压信号在最低值处也是大于集成电路输出电压端口的输出电压的)，REF作为基准信号输入模式触发电路的，为恒定直流信号，基准信号REF的大小介于模式触发信号Vout的高低电压之间，二者在模式触发电路中进行比较，以判断模式触发信号Vout处于高电压还是低电压状态。模式触发电路可以采用比较器COMP实现，但不限于这一实施方式，比较器COMP输出表征模式触发信号Vout电压状态的脉冲信号Pulse，所述脉冲信号Pulse为高电平时，则可知模式触发信号Vout为高电压，脉冲信号Pulse为低电平时，则可知模式触发信号Vout为低电压。脉冲信号Pulse的脉冲宽度能够表征模式触发信号Vout相应高低电压的宽度。
[0023]由脉宽检测电路接收脉冲信号Pulse，并检测脉冲信号Pulse的脉宽，输出脉宽检测信号，根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。所述的脉宽检测电路对脉冲信号的上升沿作延时处理后得到延时信号CLK，将所述延时信号CLK与所述脉冲信号Pulse相与，以产生所述的脉宽检测信号，例如，当脉冲信号Pulse的脉宽高电平宽度低于200 μ s，则由于时间太短无法完成测试，故将其屏蔽掉，计数电路不计数；当脉冲信号Pulse的脉宽高电平宽度低于200 μ s-lms之间，则计数电路检测到上升沿，进入测试模式，计数电路加一，对测试模式进行计数；当高电平宽度大于Ims时，由烧写判断电路判断后进入修调测试模式，所述熔丝烧写电路根据此时计数电路的计数值选择相应位的熔丝进行烧断。此外，可以通过断电对测试模式设定电路进行复位，无需设置复位电路。
[0024]参考图2所示，示意了本发明的工作波形图。该工作波形图示意了脉冲信号Pulse、延时信号CLKl和延时信号CLK2的一种具体波形，延时信号CLKl和延时信号CLK2的不同在于对脉冲信号Pulse上升沿的延时时间的不同。图中可以看出，延时信号CLK2的延时时间较长，从而能将脉冲信号Pulse脉宽较窄部分“滤除”。延时信号CLKl与脉冲信号Pulse相与用于判断脉冲信号Pulse是否落入计数脉宽范围；延时信号CLK2与脉冲信号Pulse相与用于判断脉冲信号Pulse是否落入烧写脉宽范围。延时信号CLKl和延时信号CLK2的不同在于延时的时间不同，延时信号CLK2较延时信号CLKl长。
[0025]参考图3所示，示意了将发明应用于集成电路的具体结构。所述的集成电路包括输入端IN、输出电压端OUT和接地端GND三个端口，测试模式设定电路集成封装于集成电路内，测试模式设定电路的模式触发电路与输出电压端OUT连接，测试时在输出电压端OUT输入模式触发信号Vout。
[0026]本发明的测试模式设定电路应用于集成电路，所述的集成电路包括功率级电路(例如，线性稳压器)，所述的功率级电路包括主功率开关管，所述的模式触发信号Vout为高低电压信号，模式触发信号Vout的最低值大于功率级电路的正常输出电压，因此，由于功率级电路自身的反馈环路因输出电压端口电压过大而关闭主功率开关管，避免主功率开关管导通大电流而影响测试模式设定电路的正常工作。
[0027]以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。
【主权项】
1.一种测试模式设定电路，应用于带有输出电压端口的集成电路，其特征在于:包括模式触发电路和脉宽检测电路，所述的模式触发电路的第一输入端与输出电压端口电连接，其第二输入端接收基准信号，模式触发电路的输出端与脉宽检测电路连接； 进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，所述的脉宽检测电路接收脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，输出脉宽检测信号，所述测试模式设定电路根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。
2.根据权利要求1所述的测试模式设定电路，其特征在于:所述的测试模式设定电路还包括计数电路、烧写判断电路和熔丝烧写电路，设定计数脉宽范围和烧写脉宽范围，所述的计数电路和烧写判断电路分别接收脉宽检测电路输出的脉宽检测信号，所述脉冲信号落入计数脉宽范围时，则由计数电路对测试模式进行计数，所述的脉冲信号落入烧写脉宽范围时，则由烧写判断电路判断后进入修调测试模式，所述熔丝烧写电路根据此时计数电路的计数值选择相应位的恪丝进行烧断。
3.根据权利要求2所述的测试模式设定电路，其特征在于:所述的脉宽检测电路对脉冲信号的上升沿作延时处理后得到延时信号，将所述延时信号与所述脉冲信号相与，以产生所述的脉宽检测信号。
4.根据权利要求1-3的任意一项所述的测试模式设定电路，其特征在于:所述的集成电路包括功率级电路，所述的功率级电路包括主功率开关管，所述的模式触发信号为高低电压信号，模式触发信号的最低值大于功率级电路的正常输出电压。
5.一种测试模式设定方法，应用于带有输出电压端口的集成电路，其特征在于:进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，将所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，得到脉宽检测信号，根据表征脉冲信号脉宽范围的脉宽检测信号，进入相应的测试模式。
6.一种集成电路，包括输入端口、输出电压端口和接地端口，其特征在于:所述集成电路还包括权利要求1-4任意一种测试模式设定电路。
【专利摘要】本发明公开了一种测试模式设定电路及方法，应用于带有输出电压端口的集成电路，包括模式触发电路和脉宽检测电路，所述的模式触发电路的第一输入端与输出电压端口电连接，其第二输入端接收基准信号，模式触发电路的输出端与脉宽检测电路连接；进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，所述的脉宽检测电路接收脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，输出脉宽检测信号，所述测试模式设定电路根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。本发明能够满足端口数较少的芯片的测试模式的设定，无需增设专用端口，降低了芯片的封装尺寸和生产成本。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN104614662
【申请号】CN201510029076
【发明人】黄智
【申请人】矽力杰半导体技术(杭州)有限公司
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2015年1月21日