一种电路板测试装置的制作方法

本实用新型涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种电路板测试装置。

背景技术：

日常生产过程中，存在大量的电路板需要测试，每块电路板在测试前都需要接线，十分浪费时间，严重影响了生产进度，并且电路板上的测试点分散，不便于测试。人工手动接线，很容易出现接线错误，在通电测试时，可能会导致电路板烧毁，甚至对测试人员造成人身伤害，测试安全性较低。

综上所述，如何有效地解决电路板测试浪费时间及测试安全性较低等问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

一种电路板测试装置，包括：

承载待测电路板且设有第一通孔和第二通孔的第一面板；其中，所述第一通孔为与所述待测电路板中待测点的位置相对应的通孔，所述第二通孔为与所述待测电路板中测试时的信号接入焊点的位置相对应的通孔；

位于所述第一面板的下方，设有触针的第二面板；其中，所述触针的位置与所述第一通孔及所述第二通孔的位置相对应，且所述触针贯穿于所述第二面板；所述第一面板与所述第二面板贴合时，所述触针面向所述第一面板的一端通过所述第一通孔和所述第二通孔与所述待测点及所述信号接入焊点连通；

与所述触针背离所述第一面板的一端相连，连接测试仪器的第一引线及连接生成测试所需信号的仪器的第二引线；其中，所述第一引线与所述第二引线为具有对应的测试参数的标签的引线。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

垂直设置于所述第二面板的定位销；

则相应的，所述第一面板还包括与所述定位销的位置对应的第三通孔；其中，所述定位销穿过所述第三通孔对所述待测电路板的水平位置进行固定。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

连接所述第一面板和所述第二面板的弹簧；其中，所述弹簧处于压缩状态时，所述触针面向所述第一面板的一端与所述待测点及所述信号接入焊点连通，所述弹簧处于舒张状态时，所述触针面向所述第一面板的一端与所述待测点及所述信号接入焊点断开。

在本实用新型的一种具体实施方式中，所述第二面板还包括：

控制所述第二引线与生成测试所需信号的仪器通断的分开关。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

承载所述第一面板和所述第二面板的盒体；其中，所述盒体包括连接所述第二引线与生成测试所需信号的仪器的接口。

在本实用新型的一种具体实施方式中，所述盒体还包括：

控制所述接口通断的总开关。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

对所述待测电路板进行测试时，均分施加给所述待测电路板的压力的压板；

所述压板包括上下设置的第三面板和第四面板、连接所述第三面板和所述第四面板的支撑柱及设于所述第四面板中面向所述第一面板的施压柱；其中，所述第三面板与所述第四面板为可拆卸连接，所述施压柱的位置与所述第一通孔及第二通孔的位置在竖直方向上相对应。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

承载所述压板位于对所述待测电路板进行施压的第一位置或位于释放所述待测电路板的第二位置的滑杆。

在本实用新型的一种具体实施方式中，还包括：

控制所述压板位于所述第一位置或所述第二位置的压紧设备。

在本实用新型的一种具体实施方式中，所述压紧设备具体为手柄式压紧设备或按钮式压紧设备。

应用本实用新型实施例所提供的电路板测试装置，该电路板测试装置包括承载待测电路板且设有第一通孔和第二通孔的第一面板，第一通孔为与待测电路板中待测点的位置相对应的通孔，第二通孔为与待测电路板中测试时的信号接入焊点的位置相对应的通孔，位于第一面板的下方，设有触针的第二面板，触针的位置与第一通孔及第二通孔的位置相对应，且触针贯穿于第二面板，第一面板与第二面板贴合时，触针面向第一面板的一端通过第一通孔和第二通孔与待测点及信号接入焊点连通，与触针背离第一面板的一端相连，连接测试仪器的第一引线及连接生成测试所需信号的仪器的第二引线，第一引线与第二引线为具有对应的测试参数的标签的引线。通过设置带有第一通孔和第二通孔的第一面板，设置有与第一通孔和第二通孔的位置对应的触针的第二面板，并设置与触针相连的具有对应的测试参数标签的引线，在对待测电路板进行测试时，不需要对电路板进行接线，只需要将电路板放置在第一面板上，当测试点和信号接入焊点与第二面板上对应的触针接通时，通过第一引线和第二引线接入测试仪器和生成测试所需信号的仪器对待测电路板进行测试，节省了电路板测试时间，较大地提高了生产效率，降低了发生接线错误的现象的概率，较大地提高了测试安全性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例中一种第一面板的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中一种第二面板的结构示意图；

图3为本实用新型实施例中一种第三面板的结构示意图；

图4为本实用新型实施例中一种第四面板的结构示意图；

图5为本实用新型实施例中一种电路板测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例提供一种电路板测试装置，如图1和图2所示，该电路板测试装置可以包括：

承载待测电路板且设有第一通孔101和第二通孔102的第一面板100；

第一通孔101为与待测电路板中待测点的位置相对应的通孔，第二通孔102为与待测电路板中测试时的信号接入焊点的位置相对应的通孔；

位于第一面板100的下方，设有触针201的第二面板200；

触针201的位置与第一通孔101及第二通孔102的位置相对应，且触针201贯穿于第二面板200；第一面板100与第二面板200贴合时，触针201面向第一面板100的一端通过第一通孔101和第二通孔102与待测点及信号接入焊点连通；

与触针201背离第一面板100的一端相连，连接测试仪器的第一引线及连接生成测试所需信号的仪器的第二引线；

第一引线与第二引线为具有对应的测试参数的标签的引线。

如图1和图2所示，本实用新型实施例所提供的电路板测试装置，可以包括承载待测电路板的第一面板100，第一面板100设置有与待测电路板中待测点的位置相对应的第一通孔101，还设置有与待测电路板中测试时的信号接入焊点的位置相对应的第二通孔102。还可以包括位于第一面板100的下方，设有触针201的第二面板200，并且触针201的位置与第一通孔101及第二通孔102的位置相对应，触针201贯穿于第二面板200，当第一面板100与第二面板200贴合时，触针201面向第一面板100的一端通过第一通孔101和第二通孔102与待测点及信号接入焊点连通，触针201背离第一面板100的一端设置有连接测试仪器的第一引线及连接生成测试所需信号的仪器的第二引线。第一引线和第二引线设置有对应的测试参数的标签，方便测试人员根据标签进行第一引线和第二引线与仪器的连接。

在测试同一批待测电路板时，只需要接一次线即可，该第一面板100和第二面板200是针对同一批待测电路板进行设计的，针对不同批次的待测电路板只需要更换第一面板100、第二面板200和图4中的第四面板600即可，简单，易操作。第一面板100和第二面板200具体可以为亚克力板，亚克力板耐酸碱性好，寿命长，透光性好，抗冲击力强，维护方便，易清洁。当然也可以选用其他材质制作第一面板100和第二面板200，本实用新型实施例对此不做限制。

需要说明的是，第一引线与第二引线设置的具有测试参数的标签可以是通过黏贴的方式贴上的带有标号的标签，测试人员根据测试大纲中该标签与对应的测试参数的对应关系对待测电路进行测试。该标签还可以是直接标注的该第一引线或第二引线对应的测试参数的标签。本实用新型实施例对此不做限定。

需要说明的是，图1中没有对第一通孔101和第二通孔102做明显划分。

应用本实用新型实施例所提供的电路测试装置，该电路板测试装置包括承载待测电路板且设有第一通孔和第二通孔的第一面板，第一通孔为与待测电路板中待测点的位置相对应的通孔，第二通孔为与待测电路板中测试时的信号接入焊点的位置相对应的通孔，位于第一面板的下方，设有触针的第二面板，触针的位置与第一通孔及第二通孔的位置相对应，且触针贯穿于第二面板，第一面板与第二面板贴合时，触针面向第一面板的一端通过第一通孔和第二通孔与待测点及信号接入焊点连通，与触针背离第一面板的一端相连，连接测试仪器的第一引线及连接生成测试所需信号的仪器的第二引线，第一引线与第二引线为具有对应的测试参数的标签的引线。通过设置带有第一通孔和第二通孔的第一面板，设置有与第一通孔和第二通孔的位置对应的触针的第二面板，并设置与触针相连的具有对应的测试参数标签的引线，在对电测电路板进行测试时，不需要对电路板进行接线，只需要将电路板放置在第一面板上，当测试点和信号接入焊点与第二面板上对应的触针接通时，通过第一引线和第二引线接入测试仪器和生成测试所需信号的仪器对待测电路板进行测试，节省了电路板测试时间，较大地提高了生产效率，降低了发生接线错误的现象的概率，较大地提高了测试安全性。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

垂直设置于第二面板200的定位销202；

则相应的，第一面板100还包括与定位销202的位置对应的第三通孔103；

定位销202穿过第三通孔103对待测电路板的水平位置进行固定。

如图5所示，该电路板测试装置还可以包括设置于第二面板200的定位销202，相应的，如图1所示，第一面板100还包括与定位销202的位置对应的第三通孔103。定位销202穿过第三通孔103对待测电路板的水平位置进行固定，避免测试时，由于对待测电路板的按压，造成待测电路板与第一面板100相对移动的状况。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

连接第一面板100和第二面板200的弹簧300；

弹簧300处于压缩状态时，触针201面向第一面板100的一端与待测点及信号接入焊点连通，弹簧300处于舒张状态时，触针201面向第一面板100的一端与待测点及信号接入焊点断开。

如图5所示，该电路板测试装置还可以包括连接第一面板100和第二面板200的弹簧300，当弹簧300处于压缩状态时，触针201面向第一面板100的一端与待测点及信号接入焊点连通，当弹簧300处于舒张状态时，触针201面向第一面板100的一端与待测点及信号接入焊点断开。从而通过弹簧300的伸缩状态来控制触针201与待测点及信号接入焊点之间的通断。

在本实用新型的一种具体实施方式中，第二面板200还可以包括：

控制第二引线与生成测试所需信号的仪器通断的分开关203。

如图2所示，第二面板200还可以包括控制第二引线与生成测试所需信号的仪器通断的分开关203。对待测电路进行测试时，通过该分开关203来对接入待测电路的信号进行控制，从而不需要对第二引线进行不断的接入或拆除，节省了测试时间。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

承载第一面板100和第二面板200的盒体400；

盒体400包括连接第二引线与生成测试所需信号的仪器的接口401。

该电路板测试装置还可以包括承载第一面板100和第二面板200的盒体400，如图5所示，该盒体400可以包括连接第二引线与生成测试所需信号的仪器的接口401。

该盒体400可以采用绝缘材料制作，如塑料。通过设置接口401，使得第二引线与生成测试所需信号的仪器之间的连接更加方便。

在本实用新型的一种具体实施方式中，盒体400还可以包括：

控制接口401通断的总开关402。

如图5所示，该盒体还可以包括控制接口401通断的总开关402。在对待测电路板进行测试时，如果有意外情况发生，可以通过总开关402控制整个电路的通断。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

对待测电路板进行测试时，均分施加给待测电路板的压力的压板；

压板包括上下设置的第三面板500和第四面板600、连接第三面板500和第四面板600的支撑柱700及设于第四面板600中面向第一面板100的施压柱800；

第三面板500与第四面板600为可拆卸连接，施压柱800的位置与第一通孔101及第二通孔102的位置在竖直方向上相对应。

如图3、图4及图5所示，该电路板测试装置还可以包括对待测电路板进行测试时，将施加给待测电路板的压力进行均分的压板。该压板可以包括上下设置的第三面板500和第四面板600、连接第三面板500和第四面板600的支撑柱700，及设置于第四面板600中面向第一面板100的施压柱800。第三面板500与第四面板600采用可拆卸连接方式，针对不同的待测电路板，其测试点和信号接入焊点的位置是不同的，即施压柱800的数量和位置是不同的，针对不同的待测电路板可以将相应的第四面板600与第三面板500进行组装。该施压柱800的位置与第一通孔101及第二通孔102的位置在竖直方向上相对应，使得待测电路板进行施压时，所压的待测电路板正面的位置正对的反面位置刚好为测试点和信号接入焊点，进而使得触针201与测试点和信号接入焊点的接触良好。

施压柱800具体可以为硬质的绝缘材料的施压柱800，可以在给待测电路板施加压力的同时，减轻对待测电路板的干扰，并且使用施压柱800避免整块压板对待测电路板进行挤压损坏待测电路板上的元器件。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

承载压板位于对待测电路板进行施压的第一位置或位于释放待测电路板的第二位置的滑杆900。

该电路板测试装置还可以包括承载压板位于对待测电路板进行施压的第一位置或位于释放待测电路板的第二位置的滑杆900。通过滑杆900承载压板进行移动，使得压板的移动更加顺畅。

在本实用新型的一种具体实施方式中，该电路板测试装置还可以包括：

控制压板位于第一位置或第二位置的压紧设备403。

该电路板测试装置还可以包括控制压板处于第一位置或第二位置的压紧设备403，通过压紧设备403控制压板给待测电路板施加压力，更加省力。

在本实用新型的一种具体实施方式中，压紧设备403具体为手柄式压紧设备或按钮式压紧设备。

压紧设备403具体可以为手柄式压紧设备或按钮式压紧设备，如图5所示，为一种电路测试装置的结构示意图。测试人员通过握住压紧设备403的手柄控制压板给放置在第一面板100上表面的待测电路板施加压力，弹簧300压缩，触针201通过第一通孔101和第二通孔102与待测点及信号接入焊点接通，第二引线与接口401连接，将测试仪器与第一引线连接，将生成测试所需信号的仪器接入接口401。闭合总开关402，闭合需要用到的生成测试所需信号的仪器的分开关203，利用测试仪器对待测电路进行测试。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本实用新型的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的技术方案及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。