技术总结
本实用新型涉及一种集成电路测试装置，包括基板，基板的上表面上开设有横向容置槽，横向容置槽的右侧面上设有按钮开关，基板的上表面上还开设有竖向输出槽，基板的后侧面上设有推出气缸，推出气缸的活塞杆穿过基板的侧壁并可伸入至横向容置槽内，基板的后侧设有支撑板，支撑板的前侧面上设有安装板，安装板的上侧面上设有压紧气缸，压紧气缸的输出轴穿过安装板并与连接板固定连接，连接板的上表面上固定设置有测试机，连接板的下表面上设有与集成电路芯片引脚相适配的多个连接端子，连接端子与测试机连接，集成电路测试装置还包括主机、键盘和显示器，本实用新型的集成电路测试装置测试速度快、效率高。
技术研发人员：杨良春
受保护的技术使用者：北京信诺达泰思特科技股份有限公司
文档号码：201621110705
技术研发日：2016.10.10
技术公布日：2017.06.09