技术总结
本发明属于检具制造领域，尤其涉及一种检具的测量座结构，包括底座、工作台、加固外壳、测量顶板、机箱、活动模支撑部A、活动模支撑部B、防护定位网支撑台、工件支撑台A、工件支撑台B、工件搁板、备用台A、备用台B、上检测固定装置A、上检测固定装置B、下检测固定装置A、下检测固定装置B、观测架、度量设备、校位器A、校位器B、防护定位网、活动模A、活动模B、活动模固定部A、活动模固定部B、固定模A、固定模B，所述工作台、机箱、工件支撑台A、工件支撑台B在所述底座的上面，所述工作台在所述加固外壳的里面，所述测量顶板在所述工作台的底部，所述上检测固定装置A、上检测固定装置B在所述测量顶板的底部。
技术研发人员：李杰
受保护的技术使用者：天津市易伟盛科技有限公司
文档号码：201510829637
技术研发日：2015.11.25
技术公布日：2017.05.31