一种贴附尺寸量测装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种贴附尺寸量测装置，该贴附尺寸量测装置用于对贴附有膜层的基板进行边距测量，该贴附尺寸量测装置包括定位单元和数位千分表，定位单元用于与基板相定位，数位千分表用于在基板靠向定位单元侧边时显示膜层侧边到基板侧边的距离。本发明提供的贴附尺寸量测装置结构简单、极大的降低了测量成本。
【专利说明】
一种贴附尺寸量测装置
技术领域
[0001]本发明涉及液晶面板制造技术领域，特别涉及一种贴附尺寸量测装置。
【背景技术】
[0002]在智能触控显示领域，为过滤掉杂光、眩光，增加视觉敏锐力，提高颜色对比度和最大视觉舒适度，会在CF(Color Filter彩色滤光片)基板及TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)基板上贴附上、下偏光片。
[0003]在贴附完偏光片后，为确保产品的贴附精度，会对贴附偏光片产品进行尺寸量测(偏光片外边缘到TFT&CF外边缘)。
[0004]现有贴附尺寸量测装置，一般采用的方案是使用全自动光学量测设备进行量测尺寸，而这种量测仪器设备成本高，且量测长边及短边两端贴附精度各需要测量两次，效率低下。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种贴附尺寸量测装置，以解决现有技术中采用全自动光学量测设备进行量测尺寸成本较高的技术问题。
[0006]为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是:提供一种贴附尺寸量测装置，所述贴附尺寸量测装置用于对贴附有膜层的基板进行边距测量，所述贴附尺寸量测装置包括定位单元和数位千分表，所述定位单元用于与所述基板相定位，所述数位千分表用于在所述基板靠向所述定位单元侧边时显示所述膜层侧边到所述基板侧边的距离。
[0007]根据本发明一优选实施例，所述数位千分表采用两个，分别在所述基板同一侧的两端进行测量。
[0008]根据本发明一优选实施例，所述定位单元上设有沉孔，所述沉孔内设有凸出于所述沉孔的止挡件，所述止挡件用于在所述沉孔上方止挡所述膜层。
[0009]根据本发明一优选实施例，所述止挡件为可调节的止挡件，包括螺杆及挡套，所述挡套基于所述螺杆旋转进行伸缩进而调节止挡高度。
[0010]根据本发明一优选实施例，所述定位单元设有固定台，所述固定台设于所述沉孔的外侧，所述固定台上设有固定孔。
[0011]根据本发明一优选实施例，所述贴附尺寸量测装置进一步包括固定座，所述固定座安装于所述固定孔上以对所述数位千分表进行轴向定位。
[0012]根据本发明一优选实施例，所述数位千分表包括表盘和可相对所述表盘伸缩的顶针。
[0013]根据本发明一优选实施例，所述固定座包括基体和设于所述基体上的凸块，所述基体上设有与所述固定孔匹配的定位槽，所述凸块上设有允许所述顶针穿过的通孔。
[0014]根据本发明一优选实施例，所述定位单元的材料为特氟龙、电木或亚克力。
[0015]根据本发明一优选实施例，所述数位千分表精度为0.001毫米，量程为30毫米。
[0016]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明提供的贴附尺寸量测装置结构简单、极大的降低了测量成本。
【附图说明】
[0017]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中:
[0018]图1是本发明一优选实施例提供的贴附尺寸量测装置的简化结构示意图；
[0019]图2是本发明一优选实施例提供的贴附尺寸量测装置的俯视示意图；
[0020]图3是图2中所示的贴附尺寸量测装置的固定座的结构示意图。
【具体实施方式】
[0021]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0022]请参阅图1，图1是本发明一优选实施例提供的贴附尺寸量测装置的简化结构示意图。
[0023]如图1所示，本发明提供一种贴附尺寸量测装置，该贴附尺寸量测装置用于对贴附有膜层的基板进行边距测量，该贴附尺寸量测装置包括定位单元110、数位千分表120以及固定座130，定位单元110用于与基板相定位，数位千分表120用于在基板靠向定位单元110侧边时显示膜层侧边到基板侧边的距离d，固定座130用于固定数位千分表120。
[0024]其中，膜层为下偏光片11和上偏光片21。基板为TFT基板10和CF基板20，TFT基板10和CF基板20表面贴附的膜层离TFT基板10和CF基板20的侧边有一定距离d，通过量测不同位置处距离d的大小可知该膜层是否贴齐，优选量测基板同一侧边两端的位置。
[0025]具体而言，请一并参阅图2，图2是本发明一优选实施例提供的贴附尺寸量测装置的俯视不意图。
[0026]如图2所示，数位千分表120采用两个，分别在基板同一侧的两端进行测量，数位千分表120包括表盘121和可相对表盘121伸缩的顶针122。。优选地，数位千分表精度为0.001晕米，量程为30晕米。
[0027]定位单元110上设有沉孔111，沉孔111内设有凸出于沉孔111的止挡件112，止挡件112用于在沉孔111上方止挡膜层，如图1中所示，该膜层是指TFT基板10上的下偏光片11。
[0028]在优选实施例中，止挡件112为可调节的止挡件，包括螺杆113及挡套114，挡套114基于螺杆113旋转进行伸缩进而调节止挡高度。
[0029]在本发明实施例中，定位单元110上设有固定台115，固定台115设于沉孔111的外侦Ij，固定台115上设有固定孔116。
[0030]请一并参阅图3，图3是图2中所示的贴附尺寸量测装置的固定座的结构示意图。
[0031]固定座130安装于固定台115上以对数位千分表120进行轴向定位。
[0032]其中，固定座130包括基体131和设于基体131上的凸块132，基体131上设有与固定台115匹配的定位槽133，凸块132上设有允许顶针122穿过的通孔134。
[0033]在本发明优选实施例中，定位单元110及固定座130为体成型，其材料可为特氟龙(Teflon)、电木、亚克力或Peak。
[0034]请继续参阅图1，在具体量测中，首先将贴附有膜片的基板平放在定位单元110上，并靠右边对位，此时基板会推动数位千分表110的顶针122，使数位千分表120进行读数，再等基板上贴的偏光片顶到止挡件112时，数位千分表120便会停止读数，显示下偏光片11到基板端的距离d，从两个数位千分表120的读数差异可以判断是否合格，将基板反过来即可量测上偏光片21到基板端的距离。
[0035]本发明提供的贴附尺寸量测装置不仅可以用在LCD领域的偏光片贴附工序、背光组立工序中，还可以应用在触摸屏领域的水胶贴合工序、触摸屏和LCD全贴合工序中。
[0036]综上所述，本领域技术人员容易理解，区别于现有技术的情况，本发明提供的贴附尺寸量测装置结构简单、极大的降低了测量成本、同时可减少设备占地面积、提高生产效率(量测长边及短边两端贴附精度只需一次)，可依据产品大小对数位千分110表位置进行调整，提升了公用性。
[0037]以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述贴附尺寸量测装置用于对贴附有膜层的基板进行边距测量，所述贴附尺寸量测装置包括定位单元和数位千分表，所述定位单元用于与所述基板相定位，所述数位千分表用于在所述基板靠向所述定位单元侧边时显示所述膜层侧边到所述基板侧边的距离。2.根据权利要求1所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述数位千分表采用两个，分别在所述基板同一侧的两端进行测量。3.根据权利要求1所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述定位单元上设有沉孔，所述沉孔内设有凸出于所述沉孔的止挡件，所述止挡件用于在所述沉孔上方止挡所述膜层。4.根据权利要求3所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述止挡件为可调节的止挡件，包括螺杆及挡套，所述挡套基于所述螺杆旋转进行伸缩进而调节止挡高度。5.根据权利要求4所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述定位单元设有固定台，所述固定台设于所述沉孔的外侧，所述固定台上设有固定孔。6.根据权利要求5所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述贴附尺寸量测装置进一步包括固定座，所述固定座安装于所述固定孔上以对所述数位千分表进行轴向定位。7.根据权利要求6所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述数位千分表包括表盘和可相对所述表盘伸缩的顶针。8.根据权利要求7所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述固定座包括基体和设于所述基体上的凸块，所述基体上设有与所述固定孔匹配的定位槽，所述凸块上设有允许所述顶针穿过的通孔。9.根据权利要求1所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述定位单元的材料为特氟龙、电木或亚克力。10.根据权利要求1所述的贴附尺寸量测装置，其特征在于，所述数位千分表精度为0.001晕米，量程为30晕米。
【文档编号】G01B5/00GK106094295SQ201610704662
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年8月22日
【发明人】洪文法, 彭定得
【申请人】武汉华星光电技术有限公司