例将数据线测试电极与数据线引线设置为同层材料，数据线测试电极与数据线引线之间不通过过孔连接，可以避免在阵列基板母板利用栅线测试时因过孔产生的静电释放问题，从而能够防止因为静电释放而引起的数据线被击穿、点灯异常、亮线等现象。
[0048]在本发明一些实施例中，仍然参照图1，数据线测试电极1021的宽度大于数据线测试引线102的宽度。
[0049]在本发明一些实施例中，阵列基板母板还包括:
[0050]至少一个预留数据线测试电极1062，预留数据线测试电极1062与所述数据线测试引线102之间的连接是断开的。
[0051]在本发明一些实施例中，数据线测试引线102与数据线测试电极1021—一对应连接;数据线驱动引线104与数据线一一对应连接;数据线测试引线102设置有N个，第一个数据线测试引线102与第1、第N+1、第2N+1……个数据线驱动引线104连接，第二个数据线测试引线102与第2、第N+2、第2N+2……个数据线驱动引线104连接，依次类推，第N个数据线测试弓丨线102与第N、第2N、第3N个数据线驱动引线104连接;其中，N为偶数或3的奇数倍。
[0052]由于检测工艺中，对奇数数据线和偶数数据线分开加载正负电压信号，因此，为了适应检测工艺，N为偶数或3的倍数。
[0053]具体的，在一种较佳实施例中，当数据线测试电极设置有2个时，其中一个数据线测试电极与顺序为奇数的数据线驱动引线连接，另一个数据线测试电极与顺序为偶数的数据线驱动引线连接。
[0054]当数据线测试电极设置有4个时，第一个数据线测试电极与第1、5、9……个数据线连接，第二个数据线测试电极与第2、6、10……个数据线连接，第三个数据线测试电极与第
3、7、11……个数据线连接，第四个数据线测试电极与第4、8、12……个数据线连接。
[0055]当信号线测试电极为3的倍数时，测试信号为RGB信号。
[0056]在一些测试过程中，测试信号为奇数数据线和偶数数据线分别发送，本发明上述实施例中将数据线测试电极设置为两个时，对数据线以及数据线驱动分奇偶，顺序为奇数、顺序为偶数的数据线分别与两个测试电极连接，从而减少了数据线测试电极的数量。由于数据线测试电极数量减少，且在本发明实施例中将数据线测试电极设置于非显示、非引线区域，从而测试电极的宽度能够增加。这种设计能够大量地减少测试引线数量，提高接触稳定性，增大测试电极的间距，减少测试探针和数据线测试电极接触不良的情况。本发明实施例中，数据线测试引线和数据线测试电极的宽度较大，电阻低，因此能够降低信号衰减，也减轻了信号衰减造成的灰阶差异;其次测试信号从阵列基板的周边引出，设计出独立的大尺寸信号测试电极。改善了因测试探针过小，容易扎偏，造成引线或测试电极烧毁的缺点，而且可以避免测试探针与Lead区直接接触造成Lead损伤;本发明实施例采用大尺寸的信号测试电极，有利于降低点灯调试难度，减少停机时间。
[0057]此外，将多个数据线驱动引线与一个数据线测试电极连接，能够节省阵列基板上的非显示区域，减少电路所占用的面积，提高数据线测试电极的使用效率。
[0058]由于每个数据线与数据线驱动引线连接，数据线驱动引线通过两个以上的过孔与对应的数据线测试引线进行连接，当一个过孔烧坏或失效时，数据线驱动引线和相应的数据线测试引线能够通过另一个过孔进行连接，进而提高测试的可靠性。
[0059]在本发明一些实施例中，仍然参照图1，数据线测试引线102和数据线驱动引线104之间设置有绝缘层103，数据线测试引线102的宽度大于述数据线驱动引线104的宽度，设置于数据线驱动引线104的上方，每个数据线测试引线102通过至少两个过孔105与对应的数据线驱动引线104连接。
[0060]在本发明一些实施例中，数据线驱动引线104为数据线向非显示区的延长线。
[0061]在本发明一些实施例中，当阵列基板母板包括栅极驱动引线、数据线驱动引线时，栅极驱动引线和数据线驱动引线相互平行。
[0062]为了能够在测试的时候提高测试探针与数据线测试电极接触的成功率，不易产生漏接触的情况，在本发明一些实施例中，数据线测试电极的宽度大于第一设定值。
[0063]所述第一设定值为30μπι。数据线测试电极的最大宽度根据阵列基板的大小确定。
[0064]在本发明具体实施例中，仍然参照图1，在数据线测试电极1021与数据线延长线104之间还设置有公共测试电极1023，公共测试电极1023与其临近的公共电极驱动引线1042连接。
[0065]在本发明一些实施例中，栅线测试电极之间的间距大于第二设定值。具体的，可通过线路的布局使得栅线测试电极之间的间距增大。
[0066]所述第一设定值和/或第二设定值为使得信号线测试电极能够与探针接触且不易产生接触遗漏，可通过具体实验测定获得。
[0067]从上面所述可以看出，本发明提供的阵列基板母板，将栅极驱动引线与栅极测试引线采用同种材料同层设置，栅极测试引线和栅极驱动引线之间不存在过孔连接，可以避免在阵列基板母板利用栅线测试时因过孔产生的静电释放问题，从而能够防止因为静电释放而引起的栅线被击穿、点灯异常、亮线等现象。
[0068]本发明还提供了一种显示面板母板，包括上述任一实施例所述的阵列基板母板。所述显示面板可以为:液晶显示面板、电子纸、OLED面板等任何具有显示功能的产品或部件。
[0069]需要说明的是，上述显示面板母板包括多个显示面板，每个显示面板可以实现单独显示，通过切割方式可以将显示面板母板切割为多个显示面板。
[0070]由于该显示面板母板包括上述的阵列基板母板，因此可以实现将栅极驱动引线与栅极测试引线采用同种材料同层设置，栅极测试引线和栅极驱动引线之间不存在过孔连接，可以避免在显示面板母板进行测试时因过孔产生的静电释放问题，从而能够防止因为静电释放而引起的栅线被击穿、点灯异常、亮线等现象。
[0071]应当理解，本说明书所描述的多个实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0072]显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种阵列基板母板，所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，其特征在于，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。2.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述栅极测试电极的宽度大于所述栅极测试引线的宽度。3.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，还包括: 至少一个预留栅极测试电极，所述预留栅极测试电极与所述栅极测试引线之间的连接是断开的。4.根据权利要求1-3中任意一项所述的阵列基板母板，其特征在于，所述栅极驱动引线为所述栅线向非显示区域延长的延长线。5.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母板上还设置有第一激光发生定位标记，使得后续工艺中能够通过所述第一激光发生定位标记向阵列基板上的特定区域发射激光，从而将所述栅极驱动引线烧断。6.根据权利要求5所述的阵列基板母板，其特征在于，所述第一激光定位标记的一端与所述栅极驱动引线一端的连线平齐。7.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母板上还设置有第一栅极测试引线段，一端与所述栅极测试电极连接，另一端延伸到所述阵列基板母板的上边缘。8.根据权利要求7所述的阵列基板母板，其特征在于，所述第一栅极测试引线段与所述栅极测试电极同层设置。9.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，还包括数据线;所述阵列基板母板的非显示区域还设有:数据线测试引线、数据线驱动引线、数据线测试电极;所述数据线测试引线一端连接所述数据线驱动引线，另一端连接所述数据线测试电极;所述数据线驱动引线一端连接所述数据线测试引线，另一端连接所述数据线;所述数据线测试电极、所述数据线测试引线采用同种材料，且位于同层设置。10.根据权利要求9所述的阵列基板母板，其特征在于，所述数据线测试电极的宽度大于所述数据线测试引线的宽度。11.根据权利要求9所述的阵列基板母板，其特征在于，还包括: 至少一个预留数据线测试电极，所述预留数据线测试电极与所述数据线测试引线之间的连接是断开的。12.根据权利要求9所述的阵列基板母板，其特征在于，所述数据线测试引线与数据线测试电极一一对应连接;所述数据线驱动引线与所述数据线一一对应连接;所述数据线测试引线设置有N个，第一个数据线测试引线与第1、第N+1、第2N+1……个数据线驱动引线连接，第二个数据线测试引线与第2、第N+2、第2N+2……个数据线驱动引线连接，依次类推，第N个数据线测试引线与第N、第2N、第3N个数据线驱动引线连接;其中，N为偶数或3的奇数倍。13.根据权利要求10所述的阵列基板母板，其特征在于，所述数据线测试引线和所述数据线驱动引线之间设置有绝缘层，所数据线测试引线的宽度大于所述数据线驱动引线的宽度，设置于所述数据线驱动引线的上方，每个数据线测试引线通过至少两个过孔与对应的数据线驱动引线连接。14.根据权利要求9-12中任意一项所述的阵列基板母板，其特征在于，所述数据线驱动引线为数据线向非显示区的延长线。15.—种显示面板母板，其特征在于，包括权利要求1-14中任一项所述的阵列基板母板。
【专利摘要】本发明提供一种阵列基板母板和显示面板母板。所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。本发明提供的阵列基板母板，能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。
【IPC分类】G09G3/00, G02F1/13, H01L27/12
【公开号】CN105607316
【申请号】CN201610165999
【发明人】曹金虎, 马明辉, 于嘉鑫, 于凤武, 曹斌, 权南仁, 历伟, 李志 , 曹鑫磊, 郭恩科
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2016年3月22日