专利名称：一种半导体致冷件检验夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及半导体生产技术领域，特别是一种半导体致冷件检验夹具。
背景技术：
现有技术中，半导体致冷件的检验是在一个平板上具有两个夹具，加具加持着半导体致冷件，这样半导体致冷件的一面就贴近平板，这样的夹具检验半导体器件时具有测试效果差、不精确的缺点。
发明内容本实用新型的目的就是针对上述缺点，提供一种测试效果好的半导体致冷件检验夹具。本实用新型所采取的技术方案是这样的，一种半导体致冷件检验夹具，其特征是 它包括一个底座，底座上具有一个支撑杆，支撑杆上具有两个可以上下活动的卡子，所述的卡子对应侧具有卡着半导体致冷件的卡槽，所述的卡子是塑料制成的。本实用新型的有益效果是这样结构的半导体致冷件检验夹具具有测试效果好的优点。
图1为本实用新型半导体致冷件检验夹具的结构示意图。其中1、底座2、支撑杆3、卡子4、卡槽。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步说明。如图1所示，一种半导体致冷件检验夹具，其特征是它包括一个底座1，底座1上具有一个支撑杆2，支撑杆2上具有两个可以上下活动的卡子3，所述的卡子3对应侧具有卡着半导体致冷件的卡槽4，所述的卡子3是塑料制成的。
权利要求1. 一种半导体致冷件检验夹具，其特征是它包括一个底座，底座上具有一个支撑杆， 支撑杆上具有两个可以上下活动的卡子，所述的卡子对应侧具有卡着半导体致冷件的卡槽，所述的卡子是塑料制成的。
专利摘要本实用新型涉及半导体生产技术领域，特别是一种半导体致冷件检验夹具，它包括一个底座，底座上具有一个支撑杆，支撑杆上具有两个可以上下活动的卡子，所述的卡子对应侧具有卡着半导体致冷件的卡槽，所述的卡子是塑料制成的，这样结构的半导体致冷件检验夹具具有测试效果好的优点。
文档编号B25B11/00GK202225118SQ201120366139
公开日2012年5月23日 申请日期2011年9月18日 优先权日2011年9月18日
发明者陈建卫, 陈建民, 陈磊 申请人:河南鸿昌电子有限公司