第一输入端连接；
[0108] 运算放大电路的输出端与第二电压比较电路连接，用于将预设绝缘测试电压放 大，并将放大后的电压输入至第二电压比较电路，运算放大电路的放大倍数由导通的反馈 电路的电阻和进行绝缘测试的两个待测点之间的电阻决定；
[0109] 第二电压比较电路，用于将运算放大电路输出的电压与第二基准电压相比较，当 运算放大电路输出的电压大于第二基准电压时，判断进行绝缘测试的两个待测点之间的绝 缘不合格；
[0110] 第一可控开关设置在运算放大器U17A的第一输入端与输出端之间，在进行导通测 试时，根据控制信号断开全部反馈电路，并闭合第一可控开关，使得运算放大器U17A的第一 输入端的电压等于其第二输入端的电压。即在进行导通测试时，该测试系统的第五测试端 与运算放大器U17A的接地的第二输入端等电位。
[0111] 本实施例提供的通用测试机的测试系统，既可以实现电路板上的两个待测点之间 的绝缘测试，也可以实现两个待测点之间的导通测试。在进行绝缘测试时，上位机输出的控 制信号可以通过控制可控开关来导通不同的反馈电路以选择不同的放大倍数(并断开第一 可控开关），从而提高绝缘测试的测量范围。在进行导通测试时，上位机可以控制选择多档 恒流源电路的输出的电流大小和多档可调放大电路的放大倍数，从而提高了导通测试的测 量范围，即该通用测试机的测试系统在进行绝缘测试和导通测试时都具有较大的测试范 围。
[0112] 具体地，如图13所示，上述多档恒流源电路和多档可调放大电路可采用上述实施 例1中所述的具体电路。多档恒流源电路中的选通开关UC26和多档可调放大电路中的选通 开关UC27也可采用实施例1中的地址选择电路来根据上位机输出的控制信号来控制。如图 14所示，上述运算放大电路还包括二极管D513和D514、电容CP17和稳压管ZD26、ZD27，二极 管D513和D514反向并联后分别与运算放大器U17A的第一输入端和第二输入端连接，电容 CP17的两端分别与运算放大器U17A的第一输入端、输出端连接，稳压管ZD26、ZD27反向串联 后分别与运算放大器U17A的第一输入端、输出端连接。
[0113] 具体地，如图7、8和9所示，本实施例提供的通用测试机的测试系统还包括用于闭 合或断开该测试系统的开关电路，开关电路包括第二可控开关P1和与第二可控开关P1控制 端连接的控制电路，第二可控开关P1的一端与运算放大器U17A的第一输入端连接，另一端 与该测试系统的第五测试端连接，该控制电路用于接收控制信号并根据该控制信号控制第 二可控开关P1的通断。
[0114] 具体地，如图9和14所示，控制电路包括电源电路、第三可控开关U5(MC14066)和第 一光电隔离电路，电源电路与第三可控开关U5串联连接后接第二可控开关P1的控制端，第 一光电隔离电路的输入端接收控制信号、输出端与第三可控开关U5的控制端连接以控制该 第三可控开关U5的通断。电源电路包括电源模块UN308(B0505S-W5)和电容CP1，电源模块 UN308的正输出端和负输出端分别与电容CP 1的两端连接。电源UN308的正输出端通过二极 管D2与第二可控开关P1的第一端连接，电源UN308的负输出端依次通过电阻RP1和第三可控 开关U5与第二可控开关P1的控制端连接，第二可控开关P1的控制端和第一端通过电阻RP71 连接，第二可控开关P1的第二端与该测试系统的第五测试端连接。具体地，第二可控开关P1 为PNP型三极管(MMBT A92(2D))。第一光电隔离电路包括光耦T24(6N137)、电阻R113、电阻 R107和稳压二极管ZD62,光耦T24的阳极通过电阻R113接+5V电压、阴极与上位机连接以接 收上位机的控制信号，光耦T24的使能端VE和电源端VCC分别接供电电源，光耦T24的接地端 GND接地、输出端与第三可控开关U5的控制端连接。另外，光耦T24的输出端通过电阻R107接 供电电源，并通过稳压二极管ZD62接通讯地。
[0115] 作为具体的实施方式，如图7所示，本实施例提供的通用测试机的测试系统中，还 包括继电器电路和第二光电隔离电路，继电器电路设置在多档恒流源电路与该测试系统的 第六测试端之间，第二光电隔离电路一端接预设绝缘测试电压、另一端与该测试系统的第 六测试端连接，该继电器电路和第二光电隔离电路用于根据控制信号来切换绝缘测试功能 和导通测试功能。具体地，在进行绝缘测试时，打开第二光电隔离电路而断开继电器电路； 在进行导通测试时，打开继电器电路而断开第二光电隔离电路。
[0116] 具体地，如图10和13所示，上述继电器电路包括继电器UC33(AD4C111)、反相缓冲 器UC24-D和UC24-F(7406)、电阻R111和R112、发光二极管LED4和LED5,继电器UC33的6引脚 和7引脚连接后与该测试系统的第六测试端连接、8引脚通过二极管D1与多档恒流源电路的 输出端连接、5引脚与多档可调放大电路的输入端连接、1引脚依次接发光二极管LED5和电 阻R111后接供电电源、2引脚通过反相缓冲器UC24-F与上位机连接以接收控制信号、3引脚 依次接发光二极管LED4和电阻R112后接供电电源、4引脚通过反相缓冲器UC24-D与上位机 连接以接收控制信号。
[0117] 如图11和13所示，上述第二光电隔离电路包括光耦UNX1(AQV254H)、电阻R117-R119、反相缓冲器UC5-D和UC5-E(7406)，光耦UNX1的1引脚通过电阻R119接供电电源，反相 缓冲器UC5-D的输入端与上位机连接、输出端分别与反相缓冲器UC5-E的输入端和电阻R117 的一端连接，电阻R117的另一端接供电电源，反相缓冲器UC5-E的输出端分别与光耦UNX1的 2引脚、电阻R118的一端连接，电阻R118的另一端接供电电源，光耦UNX1的4引脚与该测试系 统的第六测试端连接连接，光耦UNX1的6引脚接预设绝缘测试电压。优选地，光耦UNX1的6引 脚与电阻R75的一端连接、电阻R75的另一端接预设绝缘测试电压，且电容C96与电阻R75并 联。
[0118] 作为优选的实施方式，如图12所示，通用测试机的测试系统还包括理论值提供电 路，用于在导通测试时提供第一基准电压，在绝缘测试时提供第二基准电压，理论值提供电 路包括数模转换电路和基准电压电路，数模转换电路用于根据获取的控制指令输出相应的 电压，基准电压电路为数模转换电路提供基准电压。
[0119] 具体地，如图12所示，数模转换电路包括数模转换器UC13 (TLC5615)，其DIN端、 SCLK端和端均与上位机连接以接收上位机的控制信号，REFIN端与基准电压电路的输出 端连接，OUT端通过由运放UC14A(LF353D)构成的电压跟随器后输出第一基准电压或者第二 基准电压。上述基准电压电路包括可控精密稳压源Z1(TL431)、电阻R5、电容CP5和由运放 UC19A(LF353D)形成的电压跟随器，可控精密稳压源Z1的阴极和参考极分别与电阻R5的一 端、电容CP5的一端连接，可控精密稳压源Z1的阳极、电容CP5的另一端接地，该电压跟随器 的输入端与可控精密稳压源Z1的阴极连接、输出端接数模转换器UC13的REFIN端，电阻R5的 另一端接供电电源。理论值提供电路还包括由运放UC15构成的电压比较电路，运放UC15的 两个输入端分别与运放UC19A的输出端、运放UC14A的输出端连接，用于比较基准电压电路 和数模转换电路输出的电压大小。本实施例中，正常情况下，运放UC14A的输出的电压应该 大于运放UC19A输出的电压，如果数模转换电路出现了导致其输出电压降低到小于运放 UC19A输出的电压时，该由运放UC15构成的电压比较电路就可以及时输出异常信号，从而使 用户可以及时发现数模转换电路故障。电阻R6作为上拉电阻，其一端与运放UC15的输出端 连接、另一端接供电电源。
[0120] 本发明实施例提供的通用测试机的测试系统中，在进行绝缘测试时，上位机根据 运算放大电路选通的反馈电路，即选择的放大倍数，输出不同的控制信号给理论值提供电 路，该理论值提供电路就可根据上位机的控制信号输出对应的电压作为第二基准电压，以 与运算放大电路实际输出的电压进行比较来判断两个待测点之间的绝缘是否合格。在进行 导通测试时，上位机根据多档恒流源电路输出的电流大小和多档可调放大电路的放大倍数 输出不同的控制信号给理论值提供电路，该理论值提供电路就根据上位机的控制信号输出 对应的电压作为第一基准电压，以与多档可调放大电路的导通电压进行比较来判断两个待 测点之间的导通是否合格。因此，该理论值提供电路具有根据上位机的控制信号输出不同 电压的特点，保证了该通用测试机的测试系统具有较宽的测试范围。
[0121] 作为其他优选的实施方式，如图14所示，该通用测试机的测试系统还包括多个用 于切换待测点的第四可控开关，进行绝缘测试的两个待测点和/或进行导通测试的两个待 测点中的一个待测点与该测试系统的第五测试端连接，另一个待测点分别通过第四可控开 关与该测试系统的第六测试端连接，第四可控开关的通断由获取的控制信号控制。具体地， 如图14所示，本实施例中一个第四可控开关NC7的一端与进行绝缘测试的两个待测点中的 一个待测点连接、另一端与该测试系统的第六测试端（即GNDT)连接，其中电阻R3即表示进 行绝缘测试的两个待测点之间的电阻；另一个第四可控开关NC8的一端与进行导通测试的 两个待测点中的一个待测点连接、另一端与该测试系统的第六测试端（即GNDT)连接，其中 电阻R1即表示进行导通测试的两个待测点之间的电阻。上述用于切换待测点的第四可控