试，其特征在于，该方法包括如下步骤随机选择一组已经编排过的英文/数字组合；输出一位上述英文/数字组合中还未被测试过的英文字母或数字到发光二极管面板，发光二极管面板亮灯；测试者输入所看到的英文字母或数字及亮灯总数；对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数是否相同；若对比结果不相同，则该发光二极管面板有故障；若对比结果相同，则判断上述英文/数字组合中的每一位英文字母或数字是否都已被测试过；若上述英文/数字组合中的每一位英文字母或数字均被测试过，则该发光二极管面板通过测试。
4.如权利要求3所述的发光二极管面板测试方法，其特征在于，所述的判断该英文/数字组合中的每一位英文字母或数字是否都已被测试过的步骤还包括若上述英文/数字组合中还有英文字母或数字未被测试，则输出该英文字母或数字到发光二极管面板，重复以下的测试步骤。
全文摘要
本发明提供一种发光二极管面板测试系统，利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试，该计算机内安装有发光二极管面板测试程序，该测试程序包括一英文/数字编排模块，用于编排英文字母和数字，以最少的英文字母和数字拼盘去涵盖所有的发光二极管；一输出/输入模块，用于输出发光二极管面板上亮灯显示的英文字母或数字并接收测试者所输入的英文字母或数字及亮灯总数；一对比模块，用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数；一对比结果显示模块，用于显示发光二极管面板测试结果。本发明还提供发光二极管面板测试方法。利用本发明，可以降低测试者在测试过程中误测的几率，提高测试效益。
文档编号G01R31/27GK1904625SQ20051003625
公开日2007年1月31日 申请日期2005年7月27日 优先权日2005年7月27日
发明者陈维沅, 范朝宗, 王柏昌, 张俐莹 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司