技术总结
本发明公开了一种测试控制电路、芯片及测试控制方法，包括测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；电源控制单元，根据接收的测试使能信号，确定是否向验证单元供电；验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片，如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。本发明能够有效降低测试控制电路在非测试模式下的静态功耗。
技术研发人员：张祥杉;高鹰;杨金辉;杨敬
受保护的技术使用者：大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司
文档号码：201710037683
技术研发日：2017.01.18
技术公布日：2017.05.31