同轴转接连接器及l-smp插座测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种同轴转接连接器，特别是涉及一种SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置。
【背景技术】
[0002]SMP_L-SMP (SMP,L-SMP为射频同轴连接器的型号)板对板配对解决方案是射频电路板间的一种连接方式，广泛应用于各种产品中，其射频电路板的连接结构见图1所示，上述连接结构中连接器共有三个，分别是SMP插座1、L-SMP/SMP-KK (L-SMP/SMP-KK为射频同轴连接器的型号)射频转接柱3、L-SMP插座2 ；L-SMP/SMP-KK射频转接柱3 —端插在SMP插座I上，两者之间卡扣连接，L-SMP/SMP-KK射频转接柱3另一端连接L-SMP插座2，两者之间非卡扣连接，SMP插座I和L-SMP插座2分别连接第一电路板10和第二电路板20。对于SMP插座I与L-SMP/SMP-KK射频转接柱3的组合件这一接口，业内有成熟的测试同轴转接连接器，而对于L-SMP插座2，在进行接口测试时，使用专门的测试同轴转接连接器，或者采用转接板方式。
[0003]L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图如图2所示，该同轴转接连接器的一端为内导体端5，另一端为SMA (Small A Type, 一种典型的微波高频连接器)接口 41，在进行L-SMP插座测试时，内导体端5与L-SMP插座配合连接，通过同轴转接连接器，转为SMA接口，与测试线缆连接。
[0004]L-SMP插座测试用转接板的结构示意图如图3所示，图中标示Txl_Rxl、Tx2_Rx2、DPD_RDP为SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件6，用于测试被测板上的L-SMP插座，通过转接板的内部走线，转为SMA连接器7，与测试线缆连接。
[0005]上述L-SMP插座测试用同轴转接连接器，实际使用中内导体端很容易张开、损坏，从而不能使用，而且此同轴转接连接器价格较贵，使得L-SMP插座测试成本提高；而转接板方式，不同的板卡需要针对性的设计，设计、加工周期长，在测试夹具上还需要考虑固定、配合的送进分离机构及导向方式，测试夹具上此部分设计、安装、调试较复杂。
【发明内容】
[0006](一)要解决的技术问题
[0007]本发明的目的是提供一种适用于SMP_L_SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置，实现测试安装稳定、操作简单、成本低。
[0008](二)技术方案
[0009]为了解决上述技术问题，本发明提供一种同轴转接连接器，其包括:连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。
[0010]其中，所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰。
[0011]其中，所述法兰为长方形、正方形或圆形。
[0012]本发明还提供了一种基于上述任一项所述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置，其包括:
[0013]L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口 ；
[0014]所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
[0015]其中，所述连接器本体中部设置法兰，所述法兰安装在测试安装板上。
[0016]其中，所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口穿过所述测试安装板。
[0017](三)有益效果
[0018]上述技术方案具有如下优点:通过保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构，实现与L-SMP/SMP-KK射频转接柱组合后用于电路板上L-SMP插座的测试，并与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案一致；通过SMA接口实现测试转接的目的；通过增加安装法兰实现安装简便。测试装置安装简单，使用过程中无任何损坏，只需更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱即可，转接柱成本低，维护、更换简单；测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案相同，适用性更强。
【附图说明】
[0019]图1是现有技术中SMP_L_SMP板对板配对解决方案中射频电路板的连接结构示意图；
[0020]图2是现有技术中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图；
[0021]图3是现有技术中L-SMP插座测试用转接板的结构示意图；
[0022]图4和图5分别是本发明实施例中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的立体图和主视图；
[0023]图6是使用本发明实施例的L-SMP插座测试装置的示意图。
[0024]其中，1:SMP 插座；2:L-SMP 插座；3:L_SMP/SMP_KK 射频转接柱；41、42:SMA 接口 ；5:内导体端；6:SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件；7:SMA连接器；8:法兰；9:L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口 ；10:第一电路板；11:测试安装板；20:第二电路板。
【具体实施方式】
[0025]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0026]本发明的同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置，在保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构的基础上，增加了 SMA接口，提供了同轴转接连接器，其具体包括:连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。进一步地，还提供了一种基于上述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置，其具体包括:L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口 ；所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
[0027]通过采用本