专利名称：伺服信号的参数校正方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明提供一种校正伺服信号的方法及装置，尤指一种用来校正一光驱的伺服信号的参数的方法及其装置。
背景技术：
光学储存媒体(例如一DVD光盘)为目前非常普遍的储存媒体。请参阅图1，图1为现有技术光驱100的功能方块示意图。光驱100(例如一DVD光驱)具有一读写单元110，用来读取光盘101上面的数据，或是将数据烧录在光盘101上。读写单元110包含有一激光二极管112，用来发射一具有特定功率的激光束于光盘101的一轨道上；以及一光传感器114，用来检测由光盘101反射的激光束以产生多个检测信号A、B、C以及D。如现有技术领域的工作人员所知，光传感器114通常具有四个感测区115a、115b、115c以及115d，这四个感测区分别用来输出检测信号A、B、C以及D。伺服信号发生器140当作一信号合成器，用于合成检测信号A、B、C及D以产生所需的伺服信号。伺服信号包含有许多种类，举例来说，循轨误差(tracking error)信号TE代表在光盘101上的目标轨道与激光的位置偏移程度。另外一种信号称为聚焦误差(focus Error)信号FE，聚焦误差信号代表在光盘101上的目标轨道与激光的聚焦偏移程度。
伺服控制器160送出一循轨伺服输出信号TRO及一聚焦伺服输出信号FOO至致动器170，致动器170则依据所接收到的控制信号平行或垂直地移动读写单元110，以达到将循轨误差以及聚焦误差减至最小的目的。由于光盘101在光驱100中是以极高速的情况下进行操作，因此光盘在操作过程中对于温度因素及或是外力的影响非常地敏感。另一方面，由于光盘101为一种独立安装的储存装置，其旋转中心可能与预设的旋转中心不一致，使得光盘101在于不稳定的状态下运作，进而导致上述的循轨误差以及聚焦误差发生。进一步来说，图1中的光盘101用来储存高密度的数据。而在高密度数据的储存环境下，数据轨道的宽度以及数据轨道之间的距离都被缩小。因此，任何脱轨于数据轨道的激光光将会导致数据的错误存取(包含读取与烧录)。换句话说，如何让读写单元110正确地将激光束锁定在光盘101上的轨道以准确以及快速的存取数据为一重要的课题。
然而，在光盘101上不同数据层的差异会导致伺服控制上的困难。光盘的基材厚度常因不同种类的光盘而有所不同，而单一光盘101上的基材厚度也常因不同层而有差异。因此，由于光盘101上各层的特性差异，伺服信号很难被最佳化。此外，由于制程限制并无法保证光盘都依据最佳的规格所制造，例如在光盘101的同一层中，一内部轨道的特性也可能不同于同一层的外部轨道，因此也使得伺服信号的校正更加地困难。
如上所述，读写单元110为存取光盘101的主要零件。以双层DVD光盘片的数据烧录为例，光驱100需要有一复合读写单元110，复合读写单元110利用功率增加来移动激光束的光学路径。请同时参阅图2及图3，图2为图1中所示的光传感器114上的功率分布示意图。而图3为图1中所示的光传感器114上激光束偏移示意图。若图1中所示的激光二极管增加激光功率时，反射激光束的功率也随之增加，如此便导致光学路径偏移的情况发生。如图2所示，当激光功率增加时，功率分布曲线的中心从C被移动至C’，此动作导致图3中所示的激光光点116在光传感器114上向左边移动，而此激光光点的移动会对循轨伺服控制造成巨大的影响，进而危及光驱进行数据存取的品质。
现有技术光驱100无法补偿以上所述的降低伺服控制准确度的缺点，因此如何提供一种可补偿上述缺点以改进光驱的效能则成为在制造光驱时最重要的议题之一。
发明内容
因此本发明的目的之一在于提供光驱的伺服校正的方法，以解决以上所陈述的问题。
根据本发明的申请专利范围，揭露一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，该方法包含有(a)调整所述参数；(b)依据由一光传感器的一侧所输出的多个检测信号以产生一第一信号；(c)依据由一光传感器的另一侧所输出的多个检测信号以产生一第二信号；(d)依据所述第一、第二信号产生一系数值；以及(e)若满足该系数值的一标准，则将对应于该系数值的所述参数作为所述伺服信号的一最佳参数。
根据本发明的申请专利范围，另揭露一种用来决定一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有停止一循轨控制；当所述循轨控制被停止时，量测所述伺服信号；以及依据所述测量后的伺服信号来决定所述参数。
根据本发明的申请专利范围，另揭露一种用来决定一光驱的一伺服信号的一参数的方法，该方法包含有(a)调整所述参数；(b)从一光盘中读取一数据；(c)依据该数据产生一系数值；以及(d)若满足该系数值的一标准，则将对应于该系数值的所述参数作为所述伺服信号的一最佳参数。
根据本发明的申请专利范围，另揭露一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有(a)当所述光驱存取所述光盘的一第一层时，校正所述伺服信号的一第一参数；以及(b)当该光驱存取所述光盘的一第二层时，校正所述伺服信号的一第二参数。
根据本发明的申请专利范围，另揭露一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，该方法包含有当所述光驱存取所述光盘上一层的一第一轨道时，校正所述伺服信号的一第一参数；以及当该光驱存取所述光盘的一层的一第二轨道时，校正所述伺服信号的一第二参数。
本发明不仅可用来校正多层光盘的伺服参数(例如参数值Kb、聚焦误差偏移值、循轨误差偏移值以及伺服控制的回路增益等等)，也可校正在同一层多个位置的伺服参数。换句话说，当烧录使用者数据至一特定层的特定轨道时，正确地伺服参数可用来补偿伺服控制机制中由于光盘上晶粒的不规则分布，或是由于功率增加导致的光学路径脱轨所造成的影响。总而言之，本发明的光驱以及相关的伺服参数校正方法可大幅地提高烧录品质及统整体的烧录效能。
图1为现有技术光驱的功能方块示意图。
图2为图1中所示的光传感器上的功率分布示意图。
图3为图1中所示的光传感器上激光束偏移示意图。
图4为本发明第一实施例的光驱的功能方块图。
图5为图4所示的校正电路应用平衡系数BI的示意图。
图6为图4所示的光驱校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的操作流程图。
图7为本发明第二实施例的光驱的功能方块图。
图8为图7所示的光驱校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的操作流程图。
图9为本发明第三实施例的光驱的功能方块图。
图10为本发明第四实施例的光驱的功能方块图。
图11为图10所示的光驱校正循轨误差偏移值TE offset的操作流程图。
图12为本发明第五实施例的光驱的功能方块图。
图13为图12所示的光驱校正循轨误差偏移值TE offset的操作流程图。
图14为本发明第六实施例的光驱的功能方块图。
图15为本发明第五实施例的光驱的功能方块图。
图16为图15所示的光驱在离线环境下校正循轨误差偏移值TE offset的操作流程图。
100、400、700、900、1000、1200、1400、1500光驱；101、401光盘；110、410读写头；112、412激光二极管；114、414光传感器；140、440伺服信号发生器；160、460伺服控制器；170、470致动器；480信号发生器；482、484合成单元；486、488增益控制单元；490、720、920、1020、1230、1420校正电路；710摆动电路；910译码器；1010、1220抖动量测电路；1210EFM信号发生器；1410EFM译码器；1510量测电路。
具体实施例方式
请参阅图4，图4为本发明第一实施例的光驱400(例如一DVD光驱)的功能方块图。由于图1所示的装置与图4所示的装置中的同名组件具有相同的功能与操作，因此于此不再重复赘述。
在本实施例中，为了补偿聚焦误差信号FE，系统利用一聚焦误差偏移值(FE offset)来进行调整伺服控制的操作。举例来说，伺服信号发生器440可依据以下方程式，利用合成检测信号A、B、C以及D来产生聚焦误差信号FEFE＝(A+C)-Kb*(B+D)+FE offset 公式(一)请注意，公式(一)中的Kb值为一种用来调整检测信号A及C总和以及检测信号B及D总和的比例的参数值。为了将聚焦控制最佳化，参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset必须经过适当地调整校正才行。因此光驱400包含有一信号发生器480及一校正电路490用来调整参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。换句话说，伺服信号发生器440依据由校正电路490所输出的一校正设定值IV来调整这个参数组合(包含有参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset)，然后伺服信号发生器440便依据更新后的参数组合(包含有参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset)来产生聚焦误差信号。
如图4所示，信号发生器480可利用一摆动(wobble)信号重制电路来加以实施。此摆动信号重制电路被用来传输在光盘上前置沟槽(pre-grooved)中摆动(wobble)所对应的电子信号。信号发生器480包含两个合成单元482、484以及两个增益控制(auto gain control，AGC)单元486、488。合成单元482用来加总检测信号B以及检测信号C并输出一加总信号BCO，然后，增益控制单元486则施加一特定增益于加总信号BCO以产生一输出信号AGC_O。同样地，合成单元484用来加总检测信号A及检测信号D并输出一加总信号ADO，然后，增益控制单元488则施加一特定增益于加总信号ADO以产生一输出信号AGC_I。请注意，在本实施例中，信号发生器480为摆动信号重制电路的一部分，本发明的实施例因此减少了用来校正聚焦误差偏移值(FE offset)以及其参数Kb的硬件成本。
在本实施例中，校正电路490启用一校正程序来调整伺服信号发生器440所采用的参数组合(包含有参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset)。在校正的过程中，校正电路490为每个参数组合计算出一平衡系数(balanceindex)。请参阅图5，图5为图4所示的校正电路490应用平衡系数BI的示意图。在接收到输出信号AGC_O及AGC_I之后，校正电路490首先判定输出信号AGC_O及AGC_I的直流准位(DC level)DC1以及DC2，然后再依据直流准位DC1及DC2的差异决定一平衡系数BI。在本实施例中，一个较小的平衡系数BI代表一个较佳化的参数组合，因此，在此规则下，参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的相关校正操作详细描述如下请参阅图6，图6为图4所示的光驱400校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的操作流程图。所述校正方法包含以下步骤步骤600开始；步骤602伺服控制器460激活闭回路(closed-loop)聚焦控制来减少聚焦误差；步骤604校正电路490输出一校正设定值IV至伺服信号发生器440；步骤606伺服信号发生器440依据所接收到的校正设定值IV来校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset；步骤608校正电路490量测一对应于目前校正设定值IV的平衡系数BI；步骤610是否满足停止标准(stop criterion)？若是，则执行步骤614；否则，执行步骤612；步骤612校正电路490更新校正设定值IV，接着，执行步骤604；步骤614校正电路490从量测后的平衡系数中寻找出最小的平衡系数BI；步骤616校正电路490储存相对于最小平衡系数BI的校正设定值IV；步骤618结束。
在本实施例中，步骤610的停止标准(stop criterion)为判断所量测过的平衡系数是否达到一默认值。然而，本发明并不限制停止标准设定的条件。在其它实施例中，该停止标准也可以依据不同的设计需求来加以设定。如上所述，本实施例中经由输出信号AGC_O及AGC_I传输至校正电路490来量测平衡系数，然而，如现有技术领域的工作人员所知，增益控制单元486、488仅仅调整加总信号BCO及ADO的振幅，而加总信号BCO及ADO的直流准位在本质上与输出信号AGC_O及AGC_I相同。因此，校正电路490在计算平衡系数时，也可使用加总信号BCO及ADO来代替输出信号AGC_O及AGC_I来达成获得平衡系数的相同目标。
请注意，图6中所示的流程并未限定于校正单层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。举例来说，假设光盘401为一多层DVD光盘，并应用于本发明的相同的校正程序，则校正电路490可分别的计算每层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset，例如可在第一层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset依图6中所示的步骤校正后，再依序选取第二层并依据同一步骤来校正第二层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。进一步来说，本发明并未限制图6中所示的流程应用于校正同一层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的次数，即，校正电路490可利用相同的校正程序于同一层当中不同的位置个别进行校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的动作。举例来说，在同一层当中的第一位置(例如一内部轨道)的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset依图6中所示的步骤校正后，可再选取在同一层中的一第二位置(例如一外部轨道)并依据同一步骤来校正第二位置中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。
请参阅图7，图7为本发明第二实施例的光驱700(例如一DVD光驱)的功能方块图。由于第一、第二实施例中的同名组件具有相同的功能与操作，因此于此不再重复赘述。在本发明第一实施例光驱400以及第二实施例光驱700中，最主要的差异在于校正电路720依据摆动电路710所产生的摆动信号WOBBLE来决定平衡系数，而非如前所述的利用输出信号AGC_O及AGC_I的间的直流准位差异来决定平衡系数。在本实施例中，一个较大的平衡系数代表一个较佳化的参数组合，因此，在此规则下，参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的相关校正操作详细描述如下
请参阅图8，图8为图7所示的光驱700校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的操作流程图。该校正方法包含以下步骤步骤800开始；步骤802伺服控制器460激活闭回路(closed-loop)聚焦控制来减少聚焦误差；步骤804校正电路720输出一校正设定值IV至伺服信号发生器440；步骤806伺服信号发生器440依据所接收到的校正设定值IV来校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset；步骤808校正电路720量测一对应于目前校正设定值IV的平衡系数BI；步骤810是否满足停止标准(stop criterion)？若是，则执行步骤814；否则，执行步骤812；步骤812校正电路720更新校正设定值IV，接着，执行步骤804；步骤814校正电路720从量测后的平衡系数中寻找出最大的平衡系数BI；步骤816校正电路720储存相对于最大平衡系数BI的校正设定值IV；步骤818结束。
在本实施例中，步骤810的停止标准(stop criterion)为判断所量测过的平衡系数是否达到一默认值。然而，本发明并不限制停止标准设定的条件。在其它实施例中，所述停止标准也可以依据不同的设计需求来加以设定。另一方面，图8中所示的流程并未限定于校正单层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。举例来说，假设光盘401为一多层DVD光盘，并应用于本发明的相同的校正程序，则校正电路720可分别的计算每层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset，例如可在第一层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset依图8中所示的步骤校正后，再依序选取第二层并依据同一步骤来校正第二层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。进一步来说，本发明并未限制图8中所示的流程应用于校正同一层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的次数，即，校正电路720可利用相同的校正程序于同一层当中不同的位置个别进行校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FEoffset的动作。举例来说，在同一层当中的第一位置(例如一内部轨道)的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset依图8中所示的步骤校正后，可再选取在同一层中的一第二位置(例如一外部轨道)并依据同一步骤来校正第二位置中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。
请参阅图9，图9为本发明第三实施例的光驱900(例如一DVD光驱)的功能方块图。而第一、第二及第三实施例中的同名组件具有相同的功能及操作，因此于此不再重复赘述。而在本发明第一及第三实施例中最主要的差异在于校正电路920依据译码器910所提供的信息来决定平衡系数，而非如前所述的利用输出信号AGC_O及AGC_I的直流准位差异来决定平衡系数。换句话说，校正电路920依据译码器910译码摆动信号WOBBLE所得到的错误率(error rate)来决定一对应于伺服信号发生器所采用的一特定参数组合(包含有参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset)的平衡系数BI。在本实施例中，一个较小的平衡系数BI代表一个较佳化的参数组合，依据此规则，参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的相关校正操作相同于图6所示的流程，其利用搜寻量测后的一最小平衡系数BI来找出参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的最佳设定。
同样地，在本实施例中利用摆动信号的错误率来决定平衡系数BI的的流程并未限定于校正单层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。举例来说，假设光盘401为一多层DVD光盘，并应用于本发明的相同的校正程序，则校正电路920可分别的计算每层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FEoffset，例如可在第一层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset依上述的步骤校正后，再依序选取第二层并依据同一步骤来校正第二层中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。进一步来说，本发明并未限制本实施例的流程应用于校正同一层的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的次数，即，校正电路920可利用相同的校正程序于同一层当中不同的位置个别进行校正参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset的动作。举例来说，在同一层当中的第一位置(例如一内部轨道)的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FEoffset依上述所示的步骤校正后，可再选取在同一层中的一第二位置(例如一外部轨道)并依据同一步骤来校正第二位置中的参数值Kb以及聚焦误差偏移值FE offset。
另一方面，本发明也可利用新的校正架构来校正循轨误差信号TE的参数。请参阅图10，图10为本发明第四实施例的光驱1000(例如一DVD光驱)的功能方块图。第二及第四实施例中的同名组件具有相同的功能及操作，因此在此不再多作赘述。相较于图7中所示的电路结构，图10中所示的光驱1000另包含有一抖动量测电路(jitter meter)1010，用来量测由摆动电路710输出的摆动信号的抖动值(jitter)。在本实施例中，伺服信号发生器440利用一循轨误差偏移值TE offset来对循轨误差信号TE进行补偿。为了达到循轨控制最佳化的目的，循轨误差偏移值TE offset需被适当且正确的校正。因此，在本实施例中校正电路1020利用抖动测量电路1010来调整伺服信号发生器440中的循轨误差偏移值TE offset。
在校正的过程中，校正电路1020依据校正设定值IV计算出每一个循轨误差偏移值TE offset的调整系数(tuning index)TI。如图10所示，校正电路1020利用抖动测量电路1010所提供的抖动信息来决定调整系数TI。当调整系数越小，即表示循轨误差偏移值TE offset逐渐趋近于其最佳值。依据此规则，循轨误差信号TE的参数(如循轨误差偏移值TE offset)的相关校正操作详细描述于下请参阅图11，图11为图10所示的光驱1000校正循轨误差偏移值TEoffset的操作流程图。所述校正方法包含以下步骤步骤1100开始；
步骤1102指定一初始值至循轨误差偏移值TE offset；步骤1104开始烧录使用者数据；步骤1106增加循轨误差偏移值TE offset；步骤1108调整系数TI是否减少？若是，则执行步骤1110；否则，执行1114；步骤1110增加循轨误差偏移值TE offset；步骤1112调整系数TI是否增加？若是，则执行步骤1118；否则，执行1110；步骤1114减少循轨误差偏移值TE offset；步骤1116调整系数TI是否增加？若是，则执行步骤1118；否则，执行1114；步骤1118结束。
上述的流程利用寻找出最小的调整系数TI来决定在数据烧录过程中的最佳的循轨误差偏移值TE offset。举例来说，如果在步骤1108中发现调整系数TI减少而循轨误差偏移值TE offset增加时，表示目前的循轨误差偏移值TE offset应该要向上调整，因此，校正电路1020便会持续输出校正设定值IV至伺服信号发生器440来逐步地增加循轨误差偏移值TE offset，并使得调整系数TI逐步地的减少(步骤1110以及1112)。当调整系数TI不再减少并开始增加时，此时的循轨误差偏移值TE offset即为所需的最佳循轨误差偏移值TE offset。相反地，若步骤1108发现调整系数TI增加而循轨误差偏移值TE offset也随的增加，表示目前的循轨误差偏移值TE offset应所述要向下调整，因此，校正电路1020便会持续输出校正设定值IV至伺服信号发生器440来逐步地减少循轨误差偏移值TE offset，并使得调整系数TI逐步地减少(步骤1114及1116)。当调整系数不再减少并开始增加时，此时的循轨误差偏移值TE offset即为所需的最佳循轨误差偏移值TE offset。
简而言之，在本实施例中，循轨误差偏移值TE offset的校正流程首先判断如何调整循轨误差偏移值TE offset来使得所述调整系数TI变小。如上所提，最佳循轨误差偏移值TE offset相对应于最小的调整系数TI。因此，如果在进行循轨误差偏移值TE offset的校正流程中，发现调整系数TI在循轨误差偏移值TE offset增加时减少，或者调整系数TI在循轨误差偏移值TEoffset减少时增加，则可由观察调整系数TI来进一步判定最佳循轨误差偏移值TE offset。请注意，图11中所示的流程也可依据以上的规则来加以更改以达到寻找出最佳循轨误差偏移值TE offset的目的。举例来说，步骤1106可改为减少循轨误差偏移值TE offset，而步骤1108也可改为检查调整系数TI是否增加。
如上所述，图10中所示的校正电路1020利用摆动信号的抖动值来设置调整系数TI。然而，其它种类的信息也可以用来设定调整系数TI。如图9所示，译码器910在译码摆动信号WOBBLE时也可提供错误率(error rate)信息。在10图所示的光驱1000的其它实施例中，也可应用图9所示的电路结构来加以实施。因此，校正电路即可利用摆动信号WOBBLE的错误率信息来决定所需的调整系数TI而同样地达成寻找最佳循轨误差偏移值TEoffset的目的。
此外，本发明也可利用新的校正架构来校正循轨误差信号TE的参数。请参阅图12，图12为本发明第五实施例的光驱1200(例如一DVD光驱)的功能方块图。在本实施例中，光驱1200包含一八至十四调变(Eight-to-Fourteen Modulation，EFM)信号发生器1210，用来接收检测信号A、B、C以及D以产生一EFM数据。抖动测量电路(jitter meter)1220耦接于EFM信号发生器1210以及校正电路1230间，用来测量所述EFM数据的抖动值并提供抖动信息至校正电路1230。在本实施例中，伺服信号发生器440利用一循轨误差偏移值TE offset来对循轨误差信号TE进行补偿。为了达到循轨控制最佳化的目的，循轨误差偏移值TE offset需被适当且正确的校正。因此，在本实施例中校正电路1230利用抖动测量电路1220来调整伺服信号发生器440中的循轨误差偏移值TE offset。
在校正的过程中，校正电路1230依据校正设定值IV计算出每一个循轨误差偏移值TE offset的调整系数(tuning index)TI。校正电路1230利用抖动测量电路1010所提供的抖动信息来决定调整系数TI。当调整系数越小，即表示循轨误差偏移值TE offset逐渐趋近于其最佳值。依据此规则，循轨误差信号TE的参数(如循轨误差偏移值TE offset)的相关校正操作详细描述于下请参阅图13，图13为图12所示的光驱1200校正循轨误差偏移值TEoffset的操作流程图。所述校正方法包含以下步骤步骤1300开始；步骤1302指定一初始值至循轨误差偏移值TE offset；步骤1304增加循轨误差偏移值TE offset；步骤1306开始烧录使用者数据；步骤1308停止烧录使用者数据，然后读取已烧录的数据；步骤1310依据由光盘401所读取的已烧录的数据来决定调整系数TI；步骤1312调整系数TI是否减少？若是，则执行步骤1314；否则，执行1322；步骤1314增加循轨误差偏移值TE offset；步骤1316继续烧录使用者数据；步骤1318停止烧录使用者数据，然后读取已烧录的数据；步骤1320调整系数TI是否增加？若是，则执行步骤1330；否则，执行1314；步骤1322减少循轨误差偏移值TE offset；步骤1324继续烧录使用者数据；步骤1326停止烧录使用者数据，然后读取已烧录的数据；步骤1328调整系数TI是否增加？若是，则执行步骤1330；否则，执行1314；步骤1330结束。
由于图13中所示的流程与图11中所示的流程大致相同，因此于此不重复赘述。如上所述，校正电路1230利用EFM信号的抖动值来决定调整系数TI。然而，其它种类的信息也可用来决定调整系数TI。图14为本发明第六实施例的光驱1400(例如一DVD光驱)的功能方块图。请注意，由于第五实施例与第六实施例所示的同名组件具有相同的功能与操作，因此不再重复赘述。第五及第六实施例中最主要的不同点在于校正电路1420依据EFM译码器1410所提供的信息来决定调整系数TI，而非如前所述的利用EFM信号的抖动值来决定调整系数TI，即校正电路1420依据EFM译码器1410所译码EFM数据的错误率(error rate)来决定调整系数TI。在本实施例中，当调整系数越小，即表示循轨误差偏移值TE offset逐渐趋近于其最佳值。依据图13所示的流程，校正电路即可利用译码错误率的错误率信息来决定所需的调整系数TI而同样地达成寻找最佳循轨误差偏移值TE offset的目的。
请注意，在图11以及图13中所示的流程中都在数据开始烧录后对循轨误差偏移值TE offset进行实时(real time)校正，而其中最主要的差异在于调整系数TI的产生方式不同。在图11中所示的流程中，调整系数TI依据在写入模式下所产生的信号所决定的。因此，数据烧录的动作在计算调整系数的过程中并不会被中断，但是，由于调整系数TI利用摆动信号的信息计算而得的，即需花费较多地时间来收集所需摆动信号的信息以决定调整系数TI。至于图13所示的流程中，调整系数TI依据由读取模式下所产生的信号所决定的。因此，数据烧录的动作在计算调整系数的过程中即会被中断，但是，所述调整系数TI利用EFM信号的信息计算而得的，即所需的EFM数据可以被快速且大量的收集起来以决定调整系数TI。因此，如上所述，在图11中所示的流程较适合在CAV录制环境下校正循轨误差偏移值TE offset，而在图13中所示的流程则适合在ZoneCLV录制环境下校正循轨误差偏移值TE offset。
请参阅图15，图15为本发明第五实施例的光驱1500(例如一DVD光驱)的功能方块图。在本实施例中，光驱1500可在离线状态(off-line)下校正循轨误差偏移值TE offset，即在开始烧录数据时并未激活循轨伺服控制。在此情况下，循轨误差偏移值TE offset可在写入模式下直接被量测出来。在本实施例中，量测电路1510用来在烧录过程中量测循轨误差偏移值TE offset，并且自动将其结果储存至光驱中。在经过此离线校正后，光驱即可直接地补偿伺服信号发生器440所储存的结果。而第一及第七实施例中的同名组件具有相同的功能及操作，因此于此不再多作赘述。相较于图7中所示的电路结构，图15中所示的光驱1500还包含有一量测电路1510耦接于伺服信号发生器440，用来量测由伺服信号发生器440所产生的循轨误差信号TE以产生循轨误差偏移值TE offset。比较图7所示的光驱700以及图15中所示的光驱1500可知，图7所示的光驱700在线上(on-line)环境下检查摆动信号，因此本结构可应用于正常录制以及读取的环境下。但是在图15所示的流程为一离线(off-line)校正流程，则本流程可应用在无法在产品线校正中进行读取跟烧录的驱动器中。因此，本发明中的离线以及线上校正流程即可被视为彼此相辅相成而互相可应用在不同的操作环境下。
请参阅图16，图16为图15所示的光驱1500在离线环境下校正循轨误差偏移值TE offset的操作流程图。所述校正方法包含以下步骤步骤1600开始；步骤1602光驱1500开始烧录测试数据至光盘401中；步骤1604伺服控制器460停止循轨控制；步骤1606量测电路1510量测循轨误差信号TE以决定循轨误差偏移值TE offset；步骤1608伺服控制器460激活循轨控制；步骤1610光驱1500停止烧录测试数据至光盘401中；
步骤1612结束。
如现有技术领域的工作人员所知，循轨控制为一闭回路控制，因此闭回路中的回授(feedback)会使得估计出来的循轨误差偏移值TE offset异于实际的循轨误差偏移值TE offset。在本实施例中，当量测电路1510量测循轨误差偏移值TE offset时，循轨控制是被停用的。因此，在此情形下所量测出来的循轨误差偏移值TE offset可代表实际的循轨误差偏移值TE offset。由于在停止循轨控制且测试数据不是真正地被烧录于光盘401上的使用者数据，因此步骤1602中可依据一写入功率将测试数据写入光盘401上的导入区(lead-in)或导出区(lead-out)中，量测电路1510则可计算出对应于写入功率的循轨误差偏移值TE offset，随后，当一正常的烧录程序由上述的写入功率开始烧录使用者数据于光盘401上时，所述量测出来的循轨误差偏移值TE offset即可以被用来正确地补偿循轨误差信号TE以增加系统整体烧录的效能。
本发明不仅可用来校正多层光盘的伺服参数(例如参数值Kb、聚焦误差偏移值、循轨误差偏移值以及伺服控制的回路增益等等)，也可校正在同一层多个位置的伺服参数。以一双层DVD的伺服参数校正为例，本发明的伺服参数校正流程不仅可在光盘第一层中的多个位置(轨道)来加以实施，也可在第二层中的多个位置(轨道)上来进行。另外，本发明揭露一种利用反射激光束的特性而计算出来的系数值(例如平衡系数BI以及调整系数TI)，来进行伺服参数校正的动作。
对于校正聚焦参数而言，本发明可依据测试多组参数设定来找出参数Kb及聚焦误差偏移值FE offset的最佳设定。而对于校正循轨参数而言，本发明可在正常使用者数据开始烧录之后提供一线上(on-line)的实时校正以调整该循轨误差偏移值TE offset，或者在正常使用者数据开始烧录之前提供一离线(off-line)校正来调整循轨误差偏移值TE offset。因此本发明的线上校正流程可以用于校正系统运转中的循轨误差偏移值TE offset，而离线校正流程则可精确地校正应用于正常使用者数据录制的循轨误差偏移值TEoffset。
当烧录使用者数据至一特定层的特定轨道时，正确地伺服参数可用来补偿伺服控制机制中由于光盘上晶粒的不规则分布，或是由于功率增加导致的光学路径脱轨所造成的影响。总而言之，本发明的光驱以及相关的伺服参数校正方法可大幅地提高烧录品质及系统整体的烧录效能。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，都应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有(a)调整所述参数；(b)依据由一光传感器的一侧所输出的多个检测信号来产生一第一信号；(c)依据由一光传感器的另一侧所输出的多个检测信号来产生一第二信号；(d)依据该第一、第二信号产生一系数值(index value)；以及(e)若满足该系数值的一标准，则将对应于该系数值的所述参数作为所述伺服信号的一最佳参数。
2.如权利要求1所述的方法，其中步骤(d)另包含有检测所述第一信号的一第一直流准位；检测所述第二信号的一第二直流准位；以及由该第一、第二直流准位的一差异来决定所述系数值。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述标准为将步骤(a)、(b)、(c)、以及(d)执行多次后，在所得到的多个系数值中选取最小值作为所述系数值。
4.如权利要求2所述的方法，其中步骤(d)另包含有依据所述第一及第二信号来决定一摆动(wobble)信号；以及利用该摆动信号的强度来决定所述系数值。
5.如权利要求4所述的方法，其中所述标准为将步骤(a)、(b)、(c)、以及(d)执行多次后，在所得到的多个系数值中选取最大值作为所述系数值。
6.如权利要求2所述的方法，其中步骤(d)另包含有依据所述第一及第二信号来决定一摆动信号；以及依据译码该摆动信号的一错误率(error rate)来决定所述系数值。
7.如权利要求6所述的方法，其中所述标准为将步骤(a)、(b)、(c)、以及(d)执行多次后，在所得到的多个系数值中选取最小值作为所述系数值。
8.如权利要求1所述的方法，其中步骤(d)另包含有依据所述第一及第二信号来决定一摆动信号；以及依据该摆动信号的抖动(jitter)来决定所述系数值。
9.如权利要求1所述的方法，其另包含有当所述参数增加时，检测所述系数值是否增加；以及若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时增加，则重复步骤(a)以减少所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数减少时增加。
10.如权利要求1所述的方法，其另包含有当所述参数增加时，检测所述系数值是否减少；以及若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时减少，则重复步骤(a)以增加所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数增加时增加。
11.一种用来决定一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有停止一循轨控制；当所述循轨控制被停止时，量测所述伺服信号；以及依据所述测量后的伺服信号来决定所述参数。
12.一种用来决定一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有(a)调整所述参数；(b)从一光盘中读取一数据；(c)依据所述数据产生一系数值；以及(d)若满足该系数值的一标准，则将对应于该系数值的所述参数作为所述伺服信号的一最佳参数。
13.如权利要求12所述的方法，其另包含有当所述参数增加时，检测所述系数值是否增加；以及若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时增加，则重复步骤(a)以减少所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数减少时增加。
14.如权利要求12所述的方法，其另包含有当所述参数增加时，检测所述系数值是否减少；以及若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时减少，则重复步骤(a)以增加所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数增加时增加。
15.如权利要求12所述的方法，其中步骤(c)另包含有依据所述数据的八至十四调变(Eight-to-Fourteen Modulation，EFM)信息的抖动(jitter)来决定所述系数值。
16.如权利要求12所述的方法，其中步骤(d)另包含有依据译码所述数据的一错误率来决定所述系数值。
17.一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有(a)当所述光驱存取所述光盘的一第一层时，校正所述伺服信号的一第一参数；以及(b)当所述光驱存取所述光盘的一第二层时，校正所述伺服信号的一第二参数。
18.如权利要求17所述的方法，其中步骤(a)另包含有当光驱存取所述光盘的所述第一层时，校正所述伺服信号的一第三参数，其中所述第一参数以及所述第三参数对应于所述第一层中的不同轨道；以及步骤(b)另包含有当光驱存取所述光盘的所述第二层时，校正所述伺服信号的一第四参数，其中所述第二参数以及所述第四参数对应于所述第二层中的不同轨道。
19.一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法，所述方法包含有当所述光驱存取所述光盘上一层的一第一轨道时，校正所述伺服信号的一第一参数；以及当所述光驱存取所述光盘的一层的一第二轨道时，校正所述伺服信号的一第二参数。
20.一种可用来校正一伺服信号的至少一参数的光驱，所述光驱包含有一伺服信号发生器，用来产生所述伺服信号；一光传感器；一信号发生器，耦接于所述光传感器，用来依据由该光传感器的一侧所输出的多个检测信号以产生一第一信号；以及依据由所述光传感器的另一侧所输出的多个检测信号来产生一第二信号；一校正电路，耦接于所述信号发生器以及所述伺服信号发生器，用来调整所述参数组合至所述伺服信号发生器，以及依据所述第一、第二信号来产生一系数值；其中若满足所述系数值的一标准，则所述校正电路将对应于所述系数值的所述参数设定为所述伺服信号的一最佳参数。
21.如权利要求20所述的光驱，其中所述校正电路另外检测所述第一信号的一第一直流准位；检测所述第二信号的一第二直流准位；以及由该第一、第二直流准位的一差异来决定所述系数值。
22.如权利要求20所述的光驱，其中所述标准为从所述校正电路所产生的多个系数值中选取最小值作为所述系数值。
23.如权利要求20所述的光驱，其另包含有一摆动(wobble)电路，耦接于所述信号发生器以及所述校正电路之间，用于依据所述第一、第二信号来决定一摆动信号；以及其中所述校正电路依据所述摆动信号的强度来决定所述系数值。
24.如权利要求23所述的光驱，其中所述标准为从所述校正电路所产生的多个系数值中选取最大值作为所述系数值。
25.如权利要求20所述的光驱，其另包含有一摆动(wobble)电路，耦接于所述信号发生器，用来依据所述第一、第二信号来决定一摆动信号；以及一译码器，耦接于所述摆动电路以及所述校正电路，用来译码所述摆动信号；其中所述校正电路依据所述译码器译码所述摆动信号的一错误率(errorrate)来决定所述系数值。
26.如权利要求25所述的光驱，其中所述标准为从所述校正电路所产生的多个系数值中选取最小值作为所述系数值。
27.如权利要求20所述的光驱，其另包含有一摆动电路，耦接于所述信号发生器，用来依据所述第一、第二信号来决定一摆动信号；以及一抖动量测电路(jitter meter)，耦接于所述摆动电路以及所述校正电路，用来量测所述摆动信号的抖动(jitter)；其中所述校正电路依据所述摆动信号的抖动来决定所述系数值。
28.如权利要求20所述的光驱，其另包含有一摆动电路，耦接于所述信号发生器，用来依据所述第一、第二信号来决定一摆动信号；以及一译码器，耦接于所述摆动电路以及所述校正电路，用来译码所述摆动信号；其中所述校正电路依据所述译码器译码所述摆动信号的一错误率来决定所述系数值。
29.如权利要求20所述的光驱，其中当所述参数增加时，所述校正电路进一步检测所述系数值是否增加；若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时增加，所述校正电路减少所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数减少时增加。
30.如权利要求20所述的光驱，其中当所述参数增加时，所述校正电路进一步检测所述系数值是否减少；若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时减少，所述校正电路增加所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数增加时增加。
31.一种可用来决定一伺服信号的至少一参数的先驱，该光驱包含有一伺服信号发生器，用来产生所述伺服信号；一量测电路，耦接于所述伺服信号发生器，用来量测所述伺服信号并依据所述已量测的伺服信号决定所述参数；以及一伺服控制器，耦接于所述伺服信号发生器，用来当所述量测电路量测所述伺服信号时停止一循轨控制。
32.一种可用来校正一伺服信号的至少一参数的光驱，该光驱包含有一伺服信号发生器，用来产生所述伺服信号；一数据存取电路，用来从一光盘上读取一数据；以及一校正电路，耦接于所述伺服信号发生器以及所述数据存取电路，用来依据所述数据来产生一系数值；其中若满足所述系数值的一标准，则所述校正电路将对应于所述系数值的所述参数设定为所述伺服信号的一最佳参数。
33.如权利要求32所述的光驱，其中当所述参数增加时，所述校正电路进一步检测所述系数值是否增加；若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时增加，所述校正电路减少所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数减少时增加。
34.如权利要求32所述的光驱，其中当所述参数增加时，所述校正电路进一步检测所述系数值是否减少；若所述标准未被满足且所述系数值在所述参数增加时减少，所述校正电路增加所述参数；其中所述标准为所述系数值在所述参数增加时增加。
35.如权利要求32所述的光驱，其另包含有一抖动量测电路，耦接于所述数据存取电路以及所述校正电路，用来量测所述数据的八至十四调变(Eight-to-Fourteen Modulation，EFM)信息的抖动(jitter)；其中所述校正电路依据该EFM信息的抖动来决定所述系数值。
36.如权利要求32所述的光驱，其另包含有一译码器，耦接于所述数据存取电路以及所述校正电路，用来译码所述数据；其中所述校正电路依据所述译码器译码所述数据的一错误率(error rate)来决定所述系数值。
37.一种可用来校正一伺服信号的至少一参数的光驱，该光驱包含有一伺服信号发生器，用来产生所述伺服信号；以及一校正电路，耦接于该伺服信号发生器，用来当所述光驱存取一光盘的一第一层时，校正所述伺服信号的一第一参数组合至所述伺服信号发生器；以及当所述光驱存取一光盘的一第二层时，校正所述伺服信号的一第二参数组合至所述伺服信号发生器。
38.如权利要求37所述的光驱，其中当所述光驱存取一光盘的一第一层时，所述校正电路进一步地校正所述伺服信号的一第三参数组合至所述伺服信号发生器；以及当所述光驱存取一光盘的一第二层时，所述校正电路进一步校正所述伺服信号的一第四参数组合至所述伺服信号发生器；其中所述第一参数以及所述第三参数对应于所述第一层中的不同轨道；以及所述第二参数以及所述第四参数对应于所述第二层中的不同轨道。
39.一种可用来校正一伺服信号的至少一参数的光驱，该光驱包含有一伺服信号发生器，用来产生所述伺服信号；以及一校正电路，耦接于所述伺服信号发生器，用来当所述光驱存取一光盘的一层的一第一轨道时，校正所述伺服信号的一第一参数组合至所述伺服信号发生器；以及当所述光驱存取一光盘的一层的一第二轨道时，校正所述伺服信号的一第二参数组合至所述伺服信号发生器。
全文摘要
一种用来校正一光驱的一伺服信号的一参数的方法及其装置，所述方法包含有(a)调整所述参数；(b)依据由一光传感器的一侧所输出的多个检测信号来产生一第一信号；(c)依据由一光传感器的另一侧所输出的多个检测信号以产生一第二信号；(d)依据所述第一、第二信号产生一系数值；以及(e)若满足该系数值的一标准，则将对应于该系数值的所述参数作为所述伺服信号的一最佳参数。本发明的光驱以及相关的伺服参数校正方法可大幅地提高烧录品质及系统整体的烧录效能。
文档编号G11B7/09GK1956068SQ20061011596
公开日2007年5月2日 申请日期2006年8月21日 优先权日2005年10月24日
发明者李启瑞, 柯世豪, 陈俊壬, 何旭峰, 沈永錤 申请人:联发科技股份有限公司