专利名称：瓷坯体弯曲度测量工具的制作方法
技术领域：
瓷坯体弯曲度测量工具技术领域[0001]本实用新型所属的技术领域涉及电瓷的生产技术领域，具体地说是涉及一种瓷 坯体弯曲度测量工具。
背景技术：
[0002]瓷体是组成瓷套的部件，现有的瓷体的中型的就达到3-4米，大型的更长，在 生产过程中需要检验半成品瓷坯体的弯曲度，现有技术测量的方法是在瓷体上部用眼睛 向下看，具有操作麻烦、误差较大的的缺点。发明内容[0003]本实用新型的目的就是要提供一种结构简单、使用方便的瓷坯体弯曲度测量工 具。[0004]本实用新型所采取的技术方案是瓷坯体弯曲度测量工具，其特征是，它包 括一个测量杆，测量杆的两端具有和其垂直的顶杆，在测量杆上还有多个和顶杆平行的 孔；还包括一个穿过孔的标尺。[0005]进一步的讲，所述顶杆和测量杆活动扣连接。[0006]本使用新型的有益效果是由于本实用新型采取了以上结构，使得这样的瓷坯 体弯曲度测量工具具有结构简单、使用方便的优点。
[0007]图1是本实用新型瓷坯体弯曲度测量工具的结构示意图。[0008]其中；1、测量杆2、顶杆3、孔4、标尺5、活动扣具体实施方式
[0009]
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。[0010]如图1所示瓷坯体弯曲度测量工具，其特征是，它包括一个测量杆1，测量杆 1的两端具有和其垂直的顶杆2，在测量杆2上还有多个和顶杆平行的孔3;还包括一个 穿过孔3的标尺4。[0011]进一步的讲，所述顶杆2和测量杆1活动扣5连接。[0012]测量时，顶杆2靠近坯体，标尺4插入不同的孔3中量其插入的长短，可以知道 弯曲程度；顶杆2和测量杆1活动扣5连接可以调整顶杆在测量杆上的位置。
权利要求1.瓷坯体弯曲度测量工具，其特征是，它包括一个测量杆，测量杆的两端具有和其 垂直的顶杆，在测量杆上还有多个和顶杆平行的孔；还包括一个穿过孔的标尺。
2.根据权利要求1所述的瓷坯体弯曲度测量工具，其特征是所述顶杆和测量杆活动扣 连接。
专利摘要本实用新型所属的技术领域涉及电瓷的生产技术领域，具体地说是涉及一种瓷坯体弯曲度测量工具。瓷坯体弯曲度测量工具，其特征是，它包括一个测量杆，测量杆的两端具有和其垂直的顶杆，在测量杆上还有多个和顶杆平行的孔；还包括一个穿过孔的标尺。进一步的讲，所述顶杆和测量杆活动扣连接。这样的瓷坯体弯曲度测量工具具有结构简单、使用方便的优点。
文档编号G01B5/20GK201811704SQ20102052159
公开日2011年4月27日 申请日期2010年9月8日 优先权日2010年9月8日
发明者丁拾金, 张松岭, 牛秋月, 王少华, 盛根岭, 胡金木 申请人:河南德信电瓷有限公司