专利名称：晶片测试载架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及 一 种晶片测试载架。
背景技术：
如图1和图2所示，传统晶片测试载架结构100是至少包含一上 盖101、 一基座102、数个探针103。上盖101是枢接于基座102。数 个探针103则对应待测晶片104的接脚105精确插于基座102的底板 106上。当上盖101压合时，待测晶片104是卡入基座102特别量身 订做符合待测晶片104的卡槽109当中，以避免待测晶片104的晃动。 此外，在基座102上的底板106也需依待测晶片104的每一接脚105 的间距或接脚105数量，特别量身订做其对应的插孔，以使待测晶片 104的每一接脚105也需精准接触插于基座102的底板106上的每一 探针103。再者，由一测试电路板107置于基座102下，由基座102 的底板106下的数个探针103接触测试电路板107上的接脚108，再 由测试电路板107来完成待测晶片104的每一接脚105的功能测试。
在上述晶片测试载架结构100中，随着待测晶片104的尺寸大小 改变或是待测晶片104的接脚105间距或接脚105数量的改变，在现 有技术中，也即以其待测晶片104的尺寸大小改变或是待测晶片104 的接脚105间距或接脚105数量的改变来加以量身订做，以满足对应 的晶片测试所需，因而造成成本及资源的浪费。
实用新型内容
本实用新型旨在于提供一种晶片测试载架，其具有适用于任何尺 寸大小的待测晶片，及适用于任何尺寸大小的待测晶片的接脚间距或 接脚数量的改变。
本实用新型所釆取的技术方案是 一种晶片测试载架，其特征在于它包含有一基座，该基座中央处开设一空间，且该空间侧边至少
设有一定位凹槽； 一基架，其套于所述基座中央处开设空间的侧边，
且该基架的侧边至少设有一定位凸槽，以衔接于所述的定位凹槽，该
基架底部至少一侧边向中央处延伸一基板；以及一上盖，盖合于该基 座的上端。
本实用新型的进一步特征还在于它还包含一底板，其设于基座 的下端，且该底板中央也设一开口。
它还包含一具有软性且导电的接触面板，由该底板的下端盖合于 该开口。
它还包含一T型锁钮，其由该上盖的上端贯穿至该上盖的下端， 且于该上盖的下端连接一主压板。
它还包含一辅助压板，其设于该主压板及该基架上端，以压合一 测试的晶片。
本实用新型的优点和有益效果在于，由于基架底部侧边所延伸的 基板的程度不同，因而可以载架不同大小尺寸的测试晶片，同时，还 依常用测试晶片的尺寸大小不同，设计数个相同基架，而每一基架给 予不同程度的延伸的基板，以利晶片测试载架结构方便替换；本实用 新型通过以上的技术方案舍弃现有技术中基座上的底板需依待测晶 片的每一接脚的间距或接脚数量所特别量身订做的插孔，同时舍弃一 一插于基座的底板上的每一探针；而釆用一软性且导电的接触面板设 于本实用新型中的底板的下端盖合于开口，因为此软性且导电的接触 面板的表面上下皆兼具有数个电性连接点，因此，达到了待测晶片的 每一接脚可以轻易由此软性且导电的接触面板，电性连接于接触面板 下的测试电路板的每 一接脚的效果。
以下结合附图及实施例进 一 步说明本实用新型。
图1为现有技术中的晶片测试载架结构的立体图；图2为现有技术中的晶片测试载架结构的示意图3为本实用新型的系统图4为本实用新型的组合图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式
作进一步 描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而
请参阅图3和图4所示，本实用新型至少包含一具有软性且导电 的接触面板201、 一底板202、 一基座203、 一基架204、辅助压板205、 及一上盖206。上盖206是由两侧的栓扣216扣于基座203两侧对应的扣 槽217，以用紧密盖合基座203的上端，另由一T型锁钮207由上盖206 的上端贯穿至上盖206的下端后并连接一主压板215，因此，以紧压如 图1中所示的测试晶片104于基架204及基座203当中。基座203的中央 处则开设 一 空间208 ，且此空间208的侧边209至少设有 一 定位凹槽 210。基架204则套于此空间208的侧边209，且此基架204的侧边211 至少设有一定位凸槽212，以衔接于上述的定位凹槽210，另外，基架 204底部至少 一侧边向中央处延伸 一基板213,可以由此基板213的延 伸程度不同，以载架不同大小尺寸的测试晶片104。换言之，当基板 213延伸程度越大，则基座203中央处的空间208越小，也即所测试的 晶片104体积越小。底板202则设于基座203之下端，且底板202中央也 设一开口，软性且导电的接触面板201,则由底板202的下端盖合于开 口。辅助压板205，则可以设于主压板215及基架204上端，以再强化 压合其测试晶片104。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技 术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提 下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新 型的保护范围。
权利要求1、一种晶片测试载架，其特征在于它包含有一基座(203)，该基座(203)中央处开设一空间(208)，且该空间(208)侧边(209)至少设有一定位凹槽(210)；一基架(204)，其套于所述基座(203)中央处开设的空间(208)的侧边(209)，且该基架(204)的侧边(211)至少设有一定位凸槽(212)，衔接于所述的定位凹槽(210)，该基架(204)底部至少一侧边向中央处延伸一基板(213)；以及一上盖(206)，盖合于该基座(203)的上端。
2、 如权利要求1所述的晶片测试载架，其特征在于，它还包含 一底板(202)设于基座(203)的下端，且该底板(202)中央也设一开口。
3、 如权利要求2所述的晶片测试载架，其特征在于，它还包含 一软性且导电的接触面板(201)由该底板(202)的下端盖合于该开口 。
4、 如权利要求1所述的晶片测试载架，其特征在于，它还包含 一 T型锁钮(207)由该上盖(206)的上端贯穿至该上盖(206)的下端，且 于该上盖(206)的下端连接一主压板(215)。
5、 如权利要求4所述的晶片测试载架，其特征在于，它还包含 一辅助压板(205)，其设于主压板(215)及基架(204)上端。
专利摘要一种晶片测试载架，至少包含有一基座，一基架及一上盖；该基座中央处开设一空间，且该空间侧边至少设有一定位凹槽；该基架套于所述基座中央处开设空间的侧边，且该基架的侧边至少设有一定位凸槽，以衔接于所述的定位凹槽，该基架底部至少一侧边向中央处延伸一基板；且上盖盖合于该基座的上端；因此，由于基架底部侧边所延伸的基板的程度不同，因而可以载架不同大小尺寸的测试晶片，同时，还依常用测试晶片的尺寸大小不同，设计数个相同基架，而每一基架给予不同程度的延伸的基板，以利晶片测试载架结构方便替换，达到了待测晶片的每一接脚可以轻易由此软性且导电的接触面板，电性连接于接触面板下的测试电路板的每一接脚的效果。
文档编号G01R31/26GK201359612SQ200920104868
公开日2009年12月9日 申请日期2009年1月9日 优先权日2009年1月9日
发明者周云青, 张正栋, 胡德良, 薛毓虎 申请人:江阴市爱多光伏科技有限公司