>[0030] 附图2是本发明固定试样测量装置的侧面示意图。
[0031] 附图3是本发明固定试样测量装置中固定触头滑块的固定螺栓示意图。
【具体实施方式】： 阳0巧实施例1
[0033] 一种高溫条件下永磁材料电阻率的测量装置，圆柱形接触头2、螺栓13、绝缘框架 4、右侧标尺5、左侧标尺6、滑动块17、滑动块118、滑动块1119、滑动块IV10、锥形接触螺栓 111、锥形接触螺栓1112、锥形接触螺栓11113、锥形接触螺栓IV14,所述的绝缘框架4的顶 端与底端均开有框架通孔15,所述的框架通孔15内装入所述的螺栓13,所述的螺栓13装 入圆柱形接触头2的螺纹盲孔内，所述的绝缘框架4的左侧连接左侧标尺7,所述的绝缘框 架4的右侧连接右侧标尺5,所述的绝缘框架4的左侧开有左侧滑动导槽16,所述的绝缘框 架4的右侧开有右侧滑动导槽17,所述的左侧滑动导槽16内装入滑动块17与滑动块1119， 所述的右侧滑动导槽17内装入滑动块II8与滑动块IV10,所述的滑动块17、滑动块118、滑 动块III9与滑动块IV10均开有横向的螺纹通孔，所述的滑动块17的螺纹通孔内装入可横 向移动的所述的锥形接触螺栓111,所述的滑动块118的螺纹通孔内装入可横向移动的所 述的锥形接触螺栓1112,所述的滑动块III9的螺纹通孔内装入可横向移动的所述的锥形 接触螺栓11113,所述的滑动块IV10的螺纹通孔内装入可横向移动的所述的锥形接触螺栓 IV14 ;所述的左侧滑动导槽16及所述的右侧滑动导槽17的宽度均与固定螺栓18的栓杆无 螺纹的直径相等；所述的锥形接触螺栓111、所述的锥形接触螺栓11113、所述的锥形接触 螺栓1112及所述的锥形接触螺栓IV14头部均开有引线孔19,所述的引线孔19连接耐高 溫导线的一端，所述的耐高溫导线的另一端连接电阻测量仪的电流输入输出端与电压检测 玉山 乂而。
[0034] 实施例2
[0035] 实施例1所述的高溫条件下永磁材料电阻率的测量装置，所述的滑动块17及滑动 块III9分别开有盲孔，所述的盲孔内装入穿过金属垫片20的固定螺栓18。
[0036] 实施例3
[0037] 实施例1或2所述的高溫条件下永磁材料电阻率的测量装置，所述的锥形接触螺 栓111和所述的锥形接触螺栓III13的长度相等；所述的触头螺栓1112、和所述的锥形接 触螺栓IV14的长度相等；所述的锥形接触螺栓111的长度大于所述的锥形接触螺栓1112 的长度加上圆形接触头2直径的总和；所述的锥形接触螺栓111与所述的锥形接触螺栓 III13均在所述的右侧标尺5的上表面处，所述的触头螺栓1112与所述的触头螺栓IV14均 在所述的右侧标尺6的上表面处。 阳0測实施例4
[0039]实施例2所述的高溫条件下永磁材料电阻率的测量装置，所述的滑动块17、所述 的滑动块118、所述的滑动块III9及所述的滑动块IV10均需要在垂直方向开有滑块厚度 2/3长的螺纹盲孔，所述的垂直方向的螺纹盲孔和所述的横向方向的螺纹通孔处在非同一 垂直方向上。 W40] 实施例5
[0041]实施例1所述的高溫条件下永磁材料电阻率的测量装置，所述的圆柱形接触头2 的中屯、平面与所述的绝缘框架4的上表面处于同一个平面内。 阳0创实施例6
[0043] 一种利用实施例1所述的测量装置实现高溫条件下永磁材料电阻率的测量方法， 所述方法包括如下步骤：
[0044] 步骤一：固定条形永磁铁试样1 ;
[0045] 在将条形永磁铁试样1固定到测量装置前，将锥形接触螺栓111和锥形接触螺栓 III13旋松，运样可W保证锥形接触螺栓尖点连线与其各自轴向垂直，进而保证两个尖点均 与试样完全接触，锥形接触螺栓II12和锥形接触螺栓IV14向着试样方向旋紧，然后先将条 形永磁铁试样1的顶端或底端与两个纵向固定件的其中一个纵向固定件接触，所述两个纵 向固定件均由所述测量装置中的带有螺纹盲孔的圆柱形接触头2与螺栓13组成，再将条形 永磁铁试样1与锥形接触螺栓1112和锥形接触螺栓IV14完全接触，然后移动两个纵向固 定件的另外一个纵向固定件，完成条形永磁铁试样1的纵向位置固定；最后移动锥形接触 螺栓111和锥形接触螺栓III13与条形永磁铁试样1相接触，并分别通过固定螺栓固定滑 动块17、滑动块118、滑动块III9及滑动块IV10,完成条形永磁铁试样1的纵向位置固定；
[0046] 步骤二：测量条形永磁铁试样1的电阻率；
[0047] 条形永磁铁试样1完全固定好后，通过电阻测量仪读取条形永磁铁试样1的电阻R，然后利用公式一： 纖
[0048] P二下 公式一 :扛： W例计算出试样的电阻率P，S为条形永磁铁试样1的横截面的面积，L为电压检测端 之间的距离；
[0050] 步骤=:测量条形永磁铁试样1在不同溫度下的电阻率；
[0051] 为了测量不同溫度下条形永磁体试样1的电阻率，将固定好条形永磁体试样1的 测量装置置于溫度可控的高溫炉中，然后测量不同溫度下条形永磁铁试样1的阻值R，并利 用公式一计算条形永磁体试样1的电阻率；由于整个测量装置需要置于高溫炉中，所W引 出线应使用耐高溫的导线。
[0052] 步骤四：测量条形永磁铁试样1在某一溫度下的电阻率；
[0053] 先定义所述的锥形接触螺栓111与条形永磁铁试样1接触测试的点为A点，所 述的锥形接触螺栓1112与条形永磁铁试样1接触测试的点为B点，所述的锥形接触螺栓 III13与条形永磁铁试样1接触测试的点为C点，所述的锥形接触螺栓IV14与条形永磁铁 试样1接触测试的点为D点；在某一溫度下，将A点、B点、C点、D点接到电阻测量仪引线的 不同位置，之后，测量条形永磁体试样的电阻值，并计算其电阻率P。
[0054] 实施例7
[0055] 实施例6所述的高溫条件下永磁材料电阻率的测量方法，步骤四中，所述在某一 溫度下，将A点、B点、C点、D点接到电阻测量仪引线的不同位置的具体接线位置如下：
[0056] 1)当A点为电流输入端，C点为电流输出端，B点为高电压检测端，D点为低电压 检测端时，条形永磁体试样的电阻值可直接从电阻测量仪上读取，记为Ri;
[0057] 。当B点为电流输入端，A点为高电压检测端，C点为电流输出端，D点为低电压 检测端时，条形永磁体试样的电阻值可直接从电阻测量仪上读取，记为R2; 阳05引 3)将与A点、B点、C点与D点相对应的电阻测量仪互换，即当C点为电流输入端， A点为电流输出端，D点为高电压检测端，B点为低电压检测端时，条形永磁体试样的电阻值 可直接从电阻测量仪上读取，记为R3;
[0059] 4)调换A点、B点、C点与D点相对应的电阻测量仪，即当D点为电流输入端，A点 为电流输出端，C点为高电压检测端，B点为低电压检测端时，条形永磁体试样的电阻值可 直接从电阻测量仪上读取，记为R4; W60]W条形永磁体试样1的电阻值R为 [0061]R= (^Ri+Rz+Rs+Rzi) /4
[00创 6)利用P^Rf，S=bXd计算此溫度下条形永磁体试样的电阻率P;S为条形 永磁铁试样1的横截面的面积，L为电压检测端之间的距离，b为条形永磁铁试样1的宽度，d为条形永磁铁试样1的厚度。
[0063] 本发明圆柱形接触头的直径在合理范围内做的大一些，若没有用来制作接触头的 绝缘材料也可在接触头与条形永磁铁试样接触面做绝缘处理（如在接触头和条形永磁铁 试样的端部间加绝缘板），但该方法需要时常更换绝缘材料，在保证与条形永磁铁试样接触 面的平整度前提下，也可利用高溫胶将绝缘材料粘在接触头上。
[0064] 条形永磁体试样制备：对于可加工永磁材料，可W通过磨削，线切割等方法在原料 上截取所需的长条形试样，应保证在整个长度方向上试样横截面积的一致性；对于不可加 工永磁材料，可W在材料制作过程中按照所需长条形状进行制作，或是利用线切割的方法 从原料上截取所需的长条形试样，同样应保证在整个长度方向上试样横截面积的一致性。 试样尺寸的选取，应在保证其强度的条件下尽量使试样长一些，横截面积小一些，W增大被 测试样的电阻值。 阳0化]当然，上述说明并非是对本发明的限制，本发明也并不仅限于上述举例，本技术领 域