专利名称：铝卷用光栅尺测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量工具的技术领域，尤其涉及一种铝卷用光栅尺测量装置。
背景技术：
随着加工生产技术的不断进步，对原材料的各方面要求也越来越高。就拉矫机生产出来的铝卷来言，以前传统的用钢卷尺测量宽度的方法精度为1mm，而现在大多要求铝卷的宽度精度在0.5mm以内，传统的方法远远达不到。因为宽度误差造成的退货和补偿损失相当大，这就迫使我们必须改变传统的测量方式，采取更加精准的测量方式。如采用红外线测量，不但成本较高，而且对复杂的环境适应性也不强。故目前急需一种准确度高，抗干扰能较强，成本也低得多的测量方式。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种铝卷用光栅尺测量装置，能满足铝带宽度的高精度测量。为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案:一种铝卷用光栅尺测量装置，包括基准尺、移动副尺、主尺和数显器，主尺铰接在铝卷两侧的机架上，基准尺和移动副尺均滑动连接在主尺上，基准尺上设有测头，移动副尺上设有读数头，测头和读数头上设有与其同面的挡板，所述读数头与数显器电连接。与现有技术相比，本实用新型的优点在于:光栅尺本身的测量精度为0.001mm，而这套装置由于钢直板的制造精度和整个装置的安装精度原因，它的测量精度能达到0.3mm,但是完全能满足精度0.5mm的要求；光栅尺相对于红外线测量，其成本较低，抗干扰能力较强。进一步，所述基准尺上设有可将其固定在主尺上的定位螺栓。进一步，挡板包括橡胶缓冲外层，避免了挡板的损坏。
以下结合附图和实施例对本实用新型技术方案进一步说明:
图1是本实用新型铝卷用光栅尺测量装置实施例的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型一种铝卷用光栅尺测量装置，包括基准尺1、移动副尺2、主尺3和数显器4，主尺3铰接在铝卷两侧的机架5上，基准尺I和移动副尺2均滑动连接在主尺3上，基准尺I上设有测头，移动副尺2上设有读数头，测头和读数头上设有与其同面的挡板6，所述读数头与数显器4电连接。所述基准尺I可通过定位螺栓固定在主尺3上，用以确定基准面。挡板6包括橡胶缓冲外层，避免了挡板6的损坏。本实用新型的使用方法如下:I)、铝卷一端固定在开卷机，另外一端固定在卷取机上，并给一定拉力，绷直后根据生产需要调好削边刀，铝卷稳定后停机，开始测量宽度；2)、移动基准尺1，让基准尺I上的钢直板紧靠铝卷边部；3)、拧紧基准尺I定位螺栓，这样基准就固定了 ；4)、把主尺3向上扳起呈水平；5)、移动移动副尺2，让移动副尺2上的挡板6和基准尺I上的挡板6紧靠；6)、数显表上点动清零；7)、移动移动副尺2到铝卷的另一侧；8)、向下扳动主尺3至垂直；9)、移动移动副尺2，让移动副尺2上的挡板6紧靠铝卷的另外一端；I O)、读出数显表上的读数，就是铝卷的宽度了。对于本领域的技术人员来说，在不脱离本实用新型结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本实用新型的保护范围，这些都不会影响本实用新型实施的效果和专利的实用性。
权利要求1.一种铝卷用光栅尺测量装置，其特征在于:包括基准尺、移动副尺、主尺和数显器，主尺铰接在铝卷两侧的机架上，基准尺和移动副尺均滑动连接在主尺上，基准尺上设有测头，移动副尺上设有读数头，测头和读数头上设有与其同面的挡板，所述读数头与数显器电连接。
2.如权利要求1所述的铝卷用光栅尺测量装置，其特征在于:所述基准尺上设有可将其固定在主尺上的定位螺栓。
3.如权利要求1所述的铝卷用光栅尺测量装置，其特征在于:挡板包括橡胶缓冲外层。
专利摘要本实用新型公开了一种铝卷用光栅尺测量装置，包括基准尺、移动副尺、主尺和数显器，主尺铰接在铝卷两侧的机架上，基准尺和移动副尺均滑动连接在主尺上，基准尺上设有测头，移动副尺上设有读数头，测头和读数头上设有与其同面的挡板，所述读数头与数显器电连接。本实用新型光栅尺本身的测量精度为0.001mm，而这套装置由于钢直板的制造精度和整个装置的安装精度原因，它的测量精度能达到0.3mm，但是完全能满足精度0.5mm的要求；光栅尺相对于红外线测量，其成本较低，抗干扰能力较强。
文档编号G01B11/02GK202994092SQ20122060737
公开日2013年6月12日 申请日期2012年11月16日 优先权日2012年11月16日
发明者林波, 何军, 马翔宇 申请人:重庆奥博铝材制造有限公司