的同 相输入端与选通开关UC26的输出端连接、输出端与场效应管QN1的栅极连接、反相输入端与 场效应管QN1的源极连接，场效应管QN1的漏极作为该恒流源电路的输出端，场效应管QN1的 源极与电阻R64连接后接预设导通测试电压。
[0079] 本实施提供的上述多档恒流源电路，可以通过获取的控制信号选择将大小不同的 电压输入到恒流源电路中，从而输出大小不同的恒定电流给进行导通测试的两个待测点， 扩大了导通测试的测试范围。另外，该多档恒流源电路可靠性高，输出的电流恒定，也提高 了测试结果的可靠性。
[0080] 作为进一步优选的实施方式，如图2所示，多档恒流源电路还包括放大倍数可调的 第一放大电路，第一放大电路设置在稳压源电路和多档电阻分压电路之间，用于调整多档 电阻分压电路的输入电压。该第一放大电路包括运放U25A(LF353D)、电阻R51、可变电阻VR1 和电容C105,运放U25A的同相输入端与稳压源电路的输出端连接、输出端与多档电阻分压 电路的输入端连接，可变电阻VR1的两端分别与运放U25A的反相输入端、输出端连接，电容 C105与可变电阻VR1并联，电阻R51的一端与运放U25A的反相输入端连接、另一端接预设导 通测试电压。
[0081] 本发明实施例中，该放大倍数可通过可变电阻VR1调节的第一放大电路进一步扩 大了多档恒流源电路输出电流的可调范围，从而也进一步扩大了该导通测试装置的测试范 围。
[0082] 具体地，该导通测试装置还包括地址选择电路，地址选择电路的输入端获取控制 信号、输出端与选通开关UC26的地址输入端连接，地址选择电路根据获取的控制信号输出 不同的地址信号以选择性地导通选通开关UC26中的一条通道。如图3所示，该地址选择电路 包括D触发器UC18(74HCT374)、反相缓冲器UC24-A/UC24-B/UC24-C(7406)、光耦合器T21/ T22/T23(PC817)和电阻R59-R61、电阻R47-R49，D触发器UC18的输入端与上位机连接以获取 控制信号、其中三个输出端分别与反相缓冲器UC24-A/UC24-B/UC24-C的输入端连接，反相 缓冲器UC24-A/UC24-B/UC24-C的输出端分别与光耦合器T21/T22/T23的阴极连接，光耦合 器T21/T22/T23的阳极分别通过电阻R47-R49与供电电源连接，光耦合器T21/T22/T23的发 射极分别与选通开关UC26的三个地址输入端连接。电阻R59-R61的一端分别与光親合器 T21/T22/T23的发射极连接、另一端均接预设导通测试电压，光耦合器T21/T22/T23的集电 极分别接供电电源。
[0083]本发明实施例中的该地址选择电路使得上位机可以方便地控制选通开关UC26,从 而方便地选择输入到恒流源电路中的电压。即为多档恒流源电路档位的快速切换提供了便 利。
[0084]作为优选的实施方式，如图4所示，上述多档可调放大电路包括运算放大器UC28A、 电阻R62、多个反馈电阻电路和由获取的控制信号控制的选通开关UC27，电阻R62的一端接 进行导通测试的两个待测点之间的电压、另一端与运算放大器UC28A的第一输入端连接，多 个反馈电阻电路的一端分别与运算放大器UC28A的第一输入端连接、另一端分别与选通开 关UC27的多个输入端对应连接，选通开关UC27的输出端与运算放大器UC28A的输出端连接， 运算放大器UC28A的第二输入端接地。具体地，该多档可调放大电路为反相比例放大电路， 其中多个反馈电阻电路分别为由电阻R63-R67依次串联形成的第一反馈电阻电路、由电阻 R77-R80依次串联形成的第二反馈电阻电路、由电阻R81-R83依次串联形成的第三反馈电阻 电路、由电阻R84和R68串联形成的第四反馈电阻电路、由电阻R85构成的第五反馈电阻电 路、由电阻R69、R73和R74依次串联形成的第六反馈电阻电路、由电阻R93-R95依次串联形成 的第七反馈电阻电路、由电阻R109构成的第八反馈电阻电路。第一反馈电阻电路至第八反 馈电阻电路的一端分别与运放UC28A的反相输入端连接、另一端分别与选通开关UC27的第 一输入端至第八输入端对应连接。
[0085]另外，如图3所示，选通开关UC27的三个地址输入端分别与地址选择电路中D触发 器UC18的三个输出端连接，该三个输出端同时也与反相缓冲器UC24-A/UC24-B/UC24-C的输 入端连接，即上位机在通过地址选择电路控制选通开关UC26的同时也控制选通开关UC27。
[0086] 本发明实施例中，上位机只需要生成一个控制指令并输出就可以同时控制选通开 关UC26和UC27，即方便了导通测试时的档位切换。
[0087] 作为进一步优选的实施方式，如图5所示，多档可调放大电路与导通测试装置的第 一测试端之间还依次包括限压保护电路和由运放UC28B构成的电压跟随电路，限压保护电 路包括稳压二极管ZDP1和电阻R、R0,电阻R、R0的一端分别与导通测试装置的第一测试端连 接，电阻R的另一端与稳压二极管ZDP1的正极连接，电阻R0的另一端与稳压二极管ZDP1的负 极共同接地，电阻R与稳压二极管ZDP1的连接处作为该限压保护电路的输出端与运放UC28B 的同相输入端连接，运放UC28B的输出端与电阻R62连接。其中，稳压二极管ZDP1为12V，用于 限制输出给多档可调放大电路的最大电压，防止后级电路被损坏。
[0088] 实施例2
[0089]本实施例提供了一种绝缘测试装置，本实施例中的各种控制信号、控制指令由与 该绝缘测试装置连接的上位机输出，如图6所示，包括:第三测试端、第四测试端、运算放大 电路和第二电压比较电路，其中
[0090] 运算放大电路包括多个反馈电路和运算放大器U17A，多个反馈电路的一端分别与 运算放大器U17A的第一输入端连接、另一端分别与运算放大器U17A的输出端连接作为运算 放大电路的输出端，运算放大器U17A的第二输入端接地；
[0091] 多个反馈电路的每一个均包括串联连接的第一反馈电阻和可控开关，可控开关用 于根据获取的控制信号导通或者断开对应的反馈电路以调整运算放大电路的放大倍数； [0092]第三测试端与运算放大器U17A的第一输入端连接；
[0093] 第四测试端接预设绝缘测试电压，第三测试端和第四测试端用于分别与待测电路 板上的两个待测点连接，以测试该两个待测点之间的绝缘是否合格；
[0094] 运算放大电路的输出端与第二电压比较电路连接，用于将预设绝缘测试电压放 大，并将放大后的电压输入至第二电压比较电路，运算放大电路的放大倍数由导通的反馈 电路的电阻和两个待测点之间的电阻决定；
[0095] 第二电压比较电路，用于将运算放大电路输出的电压与第二基准电压相比较，当 运算放大电路输出的电压大于第二基准电压时，判断进行绝缘测试的两个待测点之间的绝 缘不合格。
[0096]本实施例提供的绝缘测试装置，在进行绝缘测试时，需要将其第三测试端和第四 测试端分别与待测电路板上的两个待测点连接，并预设绝缘测试电压，上位机根据实际需 要输出对应的控制信号来选择导通合适的反馈电路，以选择合适的放大倍数。之后，根据选 择导通的反馈电路选择对应的第二基准电压。两个待测点之间的电阻越大，运算放大电路 输出的电压越小;反之，运算放大电路输出的电压越大。因此，如果运算放大电路输出的电 压大于第二基准电压，则说明该两个待测点之间的绝缘不合格。
[0097]本发明实施例提供的绝缘测试装置，在进行电路板的绝缘测试时可以根据实际需 要选通运算放大器U17A上的不同反馈电路，从而选择不同的放大倍数。因此，该绝缘测试装 置在进行绝缘测试时具有较大的测量范围。
[0098] 实施例3
[0099] 如图7所示，本实施例提供了一种通用测试机的测试系统，本实施例中的各种控制 信号、控制指令由与该测试系统连接的上位机输出，包括多档恒流源电路、多档可调放大电 路、第一电压比较电路、运算放大电路和第二电压比较电路、第一可控开关以及第五、第六 测试端，其中
[0100] 测试系统的第五测试端和第六测试端分别与待测电路板上的两个待测点连接，以 测试该两个待测点之间的导通是否合格或者绝缘是否合格；
[0101] 当进行导通测试时，第六测试端与多档恒流源电路和多档可调放大电路的一端连 接;当进行绝缘测试时，第六测试端接预设绝缘测试电压；
[0102] 多档恒流源电路的另一端接预设导通测试电压，用于为进行导通测试的两个待测 点提供大小不同的恒定电流；
[0103] 多档可调放大电路的另一端连接第一电压比较电路，用于根据获取的控制信号选 择的放大倍数将进行导通测试的两个待测点之间的电压放大，并将放大后的电压输入至第 一电压比较电路；
[0104] 第一电压比较电路用于将多档可调放大电路输出的电压与第一基准电压相比较， 当多档可调放大电路输出的电压大于第一基准电压时，判断进行导通测试的两个待测点之 间的导通不合格；
[0105] 运算放大电路包括多个反馈电路和运算放大器U17A，多个反馈电路的一端分别与 运算放大器U17A的第一输入端连接、另一端分别与运算放大器U17A的输出端连接作为运算 放大电路的输出端，运算放大器U17A的第二输入端接地；
[0106] 多个反馈电路的每一个均包括串联连接的第一反馈电阻和可控开关，可控开关用 于根据获取的控制信号导通或者断开对应的反馈电路以调整运算放大电路的放大倍数；
[0107] 第五测试端与运算放大器U17A的