超陡平均亚阈值摆幅鳍式隧穿场效应晶体管及其制备方法与流程

文档序号:12737347阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开了一种超陡平均亚阈值摆幅鳍式隧穿场效应晶体管及其制备方法。本发明的隧穿场效应晶体管包括:衬底、源区内层、源区外层、栅叠层、漏区和沟道区内层和沟道区外层;本发明的超陡平均亚阈值摆幅鳍式隧穿场效应晶体管通过器件结构显著改善了器件转移特性,有效降低了器件的平均亚阈斜率,同时保持了陡直的最小亚阈斜率;本发明制备工艺简单,制备方法完全基于标准的CMOS IC工艺,能有效地在CMOS集成电路中集成TFET器件,还可以利用标准工艺制备由TFET组成的低功耗集成电路,极大地降低了生产成本,简化了工艺流程。

技术研发人员:黄如;赵阳;吴春蕾;黄芊芊
受保护的技术使用者:北京大学
文档号码:201710145102
技术研发日:2017.03.13
技术公布日:2017.06.27

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