示不良，或者造成显示面板及显示装置的损坏。
[0046]在所述阵列基板中，如图9所示，该阵列基板包括显示区3和非显示区4，从图9中可以看出，温度测定单元106在图9中用r表示，子像素11在图9中用W’表示，所述温度测定单元所需的区域至少要三个子像素进行压缩；所述温度测定单元可以位于同一列，在一列中可以设置多个温度测定单元，也可以只设置一个温度测定单元；温度测定单元也可以位于不同列，也可以在一行子像素之间设置多个温度测定单元；阵列基板上的温度测定单元均与信号输入线13已经信号输出线14电连接。
[0047]如图9中所示的温度测定单元可以均为第一测定单元，即所述温度测定单元中都包括栅极信号启动控制线，第一测定单元可以位于同一列，也可以位于不同列；而与同一条栅极信号启动控制线电连接的薄膜晶体管之间是串联的关系，而与不同栅极信号启动控制线电连接的薄膜晶体管之间是并联的关系；所述栅极信号启动控制线为直线形、折线形或者波浪形。
[0048]以上仅为本发明实施例的一种实施方式，本发明的实施方式还可以是，在阵列基板上温度测定单元包括至少一个第一测定单元和至少一个第二测定单元，所述第一测定单元中设置有栅极信号启动控制线，所述第二测定单元中没有设置栅极信号启动控制线，所述第一测定单元中的薄膜晶体管与第二测定单元中的薄膜晶体管之间是并联的关系。
[0049]在本发明实施例中采用该温度测定单元对面板的温度进行测试的具体方式是根据信号输出线上输出的电压Vout与面板温度T之间的关系式来得出面板的温度。具体地，输出电压与温度的对应关系如下:测量出电压Vout = X，即可利用如下对应关系计算出当前的面板内温度，即本次实例等效公式为:
[0050]T = y = 1.8682x3-27.078x2+158.47x_336.88
[0051]图10是本发明实施例提供的输出电压与面板温度之间的关系曲线图，从图10中可以看出，输出电压的横坐标X轴上的数据，面板温度是纵坐标y轴上的数据，不同的输出电压对应不同的面板温度；其中，IC或者FPC中会记录有如图中提供的输出电压与面板温度之间的关系曲线，当所述信号输出线将输出信号返回到IC或者FPC时，IC或者FPC会根据记录的曲线关系得出面板温度值，并且提出警示，人们可以根据该温度值做出相应的措施，通常液晶显示装置中液晶分子的工作温度不能超过60度，如果超过60度液晶分子就会停止转动，进而造成面板停止工作，而采用本发明中的面板设计，人们可以随时知道面板温度是否过高，进而对面板采取相应的降温措施，保证显示装置能够正常进行工作，并且不影响显示效果；这种面板设计应用在精密仪器中效果更为显著，如果精密仪器温度过高而停止工作，会造成不可弥补的损失，而采用本发明中的面板设计能够有效的避免这一现象。
[0052]以上对本发明实施例所提供的一种阵列基板，及由该阵列基板组成的显示面板，以及包含该显示面板的显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括一个衬底，所述衬底上包括多条栅极线和数据线，且所述栅极线与所述数据线绝缘交叉；所述栅极线和所述数据线围设而成多个呈阵列分布的像素单元；所述阵列基板包括至少一个温度测定单元，以及至少一条栅极信号启动控制线，所述温度测定单元包括至少一个薄膜晶体管；所述阵列基板包括信号输入线和信号输出线，所述温度测定单元包括第一端和第二端，所述第一端与所述信号输入线电连接，所述第二端与所述信号输出线电连接；所述信号输入线上设置有一个电阻。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述温度测定单元包括多个第一测定单元，所述薄膜晶体管设置在所述第一测定单元内，所述薄膜晶体管是N型晶体管，所述薄膜晶体管包括栅极、漏极和源极。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述栅极信号启动控制线设置在所述第一测定单元中，所述薄膜晶体管的栅极和漏极均与所述栅极信号启动控制线电连接，所述源极与所述栅极线电连接，所述栅极信号启动控制线包括第三端和第四端，所述栅极信号启动控制线的第三端是所述温度测定单元的第一端，所述栅极信号启动控制线的第四端是所述温度测定单元的第二端。
4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述温度测定单元还包括多个第二测定单元，所述薄膜晶体管设置在所述第二测定单元内，所述薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管，所述第一晶体管的源极是所述温度测定单元的第一端，所述第二晶体管的漏极是所述温度测定单元的第二端，所述薄膜晶体管的栅极与所述栅极线电连接。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述第一晶体管的漏极与所述第二晶体管的源极电连接。
6.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述薄膜晶体管还包括第三晶体管。
7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述第一晶体管的漏极与所述第三晶体管的源极电连接，所述第三晶体管的漏极与所述第二晶体管的源极电连接。
8.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述薄膜晶体管还包括第四晶体管，所述第一晶体管的漏极与所述第三晶体管的源极电连接，所述第三晶体管的漏极与所述第四晶体管的源极电连接，所述第四晶体管的漏极与所述第二晶体管的源极电连接。
9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述第二测试单元包括多个串联的第四晶体管。
10.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述像素单元包括多个子像素，每隔η个子像素设置一个温度测定单元，所述温度测定单元的宽度为W，则W彡η.3a，其中，η为正整数，
11.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述栅极信号启动控制线为直线形、折线形或者波浪形。
12.—种显示面板，包括阵列基板，其特征在于，所述显示面板采用权利要求1-11任一项所述的阵列基板，还包括与所述阵列基板相对放置的彩膜基板，所述彩膜基板包括色阻单元区和预设遮光区，所述色阻单元区与所述阵列基板上的像素单元区相对设置，所述预设遮光区与所述阵列基板上的温度测定单元相对设置。
13.—种显示装置，其特征在于，包括如权利要求13所述的显示面板，所述显示装置包括IC和可绕性电路板所述显示面板通过所述IC或者可绕性电路板向信号输入线输入信号，再通过所述信号输出线将输出信号返回到IC或者可绕性电路板。
【专利摘要】本发明公开了一种阵列基板，其特征在于，包括一个衬底，所述衬底上包括多条栅极线和数据线，且所述栅极线与所述数据线绝缘交叉；所述栅极线和所述数据线围设而成多个呈阵列分布的像素单元；所述阵列基板包括至少一个温度测定单元，以及至少一条栅极信号启动控制线，所述温度测定单元包括至少一个薄膜晶体管；所述阵列基板包括信号输入线和信号输出线，所述温度测定单元包括第一端和第二端，所述第一端与所述信号输入线电连接，所述第二端与所述信号输出线电连接；所述信号输入线上设置有一个电阻。本发明在阵列基板的显示区提供了一个能够测得的面板温度的附加功能区。
【IPC分类】H01L27-32, G09F9-30, G02F1-1333, G02F1-133
【公开号】CN104597645
【申请号】CN201410593966
【发明人】曹兆铿, 秦丹丹, 崔婷婷, 席克瑞
【申请人】上海天马微电子有限公司, 天马微电子股份有限公司
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2014年10月29日