保护装置及其校正方法

保护装置及其校正方法
【专利摘要】本发明提出一种保护装置及其校正方法。保护装置包含感测电路与检测电路。检测电路包括：比较电路、设定电路、以及自动校正电路。比较电路与感测电路耦接，根据感测讯号与偏移设定，产生保护讯号。设定电路与比较电路耦接，根据校正讯号，产生偏移设定。自动校正电路分别与比较电路及设定电路耦接，用以提供校正讯号。其中，于一校正程序中，该自动校正电路自动产生保护临界值并储存与该保护临界值对应的校正讯号。
【专利说明】保护装置及其校正方法

【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种保护装置及其校正方法；特别是指一种不需要手动校正的保护装 置及其校正方法，例如但不限于可应用于过电流保护。

【背景技术】
[0002] 图1显示一种现有过电流保护装置100示意图。如图1所示，过电流保护装置100 中，以电阻作为待测电流lout的电流感测电路110,用以感测待测电流lout。过电流检测 电路120包含比较电路130、设定电路140、与预设电路150。其中，预设电路150利用参考 讯号Vref与设定电阻Rset，决定一预设电流临界值，而比较电路130将待测电流lout与该 预设电流临界值相比较，当待测电流lout超过该预设电流临界值时，产生过电流保护讯号 0CP表示该过电流状态。由于预设电路150决定的预设电流临界值可能因电路误差而不准 确，故在过电流检测电路120中另提供人工校正电路140,其中包含可变电阻VR，用以在过 电流保护装置100完成后，以人工的方式，调整可变电阻VR的电阻值，用以修正电路中的误 差，以满足过电流保护装置100产生过电流保护讯号0CP所要求的精确度。
[0003] 举例而言，ATX (advanced technology extended)的规格要求，过电流保护讯号 0CP必须在待测电流lout不超过20A时产生。一般而言，过电流保护装置100是设计成在 待测电流lout超过19+-0. 5A时，会产生过电流保护讯号0CP。但是由于电路中的元件制造 与其它原因造成的误差，使得过电流保护装置100未必能精确在上述设定值产生过电流保 护讯号0CP，因此在电路制造完成后，需要以人工的方式，调整自动校正电路140中的可变 电阻的电阻值，以使电流保护装置100能够符合ATX的规格。
[0004] 然而，现有技术过电流保护装置100所采用的人工调整可变电阻设定，与可变电 阻本身的制造成本，并不符合经济效益。TW专利申请案第100103237号提出了一种可以设 定过电流保护临界值的电路，但该案仅揭露概念，并未具体说明如何以硬件方式达成过电 流保护临界值的自动设定，事实上该案的内容与人工调整并无不同。因此，本发明就现有 技术的不足，提出一种保护装置，公开了明确的硬件电路，来达成自动校正保护临界值的功 能。本发明不需要利用外接的可变电阻与人工的调整，而可以自动校正保护临界值，此保护 临界值例如但不限于可应用于过电流保护、过电压保护等。本发明也提出了相关的校正方 法。


【发明内容】

[0005] 本发明的目的在于克服现有技术的不足与缺陷，提出一种保护装置，其中给出明 确的硬件电路，来达成自动校正保护临界值的功能。使得本发明不需要利用外接的可变电 阻与人工的调整，而可以自动校正保护临界值，此保护临界值例如但不限于可应用于过电 流保护、过电压保护等。同时还提出相关的校正方法。
[0006] 为达上述目的，就其中一观点言，本发明提供了一种保护装置，包含：一感测电路， 用以感测一待测电流或电压讯号，而产生一感测讯号；以及一检测电路，与该感测电路耦 接，用以根据该感测讯号，产生一保护讯号，该检测电路包括：一比较电路，与该感测电路耦 接，用以根据该感测讯号与一偏移设定，产生该保护讯号；一设定电路，与该比较电路耦接， 用以根据一校正讯号，产生该偏移设定；以及一自动校正电路，分别与该比较电路及该设定 电路耦接，用以提供该校正讯号；其中，于一校正程序中，该自动校正电路检查该待测电流 或电压讯号对应的保护临界值并以数字方式产生及储存与该保护临界值对应的校正讯号， 使得于正常操作中，该比较电路可将该待测电流或电压与校正后的该保护临界值相比较。
[0007] 在其中一种较佳的实施型态中，该自动校正电路包括：一控制电路，于该校正程序 中，根据该保护讯号，产生一控制讯号；一数值产生电路，与该控制电路耦接，用以根据该控 制讯号，产生一检查讯号，于该校正程序中作为该校正讯号，并产生一写入讯号；一记忆电 路，与该数值产生电路耦接，用以储存该数值产生电路输出的写入讯号；以及一多任务器电 路，分别与该数值产生电路及该记忆电路耦接，于该校正程序中选择该检查讯号，于该正常 操作中选择该记忆电路输出的一读取讯号，作为该校正讯号。
[0008] 在其中一种较佳的实施型态中，该设定电路包括：一电流源电路，用以产生一电流 讯号；一电流镜电路，与该电流源电路耦接，用以将该电流讯号复制为成比例的复制电流讯 号；以及一电流转电压电路，用以将该复制电流讯号转换为该偏移设定，其中该电流源电路 的电流讯号为可调、或该电流镜电路的复制电流比例可调、或该电流转电压电路的转换比 例可调、或以上任两者或两者以上为可调。
[0009] 在其中一种较佳的实施型态中，该自动校正电路更包括一触发电路，以接收一触 发讯号而产生一确认讯号，显示进入该校正程序。
[0010] 在其中一种较佳的实施型态中，该记忆电路包括一可擦写或可重复读写的非挥发 性记忆电路。
[0011] 就另一观点言，本发明也提供一种保护装置校正方法，该保护装置用以将一待测 讯号与一保护临界值相比较，以产生一判断讯号，该保护装置校正方法包含：（1)提供一预 设电流或电压讯号作为该待测讯号，此预设电流对应于该保护临界值；（2)产生一检查讯 号；（3)根据该检查讯号而产生一校正讯号，并根据该校正讯号而产生一偏移设定；(4)根 据该偏移设定和该预设电流或电压讯号或其相关讯号的比较结果，产生该保护讯号；以及 (5)根据该保护讯号所代表的状态，将一数值写入一记忆电路。
[0012] 在其中一种较佳的实施型态中，该方法更包含：产生一旗标讯号以表不校正完成。
[0013] 在其中一种较佳的实施型态中，该方法更包含：在产生该检查讯号之前，确认该记 忆电路为空白；且当该记忆电路不为空白时，清除该记忆电路中的数据。
[0014] 在其中一种较佳的实施型态中，该将一数值写入一记忆电路的步骤包括：自最具 意义位开始写入。
[0015] 在其中一种较佳的实施型态中，该方法更包含：重复步骤（2)-(5)，以将多个位写 入该记忆电路。
[0016] 在其中一种较佳的实施型态中，将多个位写入该记忆电路，次序为自最具意义位 (MSB)开始、至最不具意义位（LSB)。
[0017] 在其中一种较佳的实施型态中，该方法更包含：根据一触发讯号，确认进入一校正 程序后，才产生该检查讯号。
[0018] 在其中一种较佳的实施型态中，该根据一触发讯号，确认进入一校正程序的步骤 包括：根据该触发讯号的位准或持续时间，判断是否确认进入该校正程序。

【专利附图】

【附图说明】
[0019] 图1显示一种现有过电流保护装置100示意图；
[0020] 图2显示本发明的第一个实施例；
[0021] 图3显示本发明第二个实施例；
[0022] 图4举例说明应用本发明的过电流保护装置，在校正程序中的讯号波形；
[0023] 图5显示本发明第三个实施例
[0024] 图6显示本发明第四个实施例；
[0025] 图7显示本发明第五个实施例；
[0026] 图8显示本发明第六个实施例；
[0027] 图9显示本发明第七个实施例；
[0028] 图10显示本发明第八个实施例。
[0029] 图中符号说明
[0030] 100 过电流保护装置
[0031] 200, 300, 400, 500, 600, 700 保护装置
[0032] 110,210 电流感测电路
[0033] 120, 220, 320, 420, 520, 620, 720 检测电路
[0034] 130, 230, 730 比较电路
[0035] 140 人工校正电路
[0036] 150 预设电路
[0037] 240, 340, 440, 540, 640 设定电路
[0038] 250, 350 自动校正电路
[0039] 351 触发电路
[0040] 352 控制电路
[0041] 353 数值产生电路
[0042] 354 记忆电路
[0043] 355 多任务器电路
[0044] 441,541 电流镜电路
[0045] 442,542 电流源电路
[0046] 443,643 电流转电压电路
[0047] 710 电压感测电路
[0048] lout 待测电流
[0049] Flag 旗标讯号
[0050] 0CP 过电流保护讯号
[0051] 0VP 过电压保护讯号
[0052] Q1 晶体管
[0053] Rset 设定电阻
[0054] S1 ?S12 步骤
[0055] Vo si 偏移电压
[0056] VR 可变电阻
[0057] Vref 参考讯号

【具体实施方式】
[0058] 本发明可应用于各种形式的保护装置，用以在这些保护装置中，自动设定保护临 界值。首先以应用于过电流保护为例来说明，但本发明亦可应用于过电压（over voltage) 保护、低电压（under voltage)保护或其它保护。请参阅图2,显示本发明的第一个实施例。 本实施例说明将本发明概念应用于过电流保护时的第一种架构。如图2所示，保护装置200 包含电流感测电路210与检测电路220。电流感测电路210用以感测待测电流lout，而产 生电流感测讯号。电流感测讯号相关于该待测电流lout。检测电路220与电流感测电路 210耦接，用以根据电流感测讯号，产生过电流保护讯号0CP。检测电路220包括比较电路 230、设定电路240、与自动校正电路250。比较电路230根据电流感测讯号与偏移设定，产生 过电流保护讯号0CP。设定电路240与比较电路230耦接，用以根据校正讯号，产生偏移设 定。自动校正电路250分别与比较电路230及设定电路240耦接，用以提供校正讯号。与 现有技术不同，本发明的自动校正电路250可自动产生校正讯号，以自动校正设定电路240 所产生的偏移设定。
[0059] 在一较佳实施例中，该自动校正电路250宜根据一触发讯号，才启动校正程序。在 校正程序中，提供一待测电流lout流经电流感测电路210,该待测电流lout对应于过电流 保护的临界值，其例如但不限于为根据ATX规格而设定于19A或19. 5A。接着以自动校正 电路和设定电路240进行自动校正过程，根据比较电路230输出的过电流保护讯号0CP显 示或不显示过电流状态，而对应调整设定电路240的内部设定，直到比较电路230输出的过 电流保护讯号0CP可且恰显示过电流状态。此时，设定电路240所产生的偏移设定便为正 确的数值，可使得电路在正式操作中，于待测电流lout超过预设电流时，产生过电流保护 讯号0CP。以上说明本发明的基本概念，至于电路和方法的细节，有多种实施方式，将以后 述实施例再举数例具体说明。本发明的校正程序不需由人工来调整；且应用本发明所产生 的校正讯号，可储存在内部的记忆电路中，于保护装置200正常操作时，读取记忆电路中的 数据，即可作为校正讯号；此外，本发明的校正程序所产生的校正讯号，其精确度可由使用 者利用电路设计决定，可使校正结果的精确度，远高于现有技术的人工校正方式；再者，利 用本发明的校正程序，可应用于系统全载（full load)，因此，能带间隙（bandgap)温度系 数（temperature coefficient)已考虑在校正程序中，使应用本发明的过电流保护装置在 实际的操作中更为精确；另外，相较于现有技术中，人工方式的校正程序，应用本发明以电 路的操作执行校正程序，所需的时间大幅缩短。这些都是本发明优于现有技术之处。
[0060] 图3显示本发明第二个实施例。如图3所示，保护装置300包含电流感测电路110 与检测电路320。其中，电流感测电路110包括例如但不限于待测电流lout所流经的电阻， 利用电阻上的压降作为电流感测讯号，输入检测电路320中，比较电路230其中一个输入 端。如图所示，检测电路320包含比较电路230、设定电路340、与自动校正电路350。设定 电路340例如包含偏移电压源，其电压偏移（voltage offset)可由校正讯号决定，设定电 路340提供偏移设定输入比较电路230,通过比较电流感测讯号与偏移设定而产生过电流 保护讯号OCP。需说明的是，偏移电压源不必须为比较电路230的外部元件，因一般而言，t匕 较电路的两输入端之间也具有内部偏移，故校正讯号亦可用以决定此内部偏移，在此情况 下，可将该内部偏移视为设定电路340。
[0061] 在本实施例中，自动校正电路350根据触发讯号，启动校正程序。校正程序通过比 对和写入的过程，将适当的数值写入储存于记忆电路354中，其细节容后说明。自动校正电 路350包含触发电路351、控制电路352、数值产生电路353、记忆电路354、与多任务器电 路355。触发电路351用以根据触发讯号，产生确认讯号，以确认启动校正程序。触发电路 351产生确认讯号的机制，可参阅图4中的触发讯号波形，例如但不限于当触发讯号超过触 发位准时产生确认讯号（如图中触发位准所示意）；或是例如但不限于计时触发讯号持续的 时间，于触发讯号持续的时间超过触发时间后，产生确认讯号(如图中持续时间所示意)。
[0062] 请继续参照图3,控制电路352分别与触发电路351及比较电路230耦接，于接受 到确认讯号后，启动校正程序。控制电路352根据校正程序中产生的过电流保护讯号0CP， 产生控制讯号。数值产生电路353与控制电路352耦接，并受控于控制讯号，产生数值作为 检查讯号。在校正程序中，确认讯号使多任务器电路355选择数值产生电路353输出的检 查讯号，作为校正讯号，以调整设定电路340的偏移设定。比较电路230将此偏移设定与待 测电流lout的电流感测讯号比较后，产生比较结果，输入控制电路352。根据比较结果，控 制讯号控制数值产生电路353,以将适当的数值写入记忆电路354中（写入讯号)，所写入的 即为达成正确校正结果的恰当数值。校正程序结束后，控制电路对外输出旗标讯号，表示校 正程序完成。之后，在正常操作中，触发讯号不作用而不产生确认讯号，因此多任务器电路 355选择记忆电路354输出的读取讯号，作为校正讯号。
[0063] 请对照图3与图4,其中图4举例说明在校正程序中的讯号波形。在校正程序中， 首先供应恰当的待测电流lout，此电流对应于欲设定的过电流保护临界值(亦可在进入校 正程序后再供应待测电流lout)。接着给予触发讯号，以使触发电路351产生确认讯号，而 进入校正程序。当过电流保护装置进入校正程序，于一较佳实施例中，可先确认记忆电路 354是否为空白，若为空白，则继续校正程序；若不是空白，则可以结束校正程序或是如图4 所示，先将记忆电路中的数据清除。当然，此步骤亦可省略。接着、或是与记忆电路354的 空白检查同时，数值产生电路353可产生检查讯号，例如但不限于先产生最具意义位（MSB) 的数值。此数值经过多任务器电路355输出作为校正讯号，调整设定电路340,而比较电路 230产生对应的比较结果。根据比较结果，控制讯号控制数值产生电路353,以将适当的数 值写入记忆电路354中，如图4中的"写入讯号"所示。接着、或是同时，数值产生电路353 可产生次具意义位（MSB-1)的数值，并重复相似的程序，直到最不具意义位（LSB)写入记忆 电路354为止。之后，控制电路对外输出旗标讯号Flag，表示校正程序完成。
[0064] 更详言之，欲设定的过电流保护临界值(例如前述根据ATX规格而设定于19. 5A) 为一模拟数值，而设定电路340所产生的偏移设定可在该模拟数值的某一比例范围内进行 调整。校正讯号为数字讯号，其位数可视需要的精确度来决定；校正讯号的数字数值决定偏 移设定的调整量。在校正过程中，可得到与待测电流lout相对应的偏移设定，而此偏移设 定所对应的校正讯号，其数字数值被写入记忆电路354中予以储存。由于是以数字方式储 存，因此可精确保存，在正常操作中产生精确的过电流保护临界值。
[0065] 不但如此，根据本发明，较佳校正方式是在校正过程中，先产生最具意 义位（MSB)的数值，亦即先决定校正讯号的最具意义位、其次再决定次具意义位 (MSB-1)，依序直到最不具意义位（LSB)。此方式的优点是：举例而言假设校正讯 号为八位，则经过八次比较后即可完成校正程序。假设校正讯号为八位，如果自最 大值往下比对（11111111 - 11111110 - 11111101 -…或是自最小值往上比对 (00000000 - 00000001 - 00000010 -…），则校正程序将需要较长的时间。此外，较佳方式 是以管线式（pipeline)，在检查次一位时，将前一位平行写入，可更节省校正程序所花费的 时间。
[0066] 但当然，以上所述虽然是较佳实施方式，但其它方式(例如上述自最大值往下比 对、或是自最小值往上比对）也是可行的，仍属于本发明的范围。
[0067] 请参阅图5,显示本发明第三个实施例，本实施例显示应用本发明的一种校正程序 的流程图。如图5所示，过电流保护装置收到触发讯号后(步骤S1 )，经由前述产生确认讯号 的机制，而产生确认讯号(步骤S2)，进入校正程序，或是当触发讯号不符合确认机制时，不 产生确认讯号而结束校正程序。当过电流保护装置进入校正程序，可选择先确认记忆电路 是否为空白（步骤S3)，若为空白，则继续校正程序；若不是空白，则可以结束校正程序或是 如图5所示，将记忆电路中的数据清除(步骤S4)。接着，产生检查讯号(步骤S5)，并根据检 查讯号而产生校正讯号(步骤S6)，再根据校正讯号而产生偏移设定(步骤S7)。根据偏移设 定和电流感测讯号的比较结果，产生过电流保护讯号0CP (步骤S8)，并根据过电流保护讯 号0CP所代表的状态，将适当的数值写入记忆电路。如果数值是以多位的形式储存，则接着 可以确认是否所有位都已经检查完成(步骤S10)。如否，则回到步骤S5 ;如是，则结束校正 程序(步骤S11)，并产生旗标讯号Flag以表示校正程序完成。
[0068] 记忆电路例如宜选择包括可擦写或可重复读写的非挥发性记忆电路，例如 PROM (programmable read only memory)、EPROM (erasable programmable read only memory) > EEPR0M(electrically erasable programmable read only memory)、或闪存等， 此为本领域技术人员所熟知，在此不予赘述；当然，如选用挥发性记忆电路也是可行的，只 是每次应用时都需要重新设定一次过电流保护临界值。
[0069] 图6显示本发明第四个实施例。如图6所示，保护装置400包含电流感测电路110 与检测电路420。其中，检测电路420包含放大器电路230、设定电路440、与校正电路250。 本实施例举例显示设定电路440的较具体的实施例之一，其例如包含电流镜电路441、电流 源电路442、与电流转电压电路443。电流源电路442产生电流讯号，而电流镜电路441将 该电流讯号复制为成比例的复制电流讯号。在本实施例中，设定电路440根据校正讯号，调 整电流镜电路441中的晶体管Q1，以调整电流镜电路441的复制比例，亦即调整复制电流讯 号与电流讯号的比例。电流转电压电路443例如但不限于为电阻，根据复制电流讯号，产生 偏移设定。在校正程序中，根据校正讯号，调整电流镜电路441的复制比例，即可调整偏移 设定。
[0070] 图7显示本发明第五个实施例。如图7所示，保护装置500包含电流感测电路110 与检测电路520。其中，检测电路520包含放大器电路230、设定电路540、与校正电路250。 本实施例举例显示设定电路540的另一较具体的实施例，其例如包含电流镜电路541、电流 源电路542、与电流转电压电路443。在本实施例中，设定电路540根据校正讯号，调整电流 源电路542所产生的电流讯号的电流值。电流镜电路441将该电流讯号复制为成比例的复 制电流讯号，而电流转电压电路443根据复制电流讯号，产生偏移设定。在校正程序中，根 据校正讯号，调整电流源电路542所产生的电流讯号的电流值，即可调整偏移设定。
[0071] 图8显示本发明第六个实施例，本实施例举例说明如何调整电流源电路542所产 生的电流讯号。电流源电路542的典型电路结构如图8所示，如以校正讯号来调整其中的 参考讯号或电阻值，就可改变电流源电路542所产生的电流讯号的电流值。
[0072] 图9显示本发明第七个实施例。如图9所示，保护装置600包含电流感测电路110 与检测电路620。其中，检测电路620包含比较电路230、设定电路640、与自动校正电路 250。本实施例举例显示设定电路640的另一较具体的实施例，其例如包含电流镜电路541、 电流源电路442、与电流转电压电路643。电流转电压电路643例如但不限于为可变电阻， 根据复制电流讯号，产生偏移设定。在本实施例中，设定电路640根据校正讯号，调整电流 转电压电路443的转换比例，如此，也可以调整偏移设定。
[0073] 以上图6-9的实施例不限于单独使用，亦可两者或两者以上组合使用。
[0074] 图10显示本发明第八个实施例。本实施例意在显示，本发明相同的概念，亦可应 用于电压保护而不仅是电流保护。如图10所示，保护装置700包含电压感测电路710与检 测电路720。其中，检测电路720包含比较电路730、设定电路240、与自动校正电路250。电 压感测电路710用以感测待测电压Vout，而产生电压感测讯号；电压感测讯号相关于该待 测电压Vout。比较电路730根据电压感测讯号与偏移设定，产生过电压保护讯号0VP。设 定电路240与比较电路730耦接，用以根据校正讯号，产生偏移设定。自动校正电路250分 别与比较电路230及设定电路240耦接，用以提供校正讯号。本实施例举例显示本发明可 应用于过电压保护，但显然，视所欲进行的判断而定，同样的电路也可用于低电压保护，仅 需更改比较电路730的正负输入端和相关的临界值设定。
[0075] 总之，本发明的应用并不仅限于以上各实施例所示。任何需要使用到比较电路，将 一待测电流或电压与一临界值相比较以产生判断讯号的应用场合，都可以使用本发明来校 正该临界值。
[0076] 以上已针对较佳实施例来说明本发明，只是以上所述，仅为使本领域技术人员易 于了解本发明的内容，并非用来限定本发明的权利范围。在本发明的相同精神下，本领域技 术人员可以思及各种等效变化。例如，各实施例中图标直接连接的两电路或元件间，可插置 不影响主要功能的其它电路或元件；又如，数字讯号高低位准所代表的意义可以互换，仅需 对应修改电路对讯号的处理方式；再如，比较电路的输入端正负可以互换，仅需对应修正电 路的讯号处理方式即可。又如，以上各实施例中，虽都显示设定电路产生偏移设定输入比较 电路230,以与电流感测讯号（或电压感测讯号)相比较，但偏移设定也可和电流感测讯号组 合(例如相加或相减）后，输入比较电路230的一端，而其另一端耦接于一参考讯号，这也是 等效的做法；此外，电流感测讯号（或电压感测讯号）也可取比例值后再输入比较电路230， 因此，凡说明书或权利要求书中所称"电流感测讯号（或电压感测讯号)"，应不局限于必须 为电流感测讯号(或电压感测讯号)的本身，而可为其相关讯号。凡此种种，皆可根据本发明 的教示类推而得，因此，本发明的范围应涵盖上述及其它所有等效变化。
【权利要求】
1. 一种保护装置，其特征在于，包含： 一感测电路，用以感测一待测电流或电压讯号，而产生一感测讯号；以及 一检测电路，与该感测电路耦接，用以根据该感测讯号，产生一保护讯号，该检测电路 包括： 一比较电路，与该感测电路耦接，用以根据该感测讯号与一偏移设定，产生该保护讯 号； 一设定电路，与该比较电路耦接，用以根据一校正讯号，产生该偏移设定；以及 一自动校正电路，分别与该比较电路及该设定电路耦接，用以提供该校正讯号； 其中，于一校正程序中，该自动校正电路检查该待测电流或电压讯号对应的保护临界 值并以数字方式产生及储存与该保护临界值对应的校正讯号，使得于正常操作中，该比较 电路可将该待测电流或电压与校正后的该保护临界值相比较。
2. 如权利要求1所述的保护装置，其中，该自动校正电路包括： 一控制电路，于该校正程序中，根据该保护讯号，产生一控制讯号； 一数值产生电路，与该控制电路耦接，用以根据该控制讯号，产生一检查讯号，于该校 正程序中作为该校正讯号，并产生一写入讯号； 一记忆电路，与该数值产生电路耦接，用以储存该数值产生电路输出的写入讯号；以及 一多任务器电路，分别与该数值产生电路及该记忆电路耦接，于该校正程序中选择该 检查讯号，于该正常操作中选择该记忆电路输出的一读取讯号，作为该校正讯号。
3. 如权利要求1或2所述的保护装置，其中，该设定电路包括： 一电流源电路，用以产生一电流讯号； 一电流镜电路，与该电流源电路耦接，用以将该电流讯号复制为成比例的复制电流讯 号；以及 一电流转电压电路，用以将该复制电流讯号转换为该偏移设定， 其中该电流源电路的电流讯号为可调、或该电流镜电路的复制电流比例可调、或该电 流转电压电路的转换比例可调、或以上任两者或两者以上为可调。
4. 如权利要求2所述的保护装置，其中，该自动校正电路还包括一触发电路，以接收一 触发讯号而产生一确认讯号，显示进入该校正程序。
5. 如权利要求2所述的保护装置，其中，该记忆电路包括一可擦写或可重复读写的非 挥发性记忆电路。
6. -种保护装置校正方法，该保护装置用以将一待测讯号与一保护临界值相比较，以 产生一判断讯号，其特征在于，该保护装置校正方法包含： 1) 提供一预设电流或电压讯号作为该待测讯号，此预设电流或电压讯号对应于该保护 临界值； 2) 产生一检查讯号； 3) 根据该检查讯号而产生一校正讯号，并根据该校正讯号而产生一偏移设定； 4) 根据该偏移设定和该预设电流或电压讯号或其相关讯号的比较结果，产生该判断讯 号；以及 5) 根据该判断讯号所代表的状态，将一数值写入一记忆电路。
7. 如权利要求6所述的保护装置校正方法，其中，还包含：产生一旗标讯号以表示校正 完成。
8. 如权利要求6所述的保护装置校正方法，其中，还包含：在产生该检查讯号之前，确 认该记忆电路为空白；且当该记忆电路不为空白时，清除该记忆电路中的数据。
9. 如权利要求6所述的保护装置校正方法，其中，该将一数值写入一记忆电路的步骤 包括：自最具意义位开始写入。
10. 如权利要求6所述的保护装置校正方法，其中，还包含：重复步骤2)-5)，以将多个 位写入该记忆电路。
11. 如权利要求10所述的保护装置校正方法，其中，将多个位写入该记忆电路，次序为 自最具意义位开始、至最不具意义位。
12. 如权利要求6所述的保护装置校正方法，其中，还包含：根据一触发讯号，确认进入 一校正程序后，才产生该检查讯号。
13. 如权利要求12所述的保护装置校正方法，其中，该根据一触发讯号，确认进入一校 正程序的步骤包括：根据该触发讯号的位准或持续时间，判断是否确认进入该校正程序。
【文档编号】G05F1/56GK104122917SQ201310146438
【公开日】2014年10月29日 申请日期:2013年4月24日 优先权日:2013年4月24日
【发明者】饶东铮, 陈曜洲 申请人:立锜科技股份有限公司