一种显示基板和显示面板的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种显示基板和显示面板。
【背景技术】
[0002]在显示技术领域，平板显示装置，如液晶显示器(Liquid Crystal Display，IXD)和有机电致发光显示器(Organic Light Emitting Display，OLED)因其具有轻、薄、低功耗、高亮度，以及高画质等优点，在平板显示技术领域占据重要的地位。
[0003]显示装置至少包括设置有像素阵列的阵列基板，一般地，阵列基板的显示区域设置有栅线、数据线，以及位于像素区域的像素电极等，还包括位于外围区域或电路板上的栅极驱动电路和源极驱动电路。
[0004]目前一般采用在阵列基板上制备栅极驱动(Gate Driver On Array，GOA)技术制备显示基板，GOA电路是指直接制备在阵列基板上的栅极线驱动电路。G0A电路包括多级依次连接的移位寄存器，每个移位寄存器驱动一条栅极线，并为下一级移位寄存器提供开启信号，从而G0A电路整体上可实现使栅极线逐条导通的目的。G0A技术相比传统工艺，不仅节省了成本，同时由于可以省去栅极方向上的绑定工艺，对提升产能极为有利，并提高了液晶显示面板的集成度。从空间占用等方面考虑，也有部分显示装置采用双侧G0A电路，即在阵列基板两侧各设有一个G0A电路，分别用于驱动奇数行和偶数行的栅极线。当G0A电路的某个位置存在短接、断开等故障时，会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作，进而导致显示异常。
[0005]随着显示装置尺寸、功能和像素的不断提高，需要通过设置更多个栅极驱动电路和源极驱动电路来满足高品质图像显示的需求。在阵列基板生产过程中，当阵列基板上的功能模块存在缺陷时，显示过程中会出现各种与阵列基板有关的不良。例如，栅线和/或数据线断线引起的显示不良，栅极驱动电路和/或源极驱动电路缺陷引线的显示不良。因此，对制作完成的阵列基板的不良进行准确检测非常重要，不良检测和分析的可靠性非常重要。
[0006]目前对盒检测工艺中对G0A产品进行检测时，栅极驱动时序信号(CLK1、CLK2、CLK3、CLK4、STV、VSS)采用全接触(Full Contact)点灯方式从Lead区引入，由于液晶面板的像素越来越高，其Lead之间的间距有越来越小的趋势，在对盒检测工艺，目前检测探针对应的间距约30 μ m左右，采用Full Contact点灯时，检测探针有很大几率扎偏错位，造成瞬间电流过大，进而导致驱动电路被烧毁，造成备件严重浪费。
【实用新型内容】
[0007]本实用新型实施例提供了一种显示基板和显示面板，用以解决现有技术中因检测探针对应的间距过小而导致探针扎偏错位的问题，降低检测工艺的难度，提高检测效率。
[0008]本实用新型实施例提供了一种所述显示基板，包括多个栅线组和多个栅线驱动电路，且所述栅线组与所述栅线驱动电路一一对应；所述显示基板还包括:设置在所述多个栅线组和所述多个栅线驱动电路之间的GOA检测区域，用于检测栅极驱动电路能否正常工作。
[0009]本实用新型实施例中的显示基板包括多个栅线组，与所述多个栅线组一一对应的多个栅线驱动电路，以及设置在所述多个栅线组和所述多个栅线驱动电路之间的、用于检测栅极驱动电路能否正常工作的G0A检测区域。通过在显示基板中设置G0A检测区域，可使得在该G0A检测区域中的相邻的两个栅线之间的间距增大，因此当通过检测探针检测时，可以有效避免因探针对应的间距过小而导致出现扎偏错位的情况，进而降低了检测工艺的难度，提高了检测效率；同时还可以避免因出现扎偏错位所导致的电路烧毁所导致的备件浪费的问题，有利于提高产能，降低生产成本。
[0010]较佳的，所述G0A检测区域中包括多个G0A检测模块，每一所述G0A检测模块的一端连接一所述栅线组，另一端连接与所述栅线组对应的栅线驱动电路。
[0011]通过设置多个G0A检测模块，且使每一所述G0A检测模块的一端连接一所述栅线组，另一端连接与所述栅线组对应的栅线驱动电路，使得多个甚至是全部的栅极驱动电路都可以通过所述G0A检测模块进行检测，可最大限度的降低检测工艺的难度，提高检测效率和产能。
[0012]较佳的，每一所述G0A检测模块上设置有与检测探针匹配的连接区，用于在检测过程中接收检测探针所施加的栅极驱动信号。
[0013]通过在G0A检测模块上设置有与检测探针匹配的连接区，通过该连接区在检测过程中接收检测探针所施加的栅极驱动信号，进而实现对栅极驱动电路的检测。
[0014]较佳的，G0A检测区域中，每相邻的两个栅线之间的间距为700?900 μπι。
[0015]当G0A检测区域中相邻的两个栅线之间的间距为700?900 μπι时，既可以保证检测探针不会因对应的间距太小而出现扎偏错位的情况，还可以避免因间距过大所导致的G0A检测区域过大而不利于实现窄边框设计的问题。
[0016]较佳的，所述显示基板还包括多个数据线组和多个源极驱动电路，每一所述数据线组与一所述源极驱动电路相对应；以及
[0017]设置在所述数据线组与所述源极驱动电路之间的6D检测区域，通过所述6D检测区域检测所述源极驱动电路是否能够正常工作。
[0018]所述显示基板还包括多个数据线组和多个源极驱动电路，每一所述数据线组与一所述源极驱动电路相对应；以及设置在所述数据线组与所述源极驱动电路之间的6D检测区域时，通过所述6D检测区域检测所述源极驱动电路是否能够正常工作。通过每一所述6D检测区域，将与该6D检测区域对应的数据线组中的数据线划分为6组进行检测，有利于降低检测工艺的难度，提高检测效率；并且在该区域中可使得相邻的两个数据线之间的间距增大，进一步降低出现探针扎偏错位的概率，提高检测的精确度。
[0019]较佳的，6D检测区域中，每相邻的两个数据线之间的间距为700?900 μπι。
[0020]当相邻的两个数据线之间的间距为700?900 μ m时，既可以保证检测探针不会因对应的间距太小而出现扎偏错位的情况，还可以避免因间距过大所导致的G0A检测区域过大而不利于实现窄边框的设计的问题。
[0021]较佳的，所述6D检测区域中设置有6个源极驱动电路检测模块，以及与所述源极驱动电路检测模块一一对应且连接的短路模块，通过所述短路模块使得与所述6D该检测区域对应的数据线组中的第6n+l条数据线短路连接、第6n+2条数据线短路连接、将第6n+3条数据线短路连接、第6n+4条数据线短路连接、第6n+5条数据线短路连接、第6n+6条数据线短路连接；其中，η多0，且η为整数。
[0022]较佳的，所述显示基板还包括与所述6D检测区域邻近设置的虚拟检测区域，所述虚拟检测区域中包括多个虚拟源极驱动电路检测模块，相邻的两个虚拟源极驱动电路检测模块之间的间距与相邻的两个源极驱动电路检测模块之间的间距相等；并且，所述6D检测区域与虚拟检测区域的所覆盖的区域的大小和形状与所述G0A检测区域的大小和形状相似，以使得可以使用同一型号的检测探针进行检测。
[0023]通过在显示基板中设置虚拟区域，且虚拟检测区域中包括多个虚拟源极驱动电路检测模块，相邻的两个虚拟源极驱动电路检测模块之间的间距与相邻的两个源极驱动电路检测模块之间的间距相等，所述6D检测区域与虚拟检测区域的所覆盖的区域的大小和形状与所述G0A检测区域的大小和形状相似，可使得在对盒检测工艺中使用同一型号的探针检测G0A检测区域和6D检测区域，有利于提高检测效率，降低生产成本。
[0024]基于同一实用新型构思，本实用新型实施例还提供了一种显示基板，所述显示面板包括如上所述的显示基板。
【附图说明】
[0025]图1为本实用新型实施例一提供的G0A检测区域的电路结构示意图；
[0026]图2为本实用新型实施例一提供的一种显示基板的平面结构示意图；
[0027]图3为本实用新型实施例二提供的另一种显示基板的平面结构示意图；
[0028]图4为本实用新型实施例二提供的显示基板的电路结构示意图；
[0029]图5为本实用新型实施例二提供的6D检测区域的平面俯视图；
[0030]图6为本实用新型实施例二提供的6D检测区域的结构图；
[0031]图7为本实用新型实施例提供的一种显示基板的平面结构示意图。
【具体实施方式】
[0032]本实用新型实施例提供了一种显示基板和显示面板，用以解决现有技术中因检测探针对应的间距过小而导致探针扎偏错位的问题，降低检测工艺的难度，提高检测效率。
[0033]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0034]本实用新型实施例一提供了一种所述显不基板，参见图1和图2 ;从图1中可以看出所述显示基板包括多个栅线组11和多个栅线驱动电路12，且所述栅线组11与所述栅线驱动电路12 —一对应，进而通过每一栅线驱动线路对与之对应的栅线组提供驱动信号，以实现图像的显示。
[0035]所述显示基板还包括：设置在所述多个栅线组11和所述多个栅线驱动电路12之间的G0A检测区域13，用于检测栅极驱动电路能否正常工作。通过在显示基板中设置G0A检测区域13，可使得在该G0A检测区域13中的相邻的两个栅线之间的间距增大，因此当通过检测探针检测时，可以有效避免因探