专利名称：测量定位夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量定位夹具，特别是一种利用于光谱分析仪中定位PS偏极性转换器的测量定位夹具。
在光学元件中，PS偏极性转换器常被应用于液晶投影机，尤其是高亮度液晶投影机。PS偏极性转换器的功用是将投影机内的光源做偏振光的转换，以提供足够的光源来做液晶投影。
在现有的PS偏极性转换器检测中，一般是利用一测量夹具3来固定一PS偏极性转换器4，如
图1所示。光谱分析仪的光源穿过测量夹具3的狭缝31后，入射至PS偏极性转换器4中，由于绕射的关系，所发射出的光线条纹为一系列平行的条纹，再利用光检测器(未显示)检测所欲检测的光线条纹。此方法在测量时，由于欲测光线条纹容易受到邻近光线条纹的干扰，因此无法精确测得所需的结果，所以此方法所得结果的精确度较低以及再现性亦较差。又，因为摆放PS偏极性转换器的沟槽尺寸为固定的，当PS偏极性转换器的厚度与沟槽尺寸不同时，测量结果容易因PS偏极性转换器移动或晃动而产生误差。
为达到上述目的，本实用新型提供一种测量定位夹具，其是用以在一光谱分析仪中定位一PS偏极性转换器，测量定位夹具包含一第一夹具构件、一第二夹具构件以及一定位构件。其中，第一夹具构件设有一第一固定部及一第一遮光部，第一固定部及第一遮光部是以一角度相互连接；第二夹具构件设有一第二固定部及一第二遮光部，第二固定部及第二遮光部是以第一固定部与第一遮光部所成的角度相互连接，且第二夹具构件是相对于该角度方向而置于第一夹具构件之上；定位构件是用以将第二夹具构件定位于第一夹具构件之上。
本实用新型还包含，一扣合构件，用以扣制该第二夹具构件，以使该第二夹具构件于一适当范围中移动。
本实用新型的优点是与现有技术相比，本实用新型提供一种测量定位夹具，设有一具有狭缝、且作为移动用构件的第二夹具构件，可避免所测量的光线条纹受到邻近光线条纹的干扰，进而增加测量的准确度以及再现性。再者，可依需要调整狭缝的位置，让使用者能够轻易进行操作，进而减少测量时间，减少制造成本。又，第二夹具构件的位置可依PS极性转换器的厚度而调整，可减少PS极性转换器因移动或晃动而产生的测量误差。
图中符号说明1 测量定位夹具11第一夹具构件111 第一固定部1111 定位孔1112 位移孔112 遮光部1121 狭缝12第二夹具构件121 第二固定部1211 位移孔
122 遮光部1221 狭缝13 定位构件14 扣合构件15 固定构件2PS偏极性转换器21 PS转换层22 高反射层23 1/2波长板24 抗反射层3测量夹具31 狭缝4PS偏极性转换器如图2A及2B所示，本实施例的一种测量定位夹具1，其用以在一光谱分析仪(未显示)中定位一PS偏极性转换器2(显示于图3)，测量定位夹具1包含一第一夹具构件11、一第二夹具构件12以及一定位构件13。
其中，第一夹具构件11设有一第一固定部111及一第一遮光部112，第一固定部111及第一遮光部112是以一角度相互连接；第二夹具构件12设有一第二固定部121及一第二遮光部122，第二固定部121及第二遮光部122是以第一固定部111与第一遮光部112所成的角度相互连接，且第二夹具构件12是相对于该角度方向而置于第一夹具构件11之上；定位构件13用以将第二夹具构件12定位于第一夹具构件11之上。
在此，第一固定部111具有多个定位孔1111，该定位孔1111用以让第一夹具构件11能够定位于光谱分析仪中，防止测量定位夹具1在更换PS偏极性转换器2(显示于图3)时因移动而造成测量误差，进而影响再现性。另外，第一固定部111亦具有一位移孔1112，此位移孔1112平行于第一固定部111与第一遮光部112连接的端缘，亦即与图中的X轴平行，位移孔1112是用以控制第二夹具构件12沿X轴方向的位移。
再者，第一遮光部112具有一狭缝1121，此狭缝1121用以让光谱分析仪中的部分检测光源透过。当部分光源进入狭缝1121，通过PS偏极性转换器2(显示于图3)之后会造成绕射现象，形成多条平行的光线条纹。
于第二夹具构件12中，第二固定部121亦具有一位移孔1211，此位移孔1211垂直于第二固定部与第二遮光部的连接端缘，亦即与Y轴平行，其用以控制第二夹具构件12沿图中的Y轴方向的位移。藉此，第二固定部121的位置可依照PS偏极性转换器2(显示于图3)的厚度不同而调整，PS偏极性转换器2(显示于图3)能够更紧密地置于第一遮光部112与第二遮光部122之间，测量结果亦不会因为PS偏极性转换器2(显示于图3)位置的改变而有所误差。
再者，第二遮光部122亦具有一狭缝1221，此狭缝1221用以选择通过第一夹具构件11的狭缝1121中所欲测量的光线，其功能是防止其余因绕射所产生的光线条纹重叠，进而影响测量的准确度。
另外，定位构件13为一螺接元件，螺接元件锁定第一固定部111的位移孔1112以及第二固定部121的位移孔1211的交点，用以固定第二夹具构件12于第一夹具构件11之上。
再请参考图2A及图2B，本实施例的测量定位夹具1还包含一扣合构件14，此扣合构件14用以扣制第二夹具构件12，以使第二夹具构件12于一适当范围沿着X轴移动，让使用者能轻易调整第二夹具构件12的位置。
于本实施例中，测量定位夹具1还包含一固定构件15，此固定构件15经由第一固定部111的定位孔1111，而将第一夹具构件11固定在光谱分析仪中。并且，固定构件15所插入的位置依照光谱仪中的固定孔(未显示)的位置而做适时的调整。
如图3所示，PS偏极性转换器2置于第一遮光部112与第二遮光部122之间。当光谱分析仪的光源由第一夹具构件11的狭缝1121射入后，穿透PS偏极性转换器2，再通过第二夹具构件12的狭缝1221，进而投射至光检测器(未显示)中。并且，第二夹具构件12的狭缝1221的位置亦配合所需测量的光线而调整。
测量定位夹具1的详细操作以及原理如图4a至图4f所示。请参考图4a，入射光源为P偏振光(P polarized light)与S偏振光(Spolarized light)，当经过第一夹具构件11的狭缝1121入射至一PS转换层(PS converter)21时，P偏振光直线穿过，而S偏振光垂直反射至一高反射层22。P偏振光直线穿过PS转换层21，接着通过一1/2波长板23，的后P偏振光变成S偏振光；S偏振光垂直反射至高反射层22之后，通过一抗反射层24后，射出为S偏振光。
当第二夹具构件12的狭缝1221的位置如图4a所示时，入射至光检测器的是S偏振光，在此，光检测器前放置一检偏器(未显示)。由于PS转换层21无法完全精确地将P偏振光与S偏振光分离，所以光检测器所检测的光线占有少许百分比的P偏振光，检测者可由P偏振光所占的比例得知PS转换层21穿透P偏振光的良率。亦即，当P偏振光的比例大于可接受的范围时，表示PS转换层21分离P偏振光以及S偏振光的良率不合格。
当第二夹具构件12的狭缝1221的位置如图4b所示时，同理可知入射至光检测器的是S偏振光，由于少许的P偏振光亦会反射至高反射层22，所以检测者可由P偏振光所占的比例得知PS转换层21反射S偏振光的良率。
请参考图4c，入射光源为单一P偏振光，当经过第一夹具构件11的狭缝1121入射至一PS转换层21时，P偏振光直线穿过，接着通过一1/2波长板23，之后P偏振光变成S偏振光。
当第二夹具构件12的狭缝1221的位置如图4c所示时，入射至光检测器的是S偏振光，在此，光检测器前无需再加一偏检器。由于PS转换层21无法完全精确地将P偏振光与S偏振光分离，有少许的S偏振光会穿透PS转换层21，S偏振光通过1/2波长板23时变成P偏振光，所以光检测器所检测的光线占有少许百分比的P偏振光，此时光检测器所检测到的S偏振光在此定义为Tp。
当第二夹具构件12的狭缝1221的位置如图4d所示时，少许P偏振光经由PS转换层21反射至高反射层22，所以光检测器所检测到的光线为P偏振光，在此，定义的反射率为Rp。经由Tp与Rp的数值可以得知到PS转换层21的良率。
再请参考图4e，入射光源为单一S偏振光，当经过第一夹具构件11的狭缝1121入射至一PS转换层21时，少量S偏振光通过PS转换层21，S偏振光在经过1/2波长板23后，S偏振光变成P偏振光，在光检测器所检测到的P偏振光百分率此时定义的穿透率为Ts。
再请参考图4f，大部分的S偏振光经由PS转换层21垂直射入高反射层22，穿过抗反射层23后射出的光线仍为S偏振光，此时定义此反射率为Rs。利用Ts与Rs的数值可以得知PS转换层21的良率。
由上述方法可知，在测量PS极性转换器2的良率时，利用调整第二夹具构件12的狭缝1221的位置，可以精确测量所欲测量的光线条纹，而不受到邻近光线条纹的干扰。
本实用新型所提供的测量定位夹具，设有一具有狭缝的第二夹具构件，能够防止光线条纹在测量当中受到邻近光线条纹的干扰。与现有技术相比，利用第二夹具构件上的狭缝可选择所需测量的光线，并且避免邻近光线的干扰，可增加测量上的精确度以及再现性。再者，使用者可轻易调整第二夹具构件来选择欲测量的光线条纹，在测量上可减少时间的浪费，进而减低制造成本。又，第二夹具构件的位置可依照PS极性转换器的厚度而调整，不仅适用于各种厚度的PS极性转换器，更减少PS极性转换器因移动或晃动而产生的误差。
上述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本实用新型的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于本实用新型的保护范围中。
权利要求1.一种测量定位夹具，其是用以在光谱分析仪中定位PS偏极性转换器，其特征在于该测量定位夹具包含一第一夹具构件，设有一第一固定部及一第一遮光部，该第一固定部及该第一遮光部以一角度相互连接；一第二夹具构件，设有一第二固定部及一第二遮光部，该第二固定部及该第二遮光部以该第一固定部与第一遮光部所成的角度相互连接，且该第二夹具构件是相对于该角度方向而置于该第一夹具构件之上；以及一定位构件，用以将该第二夹具构件定位于该第一夹具构件之上。
2.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于还包含，一扣合构件，用以扣制该第二夹具构件。
3.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该第一固定部具有多个定位孔。
4.如权利要求3所述的测量定位夹具，其特征在于还包含一固定构件，经由该第一固定部的定位孔，而将该第一夹具构件固定于该光谱分析仪中。
5.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该第一固定部具有一位移孔，该位移孔平行于该第一固定部与该第一遮光部连接端缘。
6.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该第一遮光部具有一狭缝。
7.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该第二固定部具有一位移孔，该位移孔垂直于该第二定部及该第二遮光部连接端缘。
8.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该第二遮光部具有一狭缝。
9.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于还包含该定位构件为一螺接元件，该螺接元件锁定该第一固定部的位移孔与该第二固定部的位移孔的交点。
10.如权利要求1所述的测量定位夹具，其特征在于该PS偏极性转换器置于该第一遮光部与该第二遮光部之间。
专利摘要一种测量定位夹具，用以在光谱分析仪中定位PS偏极性转换器，其包含第一、第二夹具构件及定位构件。第一夹具构件设有第一固定部及第一遮光部，第一固定部及第一遮光部以一角度相互连接；第二夹具构件设有第二固定部及第二遮光部，第二固定部及第二遮光部以上述角度相互连接，且第二夹具构件相对于该角度方向置于第一夹具构件之上；定位构件将第二夹具构件定位于第一夹具构件之上。本实用新型可避免所测量的光线条纹受到邻近光线条纹的干扰，增加测量的准确度及再现性。并可依需要调整狭缝的位置，而轻易进行操作，以减少测量时间及制造成本。第二夹具构件的位置可依PS极性转换器的厚度调整，减少PS极性转换器因移动或晃动产生的测量误差。
文档编号G01J3/02GK2549447SQ0223694
公开日2003年5月7日 申请日期2002年6月5日 优先权日2002年6月5日
发明者詹淑静, 方裕贤, 金克恕, 余安华, 张智能 申请人:精碟科技股份有限公司