开 关是由上位机通过8位可寻址锁存器U6 (74HCT259)来控制的。
[0122]显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对 于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或 变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或 变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
【主权项】
1. 一种导通测试装置，其特征在于，包括:第一测试端、第二测试端、多档恒流源电路、 多档可调放大电路和第一电压比较电路，其中 所述第一测试端与所述多档恒流源电路和所述多档可调放大电路的一端连接； 所述第二测试端接地，所述第一测试端和所述第二测试端用于分别与待测电路板上的 两个待测点连接，以测试该两个待测点之间的导通是否合格； 所述多档恒流源电路的另一端接预设导通测试电压，用于为所述两个待测点提供大小 不同的恒定电流； 所述多档可调放大电路的另一端连接所述第一电压比较电路，用于根据获取的控制信 号选择的放大倍数将所述两个待测点之间的电压放大，并将放大后的电压输入至所述第一 电压比较电路； 所述第一电压比较电路用于将所述多档可调放大电路输出的电压与第一基准电压相 比较，当所述多档可调放大电路输出的电压大于所述第一基准电压时，判断进行导通测试 的两个待测点之间的导通不合格。2. 如权利要求1所述的导通测试装置，其特征在于，所述多档恒流源电路包括稳压源电 路、多档电阻分压电路、选通开关UC26和恒流源电路，所述稳压源电路输出的稳定电压经所 述多档电阻分压电路后输出大小不同的多种电压，选通开关UC26根据获取的控制信号选择 其中一种电压，该电压接所述恒流源电路输出恒定电流。3. 如权利要求2所述的导通测试装置，其特征在于，所述多档恒流源电路还包括放大倍 数可调的第一放大电路，所述第一放大电路设置在所述稳压源电路和所述多档电阻分压电 路之间，用于调整所述多档电阻分压电路的输入电压。4. 如权利要求2或3所述的导通测试装置，其特征在于，还包括地址选择电路，所述地址 选择电路的输入端获取控制信号、输出端与所述选通开关UC26的地址输入端连接，所述地 址选择电路根据获取的控制信号输出不同的地址信号以选择性地导通所述选通开关UC26 中的一条通道。5. 如权利要求1-4中任一项所述的导通测试装置，其特征在于，所述多档可调放大电路 包括运算放大器UC28A、电阻R62、多个反馈电阻电路和由获取的控制信号控制的选通开关 UC27,所述电阻R62的一端接进行导通测试的两个待测点之间的电压、另一端与所述运算放 大器UC28A的第一输入端连接，所述多个反馈电阻电路的一端分别与所述运算放大器UC28A 的第一输入端连接、另一端分别与所述选通开关UC27的多个输入端对应连接，所述选通开 关UC27的输出端与所述运算放大器UC28A的输出端连接，所述运算放大器UC28A的第二输入 端接地。6. -种绝缘测试装置，其特征在于，包括:第三测试端、第四测试端、运算放大电路和第 二电压比较电路，其中 所述运算放大电路包括多个反馈电路和运算放大器U17A，所述多个反馈电路的一端分 别与所述运算放大器U17A的第一输入端连接、另一端分别与所述运算放大器U17A的输出端 连接作为所述运算放大电路的输出端，所述运算放大器U17A的第二输入端接地； 所述多个反馈电路的每一个均包括串联连接的第一反馈电阻和可控开关，所述可控开 关用于根据获取的控制信号导通或者断开对应的所述反馈电路以调整所述运算放大电路 的放大倍数； 所述第三测试端与所述运算放大器U17A的第一输入端连接； 所述第四测试端接预设绝缘测试电压，所述第三测试端和所述第四测试端用于分别与 待测电路板上的两个待测点连接，以测试该两个待测点之间的绝缘是否合格； 所述运算放大电路的输出端与所述第二电压比较电路连接，用于将所述预设绝缘测试 电压放大，并将放大后的电压输入至所述第二电压比较电路，所述运算放大电路的放大倍 数由导通的所述反馈电路的电阻和所述两个待测点之间的电阻决定； 第二电压比较电路，用于将所述运算放大电路输出的电压与第二基准电压相比较，当 所述运算放大电路输出的电压大于所述第二基准电压时，判断进行绝缘测试的两个待测点 之间的绝缘不合格。7.-种通用测试机的测试系统，其特征在于，包括多档恒流源电路、多档可调放大电 路、第一电压比较电路、运算放大电路和第二电压比较电路、第一可控开关以及第五、第六 测试端，其中 所述测试系统的所述第五测试端和所述第六测试端分别与待测电路板上的两个待测 点连接，以测试该两个待测点之间的导通是否合格或者绝缘是否合格； 当进行导通测试时，所述第六测试端与所述多档恒流源电路和所述多档可调放大电路 的一端连接;当进行绝缘测试时，所述第六测试端接预设绝缘测试电压； 所述多档恒流源电路的另一端接预设导通测试电压，用于为进行导通测试的两个待测 点提供大小不同的恒定电流； 所述多档可调放大电路的另一端连接所述第一电压比较电路，用于根据获取的控制信 号选择的放大倍数将进行导通测试的两个待测点之间的电压放大，并将放大后的电压输入 至所述第一电压比较电路； 所述第一电压比较电路用于将所述多档可调放大电路输出的电压与第一基准电压相 比较，当所述多档可调放大电路输出的电压大于所述第一基准电压时，判断进行导通测试 的两个待测点之间的导通不合格； 所述运算放大电路包括多个反馈电路和运算放大器U17A，所述多个反馈电路的一端分 别与所述运算放大器U17A的第一输入端连接、另一端分别与所述运算放大器U17A的输出端 连接作为所述运算放大电路的输出端，所述运算放大器U17A的第二输入端接地； 所述多个反馈电路的每一个均包括串联连接的第一反馈电阻和可控开关，所述可控开 关用于根据获取的控制信号导通或者断开对应的所述反馈电路以调整所述运算放大电路 的放大倍数； 所述第五测试端与所述运算放大器U17A的第一输入端连接； 所述运算放大电路的输出端与所述第二电压比较电路连接，用于将所述预设绝缘测试 电压放大，并将放大后的电压输入至所述第二电压比较电路，所述运算放大电路的放大倍 数由导通的所述反馈电路的电阻和进行绝缘测试的两个待测点之间的电阻决定； 第二电压比较电路，用于将所述运算放大电路输出的电压与第二基准电压相比较，当 所述运算放大电路输出的电压大于所述第二基准电压时，判断进行绝缘测试的两个待测点 之间的绝缘不合格； 所述第一可控开关设置在所述运算放大器U17A的第一输入端与输出端之间，在进行导 通测试时，根据控制信号断开全部所述反馈电路，并闭合所述第一可控开关，使得所述运算 放大器U17A的第一输入端的电压等于其第二输入端的电压。8. 如权利要求7所述的通用测试机的测试系统，其特征在于，还包括用于闭合或断开该 测试系统的开关电路，所述开关电路包括第二可控开关和与所述第二可控开关控制端连接 的控制电路，所述第二可控开关的一端与所述运算放大器U17A的第一输入端连接，另一端 与该测试系统的第五测试端连接，所述控制电路用于接收控制信号并根据该控制信号控制 所述第二可控开关的通断。9. 如权利要求7或8所述的通用测试机的测试系统，其特征在于，所述控制电路包括电 源电路、第三可控开关和第一光电隔离电路，所述电源电路与所述第三可控开关串联连接 后接所述第二可控开关的控制端，所述第一光电隔离电路的输入端接收控制信号、输出端 与所述第三可控开关的控制端连接以控制所述第三可控开关的通断。10. 如权利要求7-9中任一项所述的通用测试机的测试系统，其特征在于： 还包括继电器电路和第二光电隔离电路，所述继电器电路设置在所述多档恒流源电路 与该测试系统的第六测试端之间，所述第二光电隔离电路一端接所述预设绝缘测试电压、 另一端与该测试系统的第六测试端连接，所述继电器电路和所述第二光电隔离电路用于根 据控制信号来切换所述绝缘测试装置和所述导通测试装置的通断状态。11. 如权利要求7-10中任一项所述的通用测试机的测试系统，其特征在于，还包括多个 用于切换待测点的第四可控开关，进行绝缘测试的两个待测点和/或进行导通测试的两个 待测点中的一个待测点与该测试系统的第五测试端连接，另一个待测点分别通过所述第四 可控开关与该测试系统的第六测试端连接，所述第四可控开关的通断由获取的控制信号控 制。12. 如权利要求7-11中任一项所述的通用测试机的测试系统，其特征在于，还包括理论 值提供电路，用于在导通测试时提供所述第一基准电压，在绝缘测试时提供所述第二基准 电压，所述理论值提供电路包括数模转换电路和基准电压电路，所述数模转换电路用于根 据获取的控制指令输出相应的电压，所述基准电压电路为所述数模转换电路提供基准电 压。
【专利摘要】本发明公开了一种导通测试装置、绝缘测试装置和通用测试机的测试系统，该导通测试装置包括：第一测试端、第二测试端、多档恒流源电路、多档可调放大电路和第一电压比较电路，其中，第一测试端与多档恒流源电路和多档可调放大电路的一端连接；第二测试端接地，第一测试端和第二测试端用于分别与待测电路板上的两个待测点连接；多档恒流源电路的另一端接预设导通测试电压；多档可调放大电路的另一端连接第一电压比较电路；第一电压比较电路用于将多档可调放大电路输出的电压与第一基准电压相比较，当该电压大于第一基准电压时，判断该两个待测点之间的导通不合格。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105510806
【申请号】CN201610016701
【发明人】赵凌云
【申请人】南京协辰电子科技有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2016年1月11日