电子元件检测装置及其检测方法

文档序号:8317937阅读:362来源:国知局
电子元件检测装置及其检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种电子元件的检测装置及其检测方法,尤其涉及一种能够自动检测 电子元件在使用中短路和开路情况的检测装置及其检测方法。
【背景技术】
[0002] 在电子元件的使用中,经常会遇到对芯片的插拔操作。在将芯片插在主板上的过 程中,常常会因为操作者的失误或者芯片引脚的损坏,导致芯片引脚和主板线路的短路连 接,最终造成芯片不能正常工作,甚至会引起芯片和主板烧毁的严重后果。亦或是因为插拔 不到位,导致芯片引脚开路,也会造成芯片不能正常工作。无论是出现哪一种情况,现阶段 只能通过人为的逐个检测芯片引脚,这样的操作不但耗费时间和人力,而且不能在故障出 现的第一时间做出反应,对电子元件形成威胁。

【发明内容】

[0003] 有鉴于此,有必要提供一种能够自动检测电子元件在使用中短路和开路情况的检 测装置及其检测方法。
[0004] 本发明提供了一种电子元件检测装置,该检测装置与一芯片连接,用于检测该芯 片使用时各个信号引脚的连接情况,该检测装置包括: 一检测单元,用于检测所述芯片各个信号引脚的电压; 一 AD转换单元,用于将所述各个信号引脚的电压从模拟状态转换为数字状态;以及 一处理单元,用于根据转换后的电压判断对应信号引脚的连接情况。
[0005] 本发明还提供了一种电子元件检测方法,该方法包括: a) ,检测一芯片各个信号引脚的电压; b) ,将所述信号引脚的电压从模拟状态转换为数字状态;及 c) ,根据转换后的电压判断所述信号引脚的连接情况。
[0006] 本发明之一种电子元件检测装置及其检测方法,通过所述检测装置实时监测电子 元件各个引脚的连接情况,不但能在引脚连接出现故障的第一时间发出警示信息,保证电 子装置的正常工作,而且免去了人工检查连接故障的麻烦,节省了大量的时间和人力。
【附图说明】
[0007] 图1为本发明第一实施方式中检测装置的模块示意图。
[0008] 图2为图1中检测装置的部分等效电路示意图。
[0009] 图3为图1中检测装置的检测方法步骤示意图。
[0010]图4为本发明第二实施方式中检测装置的模块示意图。
[0011] 图5为图4中检测装置的部分等效电路示意图。
[0012] 图6为图4中检测装置的检测方法步骤示意图。
[0013] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种电子元件检测装置,该检测装置与一芯片连接,用于检测该芯片使用时各个信 号引脚的连接情况,其特征在于,该检测装置包括: 一检测单元,用于检测所述芯片各个信号引脚的电压; 一 AD转换单元,用于将所述各个信号引脚的电压从模拟状态转换为数字状态;以及 一处理单元,用于根据转换后的电压判断对应信号引脚的连接情况。
2. 如权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述处理单元包括: 一第一判断模块,与所述AD转换单元连接,用于依次接收并判断所述芯片在上电工作 前每一信号引脚的经过所述AD转换单元转换后的电压是否处于零电势状态,所述零电势 状态代表所述信号引脚被短路连接; 一第二判断模块,与所述AD转换单元连接,用于依次接收并判断所述芯片上电正常工 作后未短路连接的信号引脚输出的经过所述AD转换单元转换后的电压是否处于低电势状 态,所述低电势状态代表所述信号引脚连接被断开;以及 一第三判断模块,与所述AD转换单元连接,用于依次接收并判断所述芯片既未短路连 接也未开路连接的信号引脚输出的经过所述AD转换单元转换后的电压是否处于一预设的 电压范围内,未处于预设的电压范围内代表所述信号引脚被错误连接。
3. 如权利要求2所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述处理单元还包括: 一计时模块,用于在所述第一判断模块完成对与所述AD转换单元连接的所有的信号 引脚连接情况的判断后开始计时,并在计时时间达到一预设时间时发送一启动信息; 一第一控制模块,用于响应所述启动信息启动所述第二判断模块接收所述AD转换单 元输出的数字电压信号,并对该数字电压信号进行判断; 一第二控制模块,用于根据所述第一判断模块的判断结果启动所述第二判断模块对所 述芯片各个信号引脚电压的判断;以及 一第三控制模块,用于根据所述第二判断模块的判断结果启动所述第三判断模块对所 述芯片各个信号引脚电压的判断。
4. 如权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括一显示 控制单元,该显示控制单元用于控制一显示单元显示所述处理单元对所述芯片各个信号引 脚连接情况的判断结果。
5. 如权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述检测单元包括多个检测 电路,该多个检测电路分别与所述芯片的各个信号引脚一一对应连接,用于检测对应信号 引脚的电压。
6. 如权利要求5所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述多个检测电路中每一检 测电路的一端与一电源VCC连接,另一端与所述AD转换单元连接,每一检测电路均包括 一二极管Dl,该二极管Dl正极与所述电源VCC连接,负极通过两个阻性元件Rl和R2接地, 阻性元件Rl和R2之间的连接点al与所述AD转换单元连接,该连接点al同时通过两个阻 性元件R3和R4接地,阻性元件R3和R4之间的连接点a2与所述AD转换单元连接,所述连 接点al和a2同时还分别与所述芯片的两信号引脚连接,信号引脚的输出信号由此进入所 述AD转换单元。
7. 如权利要求5所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述AD转换单元包括多个与 所述检测电路数量相同的转换单元,且该多个转换单元与所述检测电路一一对应连接。
8. 如权利要求7所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述处理单元包括: 一第一判断模块,包括多个与所述多个转换单元数量相同的判断子模块,与所述多个 转换单元一一对应,该多个判断子模块用于判断所述芯片在上电工作前对应信号引脚的电 压经过AD转换后是否处于零电势状态,所述零电势状态代表所述信号引脚被短路连接; 一第二判断模块,包括多个与所述多个转换单元数量相同的判断子模块,该多个判断 子模块用于在该芯片上电正常工作后判断未短路连接的对应的信号引脚输出的电压经过 AD转换后是否处于低电势状态,所述低电势状态代表所述信号引脚被开路连接,以及 一第三判断模块,包括多个与所述多个转换单元数量相同的判断子模块,该多个判断 子模块用于判断既未短路连接也未开路连接的对应的信号引脚输出的电压经过AD转换后 是否处于一预设的电压范围内,处于该预设的电压范围内代表所述信号引脚未被错误连 接。
9. 如权利要求8所述的电子元件检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括: 一输入单元,用于响应用户的输入操作产生一输入信息; 一第一控制模块,用于在确定所述输入信息为所述芯片已经上电工作后控制所述第二 判断模块开始接收相应转换单元输出的数字电压信号,并对该数字电压信号进行判断; 一第二控制模块,用于根据所述第一判断模块的判断结果启动所述第二判断模块对所 述芯片各个信号引脚输出电压的判断,以及 一第三控制模块,用于根据所述第二判断模块的判断结果启动所述第三判断模块对所 述芯片各个信号引脚输出电压的判断。
10. -种电子元件检测方法,该方法包括: a) ,检测一芯片各个信号引脚的电压; b) ,将所述信号引脚的电压从模拟状态转换为数字状态;及 c) ,根据转换后的电压判断所述信号引脚的连接情况。 11. 11如权利要求10所述的检测方法,步骤C具体包括: d) ,在所述芯片上电工作前,接收所述转换后的电压信号,并判断该电压信号是否处于 零电势状态; e) ,在所述芯片上电工作后,接收步骤d确定的未处于零电势状态的信号引脚转换后 的电压信号,并判断该电压信号是否处于低电势状态; f) ,接收步骤e确定的既未处于零电势状态也未处于低电势状态的信号引脚转换后的 电压信号,并判断该电压信号是否处于一预设的电压范围内;及 g) ,显示步骤d确定的处于零电势状态、步骤e确定的处于低电势状态以及步骤f确定 的未处于该预设电压范围内的信号引脚的信息。
【专利摘要】本发明提供了一种电子元件检测装置,该检测装置与一芯片连接,用于检测该芯片各个信号引脚的连接情况,所述检测装置包括依次电连接的检测单元、AD转换单元、处理单元、显示控制单元以及显示单元,所述检测单元检测所述芯片各个信号引脚的电压,所述AD转换单元将所述检测单元输出的电压从模拟状态转换为数字状态,所述处理单元根据转换后的电压判断所述芯片各个信号引脚的连接情况,并由所述显示控制单元控制显示单元显示所述芯片各个信号引脚中处于异常状态的信号引脚的信息。本发明还提供了一种电子元件的检测方法。
【IPC分类】G01R31-02
【公开号】CN104635102
【申请号】CN201310564620
【发明人】冯召波
【申请人】富泰华工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2013年11月14日
【公告号】US20150130441
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