适用于led生产用蓝宝石基板检测与识别装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种光学检测设备，尤其是一种适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置。
【背景技术】
[0002]在LED生产过程中，需要对用于其加工的蓝宝石基板的位置进行确认，使得加工设备可对基板进行实时加工。传统技术中对于蓝宝石基板位置进行确认的方法为，将光线射入基板内，通过对光线被遮挡的位置以确定基板相对于加工工件的位置。但上述方法仅可针对透光度不高的硅基板材质，目前LED行业采用的蓝宝石基板其透光度可达90%，几乎无法对光线进行遮挡，故而传统的识别方法难以对其进行识别。
[0003]现有技术中，部分相关设备利用光线的反射进行蓝宝石基板位置的识别，但其往往需要采用大型的装置平台，使得蓝宝石基板进行旋转并进行检测与识别；而蓝宝石基板在旋转过程中，受机械振动等因素影响，极有可能出现反射角度的偏差，从而影响了检测与识别的精度。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型要解决的技术问题是提供一种光学识别装置，其可实现对高透光率的蓝宝石基板的精确检测与识别。
[0005]为解决上述技术问题，本实用新型涉及一种适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其包括有机架，机架中设置有蓝宝石基板平台，基板平台上方设置有可见光发射器，以及可见光接收器，可见光发射器固定安装于机架之上；所述机架中设置有移动平台，移动平台中设置有至少可在2个方向上进行运动的传动机构，所述可见光接收器安装于传动机构之上。
[0006]作为本实用新型的一种改进，所述机架之中设置有沿水平方向进行延伸的旋转圆盘，其通过转轴连接至机架之上；所述旋转圆盘的下端面设置有延其半径进行延伸的滑槽；所述滑槽内部设置有与滑槽彼此啮合的滑块，所述可见光接收器安装于滑块下端面。采用上述设计，其可通过旋转圆盘的旋转，使得可见光接收器亦随之旋转，同时通过可见光接收器随滑块延旋转圆盘半径进行运动，从而使得可见光接收器在基板平台上方各个位置的运动，进而使得可见光接收器检测到蓝宝石基板反射的光线，实现对蓝宝石基板的检测。
[0007]作为本实用新型的一种改进，所述机架中设置有旋转电机，其主轴延竖直方向延伸，且与用于连接旋转圆盘的转轴彼此连接。采用上述设计，其可通过旋转电机驱动旋转圆盘快速旋转，从而避免人工进行旋转操作所造成的效率降低。
[0008]作为本实用新型的一种改进，所述滑槽与滑块在竖直方向上均延伸至旋转圆盘内部；所述旋转圆盘中，其内部滑槽延伸位置上设置有延其半径进行延伸的丝杆，所述滑块固定于丝杆之上；所述丝杆于旋转圆盘外部区域设置有驱动电机，驱动电机固定安装在旋转圆盘之上。采用上述设计，其可通过驱动电机驱动丝杆延其所在的旋转圆盘半径运动，从而带动滑块，以及可见光接收器延滑槽在旋转圆盘的半径上运动，进而与上述旋转电机配合，使得可见光接收器可自行在蓝宝石基板上方，对蓝宝石基板反射的可见光进行检测，使得其检测效率与精度得以显著改善。
[0009]作为本实用新型的一种改进，所述旋转圆盘与蓝宝石基板平台共轴，旋转圆盘的面积至少为基板平台面积的1.2倍。采用上述设计，其可确保经由蓝宝石基板反射的可见光落于旋转圆盘之上，从而使得可见光接收器可对其进行检测。
[0010]作为本实用新型的一种改进，所述机架外部设置有遮光罩，其可避免外部光源对检测造成干扰，从而影响蓝宝石基板位置检测的精度。
[0011]采用上述适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其通过光线的反射原理进行蓝宝石基板的检测，实现了对高透光度蓝宝石基板位置的精确识别；同时，上述识别装置采用可见光接收器相对于待检测基板运动，其即可实现对基板的全面检测，又避免了蓝宝石基板运动而导致的反射位置偏差，从而有效提高了检测的全面性与精度。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型示意图；
[0013]图2为本实用新型中旋转圆盘内部示意图；
[0014]附图标记列表:
[0015]I一机架、2 —LED基板平台、3—可见光发射器、4一可见光接收器、5—旋转圆盘、6 一转轴、7—滑槽、8—滑块、9 一旋转电机、10 一丝杆、11 一驱动电机、12 一遮光罩。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图和【具体实施方式】，进一步阐明本实用新型，应理解下述【具体实施方式】仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
[0017]实施例1
[0018]如图1所示的一种适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其包括有机架1，机架I中设置有蓝宝石基板平台2，基板平台2上方设置有可见光发射器3，以及可见光接收器4，可见光发射器3固定安装于机架I之上；所述机架I中设置有延水平方向进行延伸的旋转圆盘5，其通过转轴6连接至机架I之上。
[0019]所述旋转圆盘5的下端面设置有延其半径进行延伸的滑槽7 ;所述滑槽7内部设置有与滑槽彼此啮合的滑块8，所述可见光接收器4安装于滑块8下端面。采用上述设计，其可通过旋转圆盘的旋转，使得可见光接收器亦随之旋转，同时通过可见光接收器随滑块延旋转圆盘半径进行运动，从而使得可见光接收器在基板平台上方各个位置的运动，进而使得可见光接收器检测到蓝宝石基板反射的光线，实现对蓝宝石基板的检测。
[0020]采用上述适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其通过光线的反射原理进行蓝宝石基板的检测，实现了对高透光度蓝宝石基板位置的精确识别；同时，上述识别装置采用可见光接收器相对于待检测基板运动，其即可实现对基板的全面检测，又避免了蓝宝石基板运动而导致的反射位置偏差，从而有效提高了检测的全面性与精度。
[0021]实施例2
[0022]作为本实用新型的一种改进，所述机架I中设置有旋转电机9，其主轴延竖直方向延伸，且与用于连接旋转圆盘5的转轴6彼此连接。采用上述设计，其可通过旋转电机驱动旋转圆盘快速旋转，从而避免人工进行旋转操作所造成的效率降低。
[0023]本实施例其余特征与优点均与实施例1相同。
[0024]实施例3
[0025]作为本实用新型的一种改进，如图2所示，所述滑槽7与滑块8在竖直方向上均延伸至旋转圆盘5内部；所述旋转圆盘5中，其内部滑槽7延伸位置上设置有延其半径进行延伸的丝杆10，所述滑块8固定于丝杆10之上；所述丝杆10于旋转圆盘5外部区域设置有驱动电机11，驱动电机11固定安装在旋转圆盘5之上。采用上述设计，其可通过驱动电机驱动丝杆延其所在的旋转圆盘半径运动，从而带动滑块，以及可见光接收器延滑槽在旋转圆盘的半径上运动，进而与上述旋转电机配合，使得可见光接收器可自行在蓝宝石基板上方，对蓝宝石基板反射的可见光进行检测，使得其检测效率与精度得以显著改善。
[0026]本实施例其余特征与优点均与实施例2相同。
[0027]实施例4
[0028]作为本实用新型的一种改进，所述旋转圆盘5与基板平台2共轴，旋转圆盘5的面积为基板平台面积2的1.5倍。采用上述设计，其可确保经由蓝宝石基板反射的可见光落于旋转圆盘之上，从而使得可见光接收器可对其进行检测。
[0029]本实施例其余特征与优点均与实施例3相同。
[0030]实施例5
[0031]作为本实用新型的一种改进，所述机架I外部设置有遮光罩12，其可避免外部光源对检测造成干扰，从而影响蓝宝石基板位置检测的精度。
[0032]本实施例其余特征与优点均与实施例4相同。
【主权项】
1.一种适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置包括有机架，机架中设置有蓝宝石基板平台，基板平台上方设置有可见光发射器，以及可见光接收器，可见光发射器固定安装于机架之上；所述机架中设置有移动平台，移动平台中设置有至少可在2个方向上进行运动的传动机构，所述可见光接收器安装于传动机构之上。
2.按照权利要求1所述的适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述机架之中设置有沿水平方向进行延伸的旋转圆盘，其通过转轴连接至机架之上；所述旋转圆盘的下端面设置有延其半径进行延伸的滑槽；所述滑槽内部设置有与滑槽彼此啮合的滑块，所述可见光接收器安装于滑块下端面。
3.按照权利要求2所述的适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述机架中设置有旋转电机，其主轴延竖直方向延伸，且与用于连接旋转圆盘的转轴彼此连接。
4.按照权利要求3所述的适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述滑槽与滑块在竖直方向上均延伸至旋转圆盘内部；所述旋转圆盘中，其内部滑槽延伸位置上设置有延其半径进行延伸的丝杆，所述滑块固定于丝杆之上；所述丝杆于旋转圆盘外部区域设置有驱动电机，驱动电机固定安装在旋转圆盘之上。
5.按照权利要求4所述的适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述旋转圆盘与蓝宝石基板平台共轴，旋转圆盘的面积至少为蓝宝石基板平台面积的1.2倍。
6.按照权利要求1所述的适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其特征在于，所述机架外部设置有遮光罩。
【专利摘要】本实用新型公开了一种适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其包括有机架，机架中设置有蓝宝石基板平台，基板平台上方设置有可见光发射器，以及可见光接收器，可见光发射器固定安装于机架之上；所述机架中设置有移动平台，移动平台中设置有至少可在2个方向上进行运动的传动机构，所述可见光接收器安装于传动机构之上；采用上述适用于LED生产用蓝宝石基板检测与识别装置，其通过光线的反射原理进行蓝宝石基板的检测，实现了对高透光度蓝宝石基板位置的精确识别；同时，上述识别装置采用可见光接收器相对于待检测基板运动，其即可实现对基板的全面检测，又避免了蓝宝石基板运动而导致的反射位置偏差，从而有效提高了检测的全面性与精度。
【IPC分类】G01N21-87, G01B11-00
【公开号】CN204495727
【申请号】CN201420567417
【发明人】史进, 伍志军
【申请人】苏州赛森电子科技有限公司
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2014年9月29日