专利名称：镀层剥离试验装置的制作方法
技术领域：
本发明关于一种镀层剥离试验装置，特别是关于一种光盘片镀层剥离试验装置，该装置用以测试光盘的质量而取替传统的手工测试。
背景技术：
随着科技的进步，光盘片如CD(Compact Disc)以及DVD(DigitalVersatile Disc)等光学资料储存媒体在市场上的需求量也与日俱增，因此光盘片品质的好坏随着也成为消费者购买选择时的重要考虑因素。
已知的光盘片量产过程，包括母板制造、光盘片射出成型、电镀记录层或是反射层、保护层形成以及合格率检测等数个过程，其中，光盘片的保护层形成程序一般利用硬化压克力树脂等材料，形成于光盘片的反射层上，目的在于防止反射层腐蚀及避免水气渗入，此外，保护层亦提供了一平面以提供光盘片平面印刷的底面。
为了确保产品的品质，生产制程线上的光盘片需进行最后的合格率检测，才得以将产品放行，就最后的合格率检测过程来说，检测范围包括一镀层剥离试验，以此试验来检测记录层、保护层等或是印刷面是否完整粘着于光盘片基板上，最后好以筛选出镀层容易剥离的不良品并进行劣质品处置。
请参照图1所示，已知的镀层剥离试验利用一测试用具2，其类似图章，且此测试用具2的一表面贴上具有粘性的胶带3，以徒手拿取测试用具2并将具有粘性胶带3的一面碰触待测光盘片1后再拿起，以测试保护层等各层或是印刷面是否完整粘着且干凅于待测光盘片1上。然而，由于已知的镀层剥离试验以一非机械的检测装置来进行测试，因此通常会因为人为的误差(例如每次使用的力道不同)，因而造成每次检测的标准不一致。同时，由于手工的检验过程同时也造成相当的劳力负担，有鉴于此，因此如何能够让光盘片合格率检测过程的步骤标准化，实乃为当前光盘片检测的重要课题之一。
发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种将光盘片镀层是否完整粘着的合格率检测标准化的镀层剥离试验装置。该装置用于光盘的测试而取替传统的手工测试。
为达上述目的，依本发明的镀层剥离试验装置，其用以测试一待测物，包含一承载件、一第一定位元件、一第二定位元件、一测试元件以及一弹性元件。
其中，承载件承载该待测物；第一定位元件具有一第一容纳部以及一开口，第一容纳部容置承载件，开口自第一定位元件的一表面开设，且开口暴露待测物的一部分；第二定位元件具有一第二容纳部，第二定位元件与第一定位元件以一角度相互连设；测试元件设置于第二容纳部，测试元件相对开口而设，测试元件的一第一端枢设于第一定位元件与第二定位元件的连接处；弹性元件亦设置于第二容纳部，且弹性元件的一端连接于第二定位元件，弹性元件的另一端与测试元件的一第二端相连接。
承上所述，因依本发明的镀层剥离试验装置利用一简单的机械结构来对光盘片进行镀层剥离合格率检测，由于机械的装置使得已知的镀层剥离试验程序得以标准化，同时，又由于简单的机械装置更可使操作者以一简易的步骤达到光盘片合格率检测的目的。
图1为一显示已知的镀层剥离试验的示意图；
图2为一显示依本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置的示意图；以及图3为一显示依本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置的作动的示意图。
图中符号说明1待测光盘片2测试用具3胶带4镀层剥离试验装置41承载件42第一定位元件421第一容纳部422开口423表面424滑道43第二定位元件431第二容纳部44测试元件441第一端442第二端45弹性元件46测力计5待测物6粘性元件D1第一方向D2第二方向51光盘面
具体实施例方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参照图2所示，依本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置4，其用以测试一待测物5，此装置包含一承载件41、一第一定位元件42、一第二定位元件43、一测试元件44以及一弹性元件45。
其中，第一定位元件42具有一第一容纳部421以及一开口422；第二定位元件43具有一第二容纳部431；测试元件44具有一第一端441以及一第二端442。
在本实施例中，承载件41承载待测物5；第一定位元件42的第一容纳部421容置承载件41，而其开口422自第一定位元件42的一表面423开设，并暴露待测物5的一部分；第二定位元件43与第一定位元件42以一角度相互连设。其中，待测物5可为一光盘片，第二定位元件43以直角连设于第一定位元件42而呈L型(如图2所示)。
承上所述，第一容纳部421可设置一滑道424，承载件41则可滑设于滑道424上，因此承载件41可相对第一定位元件42具有移动性，此移动性使得承载件41可滑进与滑出第一容纳部421而分别可使待测物5进行置放与取出承载件41的动作。
又，测试元件44设置于第二容纳部431内，且测试元件44相对于第一定位元件42的开口422而设置，并可容置于该开口422内，测试元件44的第一端441枢设于第一定位元件42与第二定位元件43的连接处；弹性元件45亦设置于第二容纳部431，且弹性元件45的一端连接于第二定位元件43，而弹性元件45的另一端则与测试元件44的第二端442相连接。其中，测试元件44可为一长型柱，开口422可为一沟槽，弹性元件45可为一弹簧，测试元件44可枢接于第一定位元件42，且亦可枢接于第二定位元件43(如图2所示)。
在本实施例中，依本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置4更包含一测力计46，测力计46连结于弹性元件45，藉由测力计而可测得弹性元件45的张力大小，而张力大小的改变可能来自于弹性数或是施力大小的改变，此些变量皆可由测力计46来测得。
为使本发明的内容更容易理解，以下将以图3所示，并举一实例，说明利用本发明的镀层剥离试验装置4来测试一待测物5的步骤。
在本实施例中，本发明较佳实施例的镀层剥离试验装置4所测试的待测物5为一光盘片，其包含一光盘面51。
首先，将待测物5置放于承载件41上，第一定位元件42的开口422暴露出光盘面51的一部分。
之后将一粘性元件6(例如胶带)连接于测试元件44上，准备就绪后，对测试元件44施一外力，使测试元件44往一第一方向D1移动，此时，测试元件44以第一定位元件42与第二定位元件43的连接处为支撑点，并藉由连接于测试元件44的弹性元件45的变形，使得测试元件44可藉外力垂放并容置于第一定位元件42的开口422，且与光盘面51的部分贴合。其中，弹性元件45可随测试元件44的移动而变形，且此变形符合虎克定律。
此时，施力大小可由连结于弹性元件45的测力计46测得数值，记录下此数值并可提供下次试验时的参考值。
当解除此一外力后，弹性元件的弹力可拉回测试元件往一第二方向D2移动，而使测试元件44回到原来的位置。
当光盘片的保护层或是印刷面粘着不牢固或是未干着时，会因试验时测试元件44上的粘性元件6与光盘片的贴合，使得保护层或是印刷面部分的脱落，因此剥离试验结束后检查保护层或是印刷面的脱落情形，而可得知光盘片的合格率。
综合上述，因依本发明的镀层剥离试验装置利用一简单的机械结构且于此装置的测试元件上粘着一粘性元件，来对待测物(例如光盘片)进行镀层剥离合格率检测，当遇及待测物的镀层(例如保护层等各层或是印刷面)粘着不完整或是干涸不全时，可通过此装置上的粘性元件与待测物的贴合试验而筛选出不良品，由于此装置的机械结构使得已知的镀层剥离试验程序得以标准化，同时，更由于简单的机械结构更可使操作者以一简易的步骤达到光盘片合格率检测的目的。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的权利要求范围中。
权利要求
1.一种镀层剥离试验装置，其测试一待测物，其特征是，包含一承载件，其承载该待测物；一第一定位元件，其具有一第一容纳部以及一开口，该第一容纳部容置该承载件，该开口自该第一定位元件的一表面开设，且该开口暴露该待测物的一部分；一第二定位元件，其具有一第二容纳部，该第二定位元件与该第一定位元件以一角度相互连设；一测试元件，其设置于该第二容纳部，该测试元件相对该开口而设，该测试元件的一第一端枢设于该第一定位元件与该第二定位元件的连接处；以及一弹性元件，其设置于该第二容纳部，且该弹性元件的一端连接于该第二定位元件，该弹性元件的另一端与该测试元件的一第二端相连接。
2.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，更包含一测力计，该测力计连结于该弹性元件，藉由该测力计测得该弹性元件的张力大小。
3.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该弹性元件相对该测试元件移动而变形。
4.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该弹性元件为一弹簧。
5.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该测试元件的第一端枢接于该第一定位元件。
6.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该测试元件的第一端枢接于该第二定位元件。
7.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该测试元件可容置于该开口。
8.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该测试元件为一长型柱。
9.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该开口为一沟槽。
10.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该测试元件与一粘性元件相连接。
11.如权利要求10所述的镀层剥离试验装置，其特征是，该粘性元件为一胶带。
12.如权利要求1所述的镀层剥离试验装置，其中该待测物为一光盘片。
全文摘要
一种镀层剥离试验装置，该装置的第一定位元件具有第一容纳部以及一开口，第一容纳部容置承载件，开口自第一定位元件的一表面开设，且开口暴露待测物的一部分；第二定位元件具有第二容纳部，第二定位元件与第一定位元件以一角度相互连设；测试元件设置于第二容纳部，测试元件相对开口而设，测试元件的第一端枢设于第一定位元件与第二定位元件的连接处；弹性元件亦设置于第二容纳部，且弹性元件的一端连接于第二定位元件，弹性元件的另一端与测试元件的第二端相连接。该装置可用于光盘的测试而取替传统的手工测试。
文档编号G11B7/26GK1752737SQ20041007987
公开日2006年3月29日 申请日期2004年9月23日 优先权日2004年9月23日
发明者潘祥元 申请人:精碟科技股份有限公司