专利名称：一种半导体功率器件封装结构的制作方法
技术领域：
本发明涉及半导体技术，尤其涉及一种半导体功率器件封装结构。
背景技术：
在传统的半导体封装中，芯片被胶固定在引线框架的载片台上，用金属焊线将芯 片焊垫与引线框上的引线脚部位进行互联，然后用塑封料将芯片、载片台及引线脚部分包 覆起来，达到保护芯片级内部电路的目的。在一些大功率器件封装中，如图1所示，为了满足高功率、高散热的需求，载片台 往往被设计成大片的金属片，既承载芯片又能实现散热片功能，但这种方式往往存在以下 不足1、成本功率器件封装用的引线框架一般比较大、厚，从而造成框架成本在整个封 装成本中占据较高比例，而框架成本中主要是金属原材料的成本，随着有色金属资源的日 益紧缺，金属原材料成本压力将日益升高。2、可靠性由于不同材质特别是铜、铁镍等金属与塑封料间的热膨胀差异，大片金 属材料在封装结构中容易产生分层甚至剥离等可靠性问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是如何在保证功率和散热要求的前提下，提供一种低成 本、高可靠性的半导体功率器件封装结构。为解决上述技术问题，本发明提供一种半导体功率器件封装结构，包括散热片、引 线脚、芯片、装片胶、金属焊线和塑封料，所述散热片上设有芯片承载区，所述散热片为阶梯 结构。可选地，所述散热片的阶梯至少有两层。可选地，所述散热片的阶梯结构为Z型。可选地，所述芯片承载区厚度高于散热片上的无芯片承载区域。可选地，所述散热片上无芯片承载区域的厚度与所述引线脚的厚度相同。与现有技术相比，本发明请求保护的一种半导体功率器件封装结构，散热片的阶 梯状结构在确保了芯片承载区域的平整度、厚度，以及整体散热面积不变的同时，阶梯状设 计节省了金属材料的消耗，既降低了成本，又降低了不同材质间的应力残留。另外，Z型的阶梯结构大大增加了散热片与塑封料间的咬合强度，进一步提升了产 品的可靠性。
图1为现有的一种半导体功率器件封装结构的剖面示意图；图2为本发明实施例中一种半导体功率器件封装结构的剖面示意图。
具体实施例方式在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以 很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况 下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。其次，本发明利用示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，所 述示意图只是实例，其在此不应限制本发明保护的范围。下面结合附图对本发明的具体实施方式
做详细的说明。如图1所示，本发明提供的一种半导体功率器件封装结构，由散热片1、引线脚3、 芯片5、装片胶4、金属焊线6和塑封料2组成，所述散热片1上设有芯片承载区7。所述散 热片1为阶梯结构，可确保芯片承载区域7的平整度、厚度以及整体散热面积不变，同时，阶 梯状设计节省了金属材料的消耗，既降低了成本，又减少了金属材料与塑封料2间因不同 材质的热膨胀差异而带来的应力残留。散热片1的阶梯至少有两层，当进行多芯片5封装时，可在不同的阶梯安装芯片5 以避免同一水平面安装多颗芯片5时，由于芯片5间距离较近而导致装片胶4上溢沾污芯 片5焊垫。当芯片5较厚时，可在低厚度区域安装芯片5以降低整个封装体的厚度。散热片1的阶梯结构为Z型，尖角部位大大增加了散热片1与塑封料2间的咬合 强度，进一步提升了产品的可靠性。芯片承载区7厚度可高于散热片1上的无芯片承载区域，特别是对于一些高散热 芯片5，较厚的芯片承载区7可以为芯片5提供足够的电容和热容以保护芯片5。散热片1上无芯片承载区域的厚度与所述引线脚3的厚度相同，在一些结构简单 的功率封装结构中，框架上除芯片承载区域7外，其它区域厚度保持一致可减少引线框架 制作过程中的冲压次数以降低引线框架的工艺成本。虽然本发明已以较佳实施例披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术 人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应 当以权利要求所限定的范围为准。
权利要求
1.一种半导体功率器件封装结构，所述封装结构包括散热片、引线脚、芯片、装片胶、金 属焊线和塑封料，所述散热片上设有芯片承载区，其特征在于所述散热片为阶梯结构。
2.如权利要求1所述的一种半导体功率器件封装结构，其特征在于所述散热片的阶 梯至少有两层。
3.如权利要求2所述的一种半导体功率器件封装结构，其特征在于所述散热片的阶 梯结构为Z型。
4.如权利要求1所述的一种半导体功率器件封装结构，其特征在于所述芯片承载区 厚度高于散热片上的无芯片承载区域。
5.如权利要求4所述的一种半导体功率器件封装结构，其特征在于所述散热片上无 芯片承载区域的厚度与所述引线脚的厚度相同。
全文摘要
本发明涉及一种半导体功率器件封装结构，所述封装结构包括散热片、引线脚、芯片、装片胶、金属焊线和塑封料，所述散热片上设有芯片承载区，所述散热片为阶梯结构。与现有技术相比，本发明请求保护的一种半导体功率器件封装结构，在保证功率及散热效果的同时，进一步降低了材料成本又提高了产品的可靠性。
文档编号H01L23/31GK102117785SQ20111002135
公开日2011年7月6日 申请日期2011年1月19日 优先权日2011年1月19日
发明者尹华, 赵亚俊 申请人:南通富士通微电子股份有限公司