1.用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，与老化板上的测试座相对应配合，测试座上设有弹性卡合部，其特征在于：
所述装卸料浮动辅助治具包括具备升降位移的载座、及位于所述载座底部的用于与所述弹性卡合部相配合的配合座，所述载座上设有镂空部，所述配合座上设有导向通道，所述镂空部与所述导向通道形成供芯片穿过的芯片装卸料通道，
所述配合座具备相对所述载座的垂直向浮动位移及水平偏向位移。
2.根据权利要求1所述用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，其特征在于：
所述配合座的四角分别设有配接桩，任意所述配接桩与所述载座之间设有弹性元件。
3.根据权利要求2所述用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，其特征在于：
所述载座上设有与所述配接桩一一对应设置的配接孔道、及穿过所述配接孔道与对应所述配接桩相锁固的销栓，所述弹性元件套接在所述销栓上并限位在所述配接桩与所述载座之间，所述销栓的销柱与所述配接孔道之间具备活动间隙。
4.根据权利要求3所述用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，其特征在于：
所述销栓的销杆与所述配接桩之间为螺接配合，并且所述销栓的栓头上设有旋拧部。
5.根据权利要求1所述用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，其特征在于：
所述载座上设有若干用于对所述配合座侧壁进行限位的限位板，所述限位板与所述配合座之间留有活动间隙。
6.根据权利要求1所述用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，其特征在于：所述导向通道为矩形开槽，并且所述矩形开槽的四角分别设有避让倒角。