B38)
[0080]上个采样定时S1 !采样的上个伺服样本的解调定位误差ed[i_l]从存储器预先读出。(块MO)接着,头定位控制部32中,运算当前采样定时Si采样的当前伺服样本的解调定位误差6,[1]，在存储器存储。(块B42)
[0081]接着，若根据上个伺服样本的解调定位误差ed[i_l]及当前伺服样本的解调定位误差ed[i]在下个采样定时S1+1采样，则通过头定位控制部32，根据下式(8)运算预计的预计解调定位误差ee[i+l]。(块B44)
[0082]ee[i+l] = 2ed[i]-ed[i_l]...(8)
[0083]然后，初始化偏离磁道检测部36。这里，记录禁止标志fwl输出时，通过偏离磁道检测部36的初始化对记录禁止标志fwl清零。(块B46)接着，解调定位误差％[1]输入于校正值运算部Q，与阈值±dQ[i]比较。(块B48)解调定位误差ed[i]比阈值±dQ[i]小时，不设为偏离磁道。相对地，解调定位误差0,[1]比阈值idji]大时，设为检测到偏离磁道，将记录禁止信号fwl向写信道12W输出，禁止写入头1W的写入。(块B52)接着，解调定位误差ee[i+l]输入于校正值运算部Q，与阈值idji]比较。(块B50)解调定位误差ee[i+l]比阈值idji]小时，不设为偏离磁道，定位控制部32中，根据解调定位误差ed[i]确定控制量u，提供给定位机构6，控制头位置。(块B54)相对地，解调定位误差ee[i]比阈值idji]大时，设为检测到偏离磁道，将记录禁止信号fwl向写信道12W输出，禁止写入头1W的写入。(块B56)然后，定位控制部32中，根据解调定位误差ed[i]确定控制量U，提供给定位机构6，控制头位置。(块B54)该块BlO?B14及块B32?B58的一系列处理包括在某伺服采样定时的处理结束、对下个伺服样本的处理中。(块B58)
[0084]如上所述，该实施方式的磁盘装置的偏离磁道检测中，
[0085](I)由于可以相应于观测噪声量而校正偏离磁道阈值，因此，即使位置误差信号包括观测噪声，也可以防止尽管实际位置误差超过偏离磁道阈值也无法进行写禁止的情况。
[0086](2)由于可以相应于观测噪声量而校正预测位置的第2偏离磁道阈值，因此，即使位置误差信号包括观测噪声，也可以防止尽管由实际位置确定的下个样本值的预测值超过第2偏离磁道阈值也无法进行写禁止的情况。
[0087]这样，根据实施方式，可以实现与伺服信号品质相应的偏离磁道检测，防止偏离磁道检测的检测遗漏，提供可靠性更高的盘存储装置。
[0088]虽然说明了本发明的几个实施方式，但是这些实施方式只是例示，而不是限定发明的范围。这些新实施方式能以其他各种方式实施，在不脱离发明的要旨的范围，可以进行各种省略、置换、变更。这些实施方式和/或其变形包括于发明的范围和/或要旨中，也包括于技术方案记载的发明及其均等的范围中。
【主权项】
1.一种盘驱动装置，其构成为， 具备: 盘； 控制上述盘上的头的位置的头定位机构；以及 控制器，其由解调从该盘再现的伺服信号所获得的解调位置和目标位置求出解调定位误差，来控制上述头定位机构， 上述控制器，基于上述伺服信号的信号品质来推测上述解调位置所包含的解调噪声量，由上述推测出的解调噪声量求出校正值来校正预定的偏离磁道阈值，响应于上述解调定位误差超过上述校正后的偏离磁道阈值这一情况，来禁止上述头向上述盘写入数据的写工作。2.权利要求1的盘驱动装置，其中， 上述校正中，通过从上述预定的偏离磁道阈值减去由上述解调定位误差的方差所求出的观测误差的运算，来求出上述校正后的偏离磁道阈值。3.权利要求1的盘驱动装置，其中， 具备用某调整增益来调整上述伺服信号的电平的增益调整器， 上述伺服信号的信号品质，根据上述增益调整器的伺服信号增益调整值运算。4.权利要求1的盘驱动装置，其中， 推测上述解调噪声量包括: 准备记载有按区域的解调噪声量的表，该表为了预先由上述伺服信号测定与上述信号品质具有相关性的解调噪声量而准备，上述伺服信号按上述盘上的头/区域读出， 按照上述头被定位的区域，从上述表读出解调噪声量。5.一种盘驱动装置，其构成为， 具备: 盘； 控制盘上的头的位置的头定位机构；以及 控制器，其由离散性解调位置与目标位置的差求出离散性解调定位误差，来控制上述头定位机构，上述离散性解调位置在解调从该盘再现的伺服信号而连续的采样定时获得，上述解调定位误差包括在上个采样定时所获得的上个解调定位误差及在当前采样定时所获得的当前解调定位误差， 上述控制器，基于上述上个解调定位误差及上述当前解调定位误差，对预测在当前采样定时的下个采样定时所获得的下个解调定位误差进行预测运算，对基于上述伺服信号的信号品质推测在上述下个采样定时在上述解调位置所包含的解调噪声量进行推测， 由上述推测出的解调噪声量求出校正值，来校正预定的偏离磁道阈值， 预想上述推测的解调定位误差超过上述校正后的偏离磁道阈值时，响应该预想，禁止上述头向上述盘写入数据的写工作。6.权利要求5的盘驱动装置，其中， 上述下个解调定位误差，基于上述上个解调定位误差及上述当前解调定位误差的差值而预测运算。7.权利要求5的盘驱动装置，其中， 上述校正后的偏离磁道阈值，通过从上述预定的偏离磁道阈值减去观测误差的运算而求出，该观测误差由上述上个解调定位误差的方差及上述当前解调定位误差的方差而求出。8.一种偏离磁道检测方法，其在具备盘和控制上述盘上的头的位置的头定位机构的盘驱动装置中，检测适用于下述方法的头的偏离磁道，该方法为:由解调从上述盘再现的伺服信号而获得的解调位置和目标位置求出解调定位误差，来控制上述头定位机构，该偏离磁道检测方法包括下述步骤: 基于上述伺服信号的信号品质，推测上述解调位置所包含的解调噪声量， 由上述推测出的解调噪声量求出校正值，来校正预定的偏离磁道阈值， 响应上述解调定位误差超过上述校正后的偏离磁道阈值这一情况，禁止上述头向上述盘写入数据的写工作。9.权利要求8的偏离磁道检测方法，其中， 上述校正中，通过从上述预定的偏离磁道阈值减去由上述解调定位误差的方差所求出的观测误差的运算，来求出上述校正后的偏离磁道阈值。10.权利要求8的偏离磁道检测方法，其中， 用某调整增益来调整上述伺服信号的电平， 上述伺服信号的信号品质根据上述调整后的伺服信号增益调整值运算。11.权利要求8的偏离磁道检测方法，其中， 推测上述解调噪声量包括下述步骤: 准备记载有按区域的解调噪声量的表，该表为了预先由上述伺服信号测定与上述信号品质具有相关性的解调噪声量而准备，上述伺服信号按上述盘上的头/区域读出， 按照上述头被定位的区域，从上述表读出解调噪声量。12.—种偏离磁道检测方法，其在具备盘和控制上述盘上的头的位置的头定位机构的盘驱动装置中，适用于下述方法:由离散性解调位置与目标位置的差求出离散性解调定位误差，来对控制盘上的头的位置的头定位机构进行控制，上述离散性解调位置在对从上述盘再现的伺服信号解调而连续的采样定时获得， 上述解调定位误差包括在上个采样定时获得的上个解调定位误差及在当前采样定时获得的当前解调定位误差， 该偏离磁道检测方法，对头的偏离磁道进行检测，包括以下步骤: 根据上述上个解调定位误差及上述当前解调定位误差，对预测在当前采样定时的下个采样定时获得的下个解调定位误差进行预测运算，监视上述伺服信号的信号品质，对推测在上述下个采样定时在上述解调位置所包含的解调噪声量进行推测， 由上述推测出的解调噪声量求出校正值，来校正预定的偏离磁道阈值， 在预想上述推测的解调定位误差超过上述校正后的偏离磁道阈值时，响应该预想，禁止上述头向上述盘写入数据的写工作。13.权利要求12的偏离磁道检测方法，其中， 上述下个解调定位误差，基于上述上个解调定位误差及上述当前解调定位误差的差值来进行预测运算。14.权利要求12的偏离磁道检测方法，其中， 上述校正后的偏离磁道阈值，通过从上述预定的偏离磁道阈值减去由上述上个解调定位误差的方差及上述当前解调定位误差的方差所求出的观测误差的运算，而求出。
【专利摘要】本发明提供盘驱动装置及偏离磁道检测方法。实施方式的盘驱动装置中，控制器由解调盘再现的伺服信号所获得的解调位置和目标位置，求出解调定位误差。控制器基于伺服信号的信号品质，推测解调位置所包含的解调噪声量，由推测出的解调噪声量求出校正值，校正预定的偏离磁道阈值。响应于解调定位误差超过校正后的偏离磁道阈值这一情况，禁止上述头向上述盘写入数据的写工作。
【IPC分类】G11B5/58
【公开号】CN105096972
【申请号】CN201410452965
【发明人】河边享之, 原武生
【申请人】株式会社 东芝
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2014年9月5日
【公告号】US9064526