源的弹簧探针3会由绝缘层4完全包覆其侧周面311，以避免短路的情形发生，但不包覆所述端点312，如同图4中左侧的该弹簧探针3与该绝缘层4配置态样。而用于传递信号的所述弹簧探针3，所述穿孔21内的绝缘层4是与对应的弹簧探针3的侧周面311局部接触以定位对应的弹簧探针3，并使该弹簧探针3与该测试座2间形成气隙5，如同图4中右侧的该弹簧探针3与该绝缘层4配置态样。在本实施例中，右侧的该弹簧探针3，是使该绝缘层4与对应的弹簧探针3的侧周面311的上下两侧接触为例绘示，其余位置则形成气隙5，但也能够使该绝缘层4与对应的弹簧探针3的侧周面311的中央位置接触，不以此为限。
[0023]要特别说明的是，所述气隙5的大小，是用来调整每一弹簧探针3的阻抗匹配，通过该测试座2的每一穿孔21实质上为单一孔径的直孔的设计，更容易调整每一弹簧探针3的阻抗匹配，提高测试装置的测试性能。而每一穿孔21于所述开口 210间的孔径变化量在±10%的变化范围内，实际上其用于调整阻抗匹配的效果，可视为与单一孔径的调整效果相同。
[0024]如图3所示，当要对一电子组件6进行测试时，是将该电子组件6设置于该测试座2的上座体22的容置空间223内，以使该电子组件6能与所述弹簧探针3形成电连接。
[0025]进一步说明的是，该测试座2是以金属材质制成，而为了确保能对所述弹簧探针3产生金属全屏蔽的功效，因此，如图4所示，该电子组件6具有一电路本体部61，及数个设置于该电路本体部61上的电性接触部62，该电子组件6设置于该测试座2上进行测试时，所述弹簧探针3能与该电子组件6的电性接触部62形成电连接，且所述电性接触部62及所述弹簧探针3皆不显露于相对应的穿孔21外，借此，能够使该测试座2产生良好的金属全屏蔽的功效。另外，如图5所示，该电子组件6设置于该测试座2上进行测试时，只要能使每一弹簧探针3不显露于相对应的穿孔21外，而该电子组件6的每一电性接触部62的局部是显露于相对应的穿孔21外，仍然能够提供优良的金属全屏蔽的功效。其中，定义每一穿孔21的所述开口 210间的距离为一第一距离D，每一电性接触部62沿所述开口 210的联线方向显露于相对应的穿孔21外的距离为一第二距离d，只要该第二距离d是小于等于该第一距离D的5%，并不会影响该测试座2的金属全屏蔽功效。
[0026]综上所述，本实用新型电子组件的测试装置，由于该测试座2是以金属材质制成，确保在进行该电子组件6的测试时，该测试座2能对所述弹簧探针3产生金属全屏蔽的功效，且通过该测试座2的每一穿孔21实质上为单一孔径的直孔的设计，更容易调整每一弹簧探针3的阻抗匹配，提高测试装置的测试性能，所以确实能达成本实用新型的目的。
【主权项】
1.一种电子组件的测试装置，用于测试一个电子组件，该电子组件具有一个电路本体部，及数个设置于该电路本体部上的电性接触部，该测试装置包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，其特征在于:每一个穿孔具有一个单一尺寸的预定孔径，而且所述电性接触部及所述弹簧探针皆不显露于相对应的穿孔外。2.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于:该测试座还包括数个分别设置于所述穿孔内而用于定位所述弹簧探针的绝缘层。3.根据权利要求2所述电子组件的测试装置，其特征在于:每一个弹簧探针具有一个侧周面及两个端点，而所述绝缘层中至少一个是完全包覆对应弹簧探针的侧周面，但不包覆所述端点。4.根据权利要求2所述电子组件的测试装置，其特征在于:每一个弹簧探针具有一个侧周面及两个端点，而所述绝缘层中的至少一个是与对应弹簧探针的侧周面局部接触以定位该弹簧探针，并使该弹簧探针与该测试座间形成气隙。5.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于:该测试座还包括一个上座体及一个下座体，所述穿孔是贯穿该上座体及该下座体。6.根据权利要求5所述电子组件的测试装置，其特征在于:该上座体包括一个基座部，及一个环绕该基座部设置且由该基座部一体向上延伸的环壁部，该环壁部与该基座部共同围绕出一个用于容置该电子组件的容置空间。7.一种电子组件的测试装置，包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，每一个穿孔具有一个预定孔径及两个开口，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，其特征在于:每一个穿孔于所述开口间的孔径变化量为±10%，而且所述弹簧探针不显露于相对应的穿孔外。8.一种电子组件的测试装置，用于测试一个电子组件，该电子组件具有一个电路本体部，及数个设置于该电路本体部上的电性接触部，该测试装置包含一个以金属材质制成的测试座，及数个弹簧探针，该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接，其特征在于:每一个穿孔具有一个单一尺寸的预定孔径，且每一个穿孔具有两个开口，定义所述开口间的距离为一个第一距离，每一个弹簧探针不显露于相对应的穿孔外，而每一个电性接触部的局部是显露于相对应的穿孔外，定义每一个电性接触部沿所述开口的联线方向显露于相对应的穿孔外的距离为一个第二距离，该第二距离是小于等于该第一距离的
【专利摘要】一种电子组件的测试装置，包含一测试座，及数个穿设于该测试座的弹簧探针。该测试座是以金属材质制成，并包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔，每一穿孔实质上具有一单一尺寸的预定孔径。所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内，且能与设置于测试座上的一电子组件形成电连接。通过该测试座的每一穿孔实质上为单一孔径的直孔的设计，更容易调整每一弹簧探针的阻抗匹配，提高测试装置的测试性能。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204925272
【申请号】CN201520607064
【发明人】刘俊贤, 林政辉, 孙家彬, 卢忻杰
【申请人】颖崴科技股份有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年8月13日