专利名称：数据存储装置的测试设备和数据存储装置的测试方法
技术领域：
本发明涉及数据存储装置的测试设备和测试方法，更特别地，涉及在数 据存储装置的测试中到数据存储装置的电源。
背景技术：
配备有存储数据的存储器(如半导体存储器、磁存储器、光存储器等)
的数据存储装置已经在本领域内公知。特别地，硬盘驱动器(HDD)已经广泛 地用作计算机的存储装置，并且已经成为当前计算机系统的不可缺少的外部 存储装置之一。此外，HDD由于其出色的特性，已经发现了除了应用于计算 机之外，还广泛地应用于运动图像记录/再现设备、汽车导航系统、便携式电 话等。
用在HDD中的磁盘具有多个同心数据道和伺服道。每一个数据道均包括 包含在其上记录的用户数据的多个数据扇区。每一个伺服道均包含地址信息。 伺服道由以圓周方向离散排列的多个伺服数据组成。在伺服数据之间记录一 个或多个数据扇区。磁头滑动器(head slider)根据伺服数据中的地址信息 存取所期望的数据扇区，以将数据写入数据扇区以及从数据扇区取回 (retrieve )数据。
在制造HDD时，对连接到测试计算机的HDD执行操作测试、以及参数的 设置和调整(例如，参照以下所列的专利文档1 )。要在HDD的测试中使用的 室包括多个单元(空间)，并且HDD放置在单元中。在每一个单元中，HDD连 接到电路中测试计算机的处理器卡；处理器卡测试HDD。
图7是示意性地图解根据现有技术的HDD的测试设备以及连接到测试设 备的HDD的局部配置的框图。将用于HDD 71的测试的程序从外部计算机下载 到处理器卡72,并且处理器卡72管理HDD 71的测试。处理器卡72包括基 板721、安装在所述基板上的处理器722、 RAM 725和用于产生要提供到HDD 71 的电源电压的两个电源逻辑723和724。
处理器卡72连接到接口卡7 3。接口卡73包括基板7 31、安装在基板7 31上的接口控制器732。接口控制器732执行HDD 71与处理器722之间的接口 处理。适配器卡74位于接口卡73与HDD 71之间，并且连接到所述接口卡 73和HDD71二者。适配器卡74包括基板741;只有布线和无源电3各(未示 出)被排列在基板741上。适配器卡74仅用作连接器转换器。
HDD 71根据其尺寸要求不同的电源电压。3. 5英寸HDD要求12 V和5 V 的电源电压；2. 5英寸HDD要求5 V的电源电压。处理器卡72中的HDD 5-V 逻辑723和HDD 12-V逻辑724分别产生5 V和12 V的电源电压。它们在处 理器722的控制下将电源电压提供到HDD 71。将由两个电源电路723和724 产生的电源电压通过接口卡73和适配器卡74提供到HDD 71。接口卡73和 适配器卡74将包括命令和数据的测试信号在处理器722与HDD 71之间传送。日本待审查专利申请公开No. 2004-32430
发明内容
在HDD71的使用环境中，电源电压不是恒定的，而是变化的。因此，在 HDD 71的测试中，存在这样的测试在特定的范围内变化到HDD H的电源 电压，并确定HDD 71在变化的电源电压中是否正常工作。为了HDD H的高 效测试，最好能够控制每一个HDD71的电源电压。在这点上，必须为每一个 HDD 71准备电源电路。
处理器722的多任务功能和性能的改进已经使单个处理器722能够同时 测试多个HDD 71。然而，在HDD的以上传统测试设备中，在处理器卡72中 实施为HDD 71提供必要的功率的电源电路723和724。由于在室中的有限空 间中放置处理器卡72,因此显然限制了基板的尺寸。除此之外，由于电源电 路具有确定的尺寸，因此能够安装在处理器卡72上的电源电路的数量是有限 的。因此，为了给每一个HDD 71准备电源电路，必须为每一个HDD 71准备 处理器卡72;对于一个HDD 71来说要求一个处理器卡72。
除此之外，HDD 71根据规格具有不同要求的电源电压和电源容量。在上 述传统HDD测试设备中，如果已经改变了 HDD要求的电源条件，那么必须针 对所述条件改变处理器卡72。期望在HDD的测试设备中，单个处理器卡72 可以支持具有不同规格的HDD的测试。根据本发明的一方面的用于数据存储装置的测试设备包括室，其包括 用于容纳测试对象的数据存储装置的空间；处理器卡，其包括用于测试所述 数据存储装置的处理器，以及安装所述处理器的第一基板；以及适配器卡， 其包括位于处理器卡与数据存储装置之间的、用于在处理器卡与数据存储装 置之间传送测试信号的第二基板，以及安装在第二基板上、用于为^:据存储 装置提供操作电源电压的电源电路。安装在适配器上的电源电路允许单个处 理支持具有不同规格的数据存储装置。
优选地，连接器被固定到适配器卡的第二基板，所述连接器被直接连接 到数据存储装置的连接器。优选地，所述适配器卡进一步包括用于控制所述 电源电路的电源控制电路。这实现了数据存储装置和适配器卡的高效连接。
最好测试设备进一 步包括接口卡，其包括位于处理器卡与适配器卡之间 的、用于在处理器卡与数据存储装置之间传送测试信号的第三基板，以及安 装在第三基板上的、用于在处理器卡与数据存储装置之间执行接口处理的接 口控制器。这允许单个处理器支持具有不同规格的数据存储装置。
优选地，多个适配器卡连接到所述处理器卡；以及所述处理器卡同时测 试连接到所述多个适配器卡的多个数据存储装置。这实现了高效的测试。此 外，最好处理器卡单独控制多个适配器卡上的电源电路。这实现了灵活且高 效的测试。
最好测试设备进一步包括接口卡，其包括位于处理器卡与多个适配器 卡之间的、用于在处理器卡与多个数据存储装置之间传送测试信号的第四基 板，以及安装在第四基板上的、用于在处理器卡与所述多个数据存储装置之 间执行接口处理的接口控制器。这实现了高效的测试。最好接口卡经由信号 传输线连接到所述多个适配器卡的每一个。这实现了卡的尺寸和排列的广泛 选择。
根据本发明的另一个方面的是用于多个数据存储装置的测试方法。该方 法准备处理器卡，所述处理器卡包括第一基板和安装在第一基板上的处理器。 它将多个数据存储装置连接到多个适配器卡的基板，用于在处理器卡与多个 数据存储装置之间传送测试信号。它由安装在适配器卡上的电源电路提供多 个数据存储装置中的每一个中均不同的操作电源电压。它由处理器对在不同 操作电源电压处工作的多个数据存储装置进行测试。该方法实现了关于多个 数据存储装置的高效且灵活的测试。优选地，所述方法由单个接口控制器在处理器与多个数据存储装置之间 执行测试信号的接口处理。这实现了关于多个数据存储装置的更高效的测试。 除此之外，最好多个数据存储装置的每一个连接器均直接连接到多个适配器 卡的每一个连接器。这使适配器卡能够高效地连接到数据存储装置。
根据本发明，在用于数据存储装置的测试设备中，处理器可以支持具有 不同规格的数据存储装置。
图1是示意性地描绘根据本实施例的测试对象装置的HDD的内部配置的 平面一见图2是示意性地描绘根据本实施例的测试设备的室的透视图； 图3是示意性地描绘在本实施例中的图2中的虚线A所包围的室的一部 分的配置的透视图4是示意性地图解放置在本实施例中的室的单元中的装置的横截面视
图5是示意性地图解在本实施例中的HDD、适配器卡、接口卡和处理器 卡的电路配置的框图6是示意性地图解根据本实施例的适配器卡的电路配置的框图；和 图7是示意性地图解传统技术中HDD的测试设备的电路配置的框图。
1: HDD;
4:接口卡；
6:处理器卡；
12:底座；
15:磁头滑动器；
17:旋转轴；
19a, 19b:连接器；
31a， 31b:连接器；
33a, 33b: 5-V电源电路;
3a, 3b:适配器卡;5a， 5b:信号传输线11磁盘；
13主轴电机；
16致动器；
18音圈电才几；
21室；
32a, 32b:基板；34a, 34b: 12-V电源电路;35a, 35b:电源控制电路;
41基板；
43接口控制器;
61基板；
63连接器；
72处理器卡；
74适配器卡；
162:臂；
213a至213d:门；
215a, 215b:树脂构件；
341b: 5-V DC/DC转换器;
721:基板；
723: 5-V电源逻辑；
7 31:基板；
741:基板
36a， 36b:连接器； 42:连接器； 44a， 44b:连4妻器； 62:处理器； 71: HDD; 73:接口卡； 161:悬架； 211a, 212a:单元； 214:壁；
341a: 12-V DC/DC转换器; 342a, 342b:运算放大器； 722:处理器； 724: 12-V电源逻辑； 732:接口控制器；
具体实施例方式
在下文中，将描述本发明的优选实施例。为了说明清楚，以下描述和附 图包含适当的省略和简化。在所有附图中，相同的组件由相同的附图标记表 示，并且如果不是说明清楚所必需的，则省略其重复描述。在本实施例中， 将给出作为测试对象数据存储装置的示例的硬盘驱动器(HDD)的描述。根据 本实施例的数据存储装置的测试设备的特征是其中的电路配置。
本实施例的测试设备包括具有安装在其基板上的处理器的处理器卡，以 及支持具有不同规格的各种HDD的适配器卡。适配器卡位于电路配置中的处 理器卡与HDD之间，并且连接到HDD。本实施例的适配器卡进一步包括电源 电路，用以产生要提供到HDD的电源电压。在本说明书中，适配器卡是位于 电路中HDD与处理器卡之间、并且包括满足HDD的规格的电路组件的卡。
在适配器卡中实施的电源电路允许为每一个HDD准备合适的电源电路， 以便仅取代适配器卡就允许具有各种电源规格的HDD的测试。结果，由于单 个处理器卡可以支持具有不同电源规格的HDD的测试，因此无需在处理器卡 中实施多个电源电路，并且可以灵活地支持具有各种规格的HDD。除此之外，在适配器卡中实施电源电路消除了在处理器卡中实施多个电源电路以便使用
单个处理器卡同时测试多个HDD的必要，使得处理器卡的尺寸减小。
首先，将参照图1描述要由本实施例的测试设备测试的HDD的配置。HDD 1包括作为通过磁化磁层来记录数据的非易失性存储器的磁盘11。底座12容 纳(house) HDD 1的组件。将底座12使用插入在盖(cover)(未示出)与 所述底座之间的一垫圏(gasket)固定于所述盖上，用于封闭其顶部开口以 形成密封(enclosure )。 ^t头滑动器15包括用于关于从主机(未示出)输入 和/或向主机输出的数据、向磁盘11写和/或从磁盘11读的磁头元件部分， 以及在其上形成磁头元件部分的滑动表面。磁头元件部分包括用于将电信号 转换为磁场的记录元件，和/或用于将来自磁盘11的磁场转换为电信号的再 现元件。
致动器16包括用于支撑磁头滑动器15的悬架(suspension) 161,以及 固定悬架161的臂162。致动器16关于轴17旋转，并且通过音圈电机18驱 动。固定到底座12的主轴电机(SPM) 13以特定速度旋转磁盘11。致动器 16在旋转磁盘11上的数据区之上移动磁头滑动器15，用于从磁盘11取回数 据/向磁盘ll写数据。滑块的气垫面(air bearing surface, ABS )与旋转 磁盘11之间的空气粘度的压力平衡了由悬架161向磁盘11施加的压力，以 便磁头滑动器15悬浮于磁盘11上确定间距。由安装在固定于底座12外部的 基板上的控制电路(未示出)执行HDD 1的操作控制。
HDD 1的一般制造首先制造磁头滑动器15。除磁头滑动器15以外，它制 造悬架161。它将磁头滑动器15连接(bond)到悬架161，以制造磁头悬架 组件(head gimbal assembly, HGA )。然后，它将臂162和VCM线圈固定到 HGA，以制造作为致动器16和磁头滑动器15的集合的磁头臂组件(head stack assembly, HSA )。除了在底座12内制造的HSA之外，它还安装SPM 13、磁 盘11等，并且使用顶盖封闭底座12内部的空间以完成磁头磁盘组件(head disk assembly, HDA )。它在HDA上安装具有在其上安装的控制电3各的电路板 (未示出)以完成HDD 1。
在制造时，将以这种方式装配的HDD l转移到测试步骤。将HDD l放置 在组成测试设备的室的分区空间之内，并且将HDD l连接到测试计算机的处 理器卡。HDD 1的测试管理诸如磁盘11的设置参数、操作测试和缺陷检测测 试之类的多种测试。图2是示意性地描绘测试设备的室(chamber) 21的透视图。室21包括多个分区空间(单元)211;每一个单元211均容纳HDD 1。 一般地，将多个HDD 1放置在单元211中。尽管在图中没有示出，但是一般 的室21包括用于封闭所有单元211的大门(large door)或者封闭各个单元 211的门(door );在HDD 1的测试中封闭门。
图3是示意性地描绘由图2中的虛线A包围的室21的一部分的配置的透 视图。图3示出室21的四个单元；四个单元的一个单元211a以及在其之后 的212a的内部以虛线表示。将HDD l放置于单元211a中。在四个单元的前 面上提供门213a至213d;当将HDD 1放入和放出单元时它们是打开的，而 在测试期间是封闭的。在用于容纳HDD 1的单元211a之后的单元212a中， 放置用于测试HDD 1的处理器卡。
图4的截面图示意性地图解了单元211a、单元211a之后的单元212a、 以及放置在这些单元中的装置。单元211a容纳两个HDD la和lb。 HDD la和 lb分别物理地连接到适配器卡3a和3b。适配器卡3a和3b穿透在壁214中 提供的孔，壁214用于将单元211a与单元212a隔开；适配器卡3a和3b的 部分暴露于单元211a中，并且其部分暴露于单元212a中。具体地说，在壁 214中的孔中填满树脂构件215a和215b，并且适配器卡3a和3b分别穿透树 脂构件215a和215b。
适配器卡3a和3b连接到单元212a中的接口卡4。信号传输线5a和5b 分别连接适配器卡3a和3b与接口卡4。尽管适配器卡3a和3b的基板上的 连接器可以直接连接到接口卡4的基板上的连接器，但是通过线5a和5b连 接这些允许适配器卡3a和3b以及接口卡4的排列及其尺寸的任意选择。接 口卡4连接到单元212a中的处理器卡6。在处理器卡6的基板61上，安装 处理器的处理器62和RAM 65。处理器62 #4居测试程序以多任务才喿作，以同 时管理两个HDD la和lb上的测试。
图5是示意性地图解HDD la和lb、适配器卡3a和3b、接口卡4以及处 理器卡6的电路配置的框图。将连接器63固定到处理器卡6的基板61上。 将连接器63连接到固定于接口卡4的基板41的连接器42。在接口卡4的基 板41上，安装接口控制器43。将连接器44a和44b固定于与连接器42相反 端的基板41。
连接器44a是用于连接到适配器卡3a的连接器，而连接器44b是用于连 接到适配器卡3b的连接器。连接器44a经由线5a连接到适配器卡3a的连接线5b连接到适配器卡3b的连接器31b。
适配器卡3a包括用于产生5 V电源电压的逻辑电3各33a、用于产生12 V 电源电压的逻辑电路34a、以及用于控制适配器卡3a的基板32a上的两个电 源电路33a和34a的逻辑电路35a。这些是适配器卡3a仅有的有源电路；除 了这些之外，诸如布线、连接器和电容器之类的无源电路仅出现在基板32a 上。类似地，在适配器卡3b的基板32b上，安装用于产生5 V电源电压的逻 辑电路33b、用于产生12 V电源电压的逻辑电路34b、以及用于控制该两个 电源电路33b和34b的逻辑电路35b。除了这些之外，诸如布线、连接器和 电容器之类的无源电路仅出现在基板32a上。
在适配器卡3a的基板32a上，安装用于连接到HDD la的连接器36a; 连接器36a连接到HDD la的连接器19a。以相同的方式，适配器卡3b具有 用于连接到HDD lb的连接器36b;连接器36b连接到HDD lb的连接器19b。
在图5的配置中，电路之间的信号和电源电压通过HDD la和lb的基板、 适配器卡3a和3b、接口卡4和处理器卡6上的布线以及将它们进行互连的 连接器进行传送。将具体描述每一个电路组件的操作和处理。从外部计算机 将HDD la和lb的测试程序下载到处理器卡6,并将其存储在RAM 65中。处 理器62根据在RAM 65中存储的程序，关于HDD la和lb控制并执行测试。 处理器62执行多任务，以使得能够同时关于HDD la和lb进行测试。
接口控制器43在处理器62与HDD la和lb之间连接(interface)包括 命令和数据的测试信号。作为用于HDD la和lb的接口 ，存在诸如并行ATA、 串行ATA、 SUS和SCSI之类的多种不同类型的接口。每一种类型的接口均具 有在信号传输速度方面的不同规格。
接口控制器43是在这些不同的接口之中，与用于要测试的HDD la和lb 的接口对应的电路。 一般地，另一个接口控制器43用于同种类型但具有不同 传输速度的另一个接口。接口控制器43具有多个端口，以能够独立地与连接 到所述端口的HDD la和lb进4亍通信。
除了在处理器62与HDD la和lb之间的测试信号之外，接口控制器43 还传送用于控制电源控制电路35a和35b的信号。电源控制电路35a和35b 根据来自处理器62的、通过接口控制器43传送的控制信号进行操作。电源 控制电路35a和35b可以控制电源电路33a、 34a、 33b和34b的输出电压以 及它们的ON/OFF。图6是示意性地图解适配器卡3a的电路配置的框图。5-V电源电路33a 包括5-V DC/DC转换器341b和运算放大器342b。12-V电源电路34a包括12-V DC/DC转换器341a和运算放大器342a。 5-V DC/DC转换器341b和12-V DC/DC 转换器341a接收15-V的电源电压，并且可以从所述电源电压分别产生5 V 和12 V的电源电压。可以通过接口卡4和处理器卡6从外部电源提供15 V 的电源电压。
运算放大器342b和342a配置反馈电路，并且可以通过调整运算放大器 342b和342a的输出值来改变5-V DC/DC转换器341b和12-V DC/DC转换器 341a的输出电压。电源控制电路35a在处理器62的控制之下对运算放大器 342b和342a进行控制，以调整5-V电源电路33a和12-V电源电路34a的输 出电压。适配器卡3b具有与图6的一个相同的配置。
优选地，处理器62独立地测试HDD la和lb。 一^:而言，HDD la和lb 的测试包括在变化电源电压的情况下的"l喿作测试。本实施例的测试设备对于 HDD la和lb分别具有独立的电源电路33a和34a以及电源电3各33b和34b。 此外，它对于电源电路33a和34a以及电源电路33b和34b分别具有电源控 制电路35a和35b。因此，处理器62独立地控制电源控制电路35a和35b， 以单独控制要提供到HDD la和lb的电源电压。这完成了对于HDD la和lb
的高效且灵活的测试。
在本实施例中，在与相应HDD对应的适配器3a和3b中实施用于向HDD la 和lb提供电源电压的电源电路。如上所述，许多协议作为用于HDD的接口出 现；连接器的形状根据接口而不同。处理器62的操作通过改变测试程序可以 支持任意规格。因此，不论HDD的接口的规格是怎样的，均可以使用相同的 处理器卡6。然而，必须根据HDD la和lb的接口规格来改变要连接到HDD la 和lb的连接器，这可以通过替换适配器卡3a和3b来处理(cover )。
以这种方式，期望根据要连接的HDD la和lb的规格来替换适配器卡3a 和3b。在适配器卡3a和3b中实施电源电路导致针对于HDD la和lb的规格 和设计的电源电路的准备，消除了替换处理器卡6或接口卡4的必要，或者 消除了在处理器卡6或接口卡4中实施支持所有规格的电源电路的必要。在 适配器卡3a和3b中实施电源电路实现了各种规格HDD的灵活支持，并且在 减少测试设备中组件的数量方面是最高效的。此外，在适配器卡3a和3b中 实施电源电路的控制电路实现了在每一个HDD中独立的电源控制。在以上示例中，两个适配器卡3a和3b具有相同的电路配置。针对于测 试对象的HDD准备适配器卡，以便针对要连接的HDD可以容易地替换它们的 电路配置。例如，根据要连接的HDD可以改变电源电路的性能，同时产生相 同的电源电压。除此之外，在每一个适配器卡中实施不同的电源电路使不同 操作电源电压的HDD能够在测试设备(室)中同时被测试。
以上示例将两个HDD la和lb连接到单个接口控制器43,但是根据接口 控制器43的端口的数量以及处理器62的处理能力可以选择合适的数量作为 HDD连接的数量。 一般而言，接口控制器43用于一种规格。因此，通过将多 个接口卡连接到处理器卡6,可以实现使用单个处理器卡6测试不同接口规 格的HDD。如果接口控制器43可以执行不同规格的HDD的接口处理，那么通 过使用单个接口卡4能够测试不同规格的HDD。
如以上阐明的那样，本实施例的测试设备包括用于适配器卡上的对应 HDD的电源电路，以便处理器卡能够灵活地支持具有各种电源规格的HDD的 测试。除此之外，使用处理器卡可以容易地同时测试多个HDD。
如上所述，最好适配器卡具有直接连接到HDD的连接器的连接器，这在 测试中，使连接HDD到适配器卡的处理高效。然而，即使HDD经由线连接到 适配器卡，具有实施的电源电路的本实施例的适配器卡也是有用的。
最好测试设备包括处理器卡、接口卡和适配器卡。这是因为替换接口卡 允许在不替换处理器卡的情况下支持具有不同接口的HDD。然而，可以在处
理器卡或适配器卡中实施接口控制器。
如上所述，从测试中效率的角度来看，最好将多个适配器卡连接到单个 处理器卡，以同时测试多个HDD。然而，即使通过连接单个适配器卡到处理 器卡仅要测试一个HDD,本实施例的具有在其中实施的电源电路的适配器卡 也是有用的。
如以上阐明的那样，通过优选实施例的方式描述了本发明，但是本发明 不限于以上实施例，并且在本发明的实质的范围内当然可以以各种方式修改。 例如，在适配器卡、接口卡和处理器卡之间，可以插入另一基板。
权利要求
1、一种用于数据存储装置的测试设备，包括室，其包括用于容纳测试对象的数据存储装置的空间；处理器卡，其包括用于测试所述数据存储装置的处理器，以及安装所述处理器的第一基板；以及适配器卡，其包括位于处理器卡与数据存储装置之间的、用于在处理器卡与数据存储装置之间传送测试信号的第二基板，以及安装在第二基板上、用于为数据存储装置提供操作电源电压的电源电路。
2、 根据权利要求1所述的测试设备，其中 连接器被固定到适配器卡的第二基板；以及 所述连接器被直接连接到数据存储装置的连接器。
3、 根据权利要求1所述的测试设备，其中 所述适配器卡进一步包括用于控制所述电源电路的电源控制电路。
4、 根据权利要求1所述的测试设备，进一步包括接口卡，其包括位于处理器卡与适配器卡之间的、用于在处理器卡与数 据存储装置之间传送测试信号的第三基板，以及安装在第三基板上的、用于 在处理器卡与数据存储装置之间执行接口处理的接口控制器。
5、 根据权利要求1所述的测试设备，其中 多个适配器卡连接到所述处理器卡；以及所述处理器卡同时测试连接到所述多个适配器卡的多个数据存储装置。
6、 根据权利要求5所述的测试设备，进一步包括接口卡，其包括位于处理器卡与多个适配器卡之间的、用于在处理器卡 与多个数据存储装置之间传送测试信号的第四基板，以及安装在第四基板上 的、用于在处理器卡与多个数据存储装置之间执行接口处理的接口控制器。
7、 根据权利要求6所述的测试设备，其中 所述接口卡经由信号传输线连接到所述多个适配器卡的每一个。
8、 根据权利要求5所述的测试设备，其中 所述处理器卡单独控制所述多个适配器卡上的电源电路。
9、 一种用于多个凄t据存储装置的测试方法，包括 准备处理器卡，所述处理器卡包括第一基板和安装在第一基板上的处理器；将多个数据存储装置连接到多个适配器卡的基板，所述适配器用于在处理器卡与多个数据存储装置之间传送测试信号；由安装在适配器卡上的电源电路提供多个数据存储装置中的每一个中均 不同的操作电源电压；以及由处理器对在不同操作电源电压处工作的多个数据存储装置进行测试。
10、 根据权利要求9所述的方法，进一步包括由单个接口控制器在处理器与所述多个数据存储装置之间执行测试信号 的接口处理。
11、 根据权利要求9所述的方法，其中所述多个数据存储装置的每一个连接器均直接连接到所述多个适配器卡 的每一个连接器。
全文摘要
本发明要解决的问题是在数据存储装置的测试设备中，使用单个处理器来支持具有不同规格的数据存储装置。本发明的实施例的测试设备包括处理器卡(6)和适配器卡(3a)和(3b)。适配器卡(3a)和(3b)包括用于产生要提供到HDD(1a)和(1b)的电源电压的电源电路(33a)、(33b)、(34a)和(34b)。在适配器卡中实施电源电路实现了通过单个处理器卡对具有各种规格的HDD的灵活支持。除此之外，由于使用单个处理器卡同时测试多个HDD，因此无需在处理器卡上安装多个电源电路，使得可以减小处理器卡的尺寸。
文档编号G11B20/18GK101452724SQ20081017801
公开日2009年6月10日 申请日期2008年12月8日 优先权日2007年12月7日
发明者桑嶌正树, 武田信雄, 津山雅史, 高桥贤 申请人:日立环球储存科技荷兰有限公司