专利名称：用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘的制作方法
技术领域：
本发明涉及盘缺陷管理，更具体地讲，涉及一种具有其中记录有驱动器和盘信息的临时缺陷管理区域的盘、和一种盘缺陷管理方法及其设备。
背景技术：
盘缺陷管理是将存储在其中存在缺陷的盘的用户数据区中的数据重写到盘的数据区的新部分的处理，从而补偿由缺陷引起的数据丢失。通常，使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在线性替换方法中，其中存在缺陷的用户数据区被没有缺陷的备用数据区替换。在滑动替换方法中，具有缺陷的用户数据区被滑动，并且没有缺陷的下一用户数据区被使用。
然而，线性替换方法和滑动替换方法二者都仅能应用于诸如可将数据重复地记录在其上并且可使用随机访问方法来执行记录的DVD-RAM/RW的盘。换言之，传统线性和滑动替换方法不能被应用于其上仅允许记录一次的一次写入盘。特别是，通常通过将数据记录在盘上并且确定是否已将数据正确地记录在盘上来检测盘中缺陷的存在。然而，一旦数据被记录在一次写入盘上，则覆写新数据并管理其中的缺陷是不可能的。
在一次写入盘压缩盘(CD)-R和数字通用盘(DVD)-R的开发之后，具有数十GB的记录容量的高密度一次写入盘已被引入。由于其不昂贵并且允许能够快速读取操作的随机访问，所以此类盘可被用作备用盘。然而，盘缺陷管理不能用于一次写入盘。因此，当在备份操作期间检测到缺陷区(即，存在缺陷的区)时，备份操作可被终止。而且，当系统管理员不操作系统时，当系统未被频繁使用时(例如，夜间)执行备份操作。在此情况下，更有可能的是因为检测到一次写入盘的缺陷区所以备份操作将被终止。
同时，当另外的数据将被不记录在可记录盘上时(即，当将仅允许数据再现时)，写保护信息被记录在盘上以放置记录在盘上的数据被误擦除。然而，一旦写保护信息被记录，则不再允许记录，并且因此，不能管理可能的盘缺陷。即，由于在记录写保护信息之后在盘的数据区中不允许记录，所以也不能执行盘缺陷管理。
发明内容
本发明的一方面提供一种一次写入盘、和一种盘缺陷管理方法及其设备。
本发明的一方面还提供一种一次写入盘和一种即使在记录操作期间当检测到盘缺陷时也可管理盘缺陷，允许执行记录操作而无中断的盘缺陷管理方法及设备。
本发明的一方面还提供一种其上可改变已记录的写保护信息的盘、和一种盘缺陷管理方法及其设备。
本发明的一方面还提供一种其上即使在记录写保护信息之后也允许盘缺陷管理的盘、和一种盘缺陷管理方法及其设备。
本发明的一方面还提供一种盘、和一种可增加存储在盘上的可靠性的盘缺陷管理方法及设备。
本发明的其它方面和/或优点将在下面被部分地阐述，并且将从描述中部分地变得清楚，或可通过本发明的实践而被理解。
根据本发明的一方面，一种一次写入盘，包括单记录层，顺序地具有导入区、数据区和导出区；在导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区；在导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及在导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区，其中，关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区，并且在盘的完成期间最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区。
根据本发明的另一方面，一种一次写入盘，具有顺序地具有导入区、数据区和导出区的第一记录层；顺序地具有外部区、数据区和导出区的第二记录层；在导入区、导出区和外部区的至少一个中的缺陷管理区；在导入区、导出区和外部区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及在导入区、导出区和外部区的至少一个中的驱动器和盘信息区，其中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区，为了盘的完成，最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区，并且关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中。
根据本发明的一方面，写保护信息还被记录在驱动器和盘信息区并且针对每一记录操作而被记录。
根据本发明的一方面，驱动器和盘信息包括写保护信息和测试位置信息的至少一个。
根据本发明的另一方面，一种管理盘缺陷的方法，包括将关于根据第i记录操作记录在盘的数据区中的数据中的缺陷的信息作为第i临时缺陷信息几次记录在盘的临时缺陷管理区中；将用于管理第i临时缺陷信息的信息作为第i临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中；将关于第i临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在盘的驱动器和盘信息区中；在增加给到记录操作、临时缺陷信息、和临时缺陷管理信息的指数时，至少一次重复对第i临时缺陷信息的记录、对第i临时缺陷管理信息的记录、和对关于位置的信息的记录；以及为了盘的完成，将最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的一个记录在盘的缺陷管理器中。
根据本发明的一方面，该方法还包括将写保护信息被记录在驱动器和盘信息区。
在记录第一临时缺陷管理信息期间，该第i临时缺陷管理信息被记录以包括测试位置信息和写保护信息的至少一个。
根据本发明的另一方面，一种记录和/或再现设备，包括记录/读单元，由于将数据记录在盘上或从盘读取数据；以及控制器，用于控制记录/读单元将关于记录在数据区中的数据中的缺陷的信息作为临时缺陷信息记录在盘的临时缺陷管理区中；将用于管理临时缺陷信息的管理信息作为临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中，该管理信息还包括驱动器和盘信息；将关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在盘的驱动器和盘信息区中；以及在盘完成期间将最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在盘的缺陷管理区中。
根据本发明的一方面，控制器控制记录/读单元以还将写保护信息记录在驱动器和盘信息中，控制记录/读单元以针对每一记录操作记录临时缺陷信息和临时缺陷管理信息，以及控制记录/读单元来针对每一记录操作记录临时缺陷管理信息以包括测试位置信息和写保护信息。
通过下面结合附图进行对其实施例进行详细的描述，本发明的上述和/或其他方面和优点将会变得更加清楚并更易被理解，其中图1是根据本发明实施例的记录和/或再现设备的方框图；图2A至2D示出根据本发明实施例的盘的结构；图3A示出根据本发明实施例的在图2A至2D中示出的盘的数据结构；图3B示出具有如图3A所示的驱动器和盘信息区、临时缺陷管理区(TDMA)和缺陷管理区(DMA)的盘的数据结构；图4A至4D示出根据本发明实施例的其中已经执行盘缺陷管理的TDMA的数据结构；图5A和5B示出根据本发明实施例的其中未执行盘缺陷管理的TDMA的数据结构；图6A和6B示出根据本发明实施例的临时缺陷管理信息TDDS#i的数据结构；图7示出根据本发明实施例的临时缺陷信息TDFL#i的数据结构；图8A和8B示出根据本发明实施例的驱动器和盘信息区的数据结构；图9示出根据本发明实施例的用于解释在用户数据区A和备用区B中的数据的记录的图；图10是示出根据本发明实施例的数据区的有效使用的图；图11A和图11B分别示出根据本发明实施例的临时缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的数据结构；图12示出根据本发明实施例的关于缺陷#i的信息的数据结构；图13A和13B显示根据本发明实施例的盘缺陷管理方法的流程图；以及图14A和14B显示根据本发明另一实施例的盘缺陷管理方法的流程图。
具体实施例方式
以下，将参照附图来更详细说明本发明的实施例，其中，相同的标号始终指的是同一元件。以下通过参照附图来描述实施例以便解释本发明。
图1是根据本发明实施例的记录和/或再现设备的方框图。参照图1，该记录和/或再现设备包括记录/读单元1、控制器2和存储器3。该记录/读单元1将数据记录在盘100上，盘100是根据本发明实施例的信息存储介质，记录/读单元1还从盘100读回数据以校验记录的数据的准确性。控制器2执行根据本发明实施例的盘缺陷管理，并且控制记录/读单元1将写保护信息记录在盘100上。在此实施例中，控制器2使用写后校验方法，在该方法中，以预定数据的单位将数据记录在盘100上，并且记录的数据的准确性被校验以检测盘100的区是否具有缺陷。
具体是，控制器2将用户数据以记录操作为单位记录在盘100上，并且校验记录的用户数据以检测其中存在缺陷的盘100的区。其后，控制器2生成表示具有缺陷的区的位置的信息，并且将生成的表示具有缺陷的区的位置的信息存储在存储器3中。当存储的信息达到预定的量时，控制器2将存储的信息作为临时缺陷信息记录到盘100上。如果用户不执行盘缺陷管理，则控制器2仅将临时缺陷管理信息(将在下面解释)记录到盘100上。
通常，记录操作是根据用户的意图确定的操作单位，或是将被执行的记录工作。根据所示实施例，记录操作表示其中盘100被装入记录和/或再现设备、数据被记录在盘100上、并且盘100被从记录和/或再现设备中取出的过程。在记录操作期间，数据被记录并且至少校验一次通常，数据被记录并且校验几次。使用写后校验方法获得的缺陷信息作为临时缺陷信息被临时存储在存储器3中。然而，应该理解，在本发明的全部方面，记录操作可被另外限定，并且/或者数据不需要被校验几次。
当用户按下记录和/或再现设备的弹出键(未示出)以便在记录数据之后移动盘100时，或当记录操作被另外终止时，控制器2期望记录操作终止。接下来，控制器2从存储器3读取信息，将读取的信息提供到记录/读单元1，并且控制记录/读单元1将读取的信息记录在盘100上。而且，如将在下面解释的，关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的信息和写保护信息被记录在盘100的驱动器和盘信息区。
当完成数据的记录时(即，另外的数据将不被记录在盘100上，并且盘100需要被完成)，控制器2控制记录/读单元1将记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为缺陷管理信息记录在盘100的缺陷管理区(DMA)中。
在再现期间，控制器2控制记录/读单元1从盘100的临时缺陷管理区(TDMA)读取关于记录在数据区中的数据中的缺陷的信息作为临时缺陷信息。控制器2进一步控制记录/读单元1从盘100的TDMA读取用于管理临时缺陷信息的管理信息作为临时缺陷管理信息。读取的管理信息包括驱动器和盘信息。控制器2控制记录/读单元1从盘100的盘和驱动器信息区读取关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息。而且，在盘100被完成的情况下，控制器2控制记录/读单元1从盘100的缺陷管理区(DMA)中读取最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管理信息。控制器2还控制记录/读单元1从驱动器和盘信息中读取写保护信息和测试位置信息。
图2A至2D示出根据本发明实施例的图1中的盘100的结构。图2A详细示出具有记录层L0的盘100(单记录层盘)。盘100包括导入区、数据区、和导出区。导入区位于盘100的内例部分，并且导出区位于盘100的外侧部分。数据区在导入区和导出区之间，并且被分为用户数据区和备用区。用户数据区是其中记录用户数据的区。备用区是用于具有缺陷的用户数据区的替换区，并且用于补偿由于缺陷导致的记录区中的丢失。即，备用区被用于根据本发明一方面的盘缺陷管理，从而，当缺陷存在于在用户数据区中记录的数据中时，则该数据被再次记录在备用区中。
除了数据区包括两个备用区之外，图2B中示出的盘100的数据结构与图2A中示出的盘100的数据结构相同。因此，将省略图2B中示出的每一区的描述。在图2B中，备用区位于用户数据区的边上。在示出的实施例中，在导入区和用户数据区之间的备用区将被称作内侧备用区，并且用户数据区和导出区之间的备用区将被称作外侧备用区。然而，应该理解其它备用区可被使用，并且/或者安排在除用户数据区的内侧和外侧区之外的区中。
图2C示出具有第一和第二记录层L0和L1的盘100(双记录层盘)。第一记录层L0具有从第一记录层L0的内侧部分到外侧部分顺序地形成的导入区、数据区和外侧区。而且，第二记录层L1具有从第二记录层L1的外侧部分到内侧部分顺序地形成的外侧区、数据区和导出区。不同于图2A和2B中示出的单记录层盘，导出区存在于图2B中的盘100的内侧部分。即，图2B的盘100具有逆光道路径(OTP)，其中数据被从第一记录层L0的导入区开始向着其外侧区，并且继续从第二记录层L0的外侧区到其导出区来记录。备用区被分配给记录层L0和L1的每一个。
除了第一记录层L0和第二记录层L1每一个还包括另一备用区从而盘100包括四个备用区之外，图2D中示出的盘100数据结构与图2C中的盘100的数据结构相同。因此，在此将省略每一备用区的描述。备用区形成在第一和第二记录层L0和L1的用户数据区的边上。在此公开中，与盘100的内侧部分相邻的备用区将被称作内侧备用区，并且与盘100的外侧部分相邻的备用区将被称作外侧备用区。如果需要，用户数据区的一部分可被用作另一备用区。备用区的位置和数量不限于以上描述。
图3A示出根据本发明实施例的在图2A至2D中示出的盘100的结构。参照图3A，如果盘100是图2A和2B中示出的单记录层盘100，则驱动器和盘信息区、DMA、和临时DMA(TDMA)存在于盘100的导入区和导出区的至少一个中。如果盘100是图2C和2D中示出的双记录层盘100，则驱动器和盘信息区、DMA、和TDMA存在于导入区、导出区和外侧区的至少一个中，并且分别优选地位于盘100的内侧部分的导入区和导出区中。然而，应该理解，驱动器和盘信息区可另外位于本发明其它方面。
在驱动器和盘信息区中，存在关于用于写和/或读操作的驱动器的记录的信息、关于盘的信息(例如，该盘是单记录层盘还是双记录层盘)、和关于其中记录条件被测试的测试区的位置的信息。尤其是，盘信息规定根据本发明一方面的盘缺陷管理。例如，盘信息可包括关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置信息、和写保护信息。然而，应该理解，驱动器和盘信息区可包括与驱动器和盘信息相关的另外的信息。
通常，DMA包括与管理盘100中的盘缺陷相关的信息。这种信息包括用于盘缺陷管理的盘100的结构、缺陷信息的记录位置、缺陷管理是否执行、和备用区的位置和大小。在TDMA中，在盘完成之前记录关于盘缺陷的信息。关于盘缺陷的信息包括驱动器和盘信息(即，关于测试区的位置的信息和写保护信息)。
通常，当盘100被装入诸如图1中所示的设备的记录/读设备时，该设备从盘100的导入区和导出区读取数据，以确定如何管理盘100和将数据记录在盘100上，或从盘100中读取数据。然而，如果记录在导入区和/或导出区中的数据量增加，则在装入盘100之后较长的时间被花费在准备数据的记录或再现上。为了解决此问题，本发明的一方面使用将被记录在TDMA中的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息。TDMA被分配给与DMA分离的盘的导入区和/或导出区。即，当不将另外的数据记录在盘上(即，需要盘完成)时，仅最后记录的缺陷信息和缺陷管理信息被记录在DMA中，因此使得记录/读设备能够仅从DMA读取仅最后记录的缺陷管理信息。因此，可加速盘初始化。而且，由于缺陷管理信息被记录在多个区中，所以可增加信息的可靠性。
根据本发明的一方面，缺陷管理信息、关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置信息、和写保护信息被记录在驱动器和盘信息区中。因此，记录/读设备从驱动器和盘信息区读取位置信息，并且因此能够基于读取的位置信息更快速地访问DMA。即，可基于该位置信息可更有效地执行盘缺陷管理。
而且，该驱动器和盘信息(包括关于测试区的位置信息和写保护信息)被记录在临时缺陷管理信息中。因此，即使盘驱动器不访问驱动器和盘信息区，也可从临时缺陷管理区中获得关于测试区的位置信息和写保护信息。临时缺陷管理信息中包括测试位置信息使得能够快速寻找到针对测试位置信息的指针。
在所示实施例中，由于使用线性替换方法执行盘缺陷管理，所以临时缺陷信息包括表示具有缺陷的盘100的区的位置的信息和表示作为具有缺陷的区的替换盘100的区的位置的信息。更优选地是，临时缺陷信息还包括表示缺陷是出现在单一的缺陷块中还是连续的缺陷块中的信息。临时缺陷管理信息被用于管理临时缺陷信息，并且包括表示其中记录了临时缺陷信息的盘100的位置的信息。更优选地是，临时缺陷管理信息还包括关于测试区的位置信息和写保护信息。下面将解释临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的详细数据结构。
在所示实施例中，每次当记录操作结束时，临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录。在TDMA中，因此，关于出现在在记录操作#0期间记录的数据中的缺陷的信息和关于替换区的信息被记录为临时缺陷信息#0。关于出现在在记录操作#1期间记录的数据中的缺陷的信息和关于替换区的信息被记录为临时缺陷信息#1。而且，用于管理临时缺陷信息#0、#1…的信息作为临时缺陷管理信息#0、#1…被记录在TDMA中。当另外的数据不能被记录在数据区中时或当用户不希望将另外的数据记录在其中(即，数据不需要被完成)时，记录在临时缺陷信息区中的临时缺陷信息和记录在临时缺陷管理信息区中的临时缺陷管理信息被重写到DMA中。
在所示实施例中，包含在之前记录的临时缺陷信息#0、#1、#2…、#i-1中的全部缺陷信息还被包含在临时缺陷信息#i中。因此，仅通过读取包含在最后记录的临时缺陷信息#i中的缺陷信息并且将读取的临时缺陷信息#i重写到DMA中来完成盘100是容易的。然而，应该理解，在本发明全部方面，临时缺陷信息#i不需要包括之前的缺陷信息。
在诸如蓝光盘或高级光盘(AOD)的具有几十GB记录容量的高密度盘100的情况下，可期望一个簇被分配到临时缺陷管理信息#i被记录到其中的区并且四到八个簇被分配到临时缺陷信息#i被记录到其中的区。这是因为，虽然临时缺陷信息#i的量仅几KB时，但是当记录的最小物理单位为簇时以簇为单位记录新信息以更新信息是优选的。当在全部方面不需要时，在盘中允许的缺陷的总量优选地为大约盘记录容量的5％。例如，考虑到关于缺陷的信息是大约8字节长并且簇的大小为64KB，对于记录临时缺陷信息#i需要大约四到八簇。然而，应该理解，在本发明全部方面中，根据需要可使用盘记录容量的附加百分比，并且新信息不需要被记录在簇中。
还可对临时缺陷信息#i和临时缺陷管理信息#i执行写后校验方法。当缺陷被检测到时，记录在具有缺陷的盘100的区中的信息可使用线性替换方法而被记录在备用区中，或使用滑动替换方法而被记录到与TDMA相邻的区中。
在所示实施例中，驱动器和盘信息区和TDMA是分离的区。然而，应该理解，该区可被形成为单一区。在下面的情况下，需要被更新的一部分驱动器和盘信息(例如，关于测试区的位置信息和写保护信息)被更新并与临时缺陷管理信息一起记录。
图3B示出具有如图3A中所示的驱动器和盘信息区、TDMA、和DMA的盘100的数据结构。参照图3B，两个DMA，DMA1和DMA2被形成以增加缺陷管理信息、缺陷信息和写保护信息的牢固性。图3B显示临时缺陷管理区TDMA、其中测定数据的记录条件的测试区Test、和其中记录有驱动器和盘信息并且位于在DMA DMA1旁边的缓冲区缓冲2旁边的驱动器和盘区驱动器和盘信息。缓冲1、缓冲2和缓冲3是作为表示各个区的边界的缓冲的区。根据本发明实施例的盘100可包括多个驱动器和盘信息区。
图4A至4D示出其中根据本发明实施例的其中已经执行盘缺陷管理的TDMA的数据结构。参照图4A，TDMA被逻辑地分为临时缺陷信息区和临时缺陷管理信息区。在临时缺陷信息区中，临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…从该区的开始向着结束而被顺序地记录，从而临时缺陷信息的物理或逻辑地址增加。临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重复记录几次以增加信息的牢固性。尤其是，图4A示出P次记录临时缺陷信息TDFL#0。在临时缺陷管理信息区中，临时缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、…被从区的开始顺序地记录。临时缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、…分别相应于临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…。
参照图4B，与图4A比较，TDMA也被逻辑的分为临时缺陷信息区和临时缺陷管理信息区。然而，记录信息的顺序不同。更具体地说，在临时缺陷信息区中，临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…从该区的结束向着开始而被记录，从而临时缺陷信息的物理或逻辑地址减少。类似地，临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重复记录几次以增加信息的牢固性。尤其是，图4B示出P次记录临时缺陷信息TDFL#0。在临时缺陷管理信息区中，临时缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、…被从区的结束顺序地记录。临时缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、…分别相应于临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…。
参照图4C，相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为信息对记录在TDMA中。更具体地说，临时管理信息TDMA#0、TDMA#1、…。被从TDMA的开始顺序地记录，从而临时管理信息的物理或逻辑地址增加。临时管理信息TDMA#0包含一对相应的临时缺陷管理信息TDDS#0和临时缺陷信息TDFL#0，并且临时管理信息TDMA#1包含一对相应的临时缺陷管理信息TDDS#1和临时缺陷信息TDFL#1。临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重复记录几次以增加信息的牢固性。尤其是，图4C示出P次记录临时缺陷信息TDFL#0。
参照图4D，与图4C的TDMA相比较，相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为信息对记录在TDMA中。然而，记录信息的顺序不同。更具体地说，在TDMA中，临时管理信息TDMA#0、TDMA#1、…从TDMA的结束开始而被顺序地记录，从而临时管理信息的物理或逻辑地址减少。临时管理信息TDMA#0包含一对相应的临时缺陷管理信息TDDS#0和临时缺陷信息TDFL#0，并且临时管理信息TDMA#1包含一对相应的临时缺陷管理信息TDDS#1和临时缺陷信息TDFL#1。类似地，临时缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重复记录几次以增加信息的牢固性。尤其是，图4D示出P次记录临时缺陷信息TDFL#0。
图5A和5B示出根据本发明实施例的其中未执行盘缺陷管理的TDMA的数据结构。参照图5A，当用户决定不执行盘缺陷管理时，临时缺陷管理信息以记录操作单位被记录到TDMA中。更具体地说，临时缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、…从TDMA的开始而被记录，从而临时缺陷管理信息的物理或逻辑地址增加。
参照图5B，当用户决定不执行盘缺陷管理时，临时缺陷管理信息以记录操作为单位被记录到TDMA中。然而，不同于图5A，从TDDS#0、TDDS#1、…开始的临时缺陷管理信息从TDMA的结束开始而被记录，从而临时缺陷管理信息的物理或逻辑地址减少。
图6A和6B示出临时缺陷管理信息TDDS#i的数据结构。详细地说，图6A示出记录在诸如图2A和2B中所示的单记录层盘100上的临时缺陷管理信息TDDS#i的数据结构。临时缺陷管理信息TDDS#i包含用于临时缺陷管理信息TDDS#i的标识符和关于与临时缺陷信息TDFL#i相应的位置的信息。如之前参照图4A至4D所解释，根据本发明一方面的临时缺陷信息TDFL#i被重复记录几次。因此，关于临时缺陷信息TDFL#i的位置的信息包括与临时缺陷信息TDFL#i相应的指针，并且每一指针相应于每一临时缺陷信息TDFL#i的记录位置。图5A中所示的临时缺陷管理信息TDDS#i包括相应于P次记录的临时缺陷信息TDFL#i的P个指针。
而且，记录在单记录层盘100上的临时缺陷管理信息TDDS#i描述最后记录在记录层L0的用户数据区中的用户数据的地址、和作为最后记录在记录层L0的备用区中的替换区的地址。因此，仅参照最后记录的用户数据区和替换区，用户可容易地利用盘100。
临时缺陷管理信息TDDS#i还包括测试位置信息#i和写保护信息#i。因此，即使盘驱动器不访问驱动器和盘信息区或不执行盘缺陷管理，也可在扫描其中测试记录条件的测试区时不检测可测试的区而直接访问可测试的区。而且，可避免在不期望的区中记录。
现在将更详细地描述将测试位置信息包括在临时缺陷管理信息中的原因。如上所述，临时管理信息包含临时缺陷管理信息和临时缺陷信息，并且还包含图中未示出的记录管理信息。根据一方面，记录管理信息是空位图(SBM)。SBM表示是否使用比特值基于记录块将数据记录在记录介质的区中。临时管理信息被记录在临时缺陷管理信息区(TDMA)中。
为了TDMA的有效使用，当需要更新一部分临时管理信息时，仅在TDMA中更新该部分。当临时缺陷信息需要被更新而SBM不需要被更新时，在TDMA的下一可用区中仅更新临时缺陷信息。在此情况下，最后记录的临时缺陷信息的记录位置改变。因此，临时缺陷管理信息需要被更新。类似地，当需要更新SBM而不需要更新临时缺陷信息时，在TDMA的下一可用区中仅更新SBM。在此情况下，由于最后记录的SBM的记录位置改变，所以也需要更新临时缺陷管理信息。
如上所述，由于临时缺陷管理信息必须规定关于更新的部分的位置信息，所以当仅更新一部分记录在TDMA中的临时管理信息时，临时缺陷管理信息也必须被更新。换句话说，当盘100被装入驱动系统中时，对驱动系统来说检测最后记录的临时管理信息是困难的。为了解决此问题，关于包含在临时管理信息中的各个信息的位置信息被包括在临时缺陷管理信息中，并且临时缺陷管理信息被记录在TDMA的末端。因此，通过从临时缺陷管理信息中读取关于最后记录的临时管理信息的位置信息，驱动系统可容易地检测最后记录的临时管理信息。在这方面，临时缺陷管理信息被顺序地记录在TDMA中。
驱动系统能够区分在临时缺陷管理信息中包含数据的区和不包含数据的区，并且检测最后记录的数据块。可通过从盘100读取射频(RF)信号来确定盘的区是否包含数据。因此，当测试位置信息包括在临时管理信息中时，最好将测试位置信息记录在临时缺陷管理信息中。
因为，当盘100被装入驱动系统时，驱动系统通过访问在TDMA中最后记录的数据块、从数据块检测临时缺陷管理信息、并从临时缺陷管理信息中检测最后记录的临时管理信息来读取最后记录在盘100上的临时管理信息，所以，测试位置信息被记录在临时缺陷管理信息中。驱动系统基于最后记录的临时缺陷管理信息来执行写/读操作。为此，测试位置信息被包含在盘驱动器必须首先检测其以便将数据记录在盘100上或从盘100上读取数据的最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i中，因此允许容易地立刻检测关于临时缺陷信息TDFL#i的位置信息和测试位置信息。
不考虑另一临时管理信息是否被更新，包括测试位置信息在临时缺陷管理信息TDDS#i中允许基于最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i的地址从TDMA中容易地检测到测试位置信息。如果测试位置信息被记录在除最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i以外的区中，则最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i还必须包括对于此用于测试位置信息的检测的区的指针。在此情况下，为了测试位置信息的检测，最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i被检测以获得对应于包含测试位置信息的区的指针，并且使用该指针来检测包含测试位置信息的区，因此导致开销。
图6B示出记录在诸如在图2C和2D中所示的盘的双记录层盘100上的临时缺陷管理信息TDDS#i的数据结构。临时缺陷管理信息TDDS#i包含用于临时缺陷管理信息TDDS#i的标识符、和关于相应的临时缺陷信息TDFL#i的记录位置的信息。如之前参照图4A至4D所述，根据本发明实施例的临时缺陷信息TDFL#i被重复记录几次。因此，关于临时缺陷信息TDFL#i的记录位置的信息包含相应于各个临时缺陷信息TDFL#i的记录位置的指针。尤其是，图5B中所示的临时缺陷管理信息TDDS#i包括P个指针，对于每一临时缺陷管理信息TDDS#i的每一指针被重复记录P次。
而且，在双记录层盘100上记录的临时缺陷管理信息TDDS#i描述最后记录在第一记录层L0的用户数据区中的用户数据的地址、最后记录在第一记录层L0的备用区中的替换的地址、最后记录在第二记录层L1的用户数据区中的用户数据的地址、和最后记录在第二记录层L1的备用区中的替换的地址。因此，仅通过参照最后记录的用户数据和替换，用户可容易地利用盘100。
与单记录层盘100类似，临时缺陷管理信息TDDS#i还包括测试位置信息#i和写保护信息#i。因此，即使盘驱动器不访问驱动器和盘信息区或不执行盘缺陷管理，也可在扫描其中记录条件被测试的测试区时不检测可测试的区而直接访问可测试的区。而且，可避免在不期望的区中记录。
图7示出临时缺陷信息TDFL#i的数据结构。参照图7，临时缺陷信息TDFL#i包含用于临时缺陷信息TDFL#i的标识符、和关于缺陷#1、#2、…、#k的信息。关于缺陷#1、#2、…、#k的信息是表示缺陷和替换的位置、和缺陷区是包括单一缺陷块还是包括连续缺陷块的状态信息。
图8A和8B示出根据本发明实施例的驱动器和盘信息区的数据结构。参照图8A，当临时缺陷信息TDFL#i和临时缺陷管理信息TDDS#i被分别记录在如图4A或4B所示的TDMA中时，写保护信息#i、对临时缺陷信息TDFL#i的位置的指针、和对临时缺陷管理信息TDDS#i的位置的指针被以记录操作单位记录在驱动器和盘信息区中。参照图8B，当临时缺陷信息TDFL#i和临时缺陷管理信息TDDS#i被记录以包括在如图4C或4D所示的TDMA中的临时管理信息区TDMA#i中时，写保护信息#i和对临时管理信息区TDMA#i的位置的指针被以记录操作单位记录在驱动器和盘信息区中。
根据本发明实施例，写保护信息(其记录在驱动器和盘信息区和临时缺陷管理信息TDDS#i中)不允许另外的数据记录在盘100上。写保护信息可包括表示在整个盘100上写保护启用或未启用的标志信息、和表示即使写保护启用还是可记录的区的信息。例如，写保护信息的第一比特被设置为表示写保护启用或未启用的标志信息，并且每一其它比特被设置以表示至少一个预定区是可记录的或不是可记录的。如果写保护启用，则写保护信息的第二比特可表示驱动器和盘信息区是可记录的或不是可记录的。另外，第二比特可表示驱动器和盘信息区是可记录的或不是可记录的，并且第三比特可表示DMA是可记录的或不是可记录的。第三和第四比特可表示DMA和备用区是可记录的或不是可记录的。
根据本发明的方面，当写保护信息被记录时，下面的区可能是可记录的。
在一个区中，即使写保护信息被记录在盘100上并且不能再记录另外的数据，在驱动器和盘信息区中也允许数据记录。换句话说，驱动器和盘信息区不被记录以启用写保护的写保护信息影响。因此，可改变写保护信息。
在另一个区中，即使写保护信息被记录以启用写保护，为写保护信息分配的一部分驱动器和盘信息区也不被写保护影响。换句话说，在一部分马驱动器和盘信息区中允许数据记录。因此，写保护信息可被改变。
在另一个区中，即使写保护信息被记录以启用写保护，临时缺陷管理区(TDMA)、驱动器和盘信息区、和备用区不被写保护影响(即，在这些区中允许数据记录)。因此，写保护信息可被改变。而且，即使在写保护信息的记录之后，也可执行盘缺陷管理。
如果当再现存储在用户数据区中的数据时用户数据区的数据块中的纠错率低于预定参考值，则可执行盘缺陷管理，从而数据块被看作产生错误的可能性更高的区，在数据的再现之前存储在数据块中的数据被写到备用区中，并且数据块被确定为缺陷区。
根据本发明的一方面，如果盘100包括超过一个区，则至少备用区的一个区被确定为可记录的区。
其中即使写保护信息被记录也允许数据记录的区不限于以上描述。即，如果需要，可调整区的数量和类型。
图9是详细地根据本发明实施例的在用户数据区A和备用区B中记录数据的参考图。数据可以扇区或簇为单位而被处理。一个扇区表示在计算机的文件系统中或在应用程序中可管理的数据的最小单位。一个簇表示一次可在盘上物理记录的数据的最小单位。通常，一个或多个扇区构成一个簇。
有两类扇区物理扇区和逻辑扇区。物理扇区是其中数据的扇区将被记录的盘上的区。用于检测物理扇区的地址被称作物理扇区号(PSN)。逻辑扇区是在文件系统中或在应用程序中可管理的数据的单位。用于检测逻辑扇区的地址被称作逻辑扇区号(LSN)。盘记录/读设备使用PSN检测盘上的数据的记录位置。在计算机或数据应用程序中，以LSN为单位管理整体数据，并且使用LSN来检测数据的位置。基于盘是否包含缺陷和记录数据的初始位置，由记录/读设备的控制器改变LSN和PSN之间的关系。
参照图9，A表示用户数据区，并且B表示其中PSN被顺序地分配到多个扇区(未示出)的备用区。通常，每一LSN与至少一个PSN相应。然而，由于LSN被分配给包括备用区中记录的替换的非缺陷区，所以当盘100具有缺陷区时PSN和LSN之间的对应不被保持。即使物理扇区的大小与逻辑扇区的大小相同，这也是真实的。
在用户数据区A中，用户数据被以连续记录模式或以随机记录模式记录。在连续记录模式中，用户数据被顺序地并且连续地记录。在随机记录模式中，用户数据被随机记录。在数据区A中，扇区1001至1007表示其中执行写后校验方法的数据的预定单元。记录和/或再现设备将用户数据记录在扇区1001中，返回扇区1001的开始，并且检查用户数据是否被正确记录或扇区1001中是否存在缺陷。如果在扇区1001中检测到缺陷，则该部分被指明为缺陷#1。记录在缺陷#1中的用户数据也被记录在一部分备用区B上。在此，在缺陷#1中记录数据的备用区B的该部分被称作替换#1。接下来，记录和/或再现设备将用户数据记录在扇区1002中，返回扇区1002的开始，并且检验数据是被正确地记录还是在扇区1002的一部分中存在缺陷。如果在扇区1002中检测到缺陷，则该部分被指定为缺陷#2。另外，在备用区B中形成与缺陷#2相应的替换#2。而且，在用户数据区A的扇区1003和备用区B中分别指明缺陷#3和替换#3。在扇区1004中，未出现缺陷，并且缺陷区未被指明。
在将数据记录到扇区1004并且校验数据之后(即，当用户按下记录和/或再现设备的弹出键，或完成在记录操作中分配的用户数据的记录时)，当期望结束记录操作#0时，记录和/或再现设备将关于在扇区1001至1004中出现的缺陷#1、#2和#3的信息作为临时缺陷信息TDFL#0记录在TDMA中。而且，用于管理临时缺陷信息TDFL#0的管理信息作为临时缺陷管理信息TDDS#0被记录在TDMA中。
当记录操作#1开始时，数据被记录在扇区1005至1007中，并且如在扇区1001至1004中所解释，分别在用户数据区A和备用区B中形成缺陷#4和#5以及替换#4和#5。在单一块中出现缺陷#1、#2、#3和#4，而缺陷#5在连续的缺陷块中出现。作为用于缺陷#5的替换的替换#5被记录在连续的替换块中。在此，块指的是物理的或逻辑的记录单元，单元块的范围未被限定。如果期望结束第二记录操作，则记录和/或再现设备记录关于缺陷#4和#5的信息作为临时缺陷信息TDFL#1，并且再次记录包含在缺陷信息DFL#1中的信息。其后，用于管理临时缺陷信息TDFL#1的管理信息作为临时缺陷管理信息#1被记录在TDMA中。
为了盘完成，最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被分别作为缺陷信息和缺陷管理信息记录在缺陷管理区(DMA)中。而且，关于最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的信息和上述写保护信息还被记录在TDMA中。
图10是示出根据本发明实施例的用户数据区的有效使用的图。图10显示用户数据区的可用部分可通过最后记录在用户数据区中的用户数据的地址和最后记录在备用区中的替换的地址而被容易地检测。尤其是，当用户数据分别被从用户数据区的内侧部分/外侧部分向其外侧部分/内侧部分记录，并且作为用于缺陷的替换的数据被从备用区的外侧部分/内侧部分向内侧部分/外侧部分记录时，该可用部分可被更容易地检测。换句话说，优选地以相反的记录方向记录用户数据和用于替换的数据。
当用户数据的物理地址从记录层L0的内侧部分向外侧部分增加，并且从记录层L1的外侧部分向内侧部分增加，最后记录在记录层L0和L1的用户数据区中的数据的物理地址具有最大号码。而且，当替换的物理地址被从记录层L0的备用区中的外侧部分向内侧部分降低并且从记录层L1的备用区中的内侧部分向外侧部分增加时，最后记录的替换具有最小号码的物理地址。因此，如果最后记录的数据和替换区的地址被包括在如图6A和6B中所示的临时缺陷管理信息TDDS#i中，则可检测将被重新记录的数据和替换的位置，而不用彻底读取临时缺陷信息TDFL#i并估计缺陷和替换的位置。而且，用户数据区和备用区的可用部分被连续设置，因此允许对用户区的有效使用。为此，即使在盘完成期间记录写保护信息之后也可记录或改变另外的数据，并且可更有效地执行盘缺陷管理。
图11A和图11B分别示出临时缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的数据结构。参照图11A，临时缺陷信息TDFL#0包含关于缺陷#1、#2和#3的信息。关于缺陷#1的信息表示其中存在由缺陷#1的区的位置和其中记录有替换#1的区的位置。根据本发明的一方面，关于缺陷#1的信息还可包括表示在连续的缺陷块中或在单一的缺陷块中出现缺陷#1的信息。同样地，关于缺陷#2的信息表示是否在连续的缺陷块中或在单一的缺陷块中出现缺陷#2、缺陷#2存在于其中的区的位置、和其中记录有替换#2的区的位置。关于缺陷#3的信息表示在连续的缺陷块中或在单一的缺陷块中出现缺陷#3、缺陷#3存在于其中的区的位置、和其中记录有替换#3的区的位置。
在所示实施例中，临时缺陷信息TDFL#1还包含处理包含在临时缺陷信息TDFL#0中的信息之外的关于缺陷#4和#5的信息。更具体地说，临时缺陷信息TDFL#1包括关于缺陷#1的信息、关于缺陷#2的信息、关于缺陷#3的信息、关于缺陷#4的信息、和关于缺陷#5的信息。然而，在本发明的全部方面中不需要这样累计的记录。
图12示出关于缺陷#i的信息的数据结构。参照图12，关于缺陷#i的信息包括表示在连续的缺陷块中或在单一的缺陷块中出现缺陷#i的状态信息、对缺陷#i的指针、和对替换#i的指针。当缺陷#i被确定出现在连续的缺陷块中时，状态信息还表示对缺陷#i的指针指向连续的缺陷块的开始或结束并且用于替换#i的指针指出替换缺陷#i的替换块的开始或结束。当状态信息表示用于缺陷#i的指针作为连续的缺陷块的开始并且用于替换#i的指针作为替换块的开始时，用于缺陷#i的指针表示连续的缺陷块的起始物理扇区号并且用于替换#i的指针表示替换#i的起始物理扇区号。与此相反，当状态信息表示用于缺陷#i的指针作为连续的缺陷块的结束并且用于替换#i的指针作为替换块的结束时，用于缺陷#i的指针表示连续的缺陷块的结束物理扇区号并且用于替换#i的指针表示替换#i的结束物理扇区号。即使关于缺陷的信息未被以块为单位记录，使用状态信息连续的缺陷块的限定也允许信息的有效记录并且节省记录空间。
用于缺陷#i的指针规定缺陷#i的起始和/或结束点。根据本发明的一方面，用于缺陷#i的指针可包括缺陷#i的起始PSN。用于替换#i的指针规定替换#i的起始和/或结束点。用于替换#i的指针还可包括替换#i的起始PSN。
下面，将参照图13A和13B中所示的流程图来描述根据本发明实施例的盘缺陷管理方法。参照图13A和13B，诸如图1中所示的记录和/或再现设备将关于根据第一记录操作记录的数据的缺陷信息作为第一临时缺陷管理信息记录在盘100的TDMA中(操作1301)。记录和/或再现设备的控制器1控制记录/读单元2将用于管理定义临时缺陷信息的管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在TDMA中(操作1302)。如上所述，根据本发明一方面，第一临时缺陷管理信息包括驱动器和盘信息(即，测试位置信息或写保护信息)。接下来，关于第一临时缺陷信息和第一临时缺陷管理信息的位置的信息被记录在驱动器和盘信息区中(操作1303)。其后，写保护信息也被记录在驱动器和盘信息区(操作1304)。
接下来，检查是否需要盘完成(操作1305)。如果在操作1305中确定不需要盘完成，则在将给到记录操作、临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的指数i增加1时重复操作1301至1304(操作1306)。然而，如果在操作1305中确定需要盘完成，则最后记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息被记录在DMA中(操作1307)。即，在DMA中，最后记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息被分别记录为最终缺陷管理信息和缺陷信息。该最终缺陷信息和缺陷管理信息可被重复记录以增加数据检测的可靠性。
而且，当在本发明的所有方面中不需要时，可对最终缺陷管理信息和缺陷信息执行写后校验方法。如果从最终缺陷管理信息中检测到缺陷，则具有缺陷的盘100的区和接下来的包含数据的区可被认为是不可用的(即，他们被指定为缺陷区)，并且最终临时缺陷管理信息和临时缺陷信息被再次记录在缺陷区之后。另外，根据本发明的另一方面，在驱动器和盘信息区中记录的或在最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i中包括的写保护信息还可被记录在DMA中。
图14A和14B显示根据本发明另一实施例的盘缺陷管理方法的流程图。参照图14A和14B，诸如图1中所示的记录和/或再现设备以数据单位将用户数据记录在盘的数据区中以方便写后校验方法(操作1401)。在操作1201中记录的数据被校验以检测具有缺陷的盘100的区(操作1402)。图1的控制器2指明具有缺陷的区作为缺陷区，控制记录/读单元1将在缺陷区中记录的数据重写到备用区中，从而生成替换区。控制器2还控制记录/读单元1生成规定缺陷区是包括单一缺陷块还是连续缺陷块的状态信息、和指出缺陷区和替换区的位置的指针信息(操作1403)。状态信息和指针信息作为第一临时缺陷信息被存储在存储器中(操作1404)。检查是否期望第一记录操作结束(操作1405)。
如果在操作1405中确定不期望第一记录操作结束，则操作1401至1404重复。如果在操作1405中确定期望第一记录操作结束(即，当由用户输入或根据单一记录操作来完成用户数据的记录时)，则存储的临时缺陷信息被读取并且作为第一临时缺陷信息TDFL#0几次记录在TDMA中重复(操作1406)。接下来，用于管理第一临时缺陷信息TDFL#0的管理信息在TDMA中被记录为第一临时缺陷管理信息TDDS#0(操作1407)。该第一临时缺陷管理信息TDDS#0还包括测试位置信息和写保护信息。其后，对于第一临时缺陷信息TDFL#0的位置的指针、对于第一临时缺陷管理信息TDDS#0的位置的指针、和写保护信息被记录在盘100的驱动器和盘信息区中(操作1408和1409)。
另外，除临时缺陷信息TDFL#i和临时缺陷管理信息TDDS#i之外，用于临时管理信息TDMA#i的指针可在操作1408中记录。
接下来，检查是否需要完成数据(操作1410)。如果在操作1410中确定不需要完成盘100，则重复操作1401至1409。每当重复操作1401至1409时，给到每一记录操作、临时缺陷信息TDFL和临时缺陷管理信息TDDS的指数i增加1(操作1411)。如果在操作1410中确定需要完成盘100时，最后记录的临时缺陷信息TDFL#i和最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i作为最终缺陷信息DFL和最终缺陷管理信息DDS记录在DMA中被(操作1412)。最终缺陷信息DFL和最终缺陷管理信息DDS可被记录几次以增加数据检测的可靠性。类似地，可对最终记录的缺陷信息和缺陷管理信息执行写后校验方法。如果在此信息中检测到缺陷，则具有缺陷的100的区和接着的包含数据的区可被认为是不可用的(即，该区总体被指明为缺陷区)，并且最终临时缺陷管理信息和临时缺陷信息可被再次记录在缺陷区之后。另外，存储在驱动器和盘信息区中或包括在最后记录的临时缺陷管理信息TDDS#i中的写保护信息还可被记录在DMA中。尽管如描述增加1时，应该理解，图13A至14B中所示的方法中的指数可基于其它号而被替代。
上述缺陷管理可被实施为可由可为通用或专用计算机的计算机运行的计算机程序。因此，应该理解，控制器2可为这种计算机。构成计算机程序的代码和代码片断可由本领域中的计算机程序容易地得出。该程序存储在计算机可读的计算机可读介质中。当由计算机读取并运行该程序时，执行缺陷管理。在此，计算机可读介质可为磁记录介质、光学记录介质、载波、固件或其它可记录介质。
在再现期间，记录和/或再现设备利用在缺陷管理区和/或临时缺陷管理区中的缺陷信息和缺陷管理信息，以便访问记录的用户数据。尽管根据如图1中所示的记录和/或再现设备描述，但应该理解，该设备可为单独的记录或再现设备或记录和再现设备。
尽管根据使用一次写入盘描述，应该理解，本发明可使用包括可重写记录介质的其它可写的盘。
如上所述，本发明的一方面提供一种适于使用一次写入盘的盘缺陷管理方法。根据本发明的一方面，在盘的导入区或导出区中至少存在一个临时缺陷信息区，从而关于在盘中存在的缺陷的信息可被累计地记录。而且，通过仅从临时缺陷信息区读取最后记录的临时缺陷信息并且将读取的信息记录在缺陷管理区来完成盘是容易的，因此允许有效使用DMA。因此，当执行盘缺陷管理时，用户数据可被记录在盘上(即使在一次写入盘上)，因此，允许在不中断的情况下执行备份操作。而且，即使在将写保护信息记录在盘上之后，也可改变写保护信息或执行盘缺陷管理。而且，即使盘驱动器不访问驱动器和盘信息区并且未获得测试位置信息或写保护信息，临时缺陷管理信息还包括测试位置信息和写保护信息。因此，可直接访问测试区并防止数据被记录在不正确区中。另外，即使用户不期望执行盘缺陷管理，也可通过将测试位置信息和写保护信息记录为临时缺陷管理信息来增加系统的可靠性。
尽管本发明被特别示出并且参照其实施例进行描述，但是本领域技术人员应该理解，在不脱离由所附权利要求及其等同物所限定的本发明的精神和范围的情况下，可在其中进行形式上的或细节的各种改变。
权利要求
1.一种管理记录介质的缺陷的方法，所述方法包括将关于根据第i记录操作的所述记录介质的数据区中的缺陷的信息作为第i临时缺陷信息至少一次记录在记录介质的临时缺陷管理区中，其中i是指数；和将用于管理第i临时缺陷信息的信息作为第i临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中，其中，所述第i临时缺陷管理信息被记录以包括数据区中的用户数据的最后记录的单元的地址。
2.如权利要求1所述的方法，还包括将关于第i临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在所述记录介质的驱动器和盘信息区中。
3.如权利要求1所述的方法，其中，在记录第i临时缺陷管理信息期间，该第i临时缺陷管理信息被记录以还包括所述记录介质的测试区的位置信息和/或所述记录介质的写保护信息。
4.如权利要求2所述的方法，还包括在增加给予记录操作、临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的指数时，至少一次重复记录第i临时缺陷信息、记录第i临时缺陷管理信息和记录关于所述位置的信息。
5.如权利要求1所述的方法，其中，用户数据的最后记录的单元的地址包括与用户数据一起记录的数据区中的最后的物理扇区的物理扇区号。
6.如权利要求1所述的方法，其中，所述记录介质是一次写入盘。
7.如权利要求1所述的方法，还包括为了所述记录介质的完成，将最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息中最后记录的信息记录在所述记录介质的缺陷管理区中。
8.如权利要求1所述的方法，其中，所述第i临时缺陷管理信息被记录以还包括记录在所述记录介质的备用区中以替换所述记录介质的缺陷区的替换数据的最后记录的单元的地址。
9.如权利要求1所述的方法，其中，所述第i临时缺陷管理信息被记录以还包括接下来将被记录的所述记录介质的备用区中的替换区的位置信息。
10.如权利要求9所述的方法，其中，所述替换区的位置信息包括在所述备用区中接下来可用的备用簇的物理扇区号。
11.如权利要求1所述的方法，其中，所述记录第i临时缺陷信息包括以预定单位记录数据；校验记录的数据以检测其中存在有缺陷的记录介质的缺陷区；将指出缺陷区的信息和指出用于缺陷区的替换区的信息作为第一临时缺陷信息存储在存储器中；和读取存储在存储器中的信息并将读取的信息作为第i临时缺陷信息至少一次记录在临时缺陷管理区中。
12.一种管理记录介质的缺陷的方法，所述方法包括将关于所述记录介质的数据区中的缺陷的信息作为临时缺陷信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中；和将用于管理临时缺陷信息的信息作为临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中，其中，所述临时缺陷管理信息被记录以包括所述记录介质的测试区的位置信息。
13.一种管理记录介质的缺陷的方法，所述方法包括将关于所述记录介质的数据区中的缺陷的信息作为临时缺陷信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中；和将用于管理临时缺陷信息的信息作为临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中，其中，所述临时缺陷管理信息被记录以包括所述记录介质的写保护信息。
全文摘要
一种一次写入盘，包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区；存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中，并且为了盘完成，最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中。
文档编号G11B20/18GK1873816SQ20061009228
公开日2006年12月6日 申请日期2004年2月27日 优先权日2003年3月3日
发明者李坰根, 高祯完, 黄盛凞 申请人:三星电子株式会社