的范围内。断裂伸长 率的计算方法的详细情况在后叙述。
[0026] 传送带21的不锈钢的晶体粒径优选为20 μ m以上且80 μ m以下的范围内。通过构 成传送带21的不锈钢的晶体粒径为20 μπι以上，与小于20 μπι的情况相比，由于传送带21 的断裂伸长率更为确实地在上述范围内，因此可更为确实地抑制上述裂纹的发生。通过晶 体粒径为80 μ m以下，与大于80 μ m的情况相比，由于强度提高，因此更难发生裂纹。晶体粒 径更优选为25. 0 μ m以上且75. 0 μ m以下的范围内、进一步优选为30. 0 μ m以上且70. 0 μ m 以下的范围内。另外，晶体粒径的计算方法的详细情况在后叙述。
[0027] 流延模24将所供给来的胶浆11从面向传送带21的流出口 24a连续地流出。通 过将胶浆11连续地流出至行进中的传送带21上，将胶浆11在传送带21上流延，在传送带 21上形成流延膜26。图1中，在胶浆11接触传送带21、开始形成流延膜26的位置（以下 称作流延位置）上赋予符号PC。
[0028] 一对乳辊22具备调节周面温度的温度控制乳辊（未图示）。通过调节了周面温度 的乳辊22,介由传送带21对流延膜26的温度进行调整。在为通过对流延膜26进行加热、 促进干燥而发生凝固（凝胶化）的所谓干燥凝胶化方式的情况下，乳辊22的周面温度例如 可以为15°C以上且35°C以下的范围内。另外，在为对流延膜26进行冷却而发生凝固的所 谓冷却凝胶化方式的情况下，可以使乳辊22的周面温度为-15°C以上且5°C以下的范围内。 通过这种凝胶化，流延膜26变成能够搬送的固化度。
[0029] 关于从流延模24至传送带21的胶浆11的所谓的焊道而言，还可以在传送带21 的行进方向的上游设置减压腔室（未图示）。该减压腔室对流出的胶浆11的上游侧区域的 气氛进行抽吸而对该区域进行减压。另外，还可以将用于促进流延膜26干燥的送风机（未 图示）面向传送带21进行设置。
[0030] 将流延膜26在传送带21上凝固到能够搬送至拉幅机16的程度之后，在含有溶剂 的状态下从传送带21上剥离。剥取乳辊25用于将流延膜26从传送带21上连续地剥取。 剥取乳辊25例如从下方对通过从传送带21上剥取所形成的膜12进行支撑，将流延膜26 从传送带21上剥取的剥取位置PP保持在恒定。剥取手法可以是将膜12向下游侧拉伸的 手法或者使剥取乳辊25在圆周方向上旋转的手法等中的任一个。
[0031] 从传送带21的剥取在为干燥凝胶化方式时，例如在流延膜26的溶剂含有率为3 质量％以上且100质量％以下的范围的期间进行；为冷却凝胶化方式时，例如在流延膜26 的溶剂含有率为100质量％以上且300质量％以下的范围的期间进行。另外，本说明书中 溶剂含有率（单位：％ )是干重基准的值，具体地说是在使溶剂的质量为X、使计算溶剂含 有率的膜12的质量为y时、通过{V(y-x)} X 100求得的百分率。
[0032] 如上所述，流延单元15是由胶浆11形成膜12。传送带21在流延位置PC和剥取 位置PP之间循环地行进，从而反复进行胶浆11的流延和流延膜26的剥取。
[0033] 在流延单元15与拉幅机16之间的搬送路径上也可配置用于进行膜12的干燥的 送风机（未图示）。进行剥取而形成的膜12被引入至拉幅机16中。拉幅机16具备把持长 条膜12的侧部的多个夹具31、一对轨道（未图示）及链条（未图示）。也可代替夹具31， 使用以竖起的姿势将多个针（未图示）配置在底座的上表面、将各个针刺入膜12的侧部而 对膜12进行保持的针板（未图示）。
[0034] 轨道设置在膜12的搬送路径的各侧部。链条挂在主动链轮及从动链轮（未图示） 上，以沿着轨道自由移动的方式安装。夹具31以规定间隔安装在链条上，通过主动链轮的 旋转，夹具31沿着轨道进行循环移动。夹具31在拉幅机16的入口附近开始被引入来的膜 12的保持、向出口移动，在出口附近解除保持。解除了保持的夹具31再次向入口附近移动， 对新引入来的膜12进行保持。如此，夹具31对膜12的各侧部进行把持，沿长度方向搬送。
[0035] 拉幅机16具有作为第1干燥机的功能、在膜12的搬送路径上方具备送风机32。 在送风机32的下表面形成有流出干燥气体的流出口（未图示），朝向所通过的膜12吹出干 燥气体。另外，也可将具有相同结构的送风机设置在膜12的搬送路径的下方。
[0036] 乳辊干燥机17是第2干燥机，具备多个乳辊33和空调机（未图示）。各乳辊33 在周面上对膜12进行支撑。将膜12卷挂在乳辊33上进行搬送。空调机对乳辊干燥机17 的内部温度或湿度等进行调节。卷取机18用于将膜12卷取成卷状。
[0037] 以下说明传送带21所含元素及其含有率的计算方法。传送带21所含的元素及其 含有率可以使用从制成所述传送带材料之前的不锈钢、传送带材料、形成传送带21之后剩 余的传送带材料残留部分中的任一者进行采样获得的样品来求得。本实施方式中，使用从 制成传送带材料之前的不锈钢进行采样获得的样品。
[0038] 对于C(碳）和S(硫），可以利用燃烧-红外吸收法求得。本实施方式中，根据日 本工业标准JIS G 1215-4,利用该燃烧-红外吸收法求得C和S的含有率。作为所使用的 装置，例如有株式会社堀场制作所制的EMIA-920V2等。
[0039] 对于Si (硅），可以利用重量法求得。本实施方式中，根据JIS G 1212利用重量法 求得Si的含有率。
[0040] 对于N(氮），可以利用不活泼性气体熔解-热传导法求得。本实施方式中，根据 JIS G 1228,利用该不活泼性气体熔解-热传导法求得N的含有率。作为所使用的装置，例 如有株式会社堀场制作所制的EMGA-930。
[0041] 对于除上述C、S、Si、N以外的元素，可以利用ICP发光分光分析法（Inductively Coupled Plasma-AES(Atomic Emission Spectroscopy)、Inductively Coupled Plasma-OES (Optical Emission Spectrometry)、高频电感親合等离子体发光分光分析法） 求得。即，对于Ni、Cr、Mo、Cu，利用ICP发光分光分析法求得。本实施方式中，根据JIS K 0133,利用该ICP发光分光分析法求得Ni、Cr、Mo、Cu的含有率。作为所使用的装置，例如 有株式会社岛津制作所制的ICPE-9000等。Ni、Cr、Mo、Cu的含有率可以按照成为目标组成 的方式在进行精炼时改变原料的配合来进行调整。
[0042] 传送带21的断裂伸长率和前述晶体粒径可以使用从传送带材料和所述传送带材 料残留部分中的任一者进行采样获得的样品。本实施方式中，根据JIS Z 2241求得断裂伸 长率。作为所使用的装置，例如可举出株式会社岛津制作所制的Autograph AG-Xplus系列， 本实施方式中也使用了该装置。测定用的样品（试样）为JIS的13B号试验片（平行部的 宽度为12. 5mm、平行部的长度为60mm)，采样2根进行准备。进行采样时，使样品的长度方 向与传送带21的长度方向一致。对各个这些样品，以拉伸速度5mm/min进行拉伸试验，从 而求得断裂伸长率，取其平均值作为断裂伸长率的值。
[0043] 制成板状的不锈钢原本在热乳后具有40%以上的伸长率余量，热乳后的伸长率是 冷乳下的伸长率（单位：％ )与断裂伸长率（单位：％ )之和，冷乳下的加工量（伸长量） 越大，则不锈钢的断裂伸长率越小。因此，为了调整断裂伸长率，可以调整冷乳的加工量。此 外，热乳是在金属的重结晶温度以上进行加工的方法，冷乳是在金属的重结晶温度以下进 行加工的方法。
[0044] 对于所述的传送带材料残留部分，在对应于传送带21的长度方向的方向上进行 剪切，按照达到镜面的方式对该剪切面进行研磨，对经研磨的面进行蚀刻。蚀刻为了呈现金 属组织可以使用王水系水溶液，在晶界出现时可以适用硝酸水电解法。作为王水系水溶液， 本实施方式中使用浓盐酸和浓硝酸的混合液。硝酸水电解法是通过将蚀刻后的不锈钢浸渍 在硝酸中使其腐蚀、利用晶体部分与晶界部分的腐蚀速度的差异使晶界呈现的方法。在蚀 刻后，可以利用光学显微镜例如以100倍、200倍等倍率对该蚀刻处理面进行观察来求得晶 体粒径。本实施方式中，作为光学显微镜，使用奥林巴斯株式会社制系统工业显微镜BX51M。
[0045] 晶体粒径可以利用热乳中的处理温度和加工量（延伸量）进行调整。其中，热乳 中的处理温度越高，则晶体粒径变得越大。
[0046] 如图2所示，断裂伸长率与晶体粒