专利名称：记录介质和记录装置及记录方法
技术领域：
本发明涉及一种数据记录介质，记录装置和用于将信息记录到数据记录介质上的记录方法。
背景技术：
用于向存储介质上光记录信息，尤其是数字数据的数据记录装置通常被用做便捷的大容量数据存储装置。
相变光盘为一种类型的光数据记录介质。为了向相变光盘记录信息，半导体激光器向旋转光盘发射光束，以加热和熔化盘上的记录膜。通过控制激光束的功率，可对熔化膜的温度和冷却过程(冷却率)进行调节，从而降低记录膜中的相变。
当激光功率高时，记录膜从高温状态快速冷却，从而变为无定形。当发射相对较低功率的激光束时，记录膜从中温状态逐渐冷却，从而结晶。记录膜所形成的无定形部分就为通常所说的“标记”，而在任意的两个标记之间的结晶部分为通常意义上的“空间间隔”。利用这些标记和间隔，可对两-值二进制信息进行记录。当用于形成标记的所发射的激光束被设置为高功率时，激光器工作在“峰值功率”。当激光器在低功率发射激光形成间隔时，激光器工作在所谓的“偏置功率”电平。
在数据再现期间，所发射的激光束功率电平足够低，不会引发相变，然后对其反射进行检测。通常来自无定形标记的反射率很低，而来自结晶间隔(区域)的反射较高。因此，通过检测由标记和间隔所反射的光之间的差别可产生读取信号。
同样可使用标记位置记录方法(简称为PPM)或标记边缘记录方法(简称为PWM)将数据记录到相变盘上。通常标记边缘记录方法的记录密度较高。
标记边缘记录与标记位置记录方法相比，其可记录更长的标记。当激光器在峰值功率向相变盘发射激光时，在记录膜中累积的热量导致在盘的径向上标记的宽度向着标记的端部增加，在直接重写记录方法中，这将导致部分标记未被重写，或被完全擦除，从而在再现期间由于磁道之间的信号交叉而使信号质量降低。
通过缩短所记录的标记和间隔的长度同样可增加记录密度。当间隔缩短超过某个点时，会产生热干扰。此热干扰会使得在所记录的标记后沿处的热量传递到后续的间隔，从而对下一个标记的始端的热分布造成影响。在某个记录标记始端的热量同样可回流到前面的间隔，并对前面标记的冷却过程造成负面影响。当在传统的记录方法中产生此种的热干扰时，前沿和后沿的位置会产生位移，从而会增大数据再现期间的增大出错率。
针对此问题，日本未审查专利公开H07-129959(U.S.专利号5,490,126和5,636,194)记述了一种记录方法，将标记边缘记录中的用于形成标记的信号划分为三个部分，即一个恒宽起始部分，一个中间部分，该部分具有周期恒定的脉冲，和一个恒宽结束部分，然后在形成标记期间，通过快速切换两-值激光束的输出，而用此信号驱动记录。
通过此方法，长标记的中间部分的宽度基本上是恒定的，由于用恒定周期脉冲电流激励激光器的输出，从而该宽度也不会扩展，其中所述的恒定周期脉冲电流产生形成标记所需的最小的功率。由于向标记的前沿和后沿端部发射恒定宽度的激光束，所以在直接重写记录方法中，在标记的前沿和后沿的波动不会增大。
同样可检测标记前后的标记或间隔的长短，并根据标记和前沿及后沿间隔的长度改变位置，在该位置记录标记的前沿和后沿部分。通过此方法可补偿在记录期间由于热干扰所造成的峰值位移。
然而，在日本专利申请H07-129959中却未描述用于确定标记的前沿和后沿部分的最优位置的方法。
如果未确定优化前沿和后沿位置的方法，则优化记录的可靠性会降低。另外，即使实现了优化记录，在搜索优化位置时也会耗费太多的时间，且增大电路的成本。
根据所记录的数据对标记的前沿和后沿的位置进行改变的方法同样可作为实现高密度数据记录的手段。然而，此方法的一个问题在于，由于如上所述的热干扰，所记录的标记的边缘会产生移动。这种边缘的移动同样与盘的格式及记录膜的结构密切相关，如果无法消除这些变化，则无法实现最优的记录。
发明内容
考虑到上述的问题，本发明的一个目的在于提供一种方法和装置，其可容易的确定每个标记的前沿和后沿的最优位置，从而在盘格式、记录膜成分和记录装置等特性发生变化时，也可获得最优的记录效果。
为了实现这些目的，根据本发明的第一方面，数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；针对特定记录装置的特定装置信息；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的至少其中一个位置处，将所述标记记录到数据记录介质。
根据本发明的第二方面，在根据本发明的第一方面的数据记录介质中，特定装置信息至少包含下面中的一个特定记录装置生产商名、产品号、产品的产地和生产日期。
根据本发明的第三方面，在根据第一方面所述的数据记录介质中，特定信息记录区还记录暂时功率信息，该信息表示光束的功率电平，用于确定特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的至少一个。
所述暂时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置、边限常数和不对称性。
根据本发明的第四方面，在根据第二方面所述的数据记录介质中，特定信息记录区还包含记录一个用于确定所述暂时功率信息的模式信号。
根据本发明的第五方面，在根据第一方面所述的数据记录介质中，特定信息记录区还记录在数据记录区中进行实际数据记录所使用的表示光束的功率电平的工作功率信息。
所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第六方面，在根据第五方面所述的数据记录介质中，特定信息记录区还记录用于确定所述工作功率信息的模式信号。
根据本发明的第七方面，在根据第一方面的数据记录介质中，所述特定信息记录区还记录一个非对称信息，该信息用于确定特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的至少一个。
根据本发明的第八方面，在根据第一方面的数据记录介质中，还包含一个控制信息记录区，用于预先记录将所述标记记录到数据记录介质上所需的驱动脉冲序列的第一驱动脉冲位置Tu和最后驱动脉冲位置Td中的一个。
根据本发明的第九方面，在根据本发明的第一方面的数据记录介质中，所述特定信息记录区被提供用于记录特定的第一脉冲位置Tu和最后脉冲位置Td中的至少一个，和作为数据组的特定装置信息，所述数据组被记录用于多个不同的记录装置。
根据本发明的第十方面，在用于对数据记录介质进行记录和再现信息的记录和再现装置中，所述数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含
一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；针对特定记录装置的特定装置信息；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的至少其中一个位置处将所述标记记录到数据记录介质；记录和再现装置还包含一个读取装置，用于从数据记录介质的特定区域读取数据记录介质所特定的特定装置信息；和存储器，用于存储所述读取的特定介质信息。
根据本发明的第十一方面，在根据第十方面的记录和再现装置中，特定介质信息至少包含下面中的一个特定记录装置生产商名、产品号、产品的产地和生产日期。
根据本发明的第十二方面，在根据第十方面所述的数据记录介质中，存储器还存储表示用于确定特定的第一脉冲位置Tu或/和特定的最后脉冲位置Td的光束功率电平的临时功率信息；所述临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置；偏置功率设置；边限常数和非对称性。
根据本发明的第十三方面，在根据第十二方面的记录和再现装置中，存储器还存储用于确定所述临时功率信息的模式信号。
根据本发明的第十四方面，在根据第十方面的记录和再现装置中，存储器还存储表示在数据记录区中实际用于数据记录的光束的功率电平的工作功率信息。
所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第十五方面，在根据第十四方面的记录和再现装置中，存储器还存储用于确定所述工作功率信息的模式信号。
根据本发明的第十六方面，在根据第十方面的记录和再现装置中，所述存储器还记录非对称信息，用于至少确定特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的一个。
根据本发明的第十七方面，在根据第十方面的记录和再现装置中，存储器还存储所述特定第一脉冲位置Tu和/或所述特定的最后脉冲位置Td。
根据本发明的第十八方面，在根据本发明的第十方面的记录和再现装置中，存储器还存储在记录和再现装置中使用的用于多个不同的数据记录介质的特定的中间信息。
根据本发明的第十九方面，在用于将数据记录到数据记录介质上的记录方法中，所述数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；针对特定记录装置的特定装置信息；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的至少其中一个位置处，将所述标记记录到数据记录介质；记录方法还包含如下的步骤确定所述的特定的第一脉冲位置Tu和/或所述的特定的最后脉冲位置Td；及将数据记录到数据记录区。
根据本发明的第二十方面，在根据第十九方面的记录方法中，从标志部分和模式信号中的紧邻间隔部分的前面部分的长度获得特定的第一脉冲位置Tu，及从标志部分和模式信号中紧随间隔部分的后续部分获得特定的最后脉冲位置Td。
根据本发明的第二十一方面，在根据第十九方面的记录方法中，特定的第一脉冲位置Tu表达为作为要被记录的模式信号中的标志部分的前沿的第一基准点R1和多个驱动脉冲中的第一脉冲的第一边缘之间的时间差TF，及特定的最后脉冲位置Td表达为第二基准点R2和多个驱动脉冲中的最后一个脉冲的后沿之间的时间差TL，其中的第二基准点R2相对要被记录的模式信号中的标志部分具有特定的公知位置。
根据本发明的第二十二方面，在根据第二十方面的记录方法中，模式信号包含一个用于获得DSV为0(数字用户话音)的调节信号。
根据本发明的第二十三方面，在根据第十九方面的记录方法中，通过再现数据记录介质的特定信息记录区而确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后脉冲位置Td，从而获得所需的信息。
根据本发明的第二十四方面，在根据第十九方面的记录方法中，通过在特定的记录和再现装置中从存储器读取信息而确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后脉冲位置Td，其中用数据记录介质获得所需的信息。
根据本发明的第二十五方面，在根据第十九方面的记录方法中，将为特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后脉冲位置Td所确定的信息记录到数据记录介质的特定的信息记录区，同时与特定的记录和再现装置所特有的特定装置信息相结合。
根据本发明的第二十六方面，在根据第十九方面的记录方法中，将为特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后脉冲位置Td所确定的信息记录到特定的记录和再现装置中的存储器中，同时与特定记录和再现装置所特有的特定信息相结合。
根据本发明的第二十七方面，在根据第十九方面的记录方法中，将表示光束的功率电平的临时功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区中，其中的临时功率信息被用于确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后的脉冲位置Td，所述的临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置，偏置功率设置，边限常数和非对称性。
根据本发明的第二十八方面，在根据第二十七方面的记录方法中，还将用于确定所述临时功率信息的模式信号记录到所述的特定信息记录区。
根据本发明的第二十九方面，在根据第十九方面的记录方法中，还将工作功率信息记录到数据记录介质的特定的信息记录区，其中的工作功率信息表示在数据记录区中实际使用的光束的功率电平。
所述的工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第三十方面，在根据第二十九方面的记录方法中，还将用于确定所述工作功率信息的模式信号记录到所述的特定信息记录区中。
根据本发明的第三十一方面，在根据第十九方面的记录方法中，所述的特定信息记录区还记录非对称信息，其中该信息用于至少确定特定的第一脉冲位置Tu和特定的最后脉冲位置Td中的一个。
根据本发明的第三十二方面，在用于向数据记录介质记录信息的记录方法中，所述数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；针对特定记录装置的特定装置信息；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的第一特定脉冲位置Tu和最后特定脉冲位置Td中的至少其中一个位置处，将所述标记记录到数据记录介质；记录方法还包含如下的步骤确定用于记录所述标记的光束的发射功率；及确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后的脉冲位置Td。
根据本发明的第三十三方面，在根据第三十二方面的记录方法中，通过将预定的特定模式信号记录到数据记录介质上而对光束发射功率进行确定。
根据本发明的第三十四方面，在根据第三十三方面的记录方法中，特定的模式信号包含单一的一个信号。
根据本发明的第三十五方面，在根据第三十三方面的记录方法中，特定的模式信号包含用于获得DSV为0的调节信号。
根据本发明的第三十六方面，在根据第三十三方面的记录方法中，再现被记录到数据记录介质的特定模式信号，将被再现的特定模式信号与特定的用于记录的模式信号进行比较，并对发射功率进行设置，使得所比较的信号之间的差为特定的值或比该值小。
根据本发明的第三十七方面，在根据第三十三方面的记录方法中，预先将预定的特定模式信号记录到数据记录介质上。
根据本发明的第三十八方面，在根据第三十三方面的记录方法中，在记录装置中预先记录预定的特定模式信号。
根据本发明的第三十九方面，在根据第三十三方面的记录方法中，将为特定的数据记录介质所确定的发射功率记录到所述特定的数据记录介质。
根据本发明的第四十方面，在根据第三十三方面的记录方法中，将为特定的数据记录介质所确定的发射功率存储到记录装置中，同时与用于所述特定数据记录介质的特定介质信息相结合。
根据本发明的第四十一方面，在根据第三十二方面的记录方法中，还将临时功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区中，其中的临时功率信息表示用于确定特定的第一脉冲位置和/或特定的最后脉冲位置Td的光束的功率电平，所述临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置、边限常数和非对称性。
根据本发明的第四十二方面，在根据第四十一方面的记录方法中，还将用于确定所述临时功率信息的模式信号记录到所述特定信息记录区。
根据本发明的第四十三方面，在根据第三十二方面的记录方法中，还将工作功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区中，其中的工作功率信息表示在数据记录区中用于实际的数据记录的光束的功率电平，
所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明第四十四方面，在根据第四十三方面的记录方法中，将用于确定所述工作功率信息的模式信号记录到所述的特定信息记录区中。
根据本发明的第四十五方面，在用于对数据记录介质进行记录的记录方法中，所述数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；针对特定记录装置的特定装置信息；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的第一特定脉冲位置Tu和最后特定脉冲位置Td中的至少其中一个位置处，将所述标记记录到数据记录介质；记录方法还包含如下的步骤确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后的脉冲位置Td，及确定用于记录所述标记的光束的发射功率。
根据本发明的第四十六方面，在根据第四十五方面的记录方法中，通过将预定的特定模式信号记录到数据记录介质而确定光束发射功率。
根据本发明的第四十七方面，在根据第四十六方面的记录方法中，将预定的特定模式信号预先记录到数据记录介质。
根据本发明的第四十八方面，在根据第四十六方面的记录方法中，将预定的特定模式信号预先记录到记录装置中。
根据本发明的第四十九方面，在根据第四十六方面的记录方法中，将为特定数据记录介质而确定的发射功率记录到所述特定的数据记录介质。
根据本发明的第五十方面，在根据第四十六方面的记录方法中，将为特定的数据记录介质而确定的发射功率存储到记录装置中，同时与用于所述特定数据记录介质的特定介质信息相结合。
根据本发明的第五十一方面，在根据第四十五方面的记录方法中，还将临时功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区，其中的临时功率信息表示用于确定特定第一脉冲位置Tu和/或特定最后脉冲位置Td的光束的功率电平，所述临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置、边限常数和非对称性。
根据本发明的第五十二方面，在根据第五十一方面的记录方法中，将用于确定所述临时功率信息的模式信号记录到所述特定的信息记录区，根据本发明的第五十三方面，在根据第四十五方面的记录方法中，将工作功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区，其中的工作功率信息表示在数据记录区中实际进行数据记录所使用的光束的功率电平，所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第五十四方面，在根据第五十三方面的记录方法中，将用于确定所述工作功率信息的模式信号记录到所述特定信息记录区。
根据本发明的第五十五方面，在根据第四十五方面的记录方法中，所述特定信息记录区还记录用于至少确定特定第一脉冲位置Tu和特定最后脉冲位置Td中的一个的非对称信息。
根据本发明的第五十六方面，在用于向数据记录介质记录信息的记录方法中，所述数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；
针对特定记录装置的特定装置信息，并与其相结合；及在特定记录装置所需的驱动脉冲序列的第一特定脉冲位置Tu和最后特定脉冲位置Td中的至少其中一个位置处，将所述标记记录到数据记录介质；记录方法还包含如下的步骤对组延迟进行补偿，从而即使当所记录的信号的频率不同时，也可在所读取的信号中获得相同的组延迟值；及接着确定特定的第一脉冲位置Tu和/或特定的最后脉冲位置Td。
根据本发明的第五十七方面，在根据第五十六方面的记录方法中，通过将检测信号记录到数据记录介质而完成组延迟补偿，其中的检测信号由具有特定长度的间隔信号构成。
根据本发明的第五十八方面，在根据第五十七方面的记录方法中，检测信号为被预先记录到数据记录介质中的被进行修饰的信号。
根据本发明的第五十九方面，在根据第五十七方面的记录方法中，将检测信号预先记录到数据记录介质的特定区域。
根据本发明的第六十方面，在第五十七方面的记录方法中，将检测信号预先记录到记录装置中。
根据本发明的第六十一方面，在第五十七方面的记录方法中，通过进行组延迟补偿而将再现的检测信号中的波动降低到最小。
根据本发明的第六十二方面，在五十六方面的记录方法中，还将临时功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区中，其中的临时功率信息表示用于确定特定第一脉冲位置Tu和/或特定最后脉冲位置Td的光束的功率电平，所述的临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置、边限常数和非对称性。
根据本发明的第六十三方面，在根据第六十二方面的记录方法中，将用于确定所述临时功率信息的模式信号记录到所述的特定信息记录区中。
根据本发明的第六十四方面，在根据第五十六方面的记录方法中，将工作功率信息记录到数据记录介质的特定信息记录区中，其中的工作功率信息表示在数据记录区中实际使用的光束的功率电平，所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第六十五方面，在根据第六十四方面的记录方法中，将用于确定所述工作功率信息的模式信号记录到所述特定信息记录区中。
根据本发明的第六十六方面，在根据第五十六方面的记录方法中，所述特定信息记录区还记录用于确定特定第一脉冲位置Tu和特定最后脉冲位置Td中的至少一个的非对称信息。
根据本发明的第六十七方面，数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含一个用于记录数据的数据记录区，和一个控制数据区，用于预先记录作为被修饰的标记和间隔的序列的控制数据，所述控制数据至少包含记录装置所需的驱动脉冲序列的第一脉冲位置Tu和最后脉冲位置Td中的一个，用于将所述标记记录到数据记录介质，临时功率信息，其表示用于确定所述第一脉冲位置Tu和/或最后脉冲位置Td的光束的功率电平，所述临时功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置、边限常数和非对称性。
根据本发明的第六十八方面，数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含一个用于记录数据的数据记录区，和一个控制数据区，用于预先记录作为被修饰的标记和间隔的序列的控制数据，所述控制数据至少包含记录装置所需的驱动脉冲序列的第一脉冲位置Tu和最后脉冲位置Td中的一个，用于将所述标记记录到数据记录介质，及工作功率信息，其表示在数据记录区中用于实际数据记录的光束的功率电平，所述工作功率信息至少包含下面中的一个峰值功率设置、偏置功率设置和边限常数。
根据本发明的第六十九方面，数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录由标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含一个用于记录数据的数据记录区，和一个控制数据区，用于预先记录作为被修饰的标记和间隔的序列的控制数据，所述控制数据至少包含记录装置所需的驱动脉冲序列的第一脉冲位置Tu和最后脉冲位置Td中的一个，用于将所述标记记录到数据记录介质，及用于确定所述脉冲位置的非对称信息。
通过下面结合相应附图的对本发明的详细描述，会对本发明的其他的目的和效果有更清晰的了解。
图1为根据本发明的最佳实施例的信息记录装置的方框图；图2为根据本发明的最佳实施例的光盘的平面示意图；图3和图6到图9为根据本发明的方法的信号处理过程的示意图；图4为根据本发明的方法的记录脉冲序列的示意图；图5A和图5B示出了根据本发明的方法的对信号进行分组的最佳方法的示意图；图10和11为根据本发明的最佳实施例的用于边缘位置调节所内插的初始值的示意图；图12到18为根据本发明的最佳实施例的光盘的平面示意图；图19为根据本发明的最佳实施例的在边缘位置调节前确定临时功率发射值的示意图；图20A、20B和20C示出了本发明最佳实施例中记录模式的示意图；图21为根据本发明的最佳实施例的在边缘位置调节前用于确定峰值功率电平的方法的示意图；图22和23为根据本发明的最佳实施例的在边缘位置调节前用于确定偏置功率电平的方法的示意图；图24为根据本发明的最佳实施例的在边缘位置调节后用于确定峰值功率电平的方法的示意图；图25为根据本发明的最佳实施例的在边缘位置调节后用于确定偏置功率电平的方法的示意图；图26为根据本发明的最佳实施例的盘记录器的再现系统中组延迟的频率特性的示意图；图27为在本发明的最佳实施例中数据再现信号的示意图；图28A和28B为在本发明的最佳实施例中用于检测组延迟的方法的示意图；图29A和29B为本发明的最佳实施例中组延迟补偿电路的方框示意图；图30示出在本发明的最佳实施例中波动和组延迟补偿之间关系的示意图；图31A、31B和31C为典型的光盘中用户数据格式的示意图；图32、33和36为通过应用根据本发明的最佳实施例的方法进行信号处理的示意图；图34和35为根据本发明的最佳实施例的光盘的数据格式的示意图；图37示出了根据本发明的最佳实施例的在存储器130中的数据存储格式的示意图；
图38简要描述了本发明的各个实施例的特征。
具体实施例方式
下面将参考相应的附图对本发明的最佳实施例进行描述。
图1为根据本发明的最佳实施例的在下面被称为光盘记录器的光数据记录装置的方框图。
如图1中所示，该光盘记录器包含光盘101、锭子电机102、半导体激光器103、准直透镜104、分光镜105、物镜106、会聚透镜107、光探测器108、激光驱动电路109、脉冲移动电路110、脉冲发生器111、前置放大器112、低通滤波器113、再现均衡器114、数字电路115、锁相环路(PLL)116、解调电路117、误差矫正电路118、功率电平设置电路119、脉冲位置偏移测量电路120、开关121、开关触点122、123和124、用于脉冲位置调节的图形信号发生器125、调制电路126、记录数据发生器127、读取数据信号128、存储器129、存储器130、数据比较器131和存储器132。
记录数据发生器127还包含一个图形发生器127a、随机图形发生器127b和实信号发生器127c。
同样如图1中所示，其示出了延迟电路138和139，每个都具有相同的延迟时间和非对称性检测器140。
存储器129存储两个表，使用矫正表并借助本发明的图5中的方法进行矫正，然后将其写回到存储器中。
存储器132存储用于确定功率电平的信息，其中的功率电平用于驱动激光器，并存储最后所选择的功率设置值。需注意的是，在本发明的此实施例中，将激光驱动功率设置在上述的峰值功率电平或设置在偏置功率电平。
存储器130存储(1)特定的盘信息，该信息被预先写到光盘上(诸如光盘生产商的名字、产品号、产地、生产日期、盘的结构和记录膜的构成)，(2)在下面将要进行描述的调节方法，(3)上述两个被存储到存储器129中的矫正表，和(4)存储到存储器132中的所选择的激光功率电平。需注意的是，存储器130为多个不同的光盘存储上述内容(1)到(4)。
通过在存储器中存储多个不同光盘的此类信息，当装入用于记录数据的光盘时，如果对于所装入的光盘已经在存储器中存储了上述的内容(1)到(4)，则可跳过为进行最优化记录所需的准备记录装置的信息的操作，特别是用于获得上述项目(3)和(4)的操作。因此，可立即开始进行记录。
在图37中示出了存储器130中用于数据布局的概念图。在特定盘信息n中包含上述的内容(1)；在脉冲位置信息包含内容(2)和(3)；在临时功率和工作功率电平信息中包含上述的内容(4)。当将盘装入到在下面称为盘记录器的记录装置中时，立即从盘读出特定的盘信息。然后将从盘读出的特定的盘信息与存储到存储器130中的特定的盘信息进行比较，并确定在存储器中是否已经存在有相同的信息。
如果在存储器中不存在相同的信息，例如首次将新盘装入到盘记录器中时，则将特定的盘信息、临时功率和工作功率电平信息和脉冲位置信息作为一组数据存储到存储器130中。需注意的是，通过所述的记录检测操作，在任何地方通过几秒到几十秒可获得临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息。
如果在存储器中已经存在与所读出的特定盘信息相符的数据组，且如果前面已经将相同的盘装入到盘记录器中，则从存储器130读出与特定盘信息相符的数据组的临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息。然后将临时功率和工作功率电平信息写入到存储器132中，将脉冲位置信息写入到存储器129中。需注意的是，由于从存储器中容易读出此信息，从而可节省几秒到几十秒用于通过记录检测操作而确定信息的时间。
显而易见的是，如果在盘记录器中装入了n个不同的盘，需要将n组特定的盘信息、临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息写入到存储器130中。在本发明的最佳实施例中，将这些n组数据存储到两个或多个位置。通过将数据组存储到多个位置，可从另外的一个位置再现数据，例如，由于刮痕或污染而无法从存储器130中的一个位置读取数据的情况。
图2为光盘101的平面示意图，其具有数据存储区201和写检测区202。
需注意的是，图1中的数据记录器的光头包含半导体激光器103、准直透镜104、分光器105、物镜106、会聚透镜107和光探测器108。当将光盘101装入到光数据记录器中时，光头移动到写检测区202，用于确定每个标记的起始位置和结束位置的最佳位置。
此用于确定最佳标记起始和结束位置的区域位于盘的内圆周区域和/或外圆周区域，并位于用户数据记录区的外部。盘的驱动检测区就是此类区的一个范例。当对写检测区202进行写操作时，开关121将节点122切换到节点123。在常规的用户数据写操作中，开关121进行变换，从而节点122与节点124导通，以便将来自记录数据发生器127的输出信号在通过调制电路126对其进行调制后提供到脉冲发生器111。
功率电平设置电路119将激光驱动电路109设置到峰值功率或偏置功率。此时，来自图形信号发生器125的输出信号通过开关121到达脉冲发生器111。下面将参考图3对流过脉冲发生器111的信号进行描述。
图3中示出了第一图形信号301，其为来自图形信号发生器125的输出信号；输出信号302来自脉冲发生器111；输出信号303来自脉冲移动电路110；通过根据输出信号303调制峰值功率和偏置功率电平之间的激光功率输出而在光盘101的记录磁道中形成标记图形。需注意的是，在信号301、302和303不是在同一个时间基础上生成时，为了方便起见，在竖直对齐的每个信号中示出其相应的部分。
在第一图形信号301中，标记部分309、311、313、315、317和319为在盘上要形成标记的信号部分，而间隔部分310、312、314、316、318和320为作为盘上间隔部分的信号部分。在下面同样假设，标记部分309紧跟间隔部分320，由此第一图形信号301包含部分309到320的重复图形。
例如，当对由(2，10)运行长度受限制的调制所生成的数据使用标记边缘记录方法进行记录时，标记和间隔具有最短长度3T和最长长度11T，其中T为基准周期。标记部分309为6T信号(下面为6T标记部分)，间隔部分310为6T间隔，311为3T标记，312为6T间隔，313为6T间隔，314为6T间隔，315为6T间隔，316为4T间隔，317为6T标记，318为6T间隔，319为7T标记，320为6T间隔。
需注意的是，如果DSV为特定周期中标记和间隔的总长度之差，当通过插入信号319和320对标记和间隔进行再现时，可获得带有小的直流成分和低频率成分的再现信号，从而可获得基本上为零的DSV；需注意的是，只有当DSV不是零时才插入信号319和320。再现带有多个直流成分或低频率成分的信号会导致数字电路115所生成的信号中0s和1s的顺序发生错误。
为了防止发生此种情况，在第一图形信号301中插入一个7T标记部分319作为补偿信号，以保证DSV基本上为零。更具体的，通过产生第一图形信号301，从而标记部分309、311、313、315、317以及319的和(34T)等于间隔部分310、312、314、316、318以及320的和(34T)。通过将正值的标记部分的周期与负值的间隔部分的周期相加而计算DSV。其结果，第一图形信号301的DSV为零。
通过脉冲发生器111将第一图形信号301转换为脉冲序列，结果生成脉冲发生器输出信号302。图4中示出了与来自3T到11T的标记长度对应的来自脉冲发生器111的脉冲输出。
参考图4中的6T信号实例，信号的起始脉冲称为第一脉冲401，而信号的结束脉冲称为最后脉冲404。第一脉冲401和最后脉冲404之间的脉冲被称为多脉冲402和403，并具有恒定的周期。
在6T标记中，有两个多脉冲402和403，在7T中有三个，而在5T标记中有一个。因此显而易见的，在第一和最后脉冲之间的多脉冲数在信号长度每增加1T时其增加1，并在信号长度降低1T时减少1。因此，一个4T标记只包含第一和最后脉冲，在其间并不包含多脉冲402或404。另外，3T标记仅包含一个脉冲。
需要注意的是，在本发明的此实施例中，第一脉冲的时基长度为1.5T，最后脉冲为0.5T，多脉冲的长度同样为0.5T。然而本发明并不限于此，可根据光盘101的结构按照需要改变这些脉冲的长度、数量和周期。
将脉冲发生器输出信号302输入到脉冲移动电路110，其产生并输出信号303，在该信号中第一脉冲和最后脉冲的位置发生移动。图5示出了用于移动第一脉冲和最后脉冲位置的标记和间隔的组合的示意图。
图5A示出了在通过本发明的方法进行矫正后的脉冲移动表，图5B示出了在矫正前的脉冲移动表。图5A的表中的符号3S3M、4S3M等为地址类型，并表示信号类型和被写入到该地址的值。当作为地址读取时，例如，值3S3M表示在间隔3T后为标记3T的信号。正如下面将详细描述的，存储在3S3M位置处的第一脉冲移动TF的值为当标记3T跟随间隔3T时所需要的移动。
通过使用特定的光学检测盘的实验和矫正过程可得到这些第一脉冲移动TF值，并将所获得的值编辑到图5A的表中。对与光学检测盘具有相同结构的所有的光盘存储所完成的表的内容。在图5B中的左边的表中存储第一脉冲的预定的预定的初始值(最后脉冲移动矫正后)。图5B的右边的表中存储最后脉冲移动矫正前的初始值。
根据标记和其紧随前面的间隔的长度改变第一脉冲的位置，即第一驱动脉冲位置Tu。在此最佳实施例中，将标记和间隔分为三组，即3T、4T和5T或更长。因此可形成总共九个不同的脉冲位置。
根据标记和紧随其后面的间隔的长度改变最后脉冲的位置，即最后驱动脉冲位置Td。在此最佳实施例中，将标记和间隔分为三组，即3T、4T和5T或更长。因此总共形成九个不同的脉冲位置。
需要注意的是，在相关的日本专利申请11-185298中，揭示了一种用于确定第一和最后脉冲移动的最佳方法。同时由本发明人申请的美国专利申请09/352,211和欧洲专利申请No.99113060.0在这里引用作为参考。
图33为图3中所示的第一图形信号301中6T标记317的放大示意图，即在脉冲发生器输出信号302中的相应部分。如图中所示，4T间隔316在前面紧邻6T标记317。后面跟随有6T标记的4T间隔属于图5A的左表中的4S5M组。下面将描述对为此组所存储的初始第一脉冲移动TF的矫正。
图1中示出的光数据记录器中的图形信号发生器125产生第一图信号301。将此第一图形信号301发送到脉冲发生器111、延迟电路139、脉冲位置偏移测量电路120和存储器129。如上所述，将图5B中所示的两个表预先存储到存储器129中。脉冲位置偏移测量电路120同样存储第一图形信号301，其在再现数据其间用于与再现信号进行比较。脉冲发生器111产生记录图形信号所需的输出信号302。参考图4中所示的上面两行所示的信号，脉冲发生器111产生与第一图形信号301中的标记的上升沿对应的第一脉冲401，然后输出多脉冲402和403，及最后脉冲404。
通过延迟电路138将脉冲发生器输出信号302延迟预定的周期，然后输送到脉冲移动电路110。在此实施例中此预定的周期为13T。在存储器129中对第一图形信号301进行分析以确定前面的10T或更长的周期中的信号属于18个信号组中的哪一个，即3S3M、3S4M、3S5M、4S3M、3S4M、4S5M、5S3M、5S4M、5S5M、3M3S、4M3S、5M3S、3M4S、4M4S、5M4S、3M5S、4M5S和5M5S。例如，如果在来自图形信号发生器125的第一图形信号301中4T间隔316后面跟随有6T标记317，存储器129检测信号属于4S5M组。因此向脉冲移动电路110读出并输出在4S5M0表中所存储的移动量。在第一次读取移动值时，从表中读出初始4S5M0移动值。然后脉冲移动电路110在基于从4S5M0读出的初始移动值的预定的延迟后，位移向其提供的脉冲发生器输出信号302。
下面将参考图1和图33对第一脉冲的移动进行详细描述。当存储器129通知脉冲移动电路110将要有来自延迟电路139的属于特定组的图形时，其同样从存储器129接收针对该图形的第一脉冲移动TF。例如，当存储器129通知脉冲移动电路110将要有来自延迟电路139的属于4S5M组的图形时，即后面跟随有6T标记317的4T间隔316，其同样发送为4S5M0组所读取的第一脉冲移动TF。然后脉冲移动电路110开始计算从延迟电路139接收的6T标记317的脉冲上升沿处的第一脉冲移动TF，即在图33中的时间R1。将来自延迟电路138的第一脉冲的输出延迟脉冲移动电路110所计算的周期，即脉冲移动TF。
当第一脉冲移动TF针对第一图形信号301的上升沿R1时，例如，第一脉冲移动TF表示为与图33中所示的的基准时间R1的时间差。在此实施例中，脉冲移动TF大约为3ns。需注意的是，第一脉冲在移动时脉宽保持不变。
图3中所示的图形信号包含属于图5A表中18个组中四个组的信号成分在周期321中为类型3M5S，在周期322中类型5S3M，在周期323中为类型4S5M，在周期324中为类型5M4S。由此可移动与第一图形信号301中的此四种类型相对应的每个脉冲信号成分。
然后根据这些移动的脉冲激励激光器，以记录实际的标记。在图3中示出了所获得的标记304。在本发明的此最佳实施例中，重复输出包含图3中所示的要素309到320的第一图形信号301，并围绕一个磁道进行记录。当记录完一个完整的磁道时，对磁道进行再现。再现包含将来自光探测器108的光信号转换为电信号，然后通过前置放大器112、低通滤波器113、再现均衡器114和数字电路115对电信号进行处理，以获得再现信号305。将再现信号305输入到脉冲位置偏移测量电路120。从而重复的将来自信号磁道的再现信号305输入到脉冲位置偏移测量电路120。由此脉冲位置偏移测量电路120多次读取与不同的信号类型相关的每个周期321、322、323和324，并计算每个周期的平均值。
脉冲位置偏移测量电路120对在记录期间与在所记录的第一图形信号中获得的类型对应的周期321、322、323、324与从再现信号305获得的相同周期中的平均值进行比较，以检测在脉冲位置是否已经产生了位移。用如上所述的被记录和再现的信号作为实例，用在第一图形信号301中获得的4T间隔316和6T标记317的组合时间与在再现信号305中的对应周期324中获得的平均值进行比较，并得出其间的差值。如果存在差值，脉冲位置偏移测量电路120确定脉冲位置发生了位移，因此将所计算的差值发送到存储器129。由于此差值是初始移动值4S5M0的结果，根据差值增大或减小存储器129中的初始移动值4S5M0，从而对所存储的移动值进行矫正。然后用此被矫正的值对类型4S5M进行改写。
需注意的是，在上述的实施例中，使用单反馈环路(通过110、109、108、112、115、120、126、129)对所存储的移动值进行矫正并对类型4S5M进行改写。然而，显而易见的是，可轮流使用多个反馈环路，从而如图33中所示，对第一脉冲移动TF的值进行矫正。
对最后脉冲位置的移动进行类似的矫正。即，根据标记长度和后续间隔的长度改变最后脉冲位置移动。在此实施例中，根据长度3T、4T和5T或更长的长度将标记和间隔分为三组，并对每九个可能的标记/间隔组合的脉冲位置移动进行限定。然后使用与计算第一脉冲移动TF相同的方法计算最后脉冲移动TL。
如图33中所示，按照与上述的第一脉冲移动TF相同的方法对最后脉冲移动TL进行矫正。此最后脉冲移动TL的时间间隔从时间基准R2偏移2T，将标记的后沿推进到最后脉冲的后沿，并参考第一脉冲借助上述的环路进行矫正。在此实施例中，最后脉冲移动TL大约为11ns。需要注意的是，即使最后脉冲移动TL的量变化，最后脉冲的宽度也不变，且在此实施例中，脉冲宽度保持不变，脉冲仅在时间轴上进行移动。
利用图5A中所示的矫正的脉冲移动表从脉冲移动电路110获得输出信号306，标记307作为此输出信号306的结果进行记录，在图3中同样示出了从这些标记307再现的再现信号308。在通过使用初始的未进行矫正的脉冲移动表(图5B)获得的再现信号305与原始图形信号301不相同时，则使用矫正的脉冲移动表(图5A)所获得的再现信号308与原始图形信号301之间基本上无差别。
需注意的是，如上所示，使用图3中所示的第一图形信号301对十八个脉冲移动值中的四个进行了矫正。使用其他的图形信号可对其他值进行类似的矫正。更具体的，使用图6中所示的图形信号601对类型4M5S、5S4M、3S5M和5M3S进行矫正；使用图7中所示的图形信号701对类型4M4S、3M3S、4S4M、3S3M进行矫正；使用图8中所示的图形信号801对类型4M3S、4S3M进行矫正，使用图9中所示的图形信号901对类型3M4S、3S4M进行矫正。
需要注意的是，如图32中所示，可使用图形信号3201对类型5M5S和5S5M进行矫正，或者仅对默认值进行限定。需要注意的是，最好在其他类型之前对类型5M5S和5S5M进行矫正。这是因为这些标记和间隔具有最长的周期，因此受热干扰的影响最小。因此延迟周期最小，可用于作为确定其他延迟周期的参考值。
需要注意的是，在记录图形信号之前如图5B中所示对预定的初始值进行设置。可通过经验单独确定这些初始值，或将其全部设置为同一个值。如果全部用相同的初始值，例如在图5B中的左表中的5S5M图形中为第一脉冲移动所存储的1ns值最好存储用于所有的图形。在图5B中右表的情况下，使用为5M5S所存储的值。另外，应注意的是，在此情况下，确定为5S5M所设置的值，从而如图4中所示，第一脉冲401和多脉冲402之间的时间为0.5T，并确定5M5S的设置值，以便多脉冲403和最后脉冲404之间的时间为0.5T。
同样很明显的是，还可使用其他的方法确定5S5M和5M5S的设置值。在图32中示出了一个实例。
如图32中所示，在此实例中的图形信号发生器125的图形信号3201具有6T的单周期。同样示出了来自脉冲发生器111的输出信号；来自脉冲移动电路110的输出信号3203；和通过根据输出信号3203对峰值功率和偏置功率电平之间的激光功率输出进行调节，而在光盘101的记录磁道中形成标记3204。需要注意的是，虽然信号3201、3202和3203不是同时形成，为了方便起见，在竖直对齐的每个信号中都示出了其相应的部分。
在此情况下，图形信号3201表示具有单6T周期的标记和间隔，因此包含图5A中所示的十八个图形类型的类型5S5M和5M5S。然后根据图32中的激励信号3203对激光器进行激励，以用于记录标记3204。在此实施例中，围绕记录磁道的一个整个的周边重复的记录图32中的图形信号3201。当记录此磁道时，接着进行再现。再现包含将来自光探测器108的光信号转换为电信号，然后用前置放大器、低通滤波器113和再现均衡器114对此电信号进行处理。将来自再现均衡器114的再现信号提供到非对称测量电路140和数字电路115。
数字电路115对限制电平信号3209进行调节，从而在数字电路的输出信号中的与标记对应的输出电平和与间隔对应的输出电平间隔相等，并将此限制电平信号3209提供到非对称测量电路140。
非对称测量电路140将再现信号3205的高峰值电平3210和低峰值电平3211的平均值与限制电平信号3209进行比较。在其差值或比率超出容错的预定范围时，标记3204和间隔的长度不相等。此差别造成第一脉冲和最后脉冲位置的偏移。因此根据差别符号对初始移动值5S5M0和5M5S0进行矫正，由此第一脉冲和最后脉冲在相对的方向上移动相同的时基距离。然后将矫正值改写到存储器129中。
需要注意的是，在上述的实施例中，使用单反馈环路(通过110、109、108、112、115、140、129)对所存储的移动值进行矫正并对5M5S和5S5M进行改写。然而，很明显的，可轮流使用多个反馈环路。其结果，可获得5S5M和5S5M值，从而可采用正确的长度对6T标记进行记录。通过对作为标准使用的标记的物理长度进行矫正，同样可用正确的长度对在其他组中的标记进行记录，由此使得记录波动较小。
现在将对图38中情况进行描述。
如图15中所示，在生产期间，除了记录最优的和典型的前和后沿标记位置外，在光盘1501的区域1503中还类似的记录非对称信息。通常的，最好具有少量的非对称值。由于盘的记录膜的结构的关系，对于不同的盘，最优非对称值也略微有所不同。
例如，在图32中，当((3215+3214)/2-3216)/(3215-3214)的计算结果为1.05时，该值表示所测量盘的最优非对称值，存储所计算的值1.05或其变化值，从而对在设置5S5M和5M5S中所存储的值进行精密调节。
将来自脉冲移动电路110的输出信号303输入到激光驱动电路，从而对激光功率进行调节，以便激光器发射出峰值功率，并在输出信号303为高时发射峰值功率激光，而在信号为低时发射偏置功率，以便形成图3中所示的标记序列304。
在再现期间，准直透镜104将从半导体激光器103发射的激光束转换为平行光，然后入射到分光镜105。通过汇聚透镜107汇集有分光镜105反射的光，并聚焦到光探测器108。
光探测器108将入射到其上的光转换为电信号，然后通过前置放大器112进行放大。然后来自前置放大器112的输出信号通过低通滤波器113，从而阻挡住高频信号成分。然后再现均衡器114对信号进行均衡，接着由数字电路115使用预定的限制电平进行二进制化。从而从数字电路115向脉冲位置偏移测量电路120输出被转换为0s和1s序列的再现信号305。脉冲位置偏移测量电路120测量特定沿之间的间隔，或测量沿间隔的波动；在此实施例中，脉冲位置偏移测量电路测量再现信号305中的特定的沿间隔321、322、323和324。
如果在图3中所测量的沿的间隔321大于通常的9T间隔，在对图5A中的最后脉冲移动3M5S进行设置时，通过总线126从当前的3M5S0的设置值中减去所测量的间隔321和通常的9T间隔之间的差值。如果沿间隔322大于通常的9T间隔，则图5A中所示的第一脉冲移动5S3M从当前的5S5M0通过总线126增大沿间隔322和通常的9T间隔之间的差值。根据所测量的沿间隔323和324对4S5M和5M4S的存储值进行矫正。
当对这四个设置值进行更新时，再次记录第一图形信号301，并测量沿间隔。重复此过程，直到正常间隔和所测量的沿间隔之间的差同时低于所有的四个沿间隔的预定的阈值。
当完成了对第一图形信号的记录时，对第二图形信号进行记录。在图6中示出了第二图形信号601，其是来自图形信号发生器125的输出信号；还示出了来自脉冲发生器111的输出信号；来自脉冲移动电路110的输出信号；和根据输出信号603在光盘101的记录磁道中形成的标记图形604。然后使用上述的相同的方法利用第一特定的图形信号301对图5A中的第一脉冲设置5S4M和3S5M及最后脉冲设置4M5S及5M3S进行更新。
当完成了对第二图形信号的记录时，记录第三图形信号。在图7中示出了作为来自图形信号发生器125的第三图形信号701；来自脉冲发生器111的输出信号702；来自脉冲移动电路110的输出信号703；和根据输出信号703在光盘101的记录磁道中形成的标记图形704。
在图7中，710和711的10T周期(6T间隔和4T标记)及712和713的10T周期(4T标记和6T间隔，在图7中712为4T间隔713为6T标记)重叠，且看起来象一个连续波。因此所测量的信号710-711及下一个测量的信号712-713重叠，很难精确的对所测量的信号进行分离和分析。利用当两个10T周期基本长度相等时波动最小的事实，可用波动计代替用于测量。除了这些信号周期外，利用第一图形，采用相同的方法可对图5A中的第一脉冲设置4S5M和3S3M及最后脉冲设置4M4S及3M3S进行设置和更新。
使用此第三图形获得最小的沿波动及对沿间隔时间进行矫正的条件是相同的。例如，如果在矫正9T时间间隔产生沿间隔729和730，则在9T沿间隔的波动将最小。因此，如果任一个沿间隔偏离通常的9T时间，在9T沿间隔的波动都会增大。
当完成对第三图形信号的记录时，对第四图形信号进行记录。在图8中示出了作为从图形信号发生器125的输出信号的第四图形信号801；来自脉冲发生器111的输出信号802；来自脉冲移动电路110的输出信号803；和根据输出信号803在光盘101的记录磁道中形成的标记图形804。使用采用第一图形信号的相同的方法对图5A中的第一脉冲设置4S3M和最后脉冲设置4M3S进行更新。
当完成了对第四图形信号的记录时，对第五图形信号进行记录。在图9中示出了作为来自图形信号发生器125的输出信号的第五图形信号901；来自脉冲发生器111的输出信号902；来自脉冲移动电路110的输出信号903；和根据输出信号903在光盘101的记录磁道中形成的标记图形904。利用第四图形信号，采用相同的方法对图5A中的第一脉冲设置3S4M和最后脉冲设置3M4S进行更新。
因此，利用根据本发明的最佳实施例的方法可对在记录期间的热累积效应和热干扰进行补偿，通过在数据记录前从所记录的标记的长度和标记前的间隔的长度确定标记起始位置及从所记录的标记的长度和紧随其后的间隔的长度确定标记结束位置，从而可以小的波动对标记/间隔进行记录。
由于进行实际记录操作的盘记录器通过记录检测操作可确定优化的标记起始和沿的位置，因此当光盘和盘记录器结合时，也可确定该特定组合的最优标记起始和标记结束位置。
另外，本发明的此最佳实施例记录第一到第五特定的检测图形，以确定脉冲位置偏移，从而在正确的时间间隔产生沿间隔，且波动最小。对本领域中的技术人员而言所显而易见的是，还可使用其他的特定的检测图形或调节方法，只要记录检测可根据输入信号确定标记起始和结束位置即可。
如上所述，在图形信号记录前，对所有的标记同样可采用对5T或更长的标记和间隔所使用的第一脉冲设置5S5M和最后脉冲设置5M5S。然而，如由三个第一脉冲设置位置5S5M、4S5M和3S5M所表示的，在每个设置的标记长度都相等，只是前面间隔的长度有所不同。因此，在三个设置之间存在一个简单的比较关系，即5S5M＜4S5M＜3S5M，或5S5M＞4S5M＞3S5M。
图10示出了当第一脉冲设置满足5S5M＜4S4M＜3S5M关系时所形成的标记。需注意的是，当间隔变小时，来自前面标记的热量会通过间隔，结果导致较早形成后面标记的前沿，从而标记的长度增大。
图11示出了当第一脉冲设置满足5S5M＜4S4M＜3S5M关系时所形成的标记。需注意的是，当间隔变小时，来自后面标记的热量会通过间隔到达前面的标记，从而妨碍了对前面标记的后沿的冷却，结果使得标记变长。
需要注意的是，由于不同的间隔长度所造成的标记起始和结束位置的变化方向和程度依赖于盘的结构和记录膜的成分。然而，通过使用上述的第一和最后脉冲设置之间的简单的关系，可降低用于确定最优设置所需的记录检测的数目。例如，一旦对第一脉冲位置确定了5S5M和3S5M，则可用这两个设置的平均值替代在为确定优化4S5M设置而在记录检测序列中使用的初始4S5M设置。
一旦确定了5S4M和4S4M第一脉冲设置位置值，则类似的可用4S4M设置替代初始3S4M设置，或如果5S4M＜4S4M，例如，对于初始设置3S4M，可利用减去4S4M的4S4M和5S5M之间的差值来降低为确定3S4M优化设置所需的记录检测数。
因此，通过利用图5A的表中所示的设置之间的竖向关系可减少为确定优化设置所需的记录检测数。
另外需要注意的是，虽然本发明的最佳实施例描述了根据要记录的标记和间隔的特定组合位移第一和最后脉冲位置，本发明并不限于此。同样的，例如，在对其中的第一和最后脉宽进行调节的记录方法中，同样可应用本发明的方法对脉宽进行优化。下面将参考图12对第进行描述。
图12为光盘1201的平面示意图。在此实施例中，将用户数据记录到数据区1202中。表示用于根据输入数据信号调节第一脉冲和最后脉冲的方法的信息被利用凹凸(标记和间隔)的序列记录到盘的内周边的区域1203。在数据区1202和调节方法记录区1203之间为记录检测区1204。利用此盘格式，通过移动第一和最后脉冲位置，或通过改变第一和最后脉冲宽度，并在开始记录检测前通过读取调节方法记录区1203可确定记录是否优化。
下面对将具有图13中所示的格式的光盘1301装入到盘记录器中的操作进行描述。
光盘1301具有一个用户数据区1302和一个用于在生产盘时记录前或后标记沿的优化或典型脉冲位置值的区域1303。更具体的，区域1303记录第一激励脉冲位置Tu或最后激励脉冲位置Td值。另外，需注意的是，利用凹凸序列(标记和间隔)将区域记录在盘的内周边上。
当将此光盘1301装入到盘记录器中时，光头移动到区域1303，读取用于前和后标记沿的优化位置信息。然后将读取的数据信号128输入到脉冲设置位置电路129(注意，在上面此为存储器129)，然后通过总线126在脉冲移动电路110中设置用于前和后标记沿的优化位置信息。
通过这样再现来自光盘1301的区域1303的输入信号的优化的前和后标记沿位置信息，并根据此信息设置用于记录的盘记录器，可获得优化的记录，从而在不需要进行上述的记录检测操作的情况下，可使光盘具有不同的格式和记录膜。
另外很明显的是，并不是在记录器中使用的所有的盘都需要此被记录到区域1303中的优化位置信息。即，如果盘之间的变化很小，对于一个盘所获得的数值可被作为具有相同格式和记录膜成分的其他盘的典型的优化位置信息。
图14为另一个光盘1401的平面示意图。对于此光盘，将用户数据记录到数据区1402。使用标记和间隔的凹凸序列在盘的内周边区域1403记录信息，该信息表示根据输入数据信号调节第一脉冲和最后脉冲的方法。在生产盘期间，盘的内周边的记录区1404用于通过使用凹和凸(标记和间隔)的序列记录第一或最后标记沿位置的优化或典型位置信息。通过使用此格式的盘，通过移动第一和最后脉冲位置或通过改变第一和最后脉宽并借助对区域1403进行读取而可确定记录是否优化。
需要注意的是，如果在影响数据记录的盘记录器中存在不同之处，例如入射到光盘上的光斑的形状不同，则为了进行优化记录所需要的前和后标记沿的位置也会不同。在此情况下，在盘的生产期间被存储到盘的特定区域中的优化的或典型的值可被作为在记录检测操作中所使用的初始值。与不考虑盘的格式和记录膜的成分而使用一样的默认值起始记录检测相比，在此情况下，由于使用了在盘的生产期间预先记录的优化或典型值而开始优化操作，因此可减少所记录的检测图形的数目和为确定用于数据记录的优化标记沿位置所需要的时间。下面将参考图15对此进行详细描述。
图15为另外一个光盘1501的平面示意图。对于此种格式的盘，将用户数据记录到数据区1502。在盘的生产期间，使用盘的内周边记录区1503采用凹和凸(标记和间隔)的序列记录第一或最后标记沿位置的优化或典型位置信息。在数据区1502和区域1503之间为记录检测区1504。通过此格式，首先读取被记录到区域1503的信息，然后在区域1504进行记录检测，在使用单一设置进行优化记录的情况下，以最大的可能进行最优化的记录。
图16为另外一个光盘1601的平面示意图。通过此格式的盘，将用户数据记录到数据区1602。使用凹和凸(标记和间隔)的序列在盘的内周边区域1603记录表示根据输入数据信号调节第一脉冲和最后脉冲的方法的信息。在盘的生产期间，在盘的内周边的记录区1604使用凹和凸(标记和间隔)的序列记录第一或最后标记沿位置的优化或典型位置信息。
通过移动第一和最后脉冲位置或通过改变第一和最后脉冲宽度，用此盘的格式读取区域1603，可确定记录是否优化。
在数据区1602和区域1604之间为记录检测区1605。通过此格式，可首先读取区域1603和1604，接着在区域1605中进行记录检测，在使用单一设置进行记录优化的情况下，可最大可能的实现优化记录。
下面描述将具有图17中的格式的光盘1701装入到图1中所示的盘记录器中的操作。
此光盘1701在盘的内周边具有一个用户数据区1702和区域1703，用于在生产盘时使用凹和凸(标记和间隔)序列记录第一或最后标记沿位置的优化或典型位置信息。区域1704为记录检测区。区域1705用于记录由记录检测操作所确定的优化前和后标记沿位置，即记录检测操作的结果。
另外，特别是在此情况下，进行记录检测的盘记录器的特定信息同样被记录到区域1705。此记录器特定信息典型的包含盘记录器生产商的名称、产品号、盘的产地和生产日期。
通过记录检测记录的优化结果和记录器的特定信息，从而对区域1705确定这些优化的记录值，当接着将光盘1701装入到盘记录器中时，可对此信息进行再现。如果盘记录器与记录信息的记录器相同，可直接从盘读取优化的前和后标记沿位置信息，可获得反映盘记录器的特定特性的优化记录，而无须另外的记录检测操作。
同样显而易见的是，在区域1705中可记录多组的记录检测结果和记录器特定信息。
另外，当将此光盘1701装入到用于记录的盘记录器中时，区域1705被再现，从而获得特定的优化前和后标记沿位置信息，然后在区域1704中进行记录检测。与使用在盘生产期间预先记录的特定的沿设置位置或优化及典型的前和后标记沿位置的标记和间隔序列进行记录检测操作相比，可减少必须被重复记录以确定优化沿位置的信号图形的数目，并减少用于此优化所需的时间。
图18为另外一个光盘1801的平面示意图。此光盘1801具有用户数据区1802；位于盘的内周边的区域1803，用于记录表示使用凹和凸(标记和间隔)的序列根据输入数据信号调节第一脉冲和最后脉冲的方法的信息；位于盘的内周边的区域1804，用于在盘生产期间使用凹和凸(标记和间隔)的序列记录第一或最后标记沿位置的优化或典型位置信息；一个记录检测区1805；和用于记录通过记录检测操作所确定的优化前和后标记沿位置，即记录检测操作的结果的区域1806。
通过具有如此格式的光盘1801，可通过读取区域1803，并借助移动第一和最后脉冲位置，或通过改变第一和最后脉冲宽度而确定记录是否优化。
另外，最好在此情况下，同样将进行记录检测的盘记录器的特定信息记录到区域1806。此记录器特定信息典型的包含盘记录器生产商的名称、产品号、盘记录器的产地和生产日期。
通过记录检测记录的优化结果和记录器的特定信息，从而对区域1806确定这些优化的记录值，当接着将光盘1801装入到盘记录器中时，可对此信息进行再现。如果盘记录器与记录信息的记录器相同，则可直接从盘读出优化的前和后标记沿信息，从而可获得反映该盘记录器的特定特性的优化记录，而不需要另外的记录检测操作。
很明显的，在区域1806中可记录多组记录检测结果和记录器特定的信息。
在图38的表中简要示出了图2和图12到图18中的光盘的格式。下面将对图38的表中所选择加入的信息进行描述。
除了优化方法信息外，图12中所示的光盘1201的区域1203中还可存储光盘1201的特定信息，例如生产商的名称、产品号、产地和生产日期、盘格式和记录膜成分。在此情况下，将通过记录检测所获得的此特定的盘信息和前和后标记沿位置信息记录到盘记录器的存储器130中。
当装入一个新的光盘时，读取此特定的盘信息和标记沿位置信息，并存储到存储器130中。因此将各种的盘的特定盘信息和标记沿位置信息累积到存储器130中，即来自不同生产商和不同版本的盘。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘时，从所装入的盘的区域1203读取盘的特定信息并用于参考存储器130中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形，以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
除了前和后标记沿位置信息外，图15中所示的光盘1501中的区域1503中还可存储光盘1501的特定信息，诸如生产商的名称、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜的成分。在此情况下，将通过记录检测所获得的盘特定信息和前和后标记沿位置信息存储到盘记录器的存储器130中。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘时，从所装入的盘的区域1503读取盘的特定信息，并用于参考存储器130中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
除了前和后标记沿位置信息外，图16中所示的光盘1601中的区域1603中还可存储光盘1601的特定信息，诸如生产商的名称、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜的成分。在此情况下，将通过记录检测所获得的盘特定信息和前和后标记沿位置信息存储到盘记录器的存储器130中。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘1601时，从所装入的盘的区域1603读取盘的特定信息，并用于参考存储器130中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
除了前和后标记沿位置信息外，图17中所示的光盘1701中的区域1703中还可存储光盘1701的特定信息，诸如生产商的名称、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜的成分。在此情况下，将通过记录检测所获得的盘特定信息和前和后标记沿位置信息存储到盘记录器的存储器130中。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘1701时，从所装入的盘的区域1703读取盘的特定信息并用于参考存储器130中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
除了优化方法信息，在图18中所示的光盘1801的区域1803中同样可存储上述的光盘1801的特定信息。在此情况下，将通过记录检测获得的此特定盘信息和前和后标记沿位置信息存储到盘记录器的存储器130中。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘1801时，从所装入的盘的区域1803读取盘的特定信息，并用于参考存储器130中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
下面将参考图34和图35对根据本发明的最佳实施例的盘格式进行描述。需要注意的是，图34和图35示出了单个盘的格式表，其中在图34中，表的顶部为起始的盘的内周边处的凹区和镜区，接着从34到图35中的盘的外周边为盘连续的记录区。
凹区包含初始化区和为初始化区的外周边侧上的控制数据区。位于盘的内周边的初始化区在光头不小心移动到目标地址的内周边侧时可防止伺服机制完全脱离磁道。控制数据区存储特定盘信息，诸如盘类型、读取功率电平、脉冲调节方法、临时功率和工作功率电平信息、第一和最后脉冲位置信息、光盘生产商、签号和产品号。一般对控制数据区的内容记录多次，以便防止盘由于划伤等原因而无法读取。
镜区仅仅用于将凹区与数据记录区相连。在镜区不记录任何数据，且从其也不再现任何信号。因此，如果光头通过镜区，很容易检测到，因此可更精确的将光头定位在盘上的特定位置。
记录区包含磁道保护区1、盘检测区1、驱动检测区1、记录器特定信息记录区1、盘错误管理区1、数据区、盘错误管理区2、记录器特定信息记录区2、驱动检测区3、盘检测区2和磁道保护区2。
在刚刚移离镜区后，伺服机制可能还不稳定。因此磁道保护区1空白。
盘检测区1由盘生产商使用。使用此盘检测区1确定用于记录的功率电平和优化脉冲位置信息。
盘记录器使用驱动检测区1。通过将盘检测区和驱动检测区分开，盘生产商可将其他的需要信息记录到盘检测区。
在每次将盘装入到用于记录的新的盘记录器中时，都将新盘记录器的特定数据记录到记录器特定信息记录区1。当将盘装入到盘记录器中时，从记录器特定信息记录区1读取记录器特定信息1-n，以确定是否已经将该盘记录器的特定数据存储到记录器特定信息记录区1。在存储器130中同样包含装入光盘的盘记录器的记录器-特定信息。控制存储器130的CPU(在图中未示出)可确定是否已经存在相同的记录器-特定信息。
如果还未记录相同的信息，即如果将盘装入到新的盘记录器中，则将记录器-特定信息、临时功率和工作功率电平信息即脉冲位置信息作为一个数据组存储到记录器-特定信息记录区1。在此情况下，通过记录检测操作需要几秒到十几秒来确定临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息。
如果已经记录了相同的信息，如果先前在相同的盘记录器中已经使用了盘，从存储器读出属于记录器-特定信息数据组的临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息，其中的记录器特定信息数据组与从记录器特定信息记录区1中读出的数据一样。然后将此临时功率和工作功率电平信息发送到存储器132，将脉冲位置信息发送到存储器129。需要注意的是，由于可直接从盘读取此信息，因此可节省几秒到十几秒用于记录检测操作以确定此信息的时间。
如果通过n个不同的盘记录器对具有此种格式的盘进行写操作，则n组记录器特定信息、临时功率和工作功率电平信息及脉冲位置信息将被记录到盘上。在本发明的最佳实施例中，将这些n组数据记录到盘的多个位置，诸如盘的内周边和外周边。通过在多于一个盘位置记录数据组，可使得此种的盘不会发生由于划痕或脏污所造成的无法从一个位置进行读取的情况，这是因为可从其他的地方读取数据。同样也可在记录器特定信息记录区1多次记录相同的信息。
如果读取了记录器特定信息，且盘记录器确定该盘记录器先前已经对光盘进行了写操作，则可简化记录用于记录检测操作的内容。对盘记录器和光盘的组合所特有的信息记录多次，以防止由于划痕或脏污所造成的无法读取的情况发生。记录器特定信息记录区同样保留用于通过多个盘记录器记录此信息的区域。这是因为在不同的光记录器中，激光器功率差别很小。
所保留的盘错误管理区1用于管理盘的错误。
数据区用于记录用户数据。
盘错误管理区2也类似的用于管理盘的错误。
记录器特定信息记录区2存储与记录器特定信息记录区1相同的存储信息，即对光盘和记录光盘的盘记录器的特定组合所特有的信息。通过在盘的内周边和外周边同时提供记录器特定信息记录区，当由于盘损坏或脏污而使得从一个区域无法对信息再现时，可以从另外的一个区域进行再现。
按照与驱动检测区1相同的方式，驱动检测器2用于检测盘记录器的记录。通过同时在盘的内周边和外周边提供驱动检测区，当由于损坏或脏污而无法从一个区域再现数据时，可从另外的一个区域对数据进行再现。如果盘卷曲严重，同样可在内和外周边区进行记录检测操作，并根据特定的径向位置插入最佳的记录参数。
通过与盘检测区1相同的方式，盘生产商同样使用盘检测区2进行记录检测操作。通过在盘的内周边和外周边都提供盘检测区，可确定在记录时盘的弯曲程度，并将此信息作为检查和运行的标准。
保护磁道区2同样空白，不用于记录。通过在盘的外周边提供保护磁道区2，可在光头不小心移动出目标地址时防止伺服机制完全脱离磁道。
使用盘记录器读取的地址对上述的盘区和记录区进行管理，同时用于确定盘的布局和各个区域的位置。
在图38中示出了这些区和区域之间的关系，还示出图2中的区域和图12到18中的区域。
需要注意的是，在图2中的光盘中同样可记录数据存储区201的特定信息，即盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型。同样很明显的是，在此情况下，将盘特定信息及前和后标记沿位置信息存储到盘记录器的存储器130中。
当再次装入先前被安装并通过盘记录器进行记录的盘时，从所装入的盘的区域读取盘的特定信息并用于参考存储器中匹配的特定的盘信息，以从中获得匹配的特定标记沿位置信息。这样可避免重复记录信号图形以确定优化位置信息的操作，或者可减少所需的记录检测操作的次数，在上述两种情况下都可缩短所需的优化时间。
需要注意的是，在上述的最佳实施例中，通过记录检测确定优化前和后标记沿位置，但此检测记录操作可在优化输出功率电平操作之后进行，其中的功率电平包含用于检测记录操作的激光束的峰值功率和偏置功率电平。在这里，“临时功率电平”是指在标记沿位置优化前优化的激光功率电平。这与工作功率电平形成了对比，后者为在标记沿位置优化后的优化激光功率电平。
临时功率电平被用于确定优化的前和后标记沿位置。工作功率电平在数据区中为用于实际记录的功率电平。来自优化发射电平的激光功率的变化产生各种的问题。下面将对这些问题进行描述。
优化前和后标记沿位置依赖于各种的光盘性质以及用于记录检测的激光功率。如果激光器功率变化较大，则无法确定优化的前和后标记沿位置；即使它们被确定，记录质量也不好。下面将参考图19对其原因进行描述。
图19示出了当用不同的激光功率电平记录作为最短标记长度信号的3T信号时的标记形状和所获得的再现信号。标记1901是优化的激光功率设置的结果。需注意的是，标记长度和间隔长度基本上相等。因此所获得的再现信号1902的幅度也高。
标记1903来源于很低的激光功率设置。需注意的是，标记长度比间隔长度短。因为标记和间隔长度不一样，所获得的再现信号1904的幅度1912比幅度1911低。
当用产生标记1903的功率电平激励激光器时，产生标记1905，当发射时间大于产生标记1903的时间。通过增加发射时间，标记长度和间隔长度基本上相等，但标记宽度小于在优化激光功率设置时形成的标记1901的宽度。因此，所获得的再现信号1906的幅度1913低于幅度1911。
标记1907产生于非常高的激光功率设置。需注意的是，标记比间隔长。因为标记和间隔的长度不一样，所获得的再现信号1908的幅度1914比幅度1911小。
当用产生标记1907的功率电平激励激光器时会产生标记1909，但发射时间小于产生标记1907的时间。通过降低发射时间，标记长度和间隔长度更加接近相等，但高的激光功率设置可防止形成相同长度的标记和间隔。因此所获得的再现信号1910的幅度1915低于幅度1911。
因此，很明显的是，当激光功率低时，无法形成具有足够宽度的标记，而当激光功率高时，无法形成具有相同长度的标记和间隔。其结果，无法获得优化的记录结果。通过在用于确定最佳前和后标记沿位置的检测记录操作之前确定最佳激光功率设置，可更可靠的获得优化的记录数据。
需要同时确定峰值和偏置功率电平。下面将首先描述用于确定峰值功率电平的最佳方法。
当装入光盘101时，光头移动到写入检测区202，用于确定最佳功率电平。此时，开关121通过接点122和124导通。
功率电平设置电路119首先对激光驱动电路109设置峰值和偏置功率电平。然后通过调制电路126对从记录数据发生器127的特有图形发生器127a输出的信号进行调制，并通过开关121到达脉冲发生器111，用于转换为脉冲信号。然后此脉冲信号通过延迟电路138到达脉冲移动电路，在该电路输出前和后脉冲沿发生了位移的信号。
在图20中示出了从调制电路126输出的信号图形。这些信号图形可被预先存储到光盘或盘记录器中。
图20A示出了光盘101的扇区格式，其包含数据存储区201、写入检测区202、磁道2001、地址2002和2003及扇区2004。
在图20B中示出了扇区2004的格式。每个扇区2004都包含主数据2006和用于PLL116同步的VFO信号2005(参考图1)。VFO信号具有简单的4T周期。
·主数据2006包含多个帧2007、2008和2009。每个帧都包含一个用于对数据再现的开始进行同步的同步标记，一个用于将DSV重设置到0的DSV补偿图形2011，和简单的3T图形信号2012。需注意的是，DSV为同步标记中的一个特定周期内的标记和间隔的差。在图20C中示出了典型的3T图形信号2012。需注意的是，通过将记录信号图形的DSV重新设置为0，DSV补偿图形2011可使得信号图形在再现期间被正确的数字化。
需要注意的是，由于在本实施例中频繁的使用简单的3T图形信号，由于信号具有简单的重复图形，因此可用4T或其他的图形信号代替3T图形信号2012。通过记录此简单的图形信号，从而即使当还未确定优化的前和后标记沿位置及由此使用随机图形信号造成记录质量低时，也可确定适宜的激光功率设置。另外，需注意的是，通过在调制前后对信号进行比较，可减少数据比较器131所需的存储器。
如果用4T图形信号代替3T图形信号2012，VFO信号同样具有4T周期，从而防止在VFO信号部分和主数据之间的非对称性，由此可更精确的进行数字化。
需要注意的是，由于在本实施例中频繁的使用包含简单的3T图形的信号，可轮流的使用包含信号组的图形，其中的信号组包含在这样的信号类型中，即其具有相同的优化前和后标记沿调节位置。通过记录来自相同信号类型的信号组，从而即使当还未确定优化的前和后标记沿位置及由此使用随机图形信号造成记录质量低时，也可确定适宜的激光功率设置。
将来自脉冲移动电路110的输出信号输入到激光驱动电路109，用其驱动半导体激光器，以根据此输出信号在峰值和偏置功率电平进行发射，从而在盘上形成标记序列。
当停止记录时，再现标记序列，并将来自半导体电路117的输出信号输入到数据比较器131。同样将来自特有的图形发生器127a的输出信号输入到数据比较器131。由此数据比较器131将记录数据和再现的数据进行比较，并检测比特差错率(BER)。
图21示出了峰值功率和BER之间的关系。在图21中，峰值功率位于X轴，而BER位于Y轴。如果再现条件相等，低的BER通常表示更精确的记录。因此偏置功率被固定不变，而峰值功率变化，同时此记录和再现环路重复寻找BER达到特定阈值的峰值功率(典型的大约为8mW)。然后将预先限定的边限加入到此峰值功率电平2102中，以设置峰值功率电平，典型为大约10mW。需要注意的是，通过适当的对此加入的边限进行控制，可对峰值功率电平进行优化，这是因为检测记录操作可确定优化的前和后标记沿位置。另外，需注意的是，也可将此边限应用到峰值功率电平，通过将峰值功率电平与边限常数(诸如1.2)相乘或将诸如2mW的边限常数加入到其中，而获得特定阈值的BER。
下面将描述用于确定此偏置功率的方法。首先对激光驱动电路109设置通过功率电平设置电路按照如上方法确定的峰值功率设置和初始偏置功率设置。然后，调制电路126根据来自记录数据发生器127的随机图形发生器的随机图形信号输出随机信号，并使用上述的功率设置记录图形。然后调制电路126根据来自记录数据发生器127的特有图形发生器127a的信号产生一个包含很多3T图形的信号，并使用上述的功率设置记录此图形。
当记录结束，且再现标记序列时，将来自解调电路117的输出信号输入到数据比较器131。同样将来自记录数据发生器127的输出信号输入到数据比较器131。由此数据比较器131将记录数据和再现数据进行比较，并检测比特差错率(BER)。
图22示出了偏置功率和BER之间的关系。在图22中偏置功率位于X轴，而BER位于Y轴。如果再现条件相同，低的BER通常表示更精确的记录。因此峰值功率固定，而偏置功率变化，同时此记录和再现环路重复工作，以找寻到使得BER达到特定阈值的低偏置功率2202和高偏置功率203。需注意的是，这些低和高偏置功率设置通常分别为3mW和7mW。在此情况下，平均为5mW。位于这些低和高偏置功率之间，并将其用做获得优化前和后标记沿位置的记录检测的偏置功率电平。
下面参考图23对用于确定偏置功率设置的方法进行描述。在此方法中，在记录了随机信号且检测完BER之后，记录包含多个简单3T图形的信号。然后重新记录随机信号，记录包含多个简单11T图形的信号，并检测BER。然后对3T图形信号和11T图形信号确定高和低偏置功率电平，并获得两个低设置中的较大的一个(在此例中为2302)和两个高设置中的较小的一个(在此例中为2303)的平均值，并将其用做获得优化前和后标记沿位置的记录检测的偏置功率电平。
当在BER为特定阈值或小于该阈值的偏置功率范围间存在差别时，同时记录具有最短间隔的3T信号，以及当记录具有最长间隔的11T信号时的BER为特定阈值或小于该阈值的偏置功率范围，通过使用两者都低于此阈值的平均范围可更适宜的设置此偏置功率电平。
因此，如上所述，通过确定优化前和后标记沿位置的记录检测操作之前确定记录检测操作的优化发射功率电平可获得更精确的记录。
很明显的，通过盘记录器实际将通过记录检测确定最佳激光功率设置的前和后标记沿记录到实际用于记录的盘上，可获得盘记录器和特定光盘的特定组合的优化记录。
另外很明显的是，虽然本发明的上述最佳实施例将检测BER作为检测再现信号质量的方法，但本发明并不限于此，也可使用其他诸如通过检测波动等的检测再现信号质量的方法。
下面将参考图36对用于确定峰值功率电平的方法进行描述。此方法使用简单6T图形信号检测非对称性。图36中示出了从图形信号发生器125输出的6T图形信号3601；脉冲发生器111的输出信号3602；来自脉冲移动电路110的输出信号3603；和通过根据信号3603调制峰值和偏置功率电平之间的激光输出而在光盘101的磁道中形成的标记图形3604。需要注意的是，虽然信号3601、3602和3603未产生在同一时基，为了方便起见，每个竖直对齐的信号中都示出了其相对应的部分。
在此情况下，图形信号表示具有6T周期的标记和间隔，由此包含图5A中所示的十八个图形类型的类型5S5M和5M5S。然后根据图36中的驱动信号3603记录驱动激光器，对标记3604进行记录。在此实施例中，围绕记录磁道的一个完整的周边重复记录图36中的图形信号3601。当记录此磁道时，接着进行再现。再现包含将来自光探测器108的光信号转换为电信号，然后用前置放大器112、低通滤波器113、再现均衡器114对此电信号进行处理。将来自再现均衡器114的再现信号3605提供到非对称测量电路140和数字电路115。
数字电路115对限制电平信号3609进行调节，从而数字电路的输出信号中的标记对应的输出电平和与间隔对应的输出电平处于相等的间隔，并将此限制电平信号3609提供到非对称测量电路140。
非对称测量电路140将再现信号3605的高3611和低3610峰值的平均值与限制电平信号3609进行比较。当其间的差或比值超出特定的范围时，断开峰值功率设置。因此，根据所表示的所述的差或比值对峰值功率设置进行调节。然后重复此6T图形信号记录、再现和非对称测量环路，直到所检测的非对称性位于特定的范围内。
下面将描述图38中所示的情况。
在生产期间除了图15中所示的被记录到光盘1501的区域1503的优化或典型前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。同样也可记录此临时功率电平信息的全部或仅仅记录一部分。对于下面将要进行描述的其他的光盘也同样如此。
当装入此光盘时，读取区域1503，以获得临时功率电平信息。然后进行记录检测以确定特定的偏置功率电平。然后获得从区域1503中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。接着将此比值与通过记录检测获得的特定的偏置功率电平相乘以获得特定的峰值功率设置。需要注意的是，通过记录检测获得特定的偏置功率电平，以补偿由于透镜模糊和其他因素造成的激光器的功率损失。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
很明显的，如果激光功率无变化，可将从区域1503中读取的典型的峰值和偏置功率作为读取值。
另外，当通过检测非对称性而获得峰值功率电平时，通常小的非对称性较好，但依据记录膜成分等因素的不同，优化非对称设置也会发生小的变化。
参考图36，例如，如果当((3615+3614)/2-3616)/(3615-1614)的计算结果为1.05时，通过将此优化非对称值(即，1.05或对1.05的特定的计算结果)记录到盘中，可获得更精确的峰值功率设置。
另外，当通过检测BER获得峰值功率电平时，依据诸如记录膜成分等因素的，所加入的优化边限也会有轻微的变化。例如，如果优化峰值功率为阈值的1.2倍，通过将优化边限(即1.2或对1.2的特定计算结果)记录到盘上可获得更精确的峰值功率设置。
在生产期间除了图16中所示的被记录到光盘1601的区域1604的优化或典型前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。
当装入此光盘时，读取区域1604，以获得临时功率电平信息。然后进行记录检测以确定特定的偏置功率电平。然后获得从区域1604中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。接着将此比值与通过记录检测获得的特定的偏置功率电平相乘以获得特定的峰值功率设置。因此，可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
很明显的，如果激光功率无变化，可将从区域1604中读取的典型的峰值和偏置功率作为读取值。
另外，当通过检测非对称性而获得峰值功率电平时，通常小的非对称性较好，但依据记录膜成分等因素的不同，优化非对称设置也会发生小的变化。
参考图36，例如，如果当((3615+3614)/2-3616)/(3615-3614)的计算结果为1.05时，通过将此优化非对称值(即，1.05或对1.05的特定的计算结果)记录到盘中，可获得更精确的峰值功率设置。
另外，当通过检测BER获得峰值功率电平时，依据诸如记录膜成分等因素的，所加入的优化边限也会有轻微的变化。例如，如果优化峰值功率为阈值的1.2倍，通过将优化边限(即1.2或对1.2的特定计算结果)记录到盘上可获得更精确的峰值功率设置。
在生产期间除了图17中所示的被记录到光盘1701的区域1703的优化或典型前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。
当装入此光盘时，读取区域1703，以获得临时功率电平信息。然后进行记录检测以确定特定的偏置功率电平。然后获得从区域1703中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。接着将此比值与通过记录检测获得的特定的偏置功率电平相乘以获得特定的峰值功率设置。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
很明显的，如果激光功率无变化，可将从区域1703中读取的典型的峰值和偏置功率作为读取值。
另外，当通过检测非对称性而获得峰值功率电平时，通常小的非对称性较好，但依据记录膜成分等因素的不同，优化非对称设置也会发生小的变化。
参考图36，例如，如果当((3615+3614)/2-3616)/(3615-3614)的计算结果为1.05时，通过将此优化非对称值(即，1.05或对1.05的特定的计算结果)记录到盘中，可获得更精确的峰值功率设置。
另外，当通过检测BER获得峰值功率电平时，依据诸如记录膜成分等因素的，所加入的优化边限也会有轻微的变化。例如，如果优化峰值功率为阈值的1.2倍，通过将优化边限(即1.2或对1.2的特定计算结果)记录到盘上可获得更精确的峰值功率设置。
除了图17中所示的被记录到光盘1701的区域1705的通过检测记录确定的前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。
当再次装入此光盘时，读取区域1705，以获得特定临时功率电平信息，诸如特定的偏置功率设置。如果特定的偏置功率设置与被记录到区域1705中的典型的偏置功率设置相同，因此可省略用于确定特定峰值功率设置和优化前和后标记沿位置的记录检测，并缩短用于确定优化记录的条件所需的时间。
同样，在此情况下，当由于盘错误、脏污或其他原因而使得被记录到区域1703中的边限常数、非对称性信息和其他的临时功率信息无法被读取时，使用被记录到区域1705的信息也可快速的获得优化临时功率设置。
在生产期间除了图18中所示的被记录到光盘1801的区域1804的优化或典型前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。
当装入此光盘时，读取区域1804，以获得临时功率电平信息。然后进行记录检测以确定特定的偏置功率电平。然后获得从区域1804中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。接着将此比值与通过记录检测获得的特定的偏置功率电平相乘以获得特定的峰值功率设置。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
很明显的，如果激光功率无变化，可将从区域1804中读取的典型的峰值和偏置功率作为读取值。
另外，当通过检测非对称性而获得峰值功率电平时，通常小的非对称性较好，但依据记录膜成分等因素的不同，优化非对称设置也会发生小的变化。
参考图36，例如，如果当((3615+3614)/2-3616)/(3615-3614)的计算结果为1.05时，通过将此优化非对称值(即，1.05或对1.05的特定的计算结果)记录到盘中，可获得更精确的峰值功率设置。
另外，当通过检测BER获得峰值功率电平时，依据诸如记录膜成分等因素的，所加入的优化边限也会有轻微的变化。例如，如果优化峰值功率为阈值的1.2倍，通过将优化边限(即1.2或对1.2的特定计算结果)记录到盘上可获得更精确的峰值功率设置。
除了图18中所示的被记录到光盘1801的区域1806的通过检测记录确定的前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。
当再次装入此光盘时，读取区域1806，以获得特定临时功率电平信息，诸如特定的偏置功率设置。如果特定的偏置功率设置与被记录到区域1806中的典型的偏置功率设置相同，因此可省略用于确定特定峰值功率设置和优化前和后标记沿位置的记录检测，并缩短用于确定优化记录的条件所需的时间。
同样，在此情况下，当由于盘错误、脏污或其他原因而使得被记录到区域1803中的边限常数、非对称性信息和其他的临时功率信息无法被读取时，使用被记录到区域1806的信息也可快速的获得优化临时功率设置。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1201的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图12中所示的光盘1201的区域1203中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1203，以检测盘特定信息是否已经在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
另外，如果由于盘错误或脏污而无法从区域1503读取边限常数、非对称信息或其他的临时功率电平信息，由于此无法读取的信息位于存储器130中，因此仍然可快速的获得优化临时功率电平。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1601的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图16中所示的光盘1601的区域1603中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1603，以检测盘特定信息是否已经存在在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
另外，如果由于盘错误或脏污而无法从区域1603读取边限常数、非对称信息或其他的临时功率电平信息，由于此无法读取的信息位于存储器130中，因此仍然可快速的获得优化临时功率电平。
如果除了前和后标记沿位置信息外，还将光盘1701的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图17中所示的光盘1701的区域1703中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1703，以检测盘特定信息是否已经存在在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
另外，如果由于盘错误或脏污而无法从区域1703或1705读取边限常数、非对称信息或其他的临时功率电平信息，又由于此无法读取的信息位于存储器130中，因此仍然可快速的获得优化临时功率电平。
另外，如果通过不同的盘记录器对区域1705进行改写，通过从存储器130读取信息可快速的获得优化临时功率电平设置。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1801的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图12中所示的光盘1801的区域1803中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1803，以检测盘特定信息是否已经在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
另外，如果由于盘错误或脏污而无法从区域1803或1805读取边限常数、非对称信息或其他的临时功率电平信息，由于此无法读取的信息位于存储器130中，因此仍然可快速的获得优化临时功率电平。
另外，如果通过不同的盘记录器对区域1805进行改写，通过从存储器130读取信息可快速的获得优化临时功率电平设置。
需要注意的是，虽然在此实施例中在确定特定的偏置功率设置后确定特定的峰值功率设置，也可首先确定特定的峰值功率，然后确定特定偏置功率设置。
另外，如上所述，通过对特定区域的记录检测可确定优化的前和后标记沿位置。另外，也可先确定上述的特定偏置和峰值功率设置，然后确定为进行数据记录而使用的工作功率电平设置。
参考图5A，例如，如果第一脉冲位置3S5M或最后脉冲位置3S5M的设置与用于确定临时功率电平的峰值功率的初始值差别很大，用于确定峰值功率的边限可低。例如，如果进行写入操作的盘区被脏污，即使当有效临时功率电平下降2mW，虽然盘仍然可正常的进行记录，但如果边限太低，当只有降低1mW时，也可能无法进行正确的记录。
然而通过设定工作功率电平，可保证用于优化记录所需的更可靠的功率边限。
由于需要同时确定峰值和偏置功率电平，下面首先描述用于确定峰值功率电平的最佳方法。在此情况下，开关121通过接点122和124导通。
功率电平设置电路119首先根据从存储器132读出的数据对激光驱动电路109设置默认峰值和偏置功率电平。然后，通过调制电路126对来自记录数据发生器127的随机图形发生器127b的输出信号进行调制，并通过开关121到达脉冲发生器111，用于转换为脉冲信号。然后此脉冲信号到达脉冲移动电路110，在该电路输出前和后脉冲沿被位移的信号。
需要注意的是，从调制电路126输出的信号为随机信号，其中DSV为0。
将来自脉冲移动电路110的输出信号输入到激光驱动电路109，驱动半导体激光器根据此输出信号在峰值和偏置功率电平进行发射，从而在盘上形成标记序列。
当记录结束，再现标记序列时，将来自解调电路117的输出信号输入到数据比较器131。来自随机图形发生器127b的输出信号同样输入到数据比较器131。由此数据比较器131对记录数据和再现数据进行比较，并检测比特差错率(BER)。
图24示出了峰值功率和BER之间的关系。峰值功率位于X轴，而BER位于Y轴。如果再现条件相等，低的BER通常表示更精确的记录。因此偏置功率被固定不变，而峰值功率变化，同时此记录和再现环路重复寻找BER达到特定阈值的峰值功率(典型的大约为8mW)。然后将预先限定的边限加入到此峰值功率电平2402中，以设置峰值功率电平，典型为大约10mW。需要注意的是，通过适当的对此加入的边限进行控制，可对峰值功率电平进行优化，这是因为检测记录操作可确定优化的前和后标记沿位置。另外，需注意的是，也可将此边限应用到峰值功率电平，通过将峰值功率电平与边限常数(诸如1.2)相乘或将诸如2mW的边限常数加入到其中，从而获得特定阈值的BER。
下面将描述用于确定此偏置功率的方法。首先对激光驱动电路109设置通过功率电平设置电路按照如上方法确定的峰值功率设置和初始偏置功率设置。然后调制电路126根据来自随机图形发生器127b的随机图形信号输出随机信号，并使用上述的功率设置记录图形。
当记录结束，且再现标记序列时，将来自解调电路117的输出信号输入到数据比较器131。同样将来自记录数据发生器127的输出信号输入到数据比较器131。由此数据比较器131将记录数据和再现数据进行比较，并检测比特差错率(BER)。
图25示出了偏置功率和BER之间的关系。在图25中偏置功率位于X轴，而BER位于Y轴。如果再现条件相同，低的BER通常表示更精确的记录。因此峰值功率固定，而偏置功率变化，同时此记录和再现环路重复工作，以找寻到使得BER达到特定阈值的低2502和高2503偏置功率。需注意的是，这些低和高偏置功率设置通常分别为3mW和7mW。在此情况下，平均为5mW。位于这些低和高偏置功率之间，并将其用做获得优化前和后标记沿位置的记录检测的偏置功率电平。
因此如上所述，通过确定优化前和后标记沿位置的记录检测操作之后确定记录检测操作的优化发射功率电平可获得更精确的记录。
很明显的，通过盘记录器实际将通过记录检测确定最佳激光功率设置的前和后标记沿记录到实际用于记录的盘上，可获得盘记录器和特定光盘的特定组合的优化记录。
另外很明显的是，虽然本发明的此最佳实施例将检测BER作为检测再现信号质量的方法，本发明并不限于此，也可使用其他诸如通过检测波动等的检测再现信号质量的方法。
下面将参考图38对用于确定峰值功率电平的方法进行描述。
在生产期间除了图15中所示的被记录到光盘1501的区域1503的优化或典型前和后标记沿位置外，同时还记录用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息。需要注意的是，此临时功率电平信息包含峰值功率、偏置功率、边限常数和非对称信息。同样也可记录此临时功率电平信息的全部或仅仅记录一部分。对于下面将要进行描述的其他的光盘也同样如此。
当装入此光盘时，读取区域1503，以获得临时功率电平信息。然后进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后，获得从区域1503中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。接着，将此比值与通过记录检测获得的特定的偏置功率电平相乘以获得特定的峰值功率设置。需要注意的是，通过记录检测获得特定的偏置功率电平，以补偿由于透镜模糊和其他因素造成的激光器的功率损失。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
很明显的，如果激光功率无变化，可将从区域1503中读取的典型的峰值和偏置功率作为读取值。
另外，当通过检测BER获得峰值功率电平时，依据诸如记录膜成分等因素的，所加入的优化边限也会有轻微的变化。例如，如果优化峰值功率为阈值的1.2倍，通过将优化边限(即1.2或对1.2的特定计算结果)记录到盘上可获得更精确的峰值功率设置。
另外需要注意的是，如果用于调节前和后标记沿位置的工作功率电平信息未被记录到区域1503，可使用临时功率电平信息。相反的，可利用工作功率电平信息获得临时功率电平。
类似的，除了在生产期间记录优化或典型前和后标记沿位置外，可将工作功率电平信息记录到图16中所示的光盘1601的区域1604。
当装入此光盘时，读取区域1604，以获得功率电平信息。然后进行记录检测以确定特定的偏置功率电平。然后获得从区域1604中读出的典型的峰值和偏置功率电平信息之间的比值。在确定了特定峰值功率后，可将该比值与特定峰值功率相乘，以预测优化特定偏置功率设置。因此，可省略用于确定特定偏置功率设置的记录检测，并可缩短用于确定优化记录条件的时间。
需要注意的是，如果用于调节前和后标记沿位置的功率电平信息未被记录到区域1604，通过在边沿位置调节后确定功率电平信息，可在边沿位置调节前预测优化偏置功率设置。例如，为了在边沿位置调节前确定偏置功率设置，确定调节前的峰值功率设置，并计算此调节后的峰值功率和偏置功率之间的比值，并记录到区域1604，然后将此比值提供到调节前峰值功率设置，以在边沿位置调节前预测优化偏置功率设置。
在生产期间除了记录优化或典型的前和后标记沿位置外，类似的也可将工作功率电平信息记录到图17中所示的光盘1701的区域1703。
当装入此光盘时，读取区域1703，以获得工作功率电平信息。然后通过记录检测确定偏置功率，然后计算从区域1703读取的峰值和偏置功率之间的比值，将此比值与通过记录检测获得的偏置功率值相乘，以获得优化峰值功率设置。因此，可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，且可缩短用于确定优化记录条件所需的时间。
另外需要注意的是，如果用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息未被记录到区域1703，可使用工作功率电平信息。首先，读取被记录到区域1703的工作功率设置。然后通过记录检测获得临时功率电平信息的偏置功率设置，并计算工作功率电平设置的峰值和偏置功率设置之间的比值。然后通过将此比值与临时功率电平信息的偏置功率设置相乘而获得临时功率电平信息的优化峰值功率电平。因此可省略用于确定临时功率电平的特定峰值功率设置的检测记录，且可缩短用于确定优化记录条件所需的时间。
除了通过记录检测确定的前和后标记沿位置外，类似的可将工作功率电平信息记录到图17中所示的光盘1701的区域1705中。
在此情况下，当将光盘装入到用于记录的盘记录器中时，读取区域1705，以获得临时功率电平信息。如果通过记录检测所确定的偏置功率设置与被记录到区域1705的偏置功率设置相同，可省略后续的用于确定特定峰值功率的记录检测，且可缩短用于确定优化记录所需的时间。
在生产期间除了记录优化或典型的前和后标记沿位置外，类似的也可将工作功率电平信息记录到图18中所示的光盘1801的区域1804。
当装入此光盘时，读取区域1804，以获得工作功率电平信息。然后通过记录检测确定偏置功率，然后计算从区域1804读取的峰值和偏置功率之间的比值，将此比值与通过记录检测获得的偏置功率值相乘，以获得优化峰值功率设置。因此，可省略用于确定特定峰值功率设置的记录检测，且可缩短用于确定优化记录条件所需的时间。
另外需要注意的是，如果用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息未被记录到区域1804，可使用工作功率电平信息。首先，读取被记录到区域1804的工作功率设置。然后通过记录检测获得临时功率电平信息的偏置功率设置，并计算工作功率电平设置的峰值和偏置功率设置之间的比值。然后通过将此比值与临时功率电平信息的偏置功率设置相乘而获得临时功率电平信息的优化峰值功率电平。因此可省略用于确定临时功率电平的特定峰值功率设置的检测记录，且可缩短用于确定优化记录条件所需的时间。
除了通过记录检测确定的前和后标记沿位置外，类似的可将工作功率电平信息记录到图18中所示的光盘1801的区域1806中。
在此情况下，当将光盘装入到用于记录的盘记录器中时，读取区域1806，以获得临时功率电平信息。如果通过记录检测所确定的偏置功率设置与被记录到区域1806的偏置功率设置相同，可省略后续的用于确定特定峰值功率的记录检测，且可缩短用于确定优化记录所需的时间。
需要注意的是，虽然在此实施例中在检测特定偏置功率设置后确定特定峰值功率，也可先确定特定峰值功率设置，然后进行特定偏置功率设置。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1601的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图12中所示的光盘1201的区域1203中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1203，以检测盘特定信息是否已经存在在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
如果用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息未被记录到存储器130中，可使用工作功率电平信息。首先，读取被记录到区域1203的工作功率设置。然后通过记录检测获得临时功率电平信息的偏置功率设置，并计算工作功率电平设置的峰值和偏置功率设置之间的比值。然后通过将此比值与临时功率电平信息的偏置功率设置相乘而计算临时功率电平信息的优化峰值功率电平。因此，可省略用于确定临时功率电平的特定峰值功率设置的记录检测，且可缩短用于确定优化记录所需的时间。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1601的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图16中所示的光盘1601的区域1603中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1603，以检测盘特定信息是否已经在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
如果用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息未被记录到存储器130中，可使用工作功率电平信息。首先，读取被记录到区域1603的工作功率设置。然后通过记录检测获得临时功率电平信息的偏置功率设置，并计算工作功率电平设置的峰值和偏置功率设置之间的比值。然后通过将此比值与临时功率电平信息的偏置功率设置相乘而计算临时功率电平信息的优化峰值功率电平。因此可省略用于确定临时功率电平的特定峰值功率设置的记录检测，且可缩短用于确定优化记录所需的时间。
如果除了调节方法信息外，还将光盘1801的特定信息，诸如盘生产商、产品号、生产日期和产地、盘格式和记录膜类型存储到图18中所示的光盘1801的区域1803中，可将用于调节前和后标记沿位置的此盘特定信息和临时功率电平信息(诸如峰值功率、偏置功率、边限常数、非对称信息)存储到盘记录器的存储器130中。
当接着装入此光盘时，读取区域1803，以检测盘特定信息是否已经存在在存储器130中。如果存在，则进行记录检测，以确定特定的偏置功率电平。然后获得存储器130中的典型峰值和偏置功率电平之间的比值。然后将此比值与通过用于获得特定峰值功率设置的记录检测获得的特定偏置功率电平相乘。因此可省略用于确定特定峰值功率设置的记录操作，同时缩短确定优化记录条件的所需时间。
如果用于调节前和后标记沿位置的临时功率电平信息未被记录到存储器130中，可使用工作功率电平信息。首先，读取被记录到区域1803的工作功率设置。然后通过记录检测获得临时功率电平信息的偏置功率设置，并计算工作功率电平设置的峰值和偏置功率设置之间的比值。然后通过将此比值与临时功率电平信息的偏置功率设置相乘而计算临时功率电平信息的优化峰值功率电平。因此可省略用于确定临时功率电平的特定峰值功率设置的记录检测，且可缩短用于确定优化记录所需的时间。
需要注意的是，在本发明的此实施例中确定了前和后标记沿的优化位置，并假设理想的再现路径为从记录介质到数字电路。很明显的，同样可使用具有低于理想性能特性的再现系统。
图26中示出了实际的盘记录器中再现系统的群延迟频率特性。虽然理想的信号频率特性为平滑的群延迟，但图26中所示的不平滑的群延迟特性2601同样可以。当群延迟特性的频率特性不恒定时，在具有标记和间隔的各种组合长度的信号中会产生沿位移。如果在发生沿位移的盘记录器中确定了第一驱动脉冲位置Tu和最后驱动脉冲位置Td，此沿位移成分会包含在Tu和Td中。虽然当在相同的盘记录器上再现盘时其并不成问题，但由于沿位移的结果，当在具有平滑群延迟特性盘记录器上读取盘时，其再现性能会降低。
图27示出了由具有非平滑群延迟特性的盘记录器产生的读取信号。虽然在图27中表示的信号为具有特别长的标记和间隔的简单的图形信号，具有非平滑群延迟特性的盘记录器，即使在与标记形状无关的应为平滑信号的间隔成分中也可产生带有斜率的读取信号。通过检测此斜率可对群延迟特性的平滑性进行检测。
图28A示出了使用包含长间隔的检测信号检测信号平滑度的方法。信号最好为在记录介质的内周边处形成的被修饰的凹序列，但信号也可具有恒定的14T间隔周期，用做帧同步信号，及作为预先记录到盘的特定区域的信号，或通过盘记录器所记录到信号。重要的是，检测信号包含7T到14T的长的间隔。
图28中的线2801表示数字电路的限制电平，而曲线2802为被记录到盘上接着从盘进行再现的14T间隔检测信号的读取信号。根据PLL时钟在时隙t0到t14取样信号2802。
图28B示出了用于处理抽样s1到s13以获得抽样值的抽样操作器2803。更具体的，抽样操作器2803将抽样s1加到s6和将s8加到s13，然后获得两个和之间的差。如果信号2802具有图28中所示的波形，则来自抽样操作器2803的输出将为负值；如果波的斜率与图28中所示的相反，则结果为正值。
需要注意的是，虽然这里假设此抽样电路和操作器为数字电路，本发明并不限于输出为负值(或正值)的曲线2802的斜率，也可为输出为正(负)值的相反斜率。
图29A和29B示出了用于群延迟的具有特定频率特性的群延迟补偿电路。
图29A示出了运算放大器电路；通过电阻器2902插入电容器2901，以对正交倒相放大器2903的反馈电阻施加特定的频率特性。通过适当的设定电阻器2902的电阻和电容器2901的电容，可获得所需的群延迟特性，其中对高频成分进行延迟。如果需要延迟低频成分，可用电感代替电容器2901。
图29B为群延迟补偿电路的方框图。通过延迟电路2904和2905对读取信号进行延迟。通过加权系数2906、2907和2908分别对被延迟电路2904延迟的初始信号和被延迟电路2905延迟的信号进行加权，然后通过加法器将加权信号相加。在图28A中示出信号2802。操作器可为图28B中所示的检测器2803。控制器2910来自探测器2803的输出值输出系数并控制放大器2906、2907和2908的放大率。在放大后，即，通过放大器2906、2907和2908加权后，通过加法器2909进行相加，从而保证包含群延迟补偿电路的信号再现系统的平滑群延迟特性。
所公知的是，如果系数2906和2908在此电路中相等，则具有平滑的群延迟特性，如果其不相等，则将频率特性给予群延迟。因此通过适当的选择系数可获得与所需的群延迟特性相等同的电路。
通过检测图28A中间隔成分并控制图29A和29B中所示的群延迟成分并插入到再现系统中的某个地方可使得整个的再现系统具有群延迟特性。然后通过确定Tu和Td，可使通过另外一个盘记录器再现盘时的沿位移最小，并获得在不同的盘记录器中对盘进行再现的更大的兼容性。
图30示出了当图29中所示的电路的群延迟成分变化时所读取的信号中的波动。需要注意的是，最好通过在记录介质的内周边形成的凹序列获得读取信号。然而，也可通过盘记录器将该信号记录到记录介质的特性区域，其中通过设定Tu和Td而防止位移。
具有平滑群延迟特性的再现系统具有曲线3001的形状；而曲线3002示出群延迟特性不平滑时的情况。如上所述，当整个再现系统的群延迟特性不平滑时，会产生沿位移。这会降低读取性能，并导致更高的错误率和波动。如果群延迟特性平滑，当不存在补偿电路所施加的群延迟补偿时，如曲线3001所示，错误率最小，但当群延迟补偿增大时，波动也会增大。
然而，如果盘记录器在其再现系统中具有特定的群延迟特性，当提供某一群延迟补偿时，波动会最小。因为当提供补偿并使波动最小时，沿位移最小，因此同样可知群延迟特性基本上是平滑的。因此，当在一个机器上记录盘而在另外一个上再现时，同样可使沿位移最小，因此通过控制群延迟补偿，从而如图29中所示使波动最小，通过检测反馈环路中的波动，并确定Tu和Td，可保证最大的兼容性。同样，对本领域中的技术人员所显而易见的是，本发明并不限于检测此反馈环路中的波动，同样也可使用随着群延迟特性和沿位移而发生变化的错误率和其他特性。
需要注意的是，如果盘记录器的特定群延迟特性不随时间而发生变化，通过在信号处理过程中对群延迟特性进行补偿，也可获得相同的效果。另外，如果群延迟特性不依赖于装置，且具有特定的特性，通过使用典型的补偿值对群延迟特性进行补偿可获得相同的效果。
如上所述，根据本发明的信息记录方法，可在记录期间，对热积累和热干扰的效果进行补偿，从而通过在数据记录前根据沿被记录的标记的长度和前面间隔的长度确定每个前沿的位置，即根据沿要被记录的标记的长度和后续的间隔的长度确定每个标记的后沿的位置，而使得进行数据记录时波动较小。
同时通过在记录检测操作前确定用于记录检测的优化激光功率设置，从而确定上述的优化前和后标记沿位置，可进行优化的记录。
另外，如上所述，通过在确定了优化前和后标记沿位置后确定用于数据记录的优化激光功率设置，可进一步优化记录。
虽然已经结合最佳实施例及相应的附图对本发明进行了描述，需要注意的是，对本领域中的技术人员可做各种的变化和修改。此种的变化和修改都在所附的权利要求的保护范围之内。
权利要求
1.一种数据记录介质，其具有多个同心或螺旋的磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含用于存储控制数据的控制数据区，所述控制数据包含至少一个所述驱动的脉冲的关于起始点的信息，和所述驱动的脉冲的关于终止点的信息；及工作功率信息。
2.一种用于记录和再现数据记录介质的记录和再现装置，所述数据记录介质具有多个同心或螺旋的磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含用于存储控制数据的控制数据区，所述控制数据包含至少一个和驱动的脉冲的起始点相关的信息，和与驱动的脉冲的终止点相关的信息，和工作功率信息；所述记录和再现装置包含读取系统(115，132)，其读取工作功率信息；确定系统(119)，其根据读取的工作功率信息确定驱动脉冲发射功率。
3.一种用于记录和再现数据记录介质的记录和再现方法，所述数据记录介质具有多个同心或螺旋的磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含至少一个所述驱动的脉冲的关于起始点的信息，和所述驱动的脉冲的关于终止点的信息；及工作功率信息；所述记录和再现方法包含读取步骤，其读取工作功率信息；和确定步骤，其根据读取的工作功率信息确定驱动脉冲发射功率。
全文摘要
一种数据记录介质，其具有多个螺旋形的同心磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲所调制的光束而形成标记，在要记录到磁道的原始信号中，根据标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含一个用于记录数据的数据记录区，和一个特定信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置时进行记录，还包含特定记录装置特有的特定信息装置和特定记录装置所需的驱动脉冲序列的特定的尾脉冲位置Td和特定的首脉冲位置Tu。
文档编号G11B7/24GK1549249SQ200410005590
公开日2004年11月24日 申请日期1999年9月14日 优先权日1998年9月14日
发明者东海林卫, 石田隆, 中村敦史, 南野顺一, 一, 史 申请人:松下电器产业株式会社