显示不均匀缺陷显现装置、方法和检测设备与流程

文档序号:11152683阅读:来源:国知局
技术总结
本发明提供一种显示不均匀缺陷显现装置、方法和检测设备。所述显示不均匀缺陷显现装置包括激光发射源、激光感应器、运动支撑单元、显示不均匀缺陷显现单元以及位置检测单元,激光发射源用于被控制而向所述显示基板上的显示不均匀缺陷处发射激光信号,并被控制而描绘出所述显示不均匀缺陷的形貌;运动支撑单元控制激光感应器运动至能够接收到激光发射源发射的激光的位置;激光感应器接收并记录激光发射源发射的激光信号;显示不均匀缺陷显现单元模拟出显示不均匀缺陷的形貌;位置检测单元检测得到显示不均匀缺陷在显示基板上的位置坐标。本发明可以清楚准确的检测得到显示基板上的显示不均匀缺陷的形貌和位置。

技术研发人员:王海涛;罗强强;田牛
受保护的技术使用者:合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
文档号码:201610852245
技术研发日:2016.09.26
技术公布日:2017.05.10

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